「testing device」に関連した英語例文の一覧と使い方(99ページ目) - Weblio英語例文検索

The B/I testing device monitors a power supply current value supplied to the BIBD and, when the value exceeds the maximum current limit Ilmt (max), issues an alarm, shuts off the supply of the power, and the like.例文帳に追加

Ｂ／Ｉテスト装置は、ＢＩＢＤに供給している電源電流値を監視し、この値が最大電流リミットＩｌｍｔ（ｍａｘ）を超えた場合に、アラームの発生や当該電源供給の遮断等を行う。 - 特許庁

To provide an environmental testing device without requiring an exclusive carrying mechanism for delivering a workpiece between a horizontal carrying passage and a vertical carrying passage, even when the vertical carrying passage exists in the middle of the horizontal carrying passage.例文帳に追加

水平搬送路の途中に垂直搬送路がある場合でも、水平搬送路と垂直搬送路の間のワークの受け渡しに専用の搬送機構を必要としない環境試験装置を提案すること。 - 特許庁

A test signal generated by a test signal generating part disposed in the main body of the testing device is outputted for a prescribed time after a power supply is made, and this signal is read out and compared with expectation in each pin card.例文帳に追加

電源が投入されてから一定時間、試験装置本体に配置されたテスト信号生成部が生成したテスト信号を出力し、各ピンカードでこのテスト信号を読み出して期待値と比較するようにした。 - 特許庁

To provide an elastic wave propagation velocity measuring and operating method of a solid capable of acquiring a highly-reliable and highly-accurate test result easily and rationally, and a nondestructive compressive strength testing device using the method.例文帳に追加

容易且つ合理的に信頼性と精度の高い試験結果を得ることができる固体の弾性波伝播速度測定演算方法及び該方法を用いた非破壊圧縮強度試験装置を提供する。 - 特許庁

To enable execution of probe cleaning and contact check or the like during measurement of a wafer in the wafer testing step for a wafer fixing jig and a manufacturing method of semiconductor device.例文帳に追加

本発明はウエハ固定治具および半導体装置の製造方法に関し、ウエハテストの工程において、ウエハの測定途中にプローブのクリーニングやコンタクトチェック等を実施することを可能とすることを目的とする。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device which is capable of performing measurement of a continuous current waveform in one DC module in addition to conventional measurement without changing a measurement method, when measuring a voltage application current.例文帳に追加

電圧印加電流測定時において、測定手法を変更することなく、従来の測定に加えて、１つのＤＣモジュールでの連続的な電流波形も測定することが可能な半導体試験装置を実現する。 - 特許庁

To provide a semiconductor element where a probe for testing hardly protrudes from an external electrode even if adjacent semiconductor element regions (IC region) are simultaneously inspected, and to provide a semiconductor wafer and a method of manufacturing a semiconductor device.例文帳に追加

隣接した半導体素子領域（ＩＣ領域）を同時に検査しても、検査用のプローブが外部電極から食み出し難くい、半導体素子、半導体ウエハ、及び半導体装置の製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a ground anchor tension device capable of maintaining constant pressure rising rate of working fluid in a pressure supply line supplying pressure oil to a jack cylinder in a lift-off testing of a ground anchor.例文帳に追加

グラウンドアンカーのリフトオフ試験でジャッキのシリンダへ圧油を供給する圧力供給ラインにおける作動流体の昇圧速度を一定に制御することが出来る様なグラウンドアンカーの緊張用装置の提供。 - 特許庁

To provide a vibration testing device generating vibration by feeding a vibration signal, with a vibration exciting means excited at the prescribed level, and capable of reducing power consumption.例文帳に追加

加振手段を所定レベルに励磁した状態で振動信号を供給することにより振動を発生させる振動試験装置に関し、消費電力を低減できる振動試験装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

To simplify the constitution of a testing device, to facilitate the measuring procedure and to shorten test time regarding the measurement of the reception sensitivity of the radio telephone terminal of a code division multiple access type.例文帳に追加

本発明の課題は、符号分割多元接続式の無線電話端末の受信感度の測定に関して、試験装置の構成が簡単で、その測定手順の容易化及び試験時間の短縮を図ることにある。 - 特許庁

To provide a bearing testing device capable of performing a bearing performance test or a noise test of a low noise level in the tilted state at an optional angle, and performing the bearing performance test fit to an actual using condition.例文帳に追加

任意の角度に傾けられた状態で、軸受性能試験や低騒音レベルの騒音試験を可能として、実使用条件に合った軸受性能試験を行なうことができる軸受試験装置の提供。 - 特許庁

