「testing device」に関連した英語例文の一覧と使い方(110ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a TEG pattern, and a testing method of a semiconductor element using the pattern capable of confirming a leakage current level generated by erroneously aligned landing to an active region of M1C through silicon substrate data in a viewpoint of an active extension design rule to the M1C in a manufacturing method of a semiconductor device of 90 nm class or below.例文帳に追加

９０ｎｍ級以下の半導体素子の製造において、Ｍ１Ｃのアクティブ領域に対するミスアラインされたランディングによって発生する漏洩電流水準をＭ１Ｃに対するアクティブエクステンションデザインルールの観点でシリコン基板データを通じて確認可能にすることができるテグパターン及びそのパターンを利用した半導体素子検査方法を提供する。 - 特許庁

To solve such a problems of a conventional radar testing device that a failure detection time is long because the test item order is determined in the descending order of MTBF(Mean Time Between Failure) values of components at the time of a test object design and therefore the test order reflecting a failure record in actual operation of the test body can not be selected.例文帳に追加

従来のレーダ用試験装置では、被試験体設計時の構成品のＭＴＢＦ（Ｍｅａｎ Ｔｉｍｅ Ｂｅｔｗｅｅｎ Ｆａｉｌｕｒｅ）値の降順にて試験項目順序を決定しており、被試験体の実運用における故障実績を反映させた試験順序を選択することができないため、故障検出時間が長い。 - 特許庁

To determine an assembling sequence in a mixed production system, so as to eliminate delay of the start of a test due to the test sequence of a product to be tested and allocation to a testing device, and efficiently execute subsequent tests by increasing spare time of each test time even if any trouble occurs in the set test sequence.例文帳に追加

本発明の課題は、混流生産システムにおいて、試験対象の製品の試験順序、該当試験機への割り当て方による試験開始の遅延を無くし、また、個々の試験時間の空き時間を長くして、設定した試験順序でトラブル等が発生しても以後の試験を効率良く実行できるように設定することである。 - 特許庁

To provide a highly reliable testing method of cans and a device realizing it by analyzing echo vibration having a vibration waveform which becomes gradually complicated because of the increase in noise constituents along with the lapse of time in hammering test of a two-piece can, providing a precise frequency spectrum, and accurately grasping the frequency which matches a can internal pressure.例文帳に追加

本発明の課題は、時間と共にノイズ成分が多くなり複雑な振動波形となっている２ピース缶の打検における反響振動を解析して、精度のよい周波数スペクトルを得て缶内圧力に対応する周波数を正確に把握し、信頼性が高い缶の検査法並びにそれを実現する検査装置を提供することにある。 - 特許庁

To provide a data processor and method for testing stability of a cell using a reliable, effective and practical (in connection with test time period) mechanism for detecting a defective memory cell that may malfunction in normal use due to unstableness of the cell caused by a hysteresis effect in a body region of transistors configuring the memory cell in a memory device.例文帳に追加

メモリ・デバイス内のメモリ・セルを構成するトランジスタのボディ領域の履歴効果が引き起こすセルの不安定性により通常の使用中に誤動作するかもしれない欠陥メモリ・セルの検出のための信頼できる効果的で現実的な（テスト時間に関して）メカニズムを用いて、セルの安定性をテストするデータ処理装置と方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a new airtightness testing method, capable of inspecting fine leaks and gross leaks of an electronic component sealed airtightly in a shorter time than hitherto, showing a high leak detection capability, coping with miniaturization of the electronic component, and surely detecting the leak, without omission over a wide range, and an in-line airtightness test device for realizing the method.例文帳に追加

