「testing device」に関連した英語例文の一覧と使い方(108ページ目) - Weblio英語例文検索

A control signal outputted to command a test from communication equipment arranged at the receiving point side of the communication path to be tested is received and decoded by an installation type testing device, and a control instruction corresponding to the control signal is transmitted to a communication controller arranged at a transmitting side.例文帳に追加

被試験通信路の受信ポイント側に配置された通信機から試験を指令するために発出された制御信号は、設置型試験装置により受信解読され、その制御信号に対応する制御命令が送信側に配置された通信制御装置に伝達される。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device applicable to the measurement of MOS-FET on-state resistance on a wafer, even in case of a warped wafer, to the measurement of chips on the periphery of the wafer, and to the measurement involving the wafer rear surface with measurement accuracy degradation effectively avoided.例文帳に追加

本発明は、半導体試験装置に関し、例えばウエハによるＭＯＳ−ＦＥＴのオン抵抗測定等に適用して、ソリの大きなウエハについても、さらにはウエハの周囲のチップについても測定可能であって、ウエハ裏面に係る測定精度の劣化を有効に回避することができるようにする。 - 特許庁

To provide an aircraft actuator control device which can restrain an increase in the number of sensors while inhibiting a mechanism for testing the commissioning of a control system for controlling an actuator from becoming too complicated, and can improve reliability on the results of the test.例文帳に追加

センサ点数の増大を抑制できるとともに、アクチュエータを制御する制御系統の作動の検査を行うための機構が複雑化してしまうことを抑制でき、更に、検査結果の信頼性も向上させることができる、航空機アクチュエータの制御装置を提供する。 - 特許庁

To provide a governor testing device, by which connection of an equipment, the analysis of data and the data reduction of a test result can be conducted easily in a short time, labor and a time can be reduced while an error on the reading of a measured data can be lowered and levelling for input conversion is made unnecessary.例文帳に追加

機器の接続やデータの解析および試験結果の整理が短時間にかつ容易にでき、労力と時間を削減できると共に、測定データの読み取り誤差を低減でき、入力換算のためのレベル調整が不要な調速機試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a testing device for fluidity of a molten metal and a measuring method for a pressure loss of a molten metal which are for absolutely measuring a pressure loss of a molten metal in consideration of an environmental condition and a material condition as of the point in time, and to provide a casting condition deciding method using the foregoing.例文帳に追加

溶融金属の圧力損失をその時点での環境条件、材料条件を加味して絶対的に測定するための溶融金属の流動性試験器及び溶融金属の圧力損失測定方法、並びにこれを用いた鋳造条件決定方法を提供する。 - 特許庁

A method, system, and computer program product related to the maintenance of optimal control of diabetes, and is directed to predicting patterns of hypoglycemia, hyperglycemia, increased glucose variability, and insufficient or excessive testing for the upcoming period of time, based on blood glucose readings collected by a self-monitoring blood glucose device.例文帳に追加

最適な糖尿病の管理を維持する方法、システム、コンピュータプログラム製品であって、血中グルコース自己監視装置によって収集された血中グルコース測定値に基づいて、次の期間における、低血糖、高血糖、グルコース変動の増大、不十分または過剰な検査を予測する。 - 特許庁

This device sets a test condition of a signal protection system by a test condition setting means 9 of a display operation part 7 and the set testing condition is input to an instrument status simulation means 11 of a site simulation part 8 to simulate a status of a site instrument 2 based on the test condition.例文帳に追加

表示操作部７の試験条件設定手段９で信号保安システムの試験条件を設定し、その設定された試験条件は現場模擬部８の機器状態模擬手段１１に入力され、ここで、その試験条件に基づいて現場機器２の状態が模擬される。 - 特許庁

To provide a watertight performance testing device for a waterproof sheet capable of appropriately verifying the watertightness of the waterproof sheet under actual-use conditions, by simulatedly forming a staying state of water such as rain water in a clearance between wall materials and the waterproof sheet laid on covering a foundation material of the wall.例文帳に追加

