「testing device」に関連した英語例文の一覧と使い方(104ページ目) - Weblio英語例文検索

To accurately adjust the pressure of a proportional solenoid control valve in a short time independently of existence of an individual difference of the proportional solenoid control valve when testing a pressure control of the proportional solenoid control valve and to provide a device for the same method.例文帳に追加

比例電磁制御弁の圧力調整試験において、比例電磁制御弁の個体差の有無に関係なく短時間でかつ精度の高い比例電磁制御弁の圧力調整を行うこと及び、その装置の提供をすること。 - 特許庁

To provide a voice signal processing device which automatically changes an emphasis degree of utterance voice, according to articulation of voice in an input voice signal which is actual utterance voice, without using a sound source for testing, such as impulse.例文帳に追加

インパルス等の試験用音源を用いることなく、実際の発話音声である入力された音声信号における音声の明瞭度に応じて、自動的に発話音声の強調度合いを変更する音声信号処理装置を提供する。 - 特許庁

Next, the test disk 30 is mounted in a test object drive, and a testing device inquires of the test object drive, a start position of the middle area, a recording end position of file data, a recordable start position of the disk and a recordable capacity (spare capacity).例文帳に追加

このテストディスク３０を検査対象ドライブに装着し、ミドルエリアの開始位置、ファイルデータの記録終了位置、当該ディスクの追記開始位置および追記可能容量（空き容量）を、検査装置から検査対象ドライブに問い合わせる。 - 特許庁

To provide a method and a device which is provided with semiconductor switching means for calculation control for high-voltage load, capable of precisely and continuously tracking the load control value, without using industrial water and is capable of maintaining the value at the load characteristic testing for an electric generator and the like.例文帳に追加

発電機等の負荷特性試験において、工業用水を使用せずに負荷制御値に連続的に精度よく追従し、その値を持続できる半導体開閉手段を備えた高圧負荷演算制御方法及び装置の提供。 - 特許庁

Then, when the operation to alter the order of the thumbnail images is performed through an operational part, the image testing device alters by rewriting the image number attached to the medical images of the thumbnail images related to the alteration operation in accordance with the altered order (Step S16).例文帳に追加

そして、前記サムネイル画像の並び順を変更する操作が操作部を介してなされると、変更された並び順に応じて、変更操作に係るサムネイル画像の医用画像に付帯されている画像番号を書き換えて変更する（ステップＳ１６）。 - 特許庁

To provide a material testing device and an external output method for a measured load therein, capable of generating a sufficient processing time in a servo loop as far as possible, and of outputting a detected signal proportional to the load as far as possible.例文帳に追加

サーボループにおける処理時間に余裕を極力生じさせるとともに、負荷に極力比例した検出信号を出力することができる材料試験装置における計測負荷の外部出力方法および材料試験装置を提供する。 - 特許庁

kbluetoothd: Bluetooth Meta Server.kbtsearch: Bluetooth device/service search utility.khciconfig: KDE Bluetooth Monitor.kioclient: KIO command line client.qobexclient: Swiss army knife for obex testing/development.kbtobexclient: A KDE Bluetooth Framework Application.kioobex_startkbtserialchatkbemusedsrv: KDE Bemused Server.kbtobexsrv: KDE OBEX Push Server for Bluetooth. kbluepin: A KDE KPart Application.auth-helper: A helper program for kbtobexsrv that sends an authentication request for a given ACL link.Code Listing6.3: Installing kdebluetooth例文帳に追加

kbluetoothd:Bluetoothメタサーバkbtsearch:Bluetoothデバイス・サービス検索ユーティリティkhciconfig:KDEBluetoothモニタkioclient:KIOコマンドラインクライアントqobexclient:obexテスト・開発用の高度なクライアントkbtobexclient:KDEBluetoothフレームワークアプリケーションkbemusedsrv:KDEBemusedサーバkbtobexsrv:KDEBluetooth用OBEXPushサーバkbluepin:KDEKPartアプリケーションauth-helper:与えられたACLリンクに対して認証要求を送信する、kbtobexsrvのためのヘルパーです。 - Gentoo Linux

