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testing deviceの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 5534件
DRIVING METHOD FOR VIBRATION TESTING DEVICE AND VIBRATION TESTING DEVICE例文帳に追加
振動試験装置の駆動方法及び振動試験装置 - 特許庁
OSCILLATION TESTING DEVICE LIMIT SENSOR例文帳に追加
動揺試験装置リミットセンサー - 特許庁
DISPENSING METHOD FOR SPECIMEN TESTING DEVICE AND SPECIMEN TESTING DEVICE例文帳に追加
検体試験装置の分注方法及び検体試験装置 - 特許庁
TESTING DEVICE FOR SEMICONDUCTOR CHIP例文帳に追加
半導体チップの試験装置 - 特許庁
DEVICE FOR TESTING SEMICONDUCTOR ELEMENT例文帳に追加
半導体素子の試験装置 - 特許庁
(i) sensor sensitivity testing device 例文帳に追加
一 感知器感度試験装置 - 日本法令外国語訳データベースシステム
(ii) compressive strength testing device 例文帳に追加
二 圧縮強度試験装置 - 日本法令外国語訳データベースシステム
TESTING DEVICE OF ELECTROMAGNETIC CONTACTOR例文帳に追加
電磁接触器のテスト装置 - 特許庁
BALL-TESTING DEVICE FOR METAL PIPE例文帳に追加
金属管用ボールテスト装置 - 特許庁
WATER-COOLING TYPE IC TESTING DEVICE例文帳に追加
水冷式IC試験装置 - 特許庁
SERIAL COMMUNICATION CARD TESTING DEVICE例文帳に追加
シリアル通信カード試験装置 - 特許庁
NOISE TESTING DEVICE OF MAGNETIC TAPE例文帳に追加
磁気テープのノイズ検査装置 - 特許庁
SEMICONDUCTOR-DEVICE TESTING APPARATUS AND SEMICONDUCTOR-DEVICE TESTING METHOD例文帳に追加
半導体デバイス試験装置及び半導体デバイス試験方法 - 特許庁
SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE AND TESTING METHOD OF SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加
半導体試験装置及び半導体装置の試験方法 - 特許庁
TEMPERATURE ADJUSTMENT DEVICE FOR TESTING例文帳に追加
試験用温度調整装置 - 特許庁
TESTING DEVICE FOR INFORMATION TERMINAL例文帳に追加
情報端末の試験装置 - 特許庁
AUTOMATIC TESTING DEVICE FOR DISTRIBUTION BOARD例文帳に追加
配電盤自動試験装置 - 特許庁
DESIGN SUPPORTING DEVICE AND TESTING DEVICE例文帳に追加
設計支援装置および検査装置 - 特許庁
OPTICAL MODULATION DEVICE AND TESTING DEVICE例文帳に追加
光変調装置および試験装置 - 特許庁
CONVEYANCE DEVICE, HANDLER, AND TESTING DEVICE例文帳に追加
搬送装置、ハンドラおよび試験装置 - 特許庁
TESTING DEVICE FOR SDH TRANSMISSION DEVICE例文帳に追加
SDH伝送装置の試験装置 - 特許庁
METHOD OF CONTROLLING TESTING DEVICE FOR SEMICONDUCTOR DEVICE, AND TESTING DEVICE FOR SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加
半導体デバイス試験装置の制御方法・半導体デバイス試験装置 - 特許庁
DISPLAY DEVICE, TESTING DEVICE, RECORDING MEDIUM例文帳に追加
表示装置、検査装置、記録媒体 - 特許庁
DISPLAY DEVICE, TESTING METHOD FOR DISPLAY DEVICE AND TESTING DEVICE FOR DISPLAY DEVICE例文帳に追加
表示装置、表示装置の検査方法、及び、表示装置の検査装置 - 特許庁
FUNCTIONAL TESTING DEVICE OF DATA STORAGE DEVICE例文帳に追加
データ記憶装置の機能試験装置 - 特許庁
FATIGUE TESTING DEVICE FOR BALL SCREW例文帳に追加
ボールねじの疲労試験装置 - 特許庁
TEST PROGRAM AND TESTING DEVICE例文帳に追加
試験プログラム及び試験装置 - 特許庁
ELECTRIC CIRCUIT, AND TESTING DEVICE例文帳に追加
電気回路および試験装置 - 特許庁
DRIVER CIRCUIT AND TESTING DEVICE例文帳に追加
ドライバ回路および試験装置 - 特許庁
DEVICE FOR TESTING PRINTED CIRCUIT BOARD例文帳に追加
プリント回路板の検査装置 - 特許庁
AMPLIFIER CIRCUIT AND TESTING DEVICE例文帳に追加
増幅回路、及び試験装置 - 特許庁
TESTING DEVICE FOR IMPACT RESISTANCE OF WAFER例文帳に追加
ウエハの耐衝撃試験装置 - 特許庁
DECIMATION FILTER AND TESTING DEVICE例文帳に追加
間引きフィルタ及び試験装置 - 特許庁
TESTING APPARATUS OF SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加
半導体装置の試験装置 - 特許庁
SYNTHETIC APERTURE RADAR TESTING DEVICE例文帳に追加
合成開口レーダ試験装置 - 特許庁
TESTING METHOD FOR LIQUID CRYSTAL DEVICE例文帳に追加
液晶装置の試験方法 - 特許庁
PORTABLE CORN PENETRATION TESTING DEVICE例文帳に追加
ポータブルコーン貫入試験装置 - 特許庁
FIRE HYDRANT HOSE TESTING DEVICE例文帳に追加
消火栓用ホース試験装置 - 特許庁
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| ※この記事は「日本法令外国語訳データベースシステム」の2010年9月現在の情報を転載しております。 |
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