気密封止された電子部品のファインリーク及びグロスリークを従来よりも短時間で検査し、電子部品の小型化に対応して高いリーク検出能力を発揮し、広い範囲に亘って確実にかつ漏れなくリークを検出し得る新規な気密試験方法、及びそれを実現するインライン化された気密試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide molded articles such as lidded medical equipment container, lidded disposable physics/chemistry testing instrument, lidded and hollowed sterilized slide glass, monolithic molded eyeglasses, windowpane with unevenness, character or pattern, frame or locking device, illuminator cover, tableware, roof tile and helmet which are made of a PET resin showing outstanding pliability, transparency, radiation resistance, impact resistance and the like.例文帳に追加

柔軟性、透明性、放射線耐性、耐衝撃度等に優れたＰＥＴ樹脂を用いた、蓋付き医療器具容器、蓋付き使い捨て理化学試験器具、蓋及び窪み付き滅菌済スライドグラス、一体成型眼鏡、凹凸や文字、模様付き、枠や施錠器具付き窓ガラス、照明器具カバー、食器、瓦屋根、ヘルメット等の成型品を提供する。 - 特許庁

To solve the problem that a measuring instrument testing a feeding system supplying electric power to a power receiving device by using PoE (Power over Ethernet(R)) technique can neither specify which pair of communication lines are used by the feeding system to supply the electric power nor confirm state transition of a fed voltage after the feeding system is connected.例文帳に追加

ＰｏＥ技術を用いて受電装置に電力を供給する給電装置を試験する測定器において、給電装置がどの通信線対を用いて給電するかを特定することができず、かつ給電装置が接続されてからの給電電圧の状態推移を確認することができなかったという課題を解決する。 - 特許庁

This semiconductor device and the testing method therefor has a rank data 11 for indicating a test result of a ranking test executed based on a plurality of reference values in a wafer condition, a fuse part 15 storing the rank data 11, and a control circuit 16 for reading out the rank data 11 from the fuse part 15, for use in a product test carried out after packaged.例文帳に追加

本発明の半導体装置およびそのテスト方法は、ウェハ状態において複数の基準値に基づいて行われるランク分けテストのテスト結果を示すランクデータ１１と、ランクデータ１１が格納されたヒューズ部１５と、パッケージング後に行われる製品テストで利用するために、ランクデータ１１をヒューズ部１５から読み出す制御回路１６を有する。 - 特許庁

The semiconductor testing device which tests a DUT by using test patterns outputted from a memory storing DUT test patterns is provided with a memory control part which divides the memory into a plurality of areas, moves test patterns stored in undiagnosed areas to diagnosed areas and then diagnoses the undiagnosed areas.例文帳に追加

ＤＵＴの試験パターンが格納されているメモリから出力される試験パターンを用いてＤＵＴの試験を行う半導体試験装置において、メモリを複数のエリアに分割し、このエリアのうち未診断エリアに格納されている試験パターンを診断済みエリアに移動させた後に未診断エリアを診断するメモリ制御部を備える。 - 特許庁

The compressor testing device contains a test chamber 10; a gas supply means 20 for supplying nitrogen gas having specified temperature and specified pressure to the test chamber 10; a driving means 30 for driving a specimen T put in the test chamber 10 through a reduction means 40; and a load adjusting means 50 for adjusting a load of the driving means 30.例文帳に追加

テストチャンバー１０と、前記テストチャンバー１０に所定温度および所定圧力の窒素ガスを供給するガス供給手段２０と、前記テストチャンバー１０内に配設された供試体Ｔを、減速手段４０を介して駆動する駆動手段３０と、前記駆動手段３０の負荷を調整する負荷調整手段５０とを備えてなるものである。 - 特許庁

This remote operation system is provided with the radio station controllers 102 and 104 for controlling the radio channel of a first radio channel communication system, a mobile station 108 for a test for testing the radio channel controlled by the radio station controllers, and a remote operation device 110 for operating the radio station controllers, on the basis of test results outputted by the mobile station for a test.例文帳に追加

第１の無線回線通信システムの無線回線を制御する無線局制御装置１０２，１０４と、その無線局制御装置が制御する無線回線を試験する試験用移動局１０８と、試験用移動局が出力する試験結果に基づいて無線局制御装置を操作する遠隔操作装置１１０とを備える。 - 特許庁

