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surface evaluationの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 643件
SLIDING SURFACE EVALUATION METHOD AND SLIDING SURFACE EVALUATION DEVICE例文帳に追加
摺動面評価方法及び摺動面評価装置 - 特許庁
MACHINING SURFACE EVALUATION DEVICE, MACHINING SURFACE EVALUATION METHOD, AND PROGRAM例文帳に追加
加工面評価装置、加工面評価方法及びプログラム - 特許庁
OPTICAL ELEMENT EVALUATION METHOD, OPTICAL SURFACE EVALUATION METHOD, AND OPTICAL SURFACE EVALUATION DEVICE例文帳に追加
光学素子評価方法、光学面評価方法および光学面評価装置 - 特許庁
EVALUATION METHOD OF SURFACE CONFIGURATION例文帳に追加
表面形状評価方法 - 特許庁
SURFACE CONTAMINATION DEGREE EVALUATION METHOD AND SURFACE CONTAMINATION DEGREE EVALUATION DEVICE例文帳に追加
表面汚染度評価方法及び表面汚染度評価装置 - 特許庁
EVALUATION APPARATUS FOR SURFACE CHECKUP APPARATUSES AND EVALUATION METHOD FOR SURFACE CHECKUP APPARATUSES例文帳に追加
表面検査装置の評価装置及び表面検査装置の評価方法 - 特許庁
SURFACE STABILITY EVALUATION DATA GENERATING SYSTEM例文帳に追加
面安定度評価データ作成システム - 特許庁
DENATURATION EVALUATION METHOD OF CARTILAGE SURFACE例文帳に追加
軟骨表面の変性評価方法 - 特許庁
SURFACE LIGHT-EMITTING LASER CHARACTERISTICS EVALUATION SYSTEM AND SURFACE LIGHT EMITTING TYPE LASER CHARACTERISTICS EVALUATION METHOD例文帳に追加
面発光レーザ特性評価装置および面発光レーザ特性評価方法 - 特許庁
SURFACE PHYSICAL PROPERTY EVALUATION METHOD OF PIGMENT例文帳に追加
顔料の表面物性評価方法 - 特許庁
EVALUATION METHOD FOR SEMICONDUCTOR SUBSTRATE SURFACE例文帳に追加
半導体基板表面の評価方法 - 特許庁
SILICON WAFER SURFACE DAMAGE EVALUATION METHOD例文帳に追加
シリコンウエハ表面損傷評価方法 - 特許庁
SURFACE EVALUATION DEVICE OF MICRO OBJECT, AND SURFACE EVALUATION METHOD OF MICRO OBJECT例文帳に追加
微小物体の表面評価装置及び微小物体の表面評価方法 - 特許庁
EVALUATION METHOD FOR SURFACE SHAPE OF SPHERICAL BODY AND EVALUATION DEVICE THEREOF例文帳に追加
球面体の表面形状評価方法及び評価装置 - 特許庁
SURFACE DEFECT EVALUATION METHOD OF SILICON WAFER例文帳に追加
シリコンウェーハの表面欠陥評価方法 - 特許庁
METHOD FOR EVALUATION OF SILICON WAFER SURFACE DAMAGE例文帳に追加
シリコンウエハ表面損傷評価方法 - 特許庁
DEGRADATION DEGREE EVALUATION METHOD AND EVALUATION DEVICE OF METALLIC MATERIAL SURFACE例文帳に追加
金属材料表面の劣化度評価方法及び評価装置 - 特許庁
EVALUATION METHOD FOR CONCRETE CAST, AND SPLICED SURFACE, EVALUATION DEVICE AND COMPUTER PROGRAM例文帳に追加
コンクリート打継面の評価方法、評価装置及びコンピュータプログラム - 特許庁
SURFACE EVALUATION METHOD OF OPTICAL DISK AND SURFACE EVALUATING DEVICE例文帳に追加
光ディスクの表面評価方法及び表面評価装置 - 特許庁
ELECTRIC CONDUCTION POINT EVALUATION DEVICE OF METAL PLATE SURFACE例文帳に追加
金属板表面の通電点評価装置 - 特許庁
EVALUATION METHOD FOR SILICON WAFER SURFACE MINUTE DEFECTS例文帳に追加
シリコンウエハ表面微細欠陥評価方法 - 特許庁
METALLIC COATING SURFACE EVALUATION METHOD AND DEVICE, AND EVALUATION REFERENCE SAMPLE例文帳に追加
メタリック塗装表面評価方法および装置並びに評価基準標本 - 特許庁
SURFACE SHAPE EVALUATION METHOD AND EVALUATION DEVICE OF SPHERICAL BODY AND BALL BEARING例文帳に追加
球面体の表面形状評価方法及び評価装置と玉軸受 - 特許庁
RAIL SURFACE CHARACTERISTIC EVALUATION METHOD, RAILWAY TRAFFIC CONTROL METHOD, AND RAIL SURFACE CHARACTERISTIC EVALUATION DEVICE例文帳に追加
レール表面特性評価方法、鉄道運行管理方法及びレール表面特性評価装置 - 特許庁
To provide a surface distortion evaluation device for performing accurate surface distortion evaluation based on stress data.例文帳に追加
応力データに基づいて正確な面歪評価を行う面歪評価装置を提供する。 - 特許庁
SURFACE MINUTE IRREGULARITY EVALUATION APPARATUS AND METHOD例文帳に追加
表面微小凹凸評価装置および方法 - 特許庁
EVALUATION METHOD OF CONTACT SURFACE, AND ITS DEVICE例文帳に追加
接点表面評価方法およびその装置 - 特許庁
SURFACE DISTORTION EVALUATION DEVICE AND METHOD例文帳に追加
面歪評価装置及び面歪評価方法 - 特許庁
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