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「test method」に関連した英語例文の一覧と使い方(8ページ目) - Weblio英語例文検索


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Weblio 辞書 > 英和辞典・和英辞典 > test methodの意味・解説 > test methodに関連した英語例文

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test methodの部分一致の例文一覧と使い方

該当件数 : 8060



例文

PROBE CARD AND TEST METHOD例文帳に追加

プローブカードおよび試験方法 - 特許庁

IDENTIFICATION METHOD AND CONCRETE TEST METHOD FOR CONCRETE TEST PIECE例文帳に追加

コンクリート供試体の識別方法及びコンクリート試験方法 - 特許庁

MEMORY TEST DEVICE AND METHOD例文帳に追加

メモリ試験装置及び方法 - 特許庁

LOADING TEST METHOD AND DEVICE例文帳に追加

載荷試験方法及び装置 - 特許庁

例文

MEMORY TEST DEVICE AND METHOD THEREFOR例文帳に追加

メモリテスト装置および方法 - 特許庁


例文

BENDING TEST METHOD OF FRP例文帳に追加

FRPの曲げ試験方法 - 特許庁

TEST METHOD FOR SEMICONDUCTOR CHIP例文帳に追加

半導体チップのテスト方法 - 特許庁

PROTECTION METHOD FOR LSI TEST PROGRAM AND TEST METHOD FOR LSI例文帳に追加

LSIテストプログラムの保護方法及びLSIのテスト方法 - 特許庁

MICROORGANISM TEST METHOD FOR FOOD例文帳に追加

食品の微生物検査法 - 特許庁

例文

TEST METHOD OF SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

半導体素子のテスト方法 - 特許庁

例文

DIAGNOSTIC TEST METHOD FOR ARTERIOSCLEROSIS例文帳に追加

動脈硬化の検査方法 - 特許庁

TEST DEVICE AND METHOD例文帳に追加

試験装置及び試験方法 - 特許庁

MEMORY TEST SYSTEM AND METHOD例文帳に追加

メモリ試験システム及び方法 - 特許庁

Implementation Method of a Rotating Test 例文帳に追加

回転試験の実施方法 - 日本法令外国語訳データベースシステム

TESTER AND TEST METHOD例文帳に追加

試験装置及び試験方法 - 特許庁

IC TEST METHOD AND IC例文帳に追加

ICテスト方法及びIC - 特許庁

SCAN TEST CIRCUIT AND METHOD例文帳に追加

スキャンテスト回路および方法 - 特許庁

AUTOMATIC FORMING METHOD FOR TEST DATA例文帳に追加

テストデータ自動作成方法 - 特許庁

ABRASION TEST METHOD OF VULCANIZED RUBBER例文帳に追加

加硫ゴムの摩耗試験方法 - 特許庁

TEST BOARD USED FOR RELIABILITY TEST, AND RELIABILITY TEST METHOD例文帳に追加

信頼性試験に用いられるテストボード及び信頼性試験方法 - 特許庁

VIBRATION TEST METHOD, VIBRATION TEST AUXILIARY DEVICE, AND VIBRATION TEST SYSTEM例文帳に追加

振動試験方法、振動試験補助装置、及び振動試験システム - 特許庁

LOAD TEST EXECUTION DEVICE, LOAD TEST EXECUTION METHOD AND LOAD TEST EXECUTION PROGRAM例文帳に追加

負荷テスト実施装置、負荷テスト実施方法、負荷テスト実施プログラム - 特許庁

AUTOMATIC TEST SYSTEM, AUTOMATIC TEST DEVICE, AUTOMATIC TEST METHOD AND PROGRAM例文帳に追加

自動試験システム、自動試験装置、自動試験方法及びプログラム - 特許庁

PSEUDO TEST METHOD FOR SWITCH, PSEUDO TEST PROGRAM, AND PSEUDO TEST DEVICE例文帳に追加

スイッチの疑似試験方法、疑似試験プログラム、および疑似試験装置 - 特許庁

To provide a protocol test apparatus and a protocol test method capable of executing a protocol test by generating various patterns.例文帳に追加