In the device, an image processing circuit 4 performs image processing for the detection of certain testing items other than display unevenness based on image data, a judgment circuit 5 determines defects from processing result of the image processing circuit 4, and an image processing circuit 6 performs image processing based on the image data so that display unevenness may become marked to be output to a display unit 6a.例文帳に追加

画像処理回路４は画像データをもとに表示ムラ以外の所定の検査項目検出のための画像処理を行い、判定回路５は画像処理回路４の処理結果から欠陥を判定し、画像処理回路６は、画像データをもとに表示ムラが顕著になるような画像処理を行い表示装置６ａに出力する。 - 特許庁

To provide corrosion resistance to strong acid and strong alkali measurement liquids and wear resistance to a suspension of hard particles, such as an abrasive and to secure highly reliable measurement performance as utilizing both the function of a metal liquid tester as an inertial mass body in an oscillatory-type liquid testing device and the advantage of obtaining highly reliable oscillatory coupling.例文帳に追加

振動形形検液装置における金属製検液子の慣性質量体としての機能並びに溶接等により高信頼の振動結合が得られる利点を享受しながら、強酸や強アルカリの測定液に対する耐食性、並びに研磨材等の硬質粒子の懸濁液に対する耐摩耗性を付与し、高信頼の測定性能を保証する。 - 特許庁

To provide a superconducting electromagnet cooling device capable of controlling the circulation flow rate of a supercritical pressure helium (SHe) supplied to a superconducting electromagnet in a wide range in the same facility, capable of testing the circulation flow rate of an exhaust gas compressor in a wide range even when the exhaust gas compressor for the refrigerator is tested, and enabling the availability of data containing operating points.例文帳に追加

同一設備で超電導電磁石に供給する超臨界圧ヘリウム（ＳＨｅ）の循環流量を広範囲に調整でき、かつ、逆に冷凍機の排気圧縮機を試験する場合にも、排気圧縮機の循環流量を広範囲に試験でき、動作点を振ったデータを入手することができる超電導電磁石冷却装置を提供する。 - 特許庁

In the test circuit of the device 400 equipped with the nonvolatile memory 402, an external reset control section 410 generates an internal reset signal 414 by masking the external reset signal 222 for a predetermined period, and a CPU 401 controls an execution of a self-testing and a write of this test result to the nonvolatile memory 402 based on the internal reset signal 414.例文帳に追加

不揮発性メモリ４０２を備えたデバイス４００のテスト回路であって、外部リセット制御部４１０は外部リセット信号２２２を所定の期間マスクして内部リセット信号４１４を生成し、ＣＰＵ４０１は内部リセット信号４１４に基づいて、自己試験の実行とその結果の不揮発性メモリ４０２への書き込みとを制御する。 - 特許庁

The device 10 contains a plurality of load generation mechanisms for testing the strength of a material under pressure, in which each mechanism simultaneously operates independently of other mechanisms and each load mechanism applies a load to simulate a pressure condition with at least one method from among deformation, in-plane shear, a cyclic load, gas permeability, layer or film delamination.例文帳に追加

複数の負荷発生機構を含み圧力下での材料の強度をテストする装置１０であって、機構のそれぞれは互いに他の機構から独立して同時に動作し、各負荷発生機構は、変形、面内せん断、周期的負荷、気体透過性、層又はフィルム剥離のうち少なくとも一つの形式で、圧力状態をシミュレートする負荷を加える装置１０。 - 特許庁

To provide a circuit and a method for testing a semiconductor integrated circuit, which can easily test a limitation of an operation cycle, i.e., a delay characteristic of the semiconductor integrated circuit device at an arbitrary cycle in a function test pattern of the semiconductor integrated circuit, by using the function test pattern and a relatively slow clock signal input from the outside.例文帳に追加

