「test method」に関連した英語例文の一覧と使い方(10ページ目) - Weblio英語例文検索

RELIABILITY TEST EQUIPMENT AND RELIABILITY TEST METHOD例文帳に追加

信頼性試験装置および信頼性試験方法 - 特許庁

TEST PIECE INFORMATION READING METHOD AND TEST PIECE例文帳に追加

試験片情報の読み取り方法及び試験片 - 特許庁

TEST PATTERN GENERATOR, AND TEST PATTERN GENERATION METHOD例文帳に追加

テストパターン生成装置およびテストパターン生成方法 - 特許庁

ELECTRONIC TEST DEVICE AND METHOD FOR DISPLAYING TEST RESULT例文帳に追加

電子試験装置及びテスト結果の表示方法 - 特許庁

TEST PATTERN PRINTING METHOD, PRINTING APPARATUS, AND TEST PATTERN例文帳に追加

テストパターン印刷方法、印刷装置、及びテストパターン - 特許庁

SUPERCOOLING TEST DEVICE AND METHOD OF SUPERCOOLING TEST例文帳に追加

過冷却試験装置及び過冷却試験方法 - 特許庁

TEST CIRCUIT, SEMICONDUCTOR WAFER DEVICE, AND TEST METHOD例文帳に追加

試験回路、半導体ウエハ装置、及び試験方法 - 特許庁

TEST METHOD AND TEST APPARATUS USING ELECTRON BEAM例文帳に追加

電子ビームを用いた検査方法及び検査装置 - 特許庁

TEST METHOD AND TEST GENERATOR FOR TELECOMMUNICATION FACILITY例文帳に追加

電気通信設備のテスト方法及びテスト・ジェネレータ - 特許庁

TEST SYSTEM, SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT, AND TEST METHOD例文帳に追加

テストシステム、半導体集積回路及びテスト方法 - 特許庁

SELF TEST CIRCUIT DEVICE AND ITS SELF TEST METHOD例文帳に追加

自己試験回路装置およびその自己試験方法 - 特許庁

SCAN TEST METHOD, INTEGRATED CIRCUIT AND SCAN TEST CIRCUIT例文帳に追加

スキャンテスト方法、集積回路及びスキャンテスト回路 - 特許庁

TEST PROBE FOR SEMICONDUCTOR PACKAGE AND TEST METHOD例文帳に追加

半導体パッケージのテスト用プローブ及びテスト方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR TEST SYSTEM AND TEST METHOD FOR THIS SYSTEM例文帳に追加

半導体テストシステム及びこのシステムのテスト方法 - 特許庁

WAFER TEST SYSTEM, PROBER, WAFER TEST METHOD AND PROBE CARD例文帳に追加

ウエハテストシステム、プローバ、ウエハテスト方法及びプローブカード - 特許庁

TEST LOAD APPLYING METHOD AND TEST LOAD APPLYING MECHANISM例文帳に追加

試験荷重負荷方法及び試験荷重負荷機構 - 特許庁

WIND TUNNEL TEST MODEL AND METHOD FOR WIND TUNNEL TEST例文帳に追加

風洞試験用模型および風洞試験方法 - 特許庁

TEST CASE GENERATION DEVICE, TEST CASE GENERATION METHOD, AND TEST CASE GENERATOR例文帳に追加

テストケース生成装置、テストケース生成方法及びテストケース生成プログラム - 特許庁

TRANSITION TEST SUPPORT SYSTEM, TRANSITION TEST SUPPORT PROGRAM, AND TRANSITION TEST SUPPORT METHOD例文帳に追加

移行テスト支援システム、移行テスト支援プログラム、移行テスト支援方法 - 特許庁

TEST CASE PREPARATION METHOD, TEST CASE PREPARATION SYSTEM AND TEST CASE PREPARATION PROGRAM例文帳に追加

テストケース作成方法、テストケース作成システム及びテストケース作成プログラム - 特許庁

To provide a test method, a test program, a test device and a test system, allowing improvement of test efficiency compared to a conventional test method.例文帳に追加