様々なパターンを作成してプロトコル試験を実行する。 - 特許庁

SOFTWARE TEST DEVICE, SOFTWARE TEST METHOD AND SOFTWARE TEST PROGRAM例文帳に追加

ソフトウェア試験装置、ソフトウェア試験方法及びソフトウェア試験用プログラム - 特許庁

TEST METHOD, TEST CIRCUIT, TEST CIRCUIT INTEGRATING DEVICE, AND COMPUTER PROGRAM例文帳に追加

テスト方法,テスト回路,テスト回路組込装置,およびコンピュータプログラム - 特許庁

FLOW TEST METHOD, FLOW TEST SYSTEM, AND FLOW TEST PROGRAM例文帳に追加

通水試験方法、通水試験システム、および通水試験プログラム - 特許庁

THUNDER STROKE TEST DEVICE, THUNDER STROKE TEST SYSTEM, AND THUNDER STROKE TEST METHOD例文帳に追加

雷撃試験装置、雷撃試験システム、および雷撃試験方法 - 特許庁

TEST TERMINAL FOR POWER FACILITY, AND TEST METHOD例文帳に追加

電力設備用試験端子および試験方法 - 特許庁

DISASTER PREVENTION RECEIVER, TEST METHOD AND TEST PROGRAM例文帳に追加

防災受信機、試験方法および試験プログラム - 特許庁

STRESS TEST FIXTURE AND STRESS TEST METHOD例文帳に追加

応力試験用治具及び応力試験方法 - 特許庁

AC TEST FACILITATING CIRCUIT AND AC TEST METHOD例文帳に追加

ACテスト容易化回路およびACテスト方法 - 特許庁

TESTING DEVICE, TEST METHOD AND TEST CONTROL PROGRAM例文帳に追加

試験装置、試験方法、及び試験制御プログラム - 特許庁

OPTICAL PULSE TEST METHOD AND OPTICAL PULSE TEST DEVICE例文帳に追加

光パルス試験方法及び光パルス試験装置 - 特許庁

TEST DEVICE FOR SEMICONDUCTOR DEVICE, AND TEST METHOD例文帳に追加

半導体装置の試験装置及び試験方法 - 特許庁

TEST APPARATUS, MOBILE TERMINAL APPARATUS AND TEST METHOD例文帳に追加

試験装置、移動端末装置及び試験方法 - 特許庁

WIRELESS NETWORK TEST SYSTEM AND WIRELESS NETWORK TEST METHOD例文帳に追加

無線網試験システム及び無線網試験方法 - 特許庁

BUFFER MEMORY TEST CIRCUIT AND BUFFER MEMORY TEST METHOD例文帳に追加

バッファメモリ試験回路及びバッファメモリ試験方法 - 特許庁

SURVEILLANCE TEST DEVICE AND SURVEILLANCE TEST METHOD例文帳に追加

サーベイランス試験装置およびサーベイランス試験方法 - 特許庁

TEST JIG AND TEST METHOD FOR WIRELESS COMMUNICATION SYSTEM例文帳に追加

無線通信システムのテスト治具およびテスト方法 - 特許庁

TEST PATTERN, TEST PATTERNING METHOD, AND PRINTER例文帳に追加

テストパターン、テストパターン作成方法及び印刷装置 - 特許庁

TEST RECORDING METHOD AND TEST RECORDING APPARATUS FOR PROTECTIVE RELAY例文帳に追加

保護継電器の試験記録方法及び装置 - 特許庁

POWER CYCLE TEST METHOD AND POWER CYCLE TEST APPARATUS例文帳に追加

パワーサイクル試験方法、及び、パワーサイクル試験装置 - 特許庁

TEST APPARATUS AND TEST METHOD, AND DATA PROCESSING APPARATUS例文帳に追加

テスト装置およびテスト方法とデータ処理装置 - 特許庁

SEMICONDUCTOR MEMORY TEST DEVICE, AND ITS TEST METHOD例文帳に追加

半導体メモリ試験装置、及びその試験方法 - 特許庁

COMMUNICATION TEST SYSTEM, SERVER, AND COMMUNICATION TEST METHOD例文帳に追加

通信試験システム、サーバ及び通信試験方法 - 特許庁

PAINT FILM SCRATCHING TEST METHOD AND TEST DEVICE例文帳に追加

塗膜擦傷性試験方法および試験装置 - 特許庁

TEST DEVICE AND TEST METHOD FOR PNEUMATIC TIRE例文帳に追加

空気入りタイヤの試験装置および試験方法 - 特許庁

例文

TEST DATA-GENERATING SYSTEM AND TEST DATA-GENERATING METHOD例文帳に追加

テストデータ作成システム及びテストデータ作成方法 - 特許庁




  
日本法令外国語訳データベースシステム
※この記事は「日本法令外国語訳データベースシステム」の2010年9月現在の情報を転載しております。
  
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