「testing device」に関連した英語例文の一覧と使い方(103ページ目) - Weblio英語例文検索

In a control method in a material testing device, a material test piece 1 is housed in a chamber 2, and the pressure in the chamber is made higher than atmospheric pressure and compression load is applied to the material test piece by a compression actuator 9.例文帳に追加

材料試験装置における制御方法は、材料試験片（１）をチャンバー（２）内に収納するとともに、チャンバー内の圧力を大気圧よりも高くし、かつ、前記材料試験片に圧縮用アクチュエータ（９）で圧縮荷重を加えている。 - 特許庁

To provide an in-situ permeability testing device which can measure in-situ coefficients of permeability of a rolled ground stratum quickly, easily, and at multiple points, and can control water permeability necessary for earth materials with good accuracy, and to provide an in-situ permeability measuring system.例文帳に追加

圧地盤層の透水係数を原位置で迅速・簡易かつ多点的に計測することができ、材料の要求される透水性能を精度良く管理することができる原位置透水試験装置および原位置透水性計測システムを提供する。 - 特許庁

In this testing device, since the multi-stack package is drawn downward and/or upward on a lower part and/or an upper part of the socket by a vacuum pump, contact failure with the multi-stack package caused by the contact ball can be confirmed easily.例文帳に追加

テスト装置では、真空ポンプによってソケットの下部及び／または上部でマルチ−スタックパッケージを下方及び／または上方に引き寄せるので、コンタクトボールによるマルチ−スタックパッケージの間の接触性不良を容易に確認することができる。 - 特許庁

To precisely adjust an optical axis in a short time by precisely aligning the surfaces of an optical device and a package in a testing machine for an optical module used for an optical communication field and its optical- axis adjusting method.例文帳に追加

光通信分野に利用される光モジュール用試験機及びその光軸調整方法に関し、光デバイスのパッケージと光ファイバブロックとの面合わせを精度良く行い、光軸調整を精密に且つ、短時間で行うことを可能にする。 - 特許庁

To provide a pulsation water pressure-generating device for testing water pressure in a pipe that can securely find the connection failure of piping, the defect of a joint part, or the like by generating a pulsation water pressure in the pipe and applying it to the pulsation water pressure.例文帳に追加

管内に脈動水圧を発生させて、この脈動水圧を印加することにより配管の接続不良や継手部の欠陥等をより確実に発見することができる管内の水圧試験用脈動水圧発生装置を提供する。 - 特許庁

To provide a control device for an automatic transmission, which prevents the incorrect determination of shifting to a neutral state, even when a line pressure is in minimum during testing whether a gear change stage is formed by outputting a formation command in a predetermined gear change stage.例文帳に追加

所定変速段の形成指令を出力して何れの変速段が形成されるかの試験中に、ライン圧が最低圧状態であっても、ニュートラル状態として誤判定することがない自動変速機の制御装置を提供する。 - 特許庁

To provide a servo signal-testing device which can conduct quality evaluation, analysis, investigation of defects and so on concerning a servo signal more properly and in more detail since it can test a specific location of a servo signal in the direction of the width of a magnetic tape.例文帳に追加

サーボ信号の磁気テープ幅方向の特定の位置を検査することができ、従って、サーボ信号の品質評価や解析、欠陥原因の究明等を、より好適かつ詳細に行うことが可能なサーボ信号検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a testing and adjusting method for a microwave semiconductor device which shortens the time for electric characteristic measurement and adjustment by eliminating a screw-fixing process and matches characteristics in the adjustment with characteristics after sealing by ensuring electromagnetic shielding.例文帳に追加

ネジ止め工程を無くして、電気特性測定及び調整の時間を短縮させるとともに、電磁気シールドを確実にして、調整時の特性と封止後の特性を一致させることを可能にするマイクロ波半導体装置の試験調整方法を得る。 - 特許庁

An image testing device uses the medical image to which information on an image number is attached for generating the thumbnail image and displays the thumbnail image on a display means in the order of the image number attached to the medical image (Step S14).例文帳に追加

検像装置は、画像番号の情報が付帯された医用画像を用いてそのサムネイル画像を生成し、当該サムネイル画像を当該医用画像に付帯されている画像番号順に前記表示手段上に表示させる（ステップＳ１４）。 - 特許庁