壁下地材を覆って取り付けられる防水シートと壁材との間の隙間に、雨水等の水が滞留している状態を模擬的に形成して、実使用下における防水シートの止水性を適正に検証することのできる防水シートの止水性能試験装置を提供する。 - 特許庁

A tire testing device 1 includes: vertical frames 30a, 30b supported by a lower frame 20; a vertically movable beam 40 laid between the vertical frames 30a, 30b; an upper chuck 45 attached to the center in the longitudinal direction of the beam 40; a lower chuck 25 attached to the lower frame, and the like.例文帳に追加

タイヤ試験装置１は、下フレーム２０に支持された鉛直フレーム３０ａ，３０ｂ、鉛直フレーム３０ａ，３０ｂ間に架け渡された鉛直方向に移動可能なビーム４０、ビーム４０の長手方向中央に取り付けられた上チャック４５、下フレームに取り付けられた下チャック２５等を含む。 - 特許庁

A probe 21 for connecting to a pad on the back of the mother board 10, and a space 22 and a discharge tube 23 for vacuum-adsorbing the mother board 10 are provided on a tester head 20 for loading the mother board 10 and connected the LSI 1 to a testing device body.例文帳に追加

一方、マザーボード１０を搭載してＬＳＩ１と試験装置本体を接続するテスタヘッド２０には、このマザーボード１０裏面のパッドに接続するためのプローブ２１と、このマザーボード１０を真空吸着するための空間２２及び排気管２３が設けられている。 - 特許庁

This optical density-testing device is provided by compositing a first light beam B1 of 0.7 μm not transmitting a shredded tobacco LS and a second light beam B2 of 1.3 μm transmitting through the shredded tobacco LS from a first and second light sources 12, 14, and irradiating a tobacco rod TR with the composited light as a parallel light beam CB.例文帳に追加

光学的密度検査装置において、第１及び第２光源１２、１４からの、刻ＬＳを透過しない０．７μｍの第１光ビームＢ１と、刻ＬＳを透過する１．３μｍの第２光ビームＢ２と、が合成され、平行光ビームＣＢとしてたばこロッドＴＲに照射される。 - 特許庁

In the testing device 10, a ceiling panel 11 is supported by columns 13, an upper sound proofing wall 12b is mounted to the peripheral part under the panel 11, the wall 12b has a tapered shape with a small diameter and contacts with a cylindrical lower sound proofing wall 12a, and the circumference of the lower end of the sound proofing wall opens.例文帳に追加

テスト装置１０は天井パネル１１が支柱１３で支持され、パネル１１下部周囲には上部防音壁１２ｂが取付けられ、壁１２ｂはテーパ形状で小径となり、円筒状の防音壁下部１２ａに接し、防音壁下端周囲は開口している。 - 特許庁

To provide a semiconductor test interface capable of minimizing the number of connector contact points to enhance signal integrity in a high-speed transmission signal, capable of simplifying a semiconductor test interface to enhance maintainability of a semiconductor testing device, and capable of easily dealing also with tests of DUTs different each other.例文帳に追加

コネクタ接点の数を最小化して高速伝送信号の信号無欠性を向上させ、半導体テストインタフェースを単純化して半導体テスト装置のメンテナンス性を向上させ、お互い異なるＤＵＴのテストにも簡便に対応することが可能な半導体テストインタフェースを提供。 - 特許庁

In a pin electronics part 100 of this semiconductor testing device, when a control part 150 performs OFF-control of the semiconductor relay 130 at a time other than a test time of the DUT 180, ON-control of a relay 140 for direct current measurement is performed simultaneously even when the direct current measurement is not performed.例文帳に追加

半導体試験装置のピンエレクトロニクス部１００では、ＤＵＴ１８０の試験時以外において、制御部１５０が半導体リレー１３０をＯＦＦ制御すると、同時に直流測定を行っていない場合においても直流測定用リレー１４０をＯＮ制御しておく。 - 特許庁