半導体集積回路の機能試験パタンと、外部からの比較的遅いクロック信号とを用いて、機能試験パタンの任意のサイクルでの動作周期の限界、つまり本半導体集積回路装置の遅延性能を容易に試験することができる半導体集積回路の試験回路およびその試験方法を提供する。 - 特許庁

A testing device 1 is provided with a crank motion mechanism CM which connects a piston 3 in a cylinder 2 to a crank shaft 5 via a connecting rod 4 and rotatably supports the crank shaft 5 by a bearing 6 for a crank support as a part which performs a crank motion simulating an actual machine engine, in which the bearing 6 for the crank support is installed to a base 11 via a housing 13.例文帳に追加

試験装置１は、実機エンジンを模したクランク運動を行う部分として、シリンダ２内のピストン３を、コンロッド４を介してクランクシャフト５に連結し、クランクシャフト５をクランクサポート用軸受６により回転自在に支持するクランクモーション機構ＣＭを設け、基台１１にハウジング１３を介してクランクサポート用軸受６を設置している。 - 特許庁

The defrost detection device includes a detecting section in which an electrode is formed on a substrate with a predetermined pattern, a dielectric constant instrument connected with the electrode of the detecting section to obtain the dielectric constant of the detecting section by means of the TDR (Time Domain Reflectometry) method, and a testing apparatus identifying defrost conditions based on the dielectric constant obtained from the dielectric constant instrument.例文帳に追加

基板上に電極が所定のパターンで形成された検知部と、前記検知部の前記電極に接続されてＴＤＲ（Ｔｉｍｅ Ｄｏｍａｉｎ Ｒｅｆｌｅｃｔｏｍｅｔｒｙ）法によって前記検知部の比誘電率を求める比誘電率測定器と、前記比誘電率測定器で求められた前記比誘電率に基づいて降霜状態を判定する判定装置とを備える。 - 特許庁

A vehicle composite testing device 1 for placing wheels of the vehicle to be tested on the front and rear drive rollers 2, 2 to carry out the brake test or speed test is provided with a drive roller locking means 4 for stopping the front and rear drive rollers 2, 2 upon detecting the stop of the wheels by a lock detecting roller 4a arranged between the front and rear drive rollers 2, 2.例文帳に追加

前後の駆動ローラ２、２上に被験車両の車輪を載置してブレーキテスト又はスピードテストをする式の車両複合試験装置１において、前記前後の駆動ローラ２、２間に配置されるロック検出ローラ４ａにより前記車輪の停止を検出して前記駆動ローラ２、２を停止する駆動ローラのロック手段４を設けた。 - 特許庁

To provide a device, method and program for testing a branch prediction circuit of an information processor, in which verification of the branch prediction circuit can be easily and efficiently performed without performing processing for specifying a branch point and substituting a branch instruction by the other instruction.例文帳に追加

分岐ポイントを特定して分岐命令を他の命令で置き換える処理を行うことなく、容易に、かつ効率的に分岐予測回路の検証を可能とする情報処理装置の分岐予測回路の試験装置、情報処理装置の分岐予測回路の試験方法及び情報処理装置の分岐予測回路の試験プログラムを提供すること。 - 特許庁

To provide a device for testing local load smaller than a conventional apparatus, easily carried, conveniently measuring a strength in a desired depth from an artificial structure or all ground levels, reducing a damage applied to the artificial structure or the ground to the minimum, and overcoming a troublesome operation, and also to provide a test method.例文帳に追加

従来よりも小型で持ち運びに便利で、人工構造物または地盤のあらゆる面から所望の深さ位置での強度を簡便に計測することができ、さらに人工構造物または地盤に与える損傷を最小限にとどめ、また操作の煩雑さを解消することができる局部載荷試験装置および試験方法を提供することである。 - 特許庁

This semiconductor testing device 100 stores data acquired by executing processing to DUT in preservation registers 135, 145, keeps an open collector output through a monitoring line 121 at a low level in a control module 140 for a fixed period, and removes restriction in the control module 140 when the open collector output is set at the low level in a master control module 130.例文帳に追加