The testing device, for example, measures pressure fluctuation generated when the model mobile unit 1 passes through the model structure 2 or measures air flow generated from the opening 2e when the model mobile unit 1 passes through the model structure 2.例文帳に追加

試験装置は、例えば、模型構造物２内を模型移動体１が通過するときに発生する圧力変動を測定したり、模型構造物２内を模型移動体１が通過するときに開口部２ｅから発生する気流を測定したりする。 - 特許庁

An operating state choosing means 4 (not shown) properly sets the operating state, through an interactive means attaching display device 3 (not shown) to an operating state storing table 5 (not shown) storing the operating state as to whether each power unit is in normal operation or is in testing and adjustment.例文帳に追加

運転状態選択手段４は、発電ユニット毎に通常運転中若しくは試験調整中かの運転状態を記憶する運転状態記憶テーブル５へ対話手段付表示装置３を介して運転状態を適宜設定する。 - 特許庁

The device and the method for testing are constituted so that the electromagnetic waves L are made to collectively irradiate a plurality of pad parts (code 121(a) or the like) formed in a region ER on the circuit board 10 and continuity is tested by selecting wiring to be tested by changeovers of a multiplexer 42.例文帳に追加

回路基板１０上の領域ＥＲに形成された複数のパッド部（符号１２１ａ等）に一括して電磁波Ｌを照射し、マルチプレクサ４２の切り替えで被検査配線を選択して導通検査を行うように構成されている。 - 特許庁

To provide a device and a method for testing a jitter transfer characteristic which can shorten a time for determining whether or not a measuring object 100 conforms to a predetermined jitter transfer characteristic mask.例文帳に追加

本発明は、測定対象１００が予め定められたジッタ伝達特性マスクに適合しているか否かの判定時間を短縮することのできるジッタ伝達特性試験装置及びジッタ伝達特性試験方法の提供を目的とする。 - 特許庁

To reduce the labor and time at the time of calibrating reference devices in respective sites without reducing precision in an IC test device capable of testing plural IC chips in parallel having the plural sites each including measurement units and measurement unit diagnostic reference devices.例文帳に追加

測定ユニットと測定ユニット診断用の基準器とをそれぞれ有するサイトを複数備え、複数のＩＣチップを並列して試験可能なＩＣ試験装置において、精度を下げずに、各サイトの基準器を校正する際の手間と時間とを削減する。 - 特許庁

To carry out a SCC reproducing test for a condenser in an actual environment and to quantitatively grasp a crack developing speed so as to accomplish prevention and maintenance against a stress corrosion crack by using a stress corrosion crack testing device for a condenser.例文帳に追加

復水器の応力腐食割れ試験装置を用いることにより、実環境中で復水器のＳＣＣ再現試験の実施を可能にし、き裂進展速度を定量的に把握して応力腐食割れの予防保全を確実に図ること。 - 特許庁

To provide a supplementary device for blood testing which is applicable to a plurality of uses, such as avascularization during blood sampling and stanching after blood sampling, or the like, and can perform above such operations quickly and appropriately while a subject is prevented from suffering from undesirable pains during blood sampling as much as possible.例文帳に追加

採血の際に被検者に不快な痛みが与えられてしまうことを極力抑えつつ、この採血時の駆血及び採血後の止血等、複数の用途で利用でき、しかもその処理を迅速且つ好適に行えるようにする。 - 特許庁

A thermal shock testing device 1 has a high temperature tank 2 and a low temperature tank 3, and is able to alternatively perform heating test control in which a sample body is exposed under a high temperature atmosphere and cooling test control in which the sample body is exposed under a low temperature atmosphere.例文帳に追加

冷熱衝撃試験装置１は、高温槽２と低温槽３を有し、試料体を高温の雰囲気温度にさらす加熱試験制御と、低温の雰囲気温度にさらす冷却試験制御とを交互に実行することができる。 - 特許庁

After performing segmentation in a card shape, when printing is performed to the thermosensitive recording layer 16 by using a thermosensitive printing testing device, red color is developed by low applied energy, black color is developed by high applied energy and printing quality is excellent.例文帳に追加