The testing device 31 for the arbitration circuit 9 has an access test register 22 which falsely outputs an access type INST [2:0] to be output by a look-ahead mechanism control circuit 7 to an arbitration control circuit 9 when the CPUs 2, 3 access ROMs 5, 6.例文帳に追加

調停制御回路９のテスト装置３１によれば、アクセステストレジスタ２２は、ＣＰＵ２，３がＲＯＭ５，６に対して夫々アクセスを行う場合に、先読み機構制御回路７により調停制御回路９に対して出力されるアクセスタイプＩＮＳＴ［２：０］を夫々擬似的に出力する。 - 特許庁

An alignment device used in the testing device includes: a first pusher mechanism and a first positioning mechanism arranged on one and the other of a pair of opposing sides of a panel receiving face, at an interval along respective extending directions of the corresponding sides; and a second pusher mechanism and a second positioning mechanism arranged on one and the other of the other pair of opposing sides of the panel receiving face.例文帳に追加

試験装置で得用いるアライメント装置は、パネル受け面の対向する一対の辺の一方及び他方に、それぞれ、対応する辺の延在方向に間隔をおいて配置された第１のプッシャー機構及び第１の位置決め機構と、パネル受け面の対向する他の一対の辺の一方及び他方に、それぞれ、配置された第２のプッシャー機構及び第２の位置決め機構とを含む。 - 特許庁

This device is a semiconductor memory which has a test mode decoder 12 decoding plural input signals setting an operation mode for a test dedicated and generating a signal specifying an operation mode for a specific test dedicated and which can set operation modes for various tests, further the device has a pad 13 for testing a probe making the test mode decoder effective at the time of applying voltage.例文帳に追加

テスト専用の動作モードを設定する複数の入力信号をデコードし、特定のテスト専用の動作モードを指定する信号を発生するテストモードデコーダ１２を有して、各種テスト専用の動作モードを設定できるようにした半導体記憶装置であって、電圧が印加された時にテストモードデコーダ１２を有効にするプローブテスト用パッド１３を有している。 - 特許庁

The semiconductor device manufacturing method comprises a test step of performing a predetermined testing by contacting a probe terminal with a bonding pad A of a semiconductor device, and a pad surface treatment step of performing, after the test step, processing of dissolving a surface of the bonding pad by using chemical or processing of solidifying a melted portion of the bonding pad after melted by heating the bonding pad surface using a furnace.例文帳に追加

半導体装置のボンディングパッドＡにプローブ端子を接触させ、所定の試験を行う試験工程と、試験工程の後、薬液を用いてボンディングパッド表面を溶かす処理、または、加熱炉を用いて加熱することでボンディングパッド表面を溶かした後、溶かした部分を固化する処理を行うパッド表面処理工程と、を有する半導体装置の製造方法。 - 特許庁

The system comprises a storing device 4 having a means that classifies the test data 2 of an LSI acquired by a semiconductor testing apparatus 1 into lots/wafer/chips/measurement data/categories and a means that organically connects them to store by setting connection information from among classified items; and a displaying device 5 having a means of searching the stored test data and a means of displaying the searched results.例文帳に追加

半導体試験装置１にて収集されたＬＳＩのテストデータ２を、ロット・ウエハ・チップ・測定データ・カテゴリ単位に分類する手段及び分類した項目の中で連結情報を設定することで有機的に結合させて蓄積する手段を有する蓄積装置４と、蓄積されたテストデータを検索する手段及び検索結果を表示する手段を有する表示装置５とからなる。 - 特許庁

A system for testing a collection of the device chips by temporarily attaching them to a carrier having a plurality of receptacles with microdendritic features; the receptacles matching with and pushed in contact with a matching set of contact pads on the device chips; the carrier additionally having test pads connected to the receptacles through interconnect wiring.例文帳に追加

