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test methodの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 8060件
TEST DEVICE, TEST SYSTEM AND TEST METHOD FOR SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加
半導体集積回路のテスト装置、テストシステム、及びテスト方法 - 特許庁
STEAM TURBINE TEST FACILITY, LOW LOAD TEST METHOD, AND LOAD CUTOFF TEST METHOD例文帳に追加
蒸気タービン試験設備、低負荷試験方法、及び負荷遮断試験方法 - 特許庁
DURABILITY TEST METHOD FOR TIRE例文帳に追加
タイヤの耐久試験方法 - 特許庁
THERMOCOUPLE CIRCUIT TEST METHOD例文帳に追加
熱電対回路試験方法 - 特許庁
TEST METHOD FOR VOLATILE MEMORY例文帳に追加
揮発性メモリのテスト方法 - 特許庁
SKIN SENSITIVITY TEST METHOD例文帳に追加
皮膚感作性検定方法 - 特許庁
TEST METHOD FOR ACCELERATION SENSOR例文帳に追加
加速度センサの検査方法 - 特許庁
SKIN SENSITIZATION TEST METHOD例文帳に追加
皮膚感作性検定方法 - 特許庁
TEST SPECIFICATION DESIGN METHOD FOR RANDOM VIBRATION TEST例文帳に追加
ランダム振動試験の試験仕様設計方法 - 特許庁
TEST METHOD AND TEST DEVICE FOR PLASMA DISPLAY PANEL例文帳に追加
プラズマディスプレイパネルの試験方法と試験装置 - 特許庁
SUBSCRIBER LINE TEST DEVICE AND TEST METHOD例文帳に追加
加入者回線試験装置および試験方法 - 特許庁
TEST DEVICE, TEST METHOD, PROGRAM, AND RECORDING MEDIUM例文帳に追加
テスト装置、テスト方法、プログラム及び記録媒体 - 特許庁
STATOR COIL INSULATION TEST DEVICE AND TEST METHOD例文帳に追加
ステータコイル絶縁試験装置および試験方法 - 特許庁
TEST DEVICE AND TEST METHOD FOR SEMICONDUCTOR MEMORY例文帳に追加
半導体メモリの試験装置及び試験方法 - 特許庁
TEST MODEL GENERATION APPARATUS AND TEST MODEL GENERATION METHOD例文帳に追加
テストモデル生成装置とテストモデル生成方法 - 特許庁
TEST METHOD FOR SEMICONDUCTOR MEMORY, AND TEST DEVICE例文帳に追加
半導体メモリの検査方法及び検査装置 - 特許庁
WATER PERMEABILITY TEST DEVICE AND WATER PERMEABILITY TEST METHOD例文帳に追加
透水試験装置および透水試験方法 - 特許庁
TEST SUPPORT SYSTEM, TEST SUPPORT METHOD, AND PROGRAM例文帳に追加
テスト支援システム、テスト支援方法、及びプログラム - 特許庁
TEST METHOD AND TEST DEVICE FOR CORRELATED DOUBLE SAMPLER例文帳に追加
相関二重サンプラの試験方法・試験装置 - 特許庁
PERSONALITY TEST SYSTEM AND PERSONALITY TEST METHOD例文帳に追加
性格診断システムおよび性格診断方法 - 特許庁
HEAT STORAGE TEST APPARATUS AND HEAT STORAGE TEST METHOD例文帳に追加
蓄熱試験装置および蓄熱試験方法 - 特許庁
BUILT-IN-TYPE SELF-TEST CIRCUIT AND TEST METHOD例文帳に追加
組み込み型自己テスト回路およびテスト方法 - 特許庁
TEST METHOD AND TEST DEVICE FOR SEMICONDUCTOR WAFER例文帳に追加
半導体ウェーハのテスト方法及びテスト装置 - 特許庁
ELECTRON BEAM TEST SYSTEM AND ELECTRON BEAM TEST METHOD例文帳に追加
電子ビームテストシステム及び電子ビームテスト方法 - 特許庁
TEST METHOD AND TEST APPARATUS FOR SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加
半導体装置のテスト方法及びテスト装置 - 特許庁
TEST CIRCUIT AND TEST METHOD FOR SEMICONDUCTOR DEVICES例文帳に追加
半導体装置のテスト回路及びテスト方法 - 特許庁
TEST SYSTEM AND TEST METHOD FOR SEMICONDUCTOR PACKAGE例文帳に追加
半導体パッケージのテストシステム及びテスト方法 - 特許庁
COMMUNICATION TEST APPARATUS, COMMUNICATION TEST SYSTEM, COMMUNICATION TEST METHOD, AND COMMUNICATION TEST PROGRAM例文帳に追加
通信試験装置と通信試験システム,通信試験方法及び通信試験プログラム - 特許庁
A test suite is basically a class with a method that invokes the specified test cases, such as specific test classes, test methods in test classes and other test suites.A test suite can be included as part of a test class but best practices recommends creatingindividual test suite classes.例文帳に追加
テストスイートはテストクラスの一部として含めることができますが、ベストプラクティスとしては、個々のテストスイートクラスを作成することをお勧めします。 - NetBeans
EVALUATION METHOD OF TEST ARTICLE例文帳に追加
被験物質の評価方法 - 特許庁
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