カード状に切り出した後、この感熱記録層１６に感熱印字試験装置を使用して印字したところ、低い印加エネルギーでは赤発色が生じ、高い印加エネルギーでは黒発色を行うことができ、印字品質は良好であった。 - 特許庁

Thus, by electrically connecting a plurality of connect pins 20 of the testing device with the wide wiring part 17, electric conduction is reliably tested while preventing a connection failure, and damage of an important part such as a semiconductor laser part is prevented.例文帳に追加

したがって、検査装置の複数の接続ピン２０が拡幅配線部１７と電気的に接続することによって、接続不良を回避して確実に導通検査を行い、かつ半導体レーザ部などの重要部の破損を防ぐことができる。 - 特許庁

To stably shorten the measurement waiting time generated due to dielectric absorption and to stably reduce a steady leakage electric current so as to improve the measurement accuracy of minute electric current and minute current fluctuation in a testing device for a semiconductor wafer.例文帳に追加

半導体ウェハの試験装置における微少電流や微少な電流変動の測定精度を向上させるため、誘電吸収のために生じる測定待ち時間を安定に短くし、定常漏れ電流を安定に減少させる。 - 特許庁

In the case of testing the DRAM etc., after externally inputted writing data or incorporated pattern data are written, data for one row are read and compared with the writing data or externally inputted reference data to determine whether a device passes or fails.例文帳に追加

DRAM等のテストに際して、外部入力した書き込みデータあるいは内蔵したパターンデータを書き込んだ後、１行分のデータを読み出し、書き込みデータあるいは外部入力した参照データと比較することにより良否(Pass/Fail) 判定を行う。 - 特許庁

To provide a method and a device for testing the liquefaction and dynamic properties of ground in situ by utilizing a borehole, which can provide dynamic deformation properties with respect to a repeated load on a soil layer in an arbitrary position in the ground by using the simple method.例文帳に追加

地盤内の任意の位置の土層の繰り返し荷重に対する動的な変形特性を簡易な方法で得ることができるボーリング孔を利用した原位置での地盤の液状化および動的特性試験方法および試験装置を提供する。 - 特許庁

The testing device is provided with a wheel frame 11 horizontally directing a rotating shaft, and is provided with the tire mounting shaft 12 on the wheel frame, and an expandable and contractable collet member 13 and a flange face 14 inserted in a hub hole 5 of the wheel 3.例文帳に追加

回転軸を水平方向に向けたホイール架台１１を備え、ホイール架台１１にタイヤ取り付け軸１２とホイール３のハブ穴５内に挿入される拡縮自在のコレット部材１３とフランジ面１４とを設けた試験装置を用いる。 - 特許庁

To efficiently perform notification testing of coordinated emergency alarm notifications in which notifications of abnormal event warnings by an alarm and notifications of emergency earthquake information including emergency earthquake news flash or tsunami warnings by an emergency warning device are associated with each other.例文帳に追加

警報器による異常警報と緊急警報装置による緊急地震速報や津波警報を含む緊急地震情報の報知を相互に連携させた場合の連携した報知機能の試験を効率よく行うことを可能とする。 - 特許庁

To provide an inspection device of motor thrust and its inspection method capable of easily reproducing an operation conditions simulating a complicated load pattern without change of constitution of dummy for testing and inspecting by dynamically changing the complicated load pattern.例文帳に追加

試験用ダミーの構成変更がいらず、複雑な負荷パターンをシミュレートした運転条件を容易に再現でき、また複雑な負荷パターンを動的に変更して検査が行えるモータ推力の検査装置およびその検査方法を提供すること - 特許庁

To solve a problem wherein a data format used in a semiconductor testing device is not controlled seamlessly with versatile network equipment controlled using an SNMP, even when connected to the same network, because the data format is a peculiar format.例文帳に追加

半導体テスト装置で用いるデータ形式は独自の形式であるため、同じネットワークに接続されていても、ＳＮＭＰを用いて管理することができる汎用ネット機器とシームレスに管理することができなかったという課題を解決する。 - 特許庁

Different processing speeds of the digital logical circuit 202 can be tested by this method, and can be tested without making a special automatic testing device such as supporting the whole different possible voltage levels in response to the supporting different data rates.例文帳に追加