半導体試験装置１００は、ＤＵＴに対して処理を実行させて得られたデータを保存レジスタ１３５、１４５に記憶し、制御モジュール１４０内で監視ライン１２１を介したオープンコレクタ出力を一定期間ローレベルとし、マスタ制御モジュール１３０内でオープンコレクタ出力をローレベルとした時点で制御モジュール１４０内での制限を解除する。 - 特許庁

To provide a premixed gas supply testing device capable of reducing waiting time and improving test efficiency by reducing abrupt expansion of volume of premixed gas in a combustion vessel when supplying gas for stabilizing temperature and pressure of the premixed gas, and capable of stabilizing fuel concentration in the premixed gas immediately after starting to supply gas and temperature of the premixed gas.例文帳に追加

給気時における燃焼容器内での予混合気の急激な体積膨張を軽減して、該予混合気の温度と圧力を安定化し得、又、給気開始直後の予混合気中の燃料濃度並びに予混合気の温度を安定化し得、待ち時間の短縮と試験効率向上を図り得る予混合気供給試験装置を提供する。 - 特許庁

In the semiconductor testing circuit 101, the comparators 141 and 142 compare a response signal with the reference signal by offsetting the test signal included in a synthetic signal and the test signal included in the comparison signal, by inputting the comparison signal and the synthetic signal of synthesizing the test signal and the response signal outputted from the test object device 20.例文帳に追加

半導体試験回路１０１では、コンパレータ１４１，１４２は、試験信号と試験対象装置２０から出力された応答信号とを合成した合成信号と、比較信号とを入力され、合成信号に含まれる試験信号と比較信号に含まれる試験信号とを相殺し応答信号と基準信号とを比較する。 - 特許庁

The semiconductor device includes two or more bonding pads 11, made up of a bonding unit 11a formed on a semiconductor chip and each as an electrode for bonding of an external connection wire or a bump, and a projection unit 11b formed in a projected state from the bonding unit 11a to the inner part of the face and having a probe contact unit, to which a testing probe is made to contact.例文帳に追加

半導体装置は、半導体チップ１０の上に形成され、それぞれが外部接続用のワイヤ又はバンプをボンディングする電極であるボンディング部１１ａと、該ボンディング部１１ａから面内に突き出して形成され、検査用プローブが接触されるプローブ接触部を含む突き出し部１１ｂとを有する複数のボンディング用パッド１１を備えている。 - 特許庁

A shutter open/close control section 105 that the thermostatic bath 2 has monitors whether temperature inside the thermostatic bath 2 exceeds the upper limit of allowable temperature for permitting deviation from a temperature for testing an original IC device D, when the fan 100 generates self heat generation by high-speed rotation, and operates a timer 105e, when the temperature exceeds the upper limit.例文帳に追加

恒温槽２に備えられたシャッタ開閉制御部１０５は、ファン１００が高速回転することによって自己発熱が発生した場合、恒温槽２の内部の温度が本来ＩＣデバイスＤを試験すべき温度よりも外れることが許容される許容温度の上限よりも超えたか否かを監視し、超えたときには、タイマ１０５ｅを作動させる。 - 特許庁

The semiconductor testing apparatus which performs parallel tests while applying test pattern waveforms to a plurality of devices under measurement 12, is equipped with a pattern generator 101 for generating first test pattern data common to each device 12, a storage portion 103 for generating second test pattern data individual to each device 12, and a first selection circuit 105 for choosing either the first test pattern data or the second test pattern data.例文帳に追加

複数の被測定デバイス１２に対し、試験パターン波形を印加して並列試験を行う半導体試験装置において、各被測定デバイス１２に共通の第１試験パターンデータを発生するパターン発生器１０１と、各被測定デバイス１２に個別の第２試験パターンデータを発生する記憶部１０３と、第１試験パターンデータと第２試験パターンデータのいずれかを選択する第１の選択回路１０５とを備えたことを特徴とする。 - 特許庁