マイクロ樹枝状フィーチャを有する複数のレセプタクルを有するキャリアに一時的に取り付けることによってデバイス・チップの集合体を試験するためのシステムであって、レセプタクルが、デバイス・チップ上のコンタクト・パッドの合致する組と合致し、接触した状態で押され、前記キャリアがさらに、相互接続配線を介してレセプタクルに接続されたテスト・パッドを有するシステムを提供すること。 - 特許庁

The detail testing device 3 carefully and strictly checks whether the transferred information is based on an unauthorized access by comparing the information with the information in the unauthorized access database 6, and when the information is not based on the unauthorized access, transfers the information to the original destination, but when it is based on the unauthorized access, records the information in an information recording device 4 without transferring it to the original destination.例文帳に追加

詳細検査装置３では、転送されてきた情報が不正アクセスかどうかを、不正アクセスのデータベース６と比較し、時間をかけて厳格にその情報が不正アクセスであるか否かをチェックし、不正アクセスでなければ該当情報を本来の宛先に転送するが、不正アクセスであれば該当情報を情報記録装置４に記録し本来の宛先には転送しない。 - 特許庁

One method may comprise the steps of: saving existing network configuration settings for at least one network interface of the network-capable device; receiving network configuration parameters from at least one configuration server; testing at least one network interface utilizing received network configuration parameters; and restoring the existing saved network configuration settings, if the step of testing determines that the received network configuration parameters are incorrect.例文帳に追加

１つの方法は、ネットワーク対応機器の少なくとも１つのネットワーク・インタフェースについての既存のネットワーク環境設定を保存するステップと、少なくとも１つの環境設定サーバからネットワーク環境設定パラメータを受け取るステップと、受け取ったネットワーク環境設定パラメータを利用して少なくとも１つのネットワーク・インタフェースをテストするステップと、テストするステップで受け取ったネットワーク環境設定パラメータが誤っていると判断された場合に、保存されている既存のネットワーク環境設定値に復旧するステップを含む。 - 特許庁

To provide a compression test device for stably arranging a pedestal member used as the base of a test piece, obtaining a more reliable test result, easily and surely adjusting the position of the pedestal member in a preliminary test, and reducing the workload of a person in charge of testing.例文帳に追加

試験体の土台として使用される台座部材を下部ロッド上に安定配置し得、より信頼性の高い試験結果が得られると共に、予備試験における台座部材の位置調整を容易且つ確実に行うことができ、試験担当者の負担軽減を図り得る圧縮試験装置を提供する。 - 特許庁

The vibration testing device includes piezoelectric actuators 11X, 11Y and 11Z, respectively in X/Y/Z axial directions and is provided on a base 10 to prevent directions of applying vibration (excitation directions) in the different axial directions from intersecting with each another, that is to disperse the excitation directions.例文帳に追加

本発明にかかる振動試験装置は、Ｘ／Ｙ／Ｚ軸方向それぞれに圧電アクチュエータ１１Ｘ・１１Ｙ・１１Ｚが配置されるとともに、これらは異なる軸方向における振動を加える方向（加振方向）同士を互いに交差させないように、すなわち加振方向を発散させるようにベース１０に設けられる。 - 特許庁

In the method of testing the semiconductor device to determine an interface state density of a MIS transistor formed on a semiconductor substrate 1 by using the charge pumping method, first, a value of a first current made to flow to the semiconductor substrate by applying a first measurement signal composed of continuous pulse waves to a gate of the MIS transistor is measured.例文帳に追加

チャージポンピング法を用いて、半導体基板上に形成されたＭＩＳ型トランジスタの界面準位密度を求める半導体装置の評価方法において、まず、パルス波が連続してなる第１の測定信号をＭＩＳ型トランジスタのゲートに印加して前記半導体基板に流れる第１の電流値を測定する。 - 特許庁

To enable a test signal generating device and a testing method of a video apparatus to detect even an abnormal state at a black level side in a luminance signal processing circuit, a color signal processing circuit or the like when applied to the distortion detection of color signal and the level adjustment of a color signal or the like by visual inspection.例文帳に追加