この方法で、ディジタル論理回路の異なる処理速度をテストすることができ、サポートされる異なるデータ・レートに対応してすべての異なる可能な電圧レベルをサポートするような特殊な自動テスト装置を作ることなしにテストすることができる。 - 特許庁

To provide a transformation plastic coefficient testing device for measuring successively deformation of a test piece during a rapid cooling time by assuming rapid-cooling thermal treatment after heating a material, and identifying a transformation plastic coefficient from the deformation.例文帳に追加

材料を加熱した後に急速冷却する熱処理を想定し、急速冷却時の試験片の変形量を逐次測定可能とし、その変形量から変態塑性係数を同定することができる変態塑性係数試験装置を提供する。 - 特許庁

The method for preparing and testing specimens for high-throughput screening assays for identifying bonding between a chemical target and a library compound and the use of a calorimeter device for measuring reaction enthalpy on the bonding are disclosed.例文帳に追加

薬剤標的とライブラリ化合物の間の結合の同定のための、ハイスループットスクリーニングアッセイ用の標本調製および検査のための方法、結合に関する反応エンタルピーを測定する熱量計装置を用いた使用について開示される。 - 特許庁

To provide an electric connection device provided with contacts different in arrangements capable of testing a plurality of types of electronic devices different in specifications of the size, number, arrangement and the like of electrodes, and capable of saving space for arranging the contacts.例文帳に追加

電極の大きさ、数、配列などの仕様の異なる複数種類の電子デバイスを試験することができる異なる配列の接触子を備え、それらの接触子を配列するスペースを節約することができる電気的接続装置を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device which shortens time required for a test or achieves flexible correspondence in accordance with a DUT, by generating a steeply-changing test signal or a mildly-changing test signal.例文帳に追加

急峻に変化する試験信号或いは緩やかに変化する試験信号を生成することができ、これにより試験に要する時間の短縮やＤＵＴに合わせた柔軟な対応を図ることができる半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device capable of producing a test program which can shorten a test time even without having the knowledge about multithreading and capable of shortening the time required for preparation and debugging of the test program.例文帳に追加

マルチスレッドに関する知識を有しなくとも試験時間を短縮し得る試験プログラムを作成することができるとともに、その試験プログラムの作成及びデバッグに要する時間を短縮することができる半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

The method and the device for data analysis according to various aspects are so constituted that a statistical outlier which includes a local outlier for showing an outlier in a subset of larger data population at testing data of a component can be identified.例文帳に追加

様々な局面に従ったデータ解析のため方法および装置は、より大きなデータ母集団のサブセットの中の外れ値を表す、局所的外れ値を含む、コンポーネントの試験データの中の統計的外れ値を識別するように構成される。 - 特許庁

To provide an attachment for sockets capable of automatically adapting to the performance test of IC devices and increasing thermal radiation from IC devices while curving increases in size, and also to provide a semiconductor device testing apparatus having the same.例文帳に追加

本発明は、ＩＣデバイスの性能試験の自動化に対応することができ、また、サイズの大型化を抑制しつつ、ＩＣデバイスからの熱放出を高めることができるソケット用アタッチメント及びそれを有する半導体デバイス試験装置を提供する。 - 特許庁

To allow decreasing the number of pads in a semiconductor device along with its manufacturing method, which comprises a first circuit connected to a connection pad and a second circuit which requires testing.例文帳に追加

接続パッドに接続された第１の回路部とテストが必要とされた第２の回路部とを有する半導体装置及びその製造方法に関し、パッド数を削減できる半導体装置及びその製造方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

The floor material testing apparatus consists of a pair of test rods 2 for applying load to the floor material 1 and a test rod driving device 3 for moving a pair of the test rods 2 up and down alternately to apply load to the surface of the floor material 1 alternately by the leading ends of the test rods 2.例文帳に追加

床材１に荷重を加える一対の試験棒２と、一対の試験棒２を交互に上下させて試験棒２の先端で床材１の表面に交互に荷重を加えるようにした試験棒駆動装置３とから成る。 - 特許庁

To provide a spraying corrosion testing device having a hermetically sealing structure by water, capable of preventing mist of corrosive liquid generated in a test tank from leaking to the outside of the test tank, and performing a test excellent in reproducibility and work efficiency in an energy saving state.例文帳に追加