A difference in Pachinko game machines of the same model is that only the shooting mode changing device 41 is mounted or removed in shooting testing and delivery, and the Pachinko game machine itself is standardized.例文帳に追加

従って、同一機種のパチンコ遊技機にあっては、実射試験時と出荷時に発射態様変更装置４１が装着されているか又は脱着されているかの違いのみで、パチンコ遊技機自体は共通化される。 - 特許庁

To provide a display testing device for displaying images or the like by arranging a great number of pixels such as a liquid crystal display in the form of a matrix, individually modifying the transmittance of each pixel, and setting to switch on/off the respective pixels.例文帳に追加

液晶ディスプレイなどの多数の画素をマトリックス状に並べ、各画素の透過率を個別に変更して、それぞれの画素を点灯・消灯を設定し、画像などを表示するディスプレイの試験装置を提供する。 - 特許庁

A traction testing device can highly accurately determine an applying load by supporting a stand 14 by being floated from a base 50 by an air bearing 15 by placing a spindle unit 12 and a torque meter 70 on a common stand 14.例文帳に追加

スピンドルユニット１２とトルク計７０を共通の架台１４に載せ、架台１４をエアベアリング１５にてベース５０から浮き上がらせて支持し、高精度に負荷荷重を求めることができるようにしたトラクション試験装置。 - 特許庁

To provide a disk evaluation device which can easily acquire a highly accurate data for searching the cause when disk quality does not satisfy a reference value in testing and evaluation of the disk such as a DVD.例文帳に追加

ＤＶＤ等のディスクの試験、評価において、ディスクの品質が基準値を満たさない場合に、その原因を究明するための精度の高いデータを容易に取得することができるディスク評価装置を提供する。 - 特許庁

In a device 7 for taking out the sample cassettes automatically of this invention, a plurality of the sample cassettes 11 containing samples for the material testing and respectively provided with two sets of notches 11B on the both sides, are contained in the magazine 8.例文帳に追加

本発明の自動サンプルカセット取出し装置７では、材料試験用サンプルを収容した、両側側面にそれぞれ２組の切り欠き１１Ｂを設けた複数のサンプルカセット１１をマガジン８に収容する。 - 特許庁

It is desirable that the contact terminal contacting the first terminal 12 in the testing board have the same input impedance as the contact terminal which makes contact with the first terminal 12 in the semiconductor device 20.例文帳に追加

試験用ボード１０における、第１端子１２に接触する接触端子が、半導体デバイス２０における、第１端子１２に接触する接触端子と同一の入力インピーダンスを有することが好ましい。 - 特許庁

Characteristic data of a magnetic head measured by a characteristic testing device 202 or 302 installed in a slider processing plant 201 or an HGA assembling plant 301 is stored in the manufacturing result database via the network.例文帳に追加

スライダ加工工場２０１やＨＧＡ組立工場３０１に設置された特性試験装置２０２や３０２で測定された磁気ヘッドの特性データをネットワークを介して製造実績データベースに格納する。 - 特許庁

To acquire a dynamic behavior or performance evaluation of a railway vehicle loading apparatus during traveling of an actual vehicle inexpensively in a short period under various vibration environments, in a running testing device for a railway vehicle.例文帳に追加

鉄道車両用走行試験装置において、様々な振動環境下で短期間及び低コストで実車両走行中の鉄道車両搭載機器の動的な挙動や性能評価を把握できるようにする。 - 特許庁

To provide an anisotropic electric conductive sheet having superior inadhesive character preventing the state of adhesion to a substance, even if the substance is pressed against the sheet, and a testing device using the same.例文帳に追加

その表面に対して物体が圧接された場合にも、当該物体と接着状態となることが防止され、優れた非接着性を有する異方導電性シートおよびそれを用いた検査装置を提供することにある。 - 特許庁

To provide a card bending testing device used for determining whether a set strength standard is satisfied or not by applying a prescribed external force to a card, especially a PC card or the like, concerning a card mechanical strength test.例文帳に追加

本発明はカードの機械的強度試験に関し、特にＰＣカード等のカードに規定の外力を加え、定められた強度基準を満たすかどうかの判定に用いられるカードの曲げ試験装置に関する。 - 特許庁

To provide a device capable of acquiring stable test data in a drop impact testing machine constituted so as to perform the drop impact test of a test sample by attaching the test sample 10 to a jig 1 to drop the jig 1.例文帳に追加