When testing software installed in a controller 10 of a control apparatus 1 for controlling an external device composing a plant, a simulated signal simulating the external device is generated and a test of the software of the controller 10 is conducted by using the generated simulated signal by operating a switch 14 arranged on a graphic screen displayed on a graphic panel 12 connected to the controller 10 via a communication cable 13.例文帳に追加

制御装置１のコントローラ１０に搭載され、プラントを構成する外部機器を制御するソフトウエアを試験するにあたり、このコントローラ１０に通信ケーブル１３を介して接続されたグラフィックパネル１２に表示されるグラフィック画面上に配置されたスイッチ１４を操作することにより外部機器を模擬する模擬信号を発生し、この発生された模擬信号を用いて、コントローラ１０のソフトウエアの試験を行うようにしたものである。 - 特許庁

The testing device includes a test signal supply circuit 20, a comparison circuit 30 for comparing an output signal output from the output terminal with a reference voltage, a reference voltage setting part 40 for setting the reference voltage at a voltage of a high level side or a low level side, and a load voltage supply circuit 50 for supplying a load voltage to the output signal when the control signal is applied.例文帳に追加

試験装置は、テスト信号供給回路２０と、出力端子から出力された出力信号と基準電圧とを比較する比較回路３０と、基準電圧をハイレベル側またはローレベル側の電圧に設定する基準電圧設定部４０と、制御信号が印加されたとき、出力信号に負荷電圧を供給する負荷電圧供給回路５０とを有する。 - 特許庁

This penetration endurance evaluating testing device for evaluating the penetration endurance of the sheet-like material by freely dropping the sharp cutting tool in the vertical direction, comprises a mechanism part for freely dropping the cutting tool from an arbitrary height, and the penetration profile of a multilayer structure is measured by continuously measuring the damping energy from the collision of the cutting tool with the sample to its stop.例文帳に追加

鋭利な刃物を鉛直方向に自由落下させて、シート状材料の耐貫通性を評価するための装置において、刃物を任意の高さから自由落下させる機構部と、刃物が試料に衝突してから停止するまでの減衰エネルギーを連続的に測定することにより多層構造物の貫通プロファイルを測定することを可能とした耐貫通性評価装置とする。 - 特許庁

This vehicle collision testing device 10 has a first rail 20, a first towing tool 22 moved while being guided by the first rail 20 to tow a first vehicle 50, a second rail 30 arranged in parallel with the first rail 20 separated by a prescribed distance, and a second towing tool 32 moved while being guided by the second rail 30 to tow a second vehicle 60.例文帳に追加

本発明に係る車両衝突試験装置１０は、第１レール２０と、第１レール２０に案内されて移動して第１車両５０を牽引する第１牽引ツール２２と、第１レール２０と所定距離隔てて平行に配置されている第２レール３０と、第２レール３０に案内されて移動して第２車両６０を牽引する第２牽引ツール３２とを有する。 - 特許庁

Conducting an electrical test as a job lot by arranging contact pins 102 of the contact-fixing board 103 of a semiconductor testing device 106 corresponding to the all electrodes of solder bumps 108 of a plurality of semiconductor devices 107 on a wafer level CSP body 101 makes possible the use of the same board 103 to the other smiconductor devices.例文帳に追加

半導体テスト装置１０６のコンタクト固定基板１０３におけるコンタクトピン１０２を、ウエハレベルＣＳＰ本体１０１上の複数の半導体デバイス１０７における半田バンプ１０８の全電極に対応して配置することにより、一括して電気的試験を行うことにより、同じコンタクト固定基板１０３を他の半導体デバイスに対しても使用可能にする。 - 特許庁