To provide a tool for generating test data on a corresponding cycle base having a format characteristic to specific ATE for testing a physical serial device by extracting and removing timing irregularity such as drift or jitter from simulation test data on an event base.例文帳に追加

イベントベースのシミュレーション試験データからドリフトやジッタなどのタイミング不規則性を抽出及び除去し、物理的シリアルデバイスを試験する特定のＡＴＥに固有のフォーマットを有する対応するサイクルベースの試験データを生成するツールを提供する。 - 特許庁

This software testing device that obtains information about the dynamic characteristics of a software system, uses a static analysis 130 and a dynamic analysis 131 and dynamically changes positions for obtaining the information about the dynamic characteristics of a program and acquisition conditions.例文帳に追加

ソフトウェアシステムの動的特性に関する情報を得るソフトウェア試験装置において、静的な分析１３０と動的な分析１３１を用い、プログラムの動的特性に関する情報を得るための位置と取得条件を動的に変更する。 - 特許庁

To provide an EL panel and a pixel current testing method that realize a contactless test of a pixel current that a current driving transistor of a pixel circuit constituting the EL panel outputs without requiring any special inspecting device.例文帳に追加

ＥＬパネルを構成する画素回路において電流駆動トランジスタが出力する画素電流のテストを非接触で特別な検査装置を要せず実現可能とするＥＬパネル及び画素電流テスト方法を提供することを目的とするものである。 - 特許庁

To provide a tire wear test method and a tire wear testing device capable of appropriately promoting a tire wear test of an inspected tire by preventing the rubber powder shaved from the inspected tire from adhering to the surface of the inspected tire in the tire wear test.例文帳に追加

タイヤの摩耗試験において、被験タイヤから削り取られたゴム粉が被験タイヤの表面に付着することを防止して、被験タイヤの摩耗試験を適正に促進することができるタイヤ摩耗試験方法及びタイヤ摩耗試験機を提供する。 - 特許庁

To provide an impact testing device capable of removing a load increase caused by compression of air in the buckling deformation, and capable of easy measurement of essential load characteristics of the honeycomb block test piece, by securing permeability between the inside of a honeycomb block test piece and the open air.例文帳に追加

ハニカムブロック供試体の内部と外気との通気性を確保することにより、座屈変形時の空気の圧縮による荷重増加を排除でき、ハニカムブロック供試体本来の荷重特性を容易に測定できる衝撃試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a device for testing drain-up function of an air conditioner, which can test the drain-up function of the air conditioner before power source construction applied to the air conditioner, and thus can efficiently conduct the relevant test before busy season for interior construction.例文帳に追加

空調機に対する電源工事前に当該空調機のドレンアップ機能の試験を行うことができ、よって内装工事の煩雑期前に、効率的に当該試験を行うことが可能となる空調機のドレンアップ機能の試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide an electro-optical device and its test method, and electro-optical equipment, for easily testing an auxiliary wiring line at a low cost, and displaying a clear image for a long period of time without causing faults such as lighting unevenness.例文帳に追加

補助配線の検査を簡便かつ低コストにて行うことができ、点灯ムラ等の不具合が生じる虞が無く、鮮明な画像を長時間表示することができる電気光学装置及びその検査方法並びに電子機器を提供する。 - 特許庁

A testing device 100 judges test items and, when performing the wireless transmission characteristics test, transmits a layer-3 signal to mobile terminal equipment 150 to realize a wireless connection by a CDMA wireless interface, thereby transmitting a signal to be measured.例文帳に追加

試験装置１００は、試験項目を判断し、無線送信特性試験を行う場合には、移動端末装置１５０との間でレイヤ３信号を伝送してＣＤＭＡ無線インターフェースによる無線接続を実現し、被測定用信号を伝送する。 - 特許庁

To provide a superconducting coil vertical vibration testing device capable of reproducing faithfully the phenomenon in an actual machine, by reproducing the relation among a superconducting coil, an internal vessel, load support materials and an external vessel in the actual machine, and by exciting from the same external vessel as the actual machine.例文帳に追加

実機における超電導コイル・内槽、荷重支持材、外槽の関係を再現して、かつ実機と同じ外槽から加振することにより、実機での現象を忠実に再現できる超電導コイル上下加振試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a device and a method for a band torsional endurance test capable of reproducing a load generated when a band is attached to one part of a body, and capable of testing a state generated in the band.例文帳に追加

