1153万例文収録!

「testing, testing」に関連した英語例文の一覧と使い方(56ページ目) - Weblio英語例文検索


小窓モード

プレミアム

ログイン
設定

設定

Weblio 辞書 > 英和辞典・和英辞典 > testing, testingに関連した英語例文

セーフサーチ:オン

不適切な検索結果を除外する

不適切な検索結果を除外しない

セーフサーチについて

testing, testingの部分一致の例文一覧と使い方

該当件数 : 14414



例文

METHOD AND EQUIPMENT FOR TESTING WIRE BOND例文帳に追加

ワイヤ接合の検査方法および装置 - 特許庁

IMPACT COMPRESSION TESTING DEVICE FOR CERAMICS例文帳に追加

セラミックス用衝撃圧縮試験装置 - 特許庁

METHOD FOR TESTING VEHICLE HANDLING STABILITY例文帳に追加

車両操縦安定性試験方法 - 特許庁

METHOD FOR TESTING MEMBRANE ENCLOSED BIOCOMPARTMENT例文帳に追加

膜包囲された生体区画の試験法 - 特許庁

例文

MULTI-LAYERED FILTRATION DEVICE CAPABLE OF TESTING MAINTAINABILITY例文帳に追加

保全性試験可能多層濾過装置 - 特許庁


例文

METHOD AND DEVICE FOR WAFER TESTING例文帳に追加

ウエハ検査方法およびウエハ検査装置 - 特許庁

COMPOSITION KIT FOR TESTING INADAPTATION OF DENTURE例文帳に追加

義歯不適合検査用の組成物キット - 特許庁

SLIDE TESTING METHOD AND MACHINE例文帳に追加

摺動試験方法及び摺動試験機 - 特許庁

TESTING DEVICE FOR ULTRASONIC ENDOSCOPE例文帳に追加

超音波内視鏡装置の検査装置 - 特許庁

例文

SEMICONDUCTOR DEVICE AND METHOD FOR TESTING IT例文帳に追加

半導体装置及びそのテスト方法 - 特許庁

例文

TRANSMISSION AND RECEPTION TESTING METHOD FOR COMMUNICATION EQUIPMENT例文帳に追加

通信装置の送受信試験方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT WITH TESTING FUNCTION例文帳に追加

テスト機能付き半導体集積回路 - 特許庁

DATA PROCESSOR AND ITS TESTING METHOD例文帳に追加

データ処理装置及びその試験方法 - 特許庁

TESTING DEVICE AND TEST METHOD OF IC例文帳に追加

ICの試験装置及び試験方法 - 特許庁

PIPING FOR HEAT MEDIUM AND TESTING APPARATUS例文帳に追加

熱媒体用配管及び試験装置 - 特許庁

RAM STROKE DETECTION APPARATUS AND TESTING MACHINE例文帳に追加

ラムストローク検出装置および試験機 - 特許庁

COOLING APPARATUS FOR SEMICONDUCTOR DEVICE TESTING DEVICE例文帳に追加

半導体試験装置の冷却装置 - 特許庁

DIGITAL PROTECTION RELAY AND TESTING METHOD THEREOF例文帳に追加

デジタル保護リレーおよびその試験方法 - 特許庁

TESTING TOOL AND ITS MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

試験用具、およびそれの製造方法 - 特許庁

FATIGUE TESTING MACHINE FOR MICRO/NANO MATERIAL例文帳に追加

マイクロ・ナノ材料用疲労試験装置 - 特許庁

APPARATUS AND METHOD FOR TESTING SEMICONDUCTOR例文帳に追加

半導体試験装置及び試験方法 - 特許庁

ELECTRIC TESTING METHOD FOR SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

半導体装置の電気的検査方法 - 特許庁

INDENTATION FORMING MECHANISM AND HARDNESS TESTING MACHINE例文帳に追加

圧痕形成機構および硬さ試験機 - 特許庁

SAMPLE COLLECTION APPARATUS AND TESTING APPARATUS例文帳に追加

サンプル収集装置および試験装置 - 特許庁

SAMPLE FIXING DEVICE AND HARDNESS TESTING MACHINE例文帳に追加

試料固定装置及び硬さ試験機 - 特許庁

GROUND PENETRATING MACHINE AND SOUNDING TESTING MACHINE例文帳に追加

地盤貫入機及びサウンディング試験機 - 特許庁

ENGINE TESTING APPARATUS AND ENGINE SUCTION SYSTEM例文帳に追加

エンジンの試験装置及び吸気装置 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR TESTING IC CARD例文帳に追加