This deterioration testing device is equipped with a laser light output part 11 for outputting laser light, a specimen support part 19 for supporting a liquid crystal panel (specimen) 15 irradiated with the laser light, and a temperature control means 16 for adjusting the temperature of the liquid crystal panel 15 in the abutting state on the liquid crystal panel 15 supported by the specimen support part 19.例文帳に追加

本発明に係る劣化試験装置は、レーザ光を出力するレーザ光出力部１１と、前記レーザ光を照射される液晶パネル（被検物）１５を支持する被検物支持部１９と、前記被検物支持部１９に支持された前記液晶パネル１５と当接して当該液晶パネル１５の温度を調整する温度制御手段１６とを備えている。 - 特許庁

This semiconductor testing device for performing a test by giving a test signal generated based on pattern data to a test object includes a pattern editor means for describing the pattern data on the spread sheet constituted by using the rectangular region partitioned by rows and columns as the minimum unit, creating the pattern file of a spread sheet form, and editing the pattern file.例文帳に追加

本発明は、パターンデータに基づいて生成した試験信号を被試験対象に与えて試験を行う半導体試験装置において、行および列によって区切られた矩形領域を最小単位として構成したスプレッドシートに前記パターンデータを記述し、スプレッドシート形式のパターンファイルを作成するとともに、前記パターンファイルを編集するパターンエディタ手段を備えたことを特徴とする。 - 特許庁

The discharge lamp lighting device 5 is provided with a startup means 54 impressing startup voltage on a pair of electrodes 311A, voltage impressing means 52, 53 impressing testing voltage on the pair of electrodes 311A, a state detection means 57 detecting a discharge state between the pair of electrodes 311A, and a control means 58 controlling the startup means 54 and the voltage impressing means 52, 53.例文帳に追加

放電灯点灯装置５は、一対の電極３１１Ａに始動電圧を印加する始動手段５４と、一対の電極３１１Ａに試験用電圧を印加する電圧印加手段５２，５３と、一対の電極３１１Ａ間の放電状態を検出する状態検出手段５７と、始動手段５４及び電圧印加手段５２，５３を制御する制御手段５８とを備える。 - 特許庁

To obtain a gaseous corrosion testing device capable of performing a gaseous corrosion test, while performing a hygrothermal cycle test without forming dew on a wall surface of a test tank, capable of improving the gas concentration stability in the test tank and the reproducibility of test results, and capable of performing the hygrothermal cycle test under an atmosphere where gas concentration is controlled at all times.例文帳に追加

この発明は、試験槽内の壁面に結露を生じることなく温湿度サイクル試験を行いながらガス腐食試験を行うことができ、試験槽内のガス濃度の安定性および試験結果の再現性を向上することができ、常にガス濃度を管理されているガス雰囲気下で温湿度サイクル試験を行うことができるガス腐食試験装置を実現することを目的とする。 - 特許庁

The semiconductor testing device including the top plate in contact with a prober, and a test head body for supporting the top plate in the floating state, also includes a fixing means provided between the top plate and the test head body, for fixing the top plate and the test head body after bonding operation between the prober and the top plate.例文帳に追加

プローバに接するトッププレ−トと、このトッププレ−トをフローティング支持するテストヘッド本体とを具備する半導体試験装置において、前記トッププレ−トと前記テストヘッド本体との間に設けられ前記プローバとトッププレ−トとの結合動作後に前記トッププレ−トと前記テストヘッド本体とを固定する固定手段を具備したことを特徴とする半導体試験装置である。 - 特許庁

An ESD testing apparatus 1 includes an ESD generator 11 for generating electrostatic discharge for a resistance test, ESD waveform measuring device 21, 22 for measuring waveform characteristics of the electrostatic discharge, a counter 23 for counting generation frequency of the electrostatic discharge, and a controller 16 for measuring the waveform characteristics of the electrostatic discharge when the generation frequency reaches a threshold.例文帳に追加