バンドを体の一部に装着した際に起こる負荷を可能な限り再現することができ、バンドに如何なる状況が生じ得るかを試験することのできるバンド捻り耐久試験用装置およびバンド捻り耐久試験方法の提供。 - 特許庁

In this semiconductor testing device equipped with the sequence control circuit for controlling sequence of a pattern generation command described in a program, the sequence control circuit decodes a part of a sequence control command just before execution of a test.例文帳に追加

プログラムに記述されたパターン発生命令のシーケンスを制御するシーケンス制御回路を備えた半導体試験装置において、前記シーケンス制御回路は、シーケンス制御命令の一部のデコードをテスト実行直前に行うことを特徴とするもの。 - 特許庁

By constitution like this, based on the stoppage operation information from the game machine 10, the testing device can output a stop signal to the game machine 10 to stop the pattern strings (85, 86 and 87) by specific patterns corresponding to the specific state.例文帳に追加

このように構成されていると、試験装置は、遊技機１０からの停止操作情報に基づいて遊技機１０に停止信号を出力し、図柄列（８５、８６、８７）を特定状態に対応した特定図柄で停止させることができる。 - 特許庁

To provide a sample-preparing device for standardizing the preparation of a sample for testing soldering material and for improving the reliability by stabilizing a series of operations from the pull-up of the sample from a heating bath to the cooling of the sample solder.例文帳に追加

試料を加熱槽から引き上げ、試料はんだを冷却させるまでの一連の操作を安定して行えるようにし、はんだ付材料試験用の試料作成の標準化と信頼性の向上を実現可能な試料作成装置を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit device which is provided with a test mode capable of testing a test block selected out of a plurality of circuit blocks, and can test the test block under a condition of voltage distribution nearly equal to its real working condition even when the device is in the test mode.例文帳に追加

複数の回路ブロックから選択された試験ブロックについて試験が行われるテストモードを備える半導体集積回路装置において、テストモード時においても実使用状態に近い電圧分布のもとで、試験ブロックを試験することが可能な半導体集積回路装置を提供することである。 - 特許庁

The TCP handler 2 testing TCPs 50 having test pads 54c formed in the middle of each lead 53, includes: an insulation treatment device 7 for performing insulation treatment of the test pads 54c of the TCPs 50 after being tested; and a surface treatment device 8 provided in the preceding stage to perform insulation surface treatment of the test pads 54c.例文帳に追加

リード５３の中間にテストパッド５４ｃが形成されたＴＣＰ５０を試験対象とするＴＣＰハンドラ２において、試験後のＴＣＰ５０のテストパッド５４ｃを絶縁処理する絶縁処理装置７と、その前段に、テストパッド５４ｃの絶縁下地処理を行う下地処理装置８とを設ける。 - 特許庁

To provide a method and apparatus for inferring the test time of an integrated circuit device, capable of accurately inferring the test time necessary for testing the quality of the integrated circuit device.例文帳に追加

集積回路装置が良品であるか否かのテストに必要なテスト時間を推定する集積回路装置のテスト時間推定方法及び装置に関し、集積回路装置が良品であるか否かのテストに必要なテスト時間を正確に推定できる集積回路装置のテスト時間推定方法及び装置を提供する。 - 特許庁

This electrode prober 19 is arranged between an tested IC package 4 having a plurality of electrodes 8 and an IC mounting face 3 in an IC test device testing an operation of the IC package for conduction between respective electrodes 2 on the IC mounting face in the IC test device with the respective electrodes 8 in the IC package 4.例文帳に追加

複数の電極８が形成された試験対象のＩＣパッケージ４と、このＩＣパッケージの動作試験を行うＩＣ試験装置のＩＣ取付面３との間に介挿され、ＩＣ試験装置のＩＣ取付面３の各電極２とＩＣパッケージ４の各電極８とを導通させる電極プローバー１９である。 - 特許庁

This dust prevention testing device 1 is constituted of an exciter 3 excitable in a prescribed vibration condition, a sealable dust housing 4, a sealable housing 5 for evaluation fixed in the dust housing 4, and a dust supply device 6 capable of supplying a prescribed quantity of dust for the test into the dust housing 4.例文帳に追加