従来の試験方法に比べて、試験効率を向上することができる試験方法、試験プログラム、試験装置及び試験システムを提供する。 - 特許庁

TEST DATA GENERATING PROGRAM, TEST DATA GENERATING DEVICE, AND TEST DATA GENERATING METHOD例文帳に追加

テストデータ生成プログラム、テストデータ生成装置及びテストデータ生成方法 - 特許庁

MANUFACTURING METHOD OF BENDING TEST TOOL, BENDING TEST TOOL AND BENDING TEST DEVICE例文帳に追加

曲げ試験治具の製造方法、曲げ試験治具および曲げ試験装置 - 特許庁

TEST DATA GENERATION METHOD, TEST DATA GENERATION DEVICE, AND TEST DATA GENERATION PROGRAM例文帳に追加

テストデータ生成方法、テストデータ生成装置及びテストデータ生成プログラム - 特許庁

TEST PATTERN GENERATION SYSTEM, TEST PATTERN GENERATION METHOD, AND TEST PATTERN GENERATION PROGRAM例文帳に追加

テストパタン生成システム、テストパタン生成方法、およびテストパタン生成プログラム - 特許庁

TEST CASE GENERATION DEVICE, TEST CASE GENERATION METHOD AND TEST CASE GENERATION PROGRAM例文帳に追加

テストケース生成装置、テストケース生成方法およびテストケース生成プログラム - 特許庁

SOFTWARE REGRESSION TEST SYSTEM, REGRESSION TEST PROGRAM AND REGRESSION TEST METHOD例文帳に追加

ソフトウェアのリグレッションテストシステム、リグレッションテストプログラムおよびリグレッションテスト方法 - 特許庁

TEST DATA GENERATION SYSTEM, TEST DATA GENERATION METHOD, AND TEST DATA GENERATION PROGRAM例文帳に追加

テストデータ生成システム、テストデータ生成方法及びテストデータ生成プログラム - 特許庁

TEST APPARATUS FOR TESTING VIBRATION CHARACTERISTIC OF TIRE AND TEST METHOD USING THE TEST APPARATUS例文帳に追加

タイヤの振動特性の試験装置、及びそれを用いた試験方法 - 特許庁

TEST SCENARIO CREATION PROGRAM, TEST SCENARIO CREATION APPARATUS, AND TEST SCENARIO CREATION METHOD例文帳に追加

テストシナリオ作成プログラム、テストシナリオ作成装置、テストシナリオ作成方法 - 特許庁

TEST CIRCUIT, TEST DEVICE AND TEST METHOD FOR SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

半導体集積回路のテスト回路およびテスト装置並びにテスト方法 - 特許庁

ALTERNATIVE TEST METHOD FOR RF CABLE TEST FOR AVOIDING LONG TEST CABLE例文帳に追加

長いテストケーブルを避けるためのＲＦケーブルテスト用の代替テスト方法 - 特許庁

TEST CIRCUIT FOR SEMICONDUCTOR DEVICE AND TEST METHOD USING THIS TEST CIRCUIT例文帳に追加

半導体装置のテスト回路および同テスト回路を用いたテスト方法 - 特許庁

PROGRAM TEST SUPPORT DEVICE, PROGRAM TEST SUPPORT METHOD, AND PROGRAM TEST SUPPORT PROGRAM例文帳に追加

プログラムテスト支援装置、プログラムテスト支援方法、プログラムテスト支援プログラム - 特許庁

AIR LEAK TEST METHOD AND DEVICE例文帳に追加

エアリークテスト方法および装置 - 特許庁

TEST MANAGEMENT PROGRAM AND METHOD例文帳に追加

テスト管理プログラムおよび方法 - 特許庁

TEST METHOD OF SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

半導体装置の試験方法 - 特許庁

TEST METHOD OF DATA PROCESSOR例文帳に追加

データ処理装置の試験方法 - 特許庁

MICRO-CONTROLLER AND TEST METHOD例文帳に追加

マイクロコントローラおよびテスト方法 - 特許庁

LEAKAGE TEST METHOD AND APPARATUS例文帳に追加

漏洩試験方法及び装置 - 特許庁

ARRAY SUBSTRATE AND TEST METHOD THEREOF例文帳に追加

アレイ基板とその検査方法 - 特許庁

ANCHOR TEST EQUIPMENT AND METHOD例文帳に追加

アンカー試験装置および方法 - 特許庁

SINGLE HOLE TYPE PERMEABILITY TEST METHOD例文帳に追加

単孔式透水試験方法 - 特許庁

TEST APPARATUS AND MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

試験装置、及び製造方法 - 特許庁

HARD MACRO TEST CIRCUIT, TESTING METHOD THEREFOR, AND METHOD OF GENERATING TEST PATTERN例文帳に追加

ハードマクロテスト回路、そのテスト方法およびテストパタン生成方法 - 特許庁