本発明は、テスト信号発生装置及び映像機器の検査方法に関し、目視による色信号の歪み検出、色信号のレベル調整等に適用して、輝度信号処理回路、色信号処理回路等における黒レベル側の異常についても検出することができるようにする。 - 特許庁

To obtain a device and method for testing ICs capable of executing IC tests in an optimal test sequence so as to shorten the execution time of all IC test items in the case of performing a plurality of IC tests and a storage medium in which a program for executing the IC tests is stored.例文帳に追加

本発明の課題は、複数のＩＣ試験を行う場合に、全ＩＣ試験項目の実行時間が短くなるように最適な試験順序にてＩＣ試験を実行することのできるＩＣ試験装置、ＩＣ試験方法、及びそのＩＣ試験を実行するためのプログラムを記憶した記憶媒体を提供することである。 - 特許庁

A start condition comprising a day Y of the week, an hour T and a diagnostic item S is set, an IC testing device 30 is controlled to execute a self-diagnostic program 34 about the prescribed diagnostic item S when reach to the prescribed day Y of the week and the prescribed hour T is detected, and the self-diagnosis is thereby conducted automatically.例文帳に追加

曜日Ｙと時刻Ｔと診断項目Ｓから成る起動条件を設定し、所定の曜日Ｙと時刻Ｔに到達したことを検出した場合に、ＩＣ試験装置３０を制御し所定の診断項目Ｓについての自己診断プログラム３４を実行させることにより、自動的に自己診断を行う。 - 特許庁

This device includes the first electrode 12 and the second electrode 14 installed separately on an insulator which is an object for testing the high conductivity state or the high dielectric constant state, and a high voltage power source for supplying the power to the first electrode and the second electrode with each different potential.例文帳に追加

この装置は、高導電性の状態又は高誘電率の状態を試験する対象の絶縁体上に、離れて設置される第１の電極１２及び第２の電極１４と、第１の電極及び第２の電極に異なる電位で電力供給する高電圧電源とを含んでいる。 - 特許庁

The rolling testing device 1 includes a yarn-hooking body 2 having a curved yarn contact surface, a clamp 3 which fixes one side of a bundle spun yarn Y having the yarn hooked on the yarn-hooking body 2, a tension giving member 4 for giving tension to the bundle spun yarn Y during the rolling test.例文帳に追加

転がり試験装置１は、湾曲した糸接触表面を有する糸掛け体２と、この糸掛け体２に糸掛けされた結束紡績糸Ｙの片側を固定するクランプ部３と、転がり試験中に上記の結束紡績糸Ｙに対して張力を付与するための張力付与部４と、を備える。 - 特許庁

To provide a semiconductor-testing device for improving the degree of design freedom and reducing manufacturing costs of a probe card, or the like by enhancing the degree of freedom for correlating a comparator for comparing a signal from a DUT with a prescribed expectation value to a fail memory for storing fail information, namely the comparison result.例文帳に追加

ＤＵＴからの信号と所定の期待値との比較を行う比較器とその比較結果であるフェイル情報を記憶するフェイルメモリとの対応付けの自由度を高め、これによりプローブカード等の設計自由度の向上及び製造コストの削減を図ることができる半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

In this combined degradation accelerator 1, a holding table 30 for a testing body and a salt spray device 40 are provided in a test chamber 11 with temperature and humidity controllable while a light source unit 33 is installed outside a partition board 32 attached to one surface of the test chamber 11 so as to right confront a surface of the holding table 30.例文帳に追加

複合劣化促進装置１は、温湿度の制御可能な試験室１１内に、試験体の保持台３０と塩水噴霧装置４０とが設けられるととともに、この試験室１１の一面に取り付けられた仕切り板３２の外側に、保持台３０の表面に正対するようにして光源ユニット３３が設置される。 - 特許庁