本発明に係るＥＳＤ試験装置１は、耐性試験用の静電気放電を発生させるＥＳＤ発生手段１１と、静電気放電の波形特性を測定するＥＳＤ波形測定手段２１，２２と、静電気放電の発生回数をカウントするカウンタ２３と、該発生回数が閾値に達した場合に静電気放電の波形特性の測定を行う制御手段１６とを備える。 - 特許庁

The gaseous corrosion testing device is such that each set value of temperature, humidity and corrosion gas concentration, at which dew is not formed on the wall surface of the test tank, is set in at least one condition, and the hygrothermal cycle test is performed in which the tests under the set condition are repeated, at each predetermined temperature transition time once or in combination of a plurality of number of times.例文帳に追加

この発明は、ガス腐食試験機において、試験槽の壁面に結露を発生させないようにする温度と、湿度と、腐食ガスの濃度との設定値を各々少なくとも１つの条件で設定し、設定した条件の試験を１回または複数回組合せて所定の温度移行時間ごとに繰り返す温湿度サイクル試験を行うことを特徴とする。 - 特許庁

A testing device 100 includes a rotating shaft 23 for fixing a sealing liner 7, such that the center of the sealing liner 7 corresponds to the rotation center C; a movable member 28 having a movable opening 64 through which the rotating shaft 23 passes, and a sealing ring 8 fixed to the inner circumference of the movable opening 64; and a static member 27 rotatably holding the movable member 28.例文帳に追加

本発明に係る試験装置１００は、シールライナ７の中心が回転中心Ｃに一致するようシールライナ７を固定する回転軸２３と、回転軸２３が貫通する可動開口部６４が形成され、可動開口部６４の内周にシールリング８が固定される可動部材２８と、可動部材２８を回転可能に保持する静止部材２７と、を備えている。 - 特許庁

The washing-unrequired rice producing device for testing includes: processing containers 6, 7 which are removably mounted in a body and accommodate grains to be treated, water and adsorbents; a stirring part 14 which stirs the contents accommodated in the processing containers; a stirring-controlling part 10 which controls the operation of the stirring part 14; and an adsorbent-recovering container 5 which recovers the adsorbents accommodated in the processing containers 6,7.例文帳に追加

本体内に取り外し可能に装着され、被処理穀粒、水及び吸着材を収容する加工容器６，７と、加工容器内に収容された内容物を撹拌する撹拌部１４と、撹拌部１４の動作を制御する撹拌制御部１０と、加工容器６，７に収容された吸着材を回収する吸着材回収容器５と、を備えたテスト用無洗米製造装置。 - 特許庁

The testing device 100 stops the application of an input signal pattern 12 to the semiconductor devices having active state signals indicating their states among a plurality of semiconductor devices 200, releases the stop to resume the application of the input signal pattern, and stops the application of the input signal pattern 12 to the semiconductor devices other than the semiconductor devices to which the application of the input signal pattern is resumed.例文帳に追加

複数の半導体デバイス２００のそれぞれの状態を示す状態信号がアクティブとなった半導体デバイスへの入力信号パターン１２の印加を停止し、停止を解除させて入力信号パターン１２の印加を再開し、入力信号パターン１２の印加を再開させる半導体デバイス以外の半導体デバイスへの入力信号パターン１２の印加を停止させる。 - 特許庁

The IC tester for inspecting the output resistance value of each output pin of the under testing device equipped with a plurality of output pins is provided with reference resistors, connected to each output pin, a reference voltage impressing means for impressing the prescribed reference voltage via these reference resistors, and a voltage measurement means for measuring the voltage generated at each output pin.例文帳に追加

複数の出力ピンを有する被試験デバイスの前記各出力ピンの出力抵抗値を検査するＩＣテスタにおいて、 前記各出力ピンに接続された基準抵抗と、 これらの基準抵抗を介して前記各出力ピンに所定の基準電圧を印加する基準電圧印加手段と、 前記各出力ピンに発生する電圧を測定する電圧測定手段と、を備える。 - 特許庁