防塵試験装置１は、所定の振動条件で加振可能な加振器３と、密閉可能な粉塵箱体４と、この粉塵箱体４内に固定された密閉可能な評価用箱体５と、粉塵箱体４内に試験用粉塵を所定量供給可能な粉塵供給装置６とから構成されている。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit device in which the cost of a test can be reduced due to the cost reduction of a tester by reducing a capacity of an expected value memory in the tester, in the semiconductor integrated circuit device frovided with the memory with multiple bits of word lengths and a BIST (Build In Self Test) circuit for testing the memory.例文帳に追加

語長を複数ビットとするメモリと、該メモリのテストを行うためのＢＩＳＴ回路を備える半導体集積回路装置であって、テスタ内の期待値メモリの容量を削減し、テスタのコスト削減によるテストのコスト削減を図ることができる半導体集積回路装置を提供する。 - 特許庁

In the case of forming oriented films 24, 32 on a TFT array substrate 10 and a counterposed substrate 20, the oriented film forming device 700 forms an oriented film on a testing substrate by a spin coater 300, and then measures the film thickness of the oriented film by a film thickness measuring device 50.例文帳に追加

ＴＦＴアレイ基板１０および対向基板２０に対して配向膜２４、３２を形成するにあたって、配向膜形成装置７００において、スピンコート装置３００で試験用基板に配向膜を形成した後、焼成装置４００で焼成し、しかる後に、配向膜の膜厚を膜厚測定装置５００で計測する。 - 特許庁

This noise testing device comprises a smoothing part 13 imitating a DC power source 2A built in a device to be tested 2 and a filter part 14, and performs the noise resisting performance test of the circuit resulted from the DC power source by substituting the DC power source to supply the power to an internal circuit 2B.例文帳に追加

ノイズ試験装置は、被試験装置２に内蔵する直流電源２Ａを模擬した平滑部１３やフィルタ部１４をもつ構成にし、ノイズ試験には直流電源に置き換えて内部回路２Ｂに電源供給を行うことによって、直流電源に因る回路の耐ノイズ性能試験を行う。 - 特許庁

This performance board 10 of a semiconductor testing device (image sensor tester) 1a includes the buffers 11-1 to 11-n for cable driving, and switches 12-1 to 12-n for conducting switching between an input of a measured signal output from a measured device and an input of a reference signal output from a reference signal generator 40.例文帳に追加

半導体試験装置（イメージセンサテスタ）１ａのパフォーマンスボード１０は、ケーブル駆動用のバッファ１１−１〜１１−ｎと、被測定デバイスから出力された計測信号又は基準信号発生器４０から出力された基準信号の入力の切り替えを行う切替器１２−１〜１２−ｎとを備えている。 - 特許庁

This semiconductor integrated circuit incorporates a test circuit testing operation of a non-volatile memory, while the device has an output terminal outputting a test result and an operation terminal indicating operation control of the test circuit, and the device can indicate the number of write-in of the non-volatile memory, a write region, and write data from the operation terminal.例文帳に追加

不揮発性メモリの動作を試験する試験回路を内蔵すると共に、試験結果を出力する出力端子と、試験回路の動作制御を指示する操作端子を有し、その操作端子から不揮発性メモリの書き込み回数、買い込み領域及び書き込みデータを指示できる半導体集積回路を提供する。 - 特許庁

The burn-in test is performed using a memory BIST circuit 202, designed so as to preliminarily perform all tests necessary for confirming the operation of a memory device 201 for not only enhancing the toggle ratio in the burn-in test of the memory device, but also to suppress the developing time of the burn-in testing.例文帳に追加

あらかじめメモリ装置２０１の動作確認のために必要な全ての試験を実施するように設計されたメモリＢＩＳＴ回路２０２を用いてバーインテストを行うことにより、メモリ装置のバーインテストにおけるトグル率を向上させると共に、バーインテストの開発時間を抑制することができる。 - 特許庁

