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testing deviceの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 5533件
TESTING DEVICE FOR COLD THERMAL SHOCK例文帳に追加
冷熱衝撃試験装置 - 特許庁
ZERO GRAVITY SIMULATION TESTING DEVICE例文帳に追加
無重力模擬試験装置 - 特許庁
INERT ATMOSPHERE TESTING DEVICE例文帳に追加
不活性雰囲気試験装置 - 特許庁
SYSTEM FOR TESTING SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加
半導体デバイス試験システム - 特許庁
DEVICE FOR TESTING ATM TRANSMISSION例文帳に追加
ATM伝送試験装置 - 特許庁
STANDARD PENETRATION TESTING DEVICE例文帳に追加
標準貫入試験装置 - 特許庁
SHORT CIRCUIT TESTING DEVICE OF BATTERY例文帳に追加
電池の短絡試験装置 - 特許庁
EDDY-CURRENT FLAW DETECTION TESTING DEVICE例文帳に追加
渦流探傷試験装置 - 特許庁
TESTING DEVICE FOR ELECTRONIC CROSSING例文帳に追加
電子踏切用試験装置 - 特許庁
TIRE UNIFORMITY TESTING DEVICE例文帳に追加
タイヤのユニフォーミティ試験装置 - 特許庁
TESTING DEVICE, TESTING METHOD OF FATIGUE TEST, AND CRACK EVOLUTION TESTING METHOD例文帳に追加
試験装置、疲労試験の試験方法、およびき裂進展試験方法 - 特許庁
PROGRAM TESTING DEVICE, PROGRAM TESTING METHOD AND PROGRAM TESTING PROGRAM例文帳に追加
プログラム試験装置、プログラム試験方法およびプログラム試験用プログラム - 特許庁
IC TESTING METHOD AND IC TESTING DEVICE USING THE TESTING METHOD例文帳に追加
IC試験方法及びその試験方法を用いたIC試験装置 - 特許庁
SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE, SEMICONDUCTOR TESTING SYSTEM, AND TESTING METHOD FOR SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加
半導体試験装置、半導体試験システム、及び半導体装置の試験方法 - 特許庁
TEMPERATURE TESTING DEVICE, TEMPERATURE TESTING METHOD, AND PROGRAM例文帳に追加
温度試験装置、温度試験方法及びプログラム - 特許庁
DIRECT-CURRENT TESTING DEVICE AND SEMICONDUCTOR TESTING APPARATUS例文帳に追加
直流試験装置及び半導体試験装置 - 特許庁
SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE, TESTING SYSTEM, AND MANUFACTURING APPARATUS例文帳に追加
半導体テスト装置、テストシステムおよび製造装置 - 特許庁
STATIC ELECTRICITY TESTING DEVICE AND STATIC ELECTRICITY TESTING METHOD例文帳に追加
静電気試験装置及び静電気試験方法 - 特許庁
MULTI PROCESS TESTING METHOD AND MULTI PROCESS TESTING DEVICE例文帳に追加
多工程試験方法及び多工程試験装置 - 特許庁
TESTING DEVICE, TESTING METHOD, AND ELECTRIC CURRENT MEASURING INSTRUMENT例文帳に追加
試験装置、試験方法、及び電流測定器 - 特許庁
MICROORGANISM TESTING DEVICE AND MICROORGANISM TESTING CHIP例文帳に追加
微生物検査装置及び微生物検査用チップ - 特許庁
TESTING DEVICE AND TESTING METHOD FOR DIFFERENTIAL DATA DRIVER例文帳に追加
差動型データドライバのテスト装置及びテスト方法 - 特許庁
RELIABILITY TESTING METHOD AND RELIABILITY TESTING DEVICE例文帳に追加
信頼性試験方法及び信頼性試験装置 - 特許庁
TESTING METHOD FOR SEMICONDUCTOR DEVICE AND TESTING DEVICE FOR SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加
半導体装置の試験方法および半導体装置の試験装置 - 特許庁
METHOD OF TESTING CHARACTERISTIC OF DEVICE例文帳に追加
デバイスの特性試験方法 - 特許庁
ARTIFICIAL NETWORK SWITCH TESTING DEVICE例文帳に追加
擬似ネットワークスイッチ試験装置 - 特許庁
TESTING DEVICE OF AIR CONDITIONER例文帳に追加
空気調和機の試験装置 - 特許庁
RADIO COMMUNICATION DEVICE TESTING APPARATUS例文帳に追加
無線通信機器試験装置 - 特許庁
DATA TRANSMISSION SYSTEM TESTING DEVICE例文帳に追加
データ伝送システム試験装置 - 特許庁
SOLID-STATE IMAGING ELEMENT TESTING DEVICE例文帳に追加
固体撮像素子テスト装置 - 特許庁
TESTING DEVICE FOR COMPRESSOR PERFORMANCE例文帳に追加
圧縮機性能試験装置 - 特許庁
ULTRASONIC FLAW DETECTION TESTING DEVICE例文帳に追加
超音波探傷試験装置 - 特許庁
TESTING DEVICE OF AUTOMATIC TRANSMISSION例文帳に追加
自動変速機の試験装置 - 特許庁
FULL AUTOMATIC MATERIAL-TESTING DEVICE例文帳に追加
全自動材料試験装置 - 特許庁
DELAY CIRCUIT AND TESTING DEVICE例文帳に追加
遅延回路、及び試験装置 - 特許庁
To provide a testing device and a technique for testing a protection device appropriately.例文帳に追加
防御装置を適切に試験する技術を提供する。 - 特許庁
PLANE BENDING FATIGUE-TESTING DEVICE例文帳に追加
平面曲げ疲労試験装置 - 特許庁
TESTING/DIAGNOSING METHOD AND TESTING/DIAGNOSING DEVICE FOR STORAGE DEVICE例文帳に追加
記憶装置の試験・診断方法および試験・診断装置 - 特許庁
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