To provide a testing device of cable runs in a distribution board which can accurately detect the existence of short-circuit in the cable runs at a low-voltage side, when starting the use of an apparatus, after the end of the construction and inspection thereof in the distribution board equipment (a low-voltage distribution board for feeding a low AC voltage), installed in a substation or a distributing substation.例文帳に追加

変電所や配電所に設置された配電盤設備（低圧の交流電圧を供給する低圧配電盤）において、工事や検査を終えて使用開始する際に、低圧側の電路における短絡の有無を精度よく検知することができる配電盤内電路試験装置を提供する。 - 特許庁

The testing device 101 includes a stage 120 on which the force sensor 113, the object to be tested, can be placed, a driving part 130 capable of moving the force sensor 113 via the stage 120 to 6 directions of each axis rotation of X, Y, Z axes, and a loading part 140 capable of loading the force sensor 113 placed on the stage 120.例文帳に追加

試験装置１０１は、被試験体である力センサ１１３を載置可能なステージ１２０と、ステージ１２０を介して力センサ１１３をＸ・Ｙ・Ｚ軸の各軸回転の６方向に移動可能な駆動部１３０と、ステージ１２０上に載置された力センサ１１３に加重可能な加重部１４０と、を備えている。 - 特許庁

The tire testing device includes a tire motor 18 connected to a rotary shaft of a tire 50, a tire shaft torque meter 15 detecting a torque acting on the rotary shaft of the tire, a roller 2 on to which the tire is pressed to contact with, a roller motor 8 connected to a rotary shaft of the roller 2, and a roller shaft torque meter 5 detecting a torque acting on the rotary shaft of the roller 2.例文帳に追加

タイヤ５０の回転軸に連結したタイヤモータ１８、タイヤの回転軸に加わるトルクを検出するタイヤ軸トルク計１５、タイヤ５０が圧接されるローラ２、ローラ２の回転軸に連結したローラモータ８、ローラ２の回転軸に加わるトルクを検出するローラ軸トルク計５を設ける。 - 特許庁

To provide a testing method for evaluating material separation resistance at the fresh time of high fluidity concrete capable of easily performing quantitative evaluation with only simple equipment and a device at both of a working site and a laboratory.例文帳に追加

簡単な器具ないし装置を用いるだけで、試験室及び工事現場のいずれにおいても容易に実施することができ、コンクリートの材料分離抵抗性に関する定量的な特性評価が可能な、高流動コンクリートのフレッシュ時における材料分離抵抗性を評価するための試験方法を提供する。 - 特許庁

The solderability-testing device for evaluating solderability is provided with a heating member 4 that is capable of controlling temperature being retained with a specific gap to a metal test piece 2, and a means for measuring wetting force while keeping the temperature of the metal test piece 2 at a specific temperature by the heating member 4.例文帳に追加

はんだ濡れ性を評価するはんだ濡れ性試験装置において、金属試料片２と所定の間隔を保ち設けられる温度制御可能な加熱部材４と、加熱部材４により金属試料片２の温度を所望温度に保ちながら濡れ力を測定する手段とを有することを特徴とする。 - 特許庁

To provide a liquid crystal display device for testing wiring defects in a panel, capable of detecting a disconnection and a short circuit of wiring when applying a signal, by connecting data lines or gate lines or a common line in the panel with each pad through wiring of a zigzag form arranged outside of the panel.例文帳に追加

パネル内のデータラインまたはゲートライン或いは共通電圧ラインを、パネルの外部に設けたジグザグ形態の配線を介して各パッドに連結することによって、信号の印加時、配線の短絡及びショートを検出できる、パネル内配線の欠陥をテストするための液晶表示装置を提供する。 - 特許庁

The power generation testing device has a pushing spring 21 as an urging means for urging an opening side end of the air chamber 30 and an opening side end of the fuel chamber 37 in directions approaching to each other, and a separation spring 20 as an inverse urging means for urging in inverse directions against the urging directions of the pushing spring 21.例文帳に追加