ICカードの試験方法および装置 - 特許庁

BURN-IN BOARD AND SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE例文帳に追加

バーンインボード、及び、半導体試験装置 - 特許庁

WIRELESS ELECTRIC WIRING CIRCUIT TESTING DEVICE例文帳に追加

無線式電気配線回路試験装置 - 特許庁

ENDURANCE TESTING MACHINE FOR TRACTION TRANSMISSION MEMBER例文帳に追加

トラクション伝達部材の耐久試験機 - 特許庁

COMBINATION TEST METHOD AND TESTING DEVICE例文帳に追加

組合せ試験方法及び試験装置 - 特許庁

CONNECTOR FIXING TOOL AND MATERIAL TESTING MACHINE例文帳に追加

コネクタ固定治具および材料試験機 - 特許庁

LSI TESTING PROBE AND IO PAD例文帳に追加

LSI検査用プローブおよびIOパッド - 特許庁

NAIL SUPPORT FORM TESTING DEVICE OF NAIL HITTING MACHINE例文帳に追加

釘打機の釘支持形態検査装置 - 特許庁

TESTING METHOD FOR PLANT MONITOR CONTROL SYSTEM例文帳に追加

プラント監視制御システムの試験方法 - 特許庁

DEVICE INTERFACE APPARATUS AND TESTING DEVICE例文帳に追加

デバイスインターフェイス装置および試験装置 - 特許庁

PERFORMANCE TESTING SYSTEM FOR CLIENT/SERVER SYSTEM例文帳に追加

クライアントサーバシステムの性能試験方式 - 特許庁

BALANCE TESTING METHOD AND DEVICE FOR ELEVATOR例文帳に追加

エレベータの秤試験方法および装置 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR TESTING OPTICAL CABLE例文帳に追加

光ケーブルの試験方法および装置 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR TESTING INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

集積回路試験方法及び装置 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR TESTING LIGHT FASTNESS例文帳に追加

耐光性試験方法及び試験装置 - 特許庁

METHOD FOR TESTING IC CARD, AND DEVICE THEREFOR例文帳に追加

ICカードの試験方法および装置 - 特許庁

WIRING TESTING METHOD AND DEVICE例文帳に追加

布線検査方法及び布線検査装置 - 特許庁

REMOTE TESTING SYSTEM OF BAND CONTROLLER例文帳に追加

帯域制御装置の遠隔試験システム - 特許庁

ION MIGRATION TESTING METHOD AND ITS DEVICE例文帳に追加

イオンマイグレーション試験方法及び装置 - 特許庁

NONDESTRUCTIVE TESTING METHOD FOR PROJECTION WELDING例文帳に追加

プロジェクション溶接の非破壊検査方法 - 特許庁

APPARATUS AND METHOD FOR FILTRATION TESTING例文帳に追加

濾過試験装置、及び、濾過試験方法 - 特許庁

AUTOMATIC TEST METHOD AND AUTOMATIC TESTING MACHINE例文帳に追加

自動試験方法及び自動試験機 - 特許庁

例文

DUCT CONNECTING STRUCTURE FOR IC TESTING APPARATUS例文帳に追加

IC試験装置のダクト接続構造 - 特許庁




  
Copyright © Japan Patent office. All Rights Reserved.
こんにちは ゲスト さん

ログイン

Weblio会員(無料)になると

会員登録のメリット検索履歴を保存できる!

会員登録のメリット語彙力診断の実施回数増加!

無料会員に登録する
英→日 日→英
こんにちは ゲスト さん

ログイン

Weblio会員(無料)になると

会員登録のメリット検索履歴を保存できる!

会員登録のメリット語彙力診断の実施回数増加!

無料会員に登録する

©2026 GRAS Group, Inc.RSS