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「routine test」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索


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Weblio 辞書 > 英和辞典・和英辞典 > routine testの意味・解説 > routine testに関連した英語例文

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routine testの部分一致の例文一覧と使い方

該当件数 : 10



例文

I'll test you on the routine from the prefectural tournament.例文帳に追加

県大会のときの振りで テストします - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書

A test component is molded by using the test mold and by a routine rotary molding technology.例文帳に追加

次いで従来の回転成形技術を用いて、試験金型で試験部品を成形する。 - 特許庁

The test routine can execute a highly functional test in a system and the final product including the ASIC.例文帳に追加

そのテストルーチンは、そのASICを含むシステムや最終製品において高機能な試験を実施可能である。 - 特許庁

When manufacturing the ASIC, the test routine can execute a wide test of an ASIC block without receiving supply of a complicated test pattern from the testing device.例文帳に追加

ASIC製造中に、テストルーチンは、試験装置から複雑なテストパターンの供給を受ける事なく、ASICブロックの幅広いテストが可能である。 - 特許庁

例文

To provide a rapid test routine by means of unifying the creation of a machining program which uses a cutter and the creation of a test routine within CAD/CAM environment, in the numerical control of a machine tool.例文帳に追加

工作機械の数値制御において、CAD/CAM環境内でカッターによる機械加工プログラムと検査ルーチンの創成を統合することにより、検査ルーチンを速く行うことができるようにする。 - 特許庁


例文

In response to an assembly command code read out from a storage device 2, a test routine embedding-in part 14 embeds a check routine generated by a check routine generation part 12, in an free space of a target memory 3 on the basis of memory management table information owened by a target memory management part 13.例文帳に追加

記憶装置2から読み出したアセンブリ命令コードに対して、検査ルーチン組み込み部14は、検査ルーチン生成部12が生成した検査ルーチンを、ターゲットメモリ管理部13保有のメモリ管理テーブル情報に基づいて、ターゲットメモリ3の空き領域に組み込む。 - 特許庁

This testing method of ASIC (application specific integrated circuit 100 executes a test routine 128 in an incorporated memory 120 or an external memory by using an incorporated processor 110 in the ASIC.例文帳に追加

ASIC(100)のテスト方法であって、ASIC内の組込みプロセッサ(110)を用いて、組込みメモリ(120)または外部メモリ中のテストルーチン(128)を実行する。 - 特許庁

A process control system 12 or a safety system 14 in a process plant 10 uses one or more test blocks 90 in order to appropriately and safely operate an online test routine 88 in field devices 60, 62 such as a valve used therein.例文帳に追加

プロセスプラント10内のプロセス制御システム12または安全システム14は、そこで用いられるバルブの如きフィールドデバイス60,62内でオンライン試験ルーチン88を適時にかつ安全に動作させるために一または複数の試験ブロック90を用いる。 - 特許庁

In this driving method of a JTAG interface 2 of a microprocessor 1 in a micro-controller by using a boundary scan test method based on the IEEE standard 1149, the JTAG-interface 2 of the microprocessor 1 is driven from a test routine executable on the microprocessor 1.例文帳に追加

IEEE基準1149に基づくバウンダリスキャンテスト方法を使用して,マイクロコントローラ内のマイクロプロセッサ1のJTAGインタフェース2を駆動する方法であって,前記マイクロプロセッサ1のJTAG−インターフェイス2が,前記マイクロプロセッサ1上で実行可能なテストルーチンから駆動される。 - 特許庁

例文

Before reading (routines 22, 23) test conditions of the semiconductor inspection program 1 out of values set in the hardware of a semiconductor inspection device which executes the semiconductor inspection program 1, a subject hardware for extracting inspection conditions is selected (routine 21).例文帳に追加

半導体検査プログラム1のテスト条件を、当該半導体検査プログラムを実行する半導体検査装置のハードウェアに設定されている値から読み出す(ルーチン22,23)前に、検査条件を抽出する対象ハードウェアを選択する(ルーチン21)。 - 特許庁




  
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