This modified device for equilibrium dialytic treatment is of such a construction that it uses a dialytic membrane which is present in all of an arbitrary number of test wells included in dialytic blocks and also inserted into at least a gap for dividing the wells to the donating side and the receiving side which be accessed and operated from the top the device during testing.例文帳に追加

透析ブロックに含まれる任意の数の試験ウェルの全ての中にあり、それらウェルを試験中いつでも装置の上部からアクセス及び操作できる授与側と受領側に少なくとも分離する間隙内に挿入された透析膜を利用する平衡透析処置用改良型装置。 - 特許庁

To obtain a composite semiconductor integrated circuit device and its connection testing method which does not need any additional circuits inside LSIs, is consequentially capable of using existing LSI chips, suppresses increase in the number of external terminals (number of device pins) to a minimum, and dramatically improves a test function.例文帳に追加

ＬＳＩ内部に何ら付加的回路を必要とせず、したがって、既存のＬＳＩチップを用いることが可能であるとともに、外部端子数（デバイスピン数）の増加も最小限に抑えて、テスト機能を飛躍的に向上させた複合半導体集積回路装置、並びに、その接続試験方法を提供する。 - 特許庁

The semiconductor testing device 1 includes a plurality of contactors 11 contacting the semiconductor device 20 of an measuring object, heating elements 31 thermally connected to each of the plurality of contactors 11, and a driving part 8 for giving each of the contactors the difference of height fitting to the irregularity of the surface of the semiconductor device 20 by vertically driving each of the plurality of contactors 11.例文帳に追加

測定対象の半導体装置２０に当接する複数のコンタクタ（当接体）１１と、複数のコンタクタ１１の各々に熱的に接続された発熱体３１と、複数のコンタクタ１１の各々を上下に駆動することにより、コンタクタ１１の各々に半導体装置２０の表面の凹凸に合った高低差を付与する駆動部８とを有する半導体試験装置１による。 - 特許庁

The semiconductor testing device performs a semiconductor test on a wafer where a circuit corresponding to a plurality of chips is formed, and is provided with a semiconductor testing implementation section 131 that performs a predetermined measurement while sequentially changing positions of chips contained in one wafer, and a self-diagnosis implementation section 134 when measurement results obtained by the section 131 on a predetermined number of chips continuously failed to satisfy the provided certain criteria.例文帳に追加

半導体試験装置は、複数のチップに対応する回路が形成されたウエハに対して半導体試験を行うものであり、一のウエハに含まれるチップの位置を順番に切り替えながら所定の測定を実施する半導体試験実行部１３１と、半導体試験実行部１３１による測定結果が所定数のチップについて連続してフェイルとなったときに、自己診断を実施する自己診断実行部１３４とを備えている。 - 特許庁

The software test system includes: a terminal device, in which software to be tested is installed, and a software test device that stores a test driver for testing the target software according to test data and a test procedure of the target software, wherein the test driver is transmitted to the terminal device to test the target software by combining the test data and the test procedure within the terminal device.例文帳に追加

ソフトウェアテストシステムは、テスト対象ソフトウェアがインストールされている端末装置と、前記テスト対象ソフトウェアのテストデータ、および、前記テスト対象ソフトウェアのテスト手続きに従って前記テスト対象ソフトウェアをテストするテストドライバが記憶されているソフトウェアテスト装置と、を有していて、前記テストドライバが前記端末装置に伝送され、前記端末装置において前記テストデータと前記テスト手続きとの組み合わせにより前記テスト対象ソフトウェアがテストされる。 - 特許庁

LIQUID PRESSURE CONTROL METHOD FOR MATERIAL TESTING DEVICE BY CAVITATION JET FLOW, MECHANISM FOR CONTROLLING PRESSURE INSIDE LIQUID TANK, JET PRESSURE CONTROL MECHANISM, MECHANISM FOR AUTOMATICALLY CONTROLLING PRESSURE INSIDE LIQUID TANK AND/OR JET PRESSURE, AND MECHANISM FOR SUPPLYING AND EXHAUSTING LIQUID INTO LIQUID TANK IN SHORT TIME例文帳に追加

キャビテーション噴流による材料試験装置の液体圧力制御方法、液体槽内圧力制御機構、噴射圧力制御機構、液体槽内圧力および／または噴射圧力の自動制御機構及び液体槽内への短時間液体給排機構 - 特許庁