空気用チャンバー３０の開口側端部と燃料用チャンバー３７の開口側端部とが互いに接近する方向に付勢する付勢手段としての押圧スプリング２１を設けると共に、その押圧スプリング２１の付勢方向とは逆方向に付勢する逆付勢手段としての分離スプリング２０を設けた。 - 特許庁

A control part 100 of the environmental testing device 1 supplies water to inside of the humidifier 11 and drives a heater 12 to heat water within the humidifier 11 in the high humidity conditions; and discharges water from inside of the humidifier 11 and drives the pipe heater 21 to heat the humidification piping 20 in the low humidity conditions.例文帳に追加

環境試験装置１の制御部１００は、高湿条件では、加湿器１１内に水を供給すると共にヒータ１２を駆動して加湿器１１内の水を加熱し、低湿条件では、加湿器１１内から水を排出すると共にパイプヒータ２１を駆動して加湿配管２０を加熱する。 - 特許庁

To make checkable the connection state of each input/output terminal of a semiconductor integrated circuit loaded on a substrate without using a dedicated testing device, and to make testable the operation of the semiconductor integrated circuit by inputting a prescribed test pattern into each input/output terminal of the semiconductor integrated circuit loaded on the substrate.例文帳に追加

専用のテスト装置を用いずに、基板上に搭載された半導体集積回路の各入出力端子の接続状態をチェックすることができ、基板上に搭載された半導体集積回路の各入力端子に所定のテストパターンを入力し、半導体集積回路の動作をテストすることができるようにする。 - 特許庁

The testing device include: input terminals CN1-CN12 which enable the input of one or more types of test data obtained as a result of a test covering a game machine; and a memory 321 on which inputtable data are stored which represents the types of the test data to be outputted from the game machine involved corresponding to machine type data for identifying the game machine.例文帳に追加

遊技機による試験の結果であり１以上の種類がある試験データを入力可能な入力端子ＣＮ１〜ＣＮ１２を有するとともに、遊技機を識別するための機種データに対応して、当該遊技機から出力される試験データの種類を表す入力可能データが記録されたメモリ３２１を備える。 - 特許庁

To automatically correct the correspondence between XY coordinates on the side of an automatic jig, which is mounted on the test head of an IC testing device and corrects the operation state of a circuit connected to respective pins of an IC socket arranged on the test head by automatically bringing the probe into contact with the respective pins, and a XY position on the test head.例文帳に追加

ＩＣ試験装置のテストヘッドに装着され、テストヘッド上に配置されたＩＣソケットの各ピンにプローブを自動的に接触させ、ＩＣソケットの各ピンに接続された回路の動作状態を校正する自動治具において、自動治具側のＸＹ座標と、テストヘッド上のＸＹ位置との対応を自動的に校正する。 - 特許庁

This tension testing device is attached to an inside of a scanning electron microscope mounted with a reflected electron detector, a test piece is tensioned while photographing a reflected electron image, and a change of a shape in a crystal grain appearing in the reflected electron image is measured to compute sequentially a strain amount in each crystal grain and a cross section with respect to a tensioned direction.例文帳に追加

反射電子検出器を装着した走査電子顕微鏡内に引張り装置を取り付け、反射電子像を撮影しながら試験片を引張り、反射電子像に現れる結晶粒の形の変化を測定し、結晶粒毎の歪量及び引張り方向に対する断面積を逐次演算する。 - 特許庁

To provide s method and a device for testing paper capable of performing stable measurement and soundness determination even in the case that transmitted light quantity of the paper and illumination of light change due to the effect of disturbance when performing a 100% inspection for the quality of watermark image of the paper on which the watermark image is formed as code information on a paper machine.例文帳に追加

コード情報としてすかし画像が形成された用紙のすかし画像の品質の検査を抄紙機上で全数検査を行う際、外乱の影響により、用紙の透過光量や照明の照度が変化しても安定した測定及び良否判定が行える検査方法及び検査装置を提供する。 - 特許庁