試験槽内で生成させた腐食液のミストが前記試験槽外に漏洩するのを防止し、省エネルギーで、再現性と作業性の優れた試験ができる、水による密閉シール構造を具備した噴霧腐食試験装置を提供すること。 - 特許庁

This device is made up of an inspecting cup ring unit A that is structured by mounting an annular outer magnet member 3 on the inside circumferential side of a cup-shape portion 1, a motor 4 that rotates the inspecting coupling unit A in the circumferential direction, a testing base 10, and a measuring means B.例文帳に追加

カップ状部１の内周側にリング状のアウターマグネット部材３が装着されてなる検査用カップリング体Ａと、該検査用カップリング体Ａを円周方向に回転させるモータ４と、テスト台１０と、計測手段Ｂとからなること。 - 特許庁

In this superconducting coil vertical vibration testing device, the superconducting coil 1 is equipped with an vibration rod 21 fixed to a simulated external vessel 4 by the load support materials 2, 3, and a hydraulic exciter 26 to which the vibration rod 21 is connected through a vacuum vessel 12.例文帳に追加

超電導コイル上下加振試験装置において、超電導コイル１が、荷重支持材２，３によって模擬外槽４に固定される加振ロッド２１と、この加振ロッド２１が真空槽１２を貫通して連結される油圧加振機２６とを具備する。 - 特許庁

In addition, a pair of bearing housings are fixed on a bearing support member, and a load sensor for measuring force transmitted from the tires of the vehicle to the flat belt mechanism is arranged between a base of the travelling testing device for the vehicle and the bearing support member.例文帳に追加

また、上記一対の軸受のハウジングは軸受支持部材に固定され、車両のタイヤからフラットベルト機構に伝達される力を計測する荷重センサは、車両用走行試験装置のベースと軸受支持部材との間に配置される。 - 特許庁

To provide a signal generating circuit of a semiconductor testing device that is capable of reducing the data transmission amount for skew correction when an operation mode is switched, and to allow concurrent use of respective format channels without reducing the number of effective channels.例文帳に追加

動作モードを切り替えたときのスキュー補正用のデータ転送量を減らし、有効なチャンネル数を減少させることなく各フォーマットチャンネルを同時に使用することができる半導体試験装置の信号発生回路を提供すること。 - 特許庁

When the machine type data of the given game machine is input, the processing part 322 of the game machine testing device 2 reads out the data possibly inputted corresponding to the machine type data from the memory 321 to present the types of the test data outputted from the game machine involved.例文帳に追加

遊技機試験装置２の処理部３２２は、所定の遊技機の機種データが入力されると、当該機種データに対応する入力可能データをメモリ部３２１から読み出して、当該遊技機から出力される試験データの種類を提示する。 - 特許庁

Each of the semiconductor chips 10 has: an internal circuit 11; a plurality of electrode pads connected to a terminal for inputting and outputting an external device; and testing wirings for connecting this internal circuit 11 to the electrode pads of the other semiconductor chips.例文帳に追加

そして、各半導体チップ１０は、内部回路１１と、外部との入出力を行う端子に接続される複数の電極パットと、この内部回路１１と他の半導体チップの電極パットとを接続するテスト用配線とを有することとした。 - 特許庁

In this testing device, a center hole jack 16 is set on the lower side of a hollow pipe material 10, and a tensile force is applied to the hollow pipe material 10 to measure the drawing adhesion resistance between the pipe material 10 and a hardened hardenable material 12 hardened and adhered thereto.例文帳に追加

試験装置は、中空管体１０の下端側に、センターホールジャッキ１６を設置して、中空管体１０に引張り力を加えて、中空管材１０と、硬化付着された硬化性物質１２との間の引抜き付着抵抗を測定する。 - 特許庁

To provide an operation control method and a device which is provided with a semiconductor switching means for low-voltage load, capable of precisely and continuously following to the load control value, without using industrial water and is capable of maintaining the value at the load characteristic testing for an electric generator and the like.例文帳に追加

発電機等の負荷特性試験において、工業用水を使用せずに負荷制御値に連続的に精度よく追従し、その値を持続できる半導体開閉手段を備えた低圧負荷演算制御方法及び装置の提供。 - 特許庁