An MPU 8 watches the state of an ejecting button 5 under the condition that a test compact disk is not loaded at startup, and when it is detected that the ejecting button 5 is pushed continuously or multiply within a prescribed period of time, the optical disk device 1 is laid under a testing operation.例文帳に追加

ＭＰＵ８は起動時にテスト用のコンパクトディスクが搭載されていない状態でイジェクト釦５の状態を監視し、所定時間内に連続又は多重にイジェクト釦５が押されたことが検出されると、光ディスク装置１は試験動作状態となる。 - 特許庁

A testing device 11-1 for a touch panel comprises a circuit board; A rows and B columns of electrodes 13-1 to 13-16 arranged in a matrix on the circuit board; and switch elements 14 each of which is arranged between each electrode and ground and connects each electrode to the ground.例文帳に追加

タッチパネルの検査装置１１−１を基板と、基板上にマトリクス状に配列されたＡ行Ｂ列の電極１３−１〜１３−１６と、各電極とグラウンドとの間に配設され各電極を接地接続させるスイッチ素子１４とを用いて構成する。 - 特許庁

The hot-cold shock testing device includes first control means for stopping at least one of the refrigerator, the first heater and the second heater to start a test interruption before starting the next hot-cold cycle operation after the end of the high temperature exposure state.例文帳に追加

冷熱衝撃試験装置は、高温さらし状態が終了した後、次の冷熱サイクル動作を開始する前に、冷凍機、第１加熱器および第２加熱器のうちの少なくとも１つを停止させて試験の中断を開始する第１制御手段を備える。 - 特許庁

To provide a device for conducting a restoring test of a base isolation floor capable of safely and smoothly conducting the test without generating a flight substance in load tripping by applying a testing load to the base isolation floor, then quickly releasing the load.例文帳に追加

免震床に試験負荷をかけ、次いでその負荷を急激に開放することにより、その免震床の復元試験を行う装置において、負荷引き外し時に飛翔物が発生することなく、安全に且つ円滑に試験を行うことができる装置の提供。 - 特許庁

An electronic component testing device 1, which performs a test pressing an IC terminal against a contact part 51 of a test head 5, comprises a temperature operation means 501 which calculates an actual temperature of the IC based on a signal from a temperature sensor 2D provided in the IC.例文帳に追加

ＩＣの端子をテストヘッド５のコンタクト部５１へ押し付けてテストを行う電子部品試験装置１であり、ＩＣに設けられた温度感応素子２Ｄからの信号に基づいて、当該ＩＣの実際の温度を演算する温度演算手段５０１を有する。 - 特許庁

When testing the console 2, a computer unit 28 of the control device 3 reads a test display command DT from a database 24 to transmit the same to the console 2 via a conversion unit 30, and also reads an exact test video signal DTE to supply the same to a comparison means 40.例文帳に追加

制御装置３のコンピュータ・ユニット２８は、コンソール２の検査時に、データベース２４から検査表示コマンドＤＴを読み出し、変換ユニット３０を介してコンソール２に送信し、また的確検査ビデオ信号ＤＴＥを読み出して、比較手段４０に供給する。 - 特許庁

To obtain a device for inspecting the sealed state of a connected pipe joint capable of obtaining reliable test results by speedily supplying and discharging water from a test band for testing the sealed state of the sealed part of the pipe joint and performing pressure-proof tests by a manual pressurization.例文帳に追加

接続した管継手のシール部のシール性を試験するためのテストバンドへの給排水を迅速に行ない、しかも耐圧試験は手動加圧とすることにより確実な試験結果の得られる管継手の密閉性検査装置を得ることを課題とする。 - 特許庁

To provide an inspection system which stores SPD data stored in a personal computer to an inspection device which cannot be connected to the personal computer in a short time, to improve the operation efficiency in testing a substrate such as DIMM, and which can be constructed at low cost.例文帳に追加

パソコンに保存されたＳＰＤデータをパソコンに接続できない検査装置に保存する作業を短時間で簡単に行い、ＤＩＭＭ等の基板検査の作業効率を向上させることができる低コストで構築可能な検査システムを提供する。 - 特許庁