試験サンプル１０を治具１に取り付け、この治具１を落下させて試験サンプルの衝撃試験を行なうようにした落下衝撃試験装置において、安定した試験データの得られる装置を提供する。 - 特許庁

To safely and smoothly change over a connection state of an actual operation before renewal to a connection state of testing after renewal in a short time and inexpensively in the case of renewal of the railroad signal protective device.例文帳に追加

鉄道の信号保安装置の更新に際して更新前の実機運転の接続状態と更新後の試験の接続状態とを短時間で而も低コストで安全かつ円滑に切り換えられるようにする。 - 特許庁

When testing is carried out for these driving circuits by connecting a test device with a common driving circuit 20 and a segment driving circuit 30, switches 51-55 of a bias circuit 40 are made on by applying a test signal TEST.例文帳に追加

コモン駆動回路２０及びセグメント駆動回路３０に試験装置を接続してこれらの駆動回路の試験をするとき、試験信号ＴＥＳＴを印加してバイアス回路４０のスイッチ５１〜５５をオンにする。 - 特許庁

To provide an environmental testing device for suppressing surely supply of the outside air containing moisture into a closed space inside a closed space constitution part constituting a test tank, when starting a test from a low-temperature test.例文帳に追加

低温試験から試験を始める場合に試験槽を構成する閉空間構成部の内部の閉空間に湿気を含んだ外気が供給されるのを確実に抑制することが可能な環境試験装置を提供する。 - 特許庁

To previously shut off a circuit defect, to improve the workability during testing or repairing and to make a module connector of a PCB easily usable by improving a protective cover for liquid crystal display device.例文帳に追加

液晶表示装置の保護カバーを改善して、回路不良を予め遮断することは勿論、テスト時又は修理時の作業性を向上させると共に、ＰＣＢのモジュールコネクターが容易に使用できるようにすること。 - 特許庁

To provide a locking device which prevents damage on itself, an opening/closing portion or a casing body of an electronic-component testing apparatus, and which enables the opening/closing portion to be kept opened at an optional angle.例文帳に追加

ロック装置自体や開閉部或いは電子部品試験装置の筐体本体が損傷することなく、しかも開閉部を任意の角度で開いた状態を維持することが可能なロック装置を提供する。 - 特許庁

To realize a probe card and a method of testing a semiconductor device, capable of obtaining satisfactory contact with chips and electrode pads of a CSP at all times, when the chips and the CSP are tested in the form of a wafer.例文帳に追加

チップやＣＳＰをウエハ状態で試験する際に、各チップやＣＳＰの電極パッドと常に良好なコンタクトの得られるプローブカード及び半導体装置の試験方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a technology for testing by specifying an element likely to generate malfunction among sensing system circuits in an wafer burn-in test while protecting this element, and to provide a semiconductor storage device provided with such a technical thought.例文帳に追加

ウェハ・バーンイン・テストにおいてセンス系回路のうちで不具合の生じそうな素子を特定し、当該素子を保護しつつテストを行う技術及びその技術思想を実装した半導体記憶装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a method and a device for testing a relationship between an axial load applied on a rotary shaft such as a main spindle 2 after the start of use and the output signal of a sensor unit 7 disposed to obtain the axial load.例文帳に追加

使用開始後に、主軸２等の回転軸に加わるアキシアル荷重と、このアキシアル荷重を求める為に設けたセンサユニット７の出力信号との関係を検定する方法及び装置を実現する。 - 特許庁

The test head 11 for a testing device includes a pin card 16, a back board 17 connected to the pin card 16, and a pogopin head 26 for mounting a plurality of pogopins 29 contacting to the contacting terminals of the probe card 43.例文帳に追加

ピンカード１６と、当該ピンカード１６が接続されるバックボード１７と、プローブカード４３の接触端子に接触するポゴピン２９が複数取り付けられたポゴピンヘッド２６とを備えた試験装置用テストヘッド１１である。 - 特許庁

To provide a probe, and an inspection device using it which enhance the degree of freedom of the arrangement of test terminals in an inspecting object, and also facilitate handling of inspection of a plurality of kinds of boards whose terminal positions for testing are different.例文帳に追加

検査対象物におけるテスト端子配置の自由度が増し、また、テストを行う端子位置の異なる複数種類の基板検査への対応も容易になるプローブ及びこれを用いた検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a method and device for operation control for low-voltage load capable of precisely and continuously following to the load control value, without using industrial water and capable of maintaining the value at the load characteristic testing for an electric generator and the like.例文帳に追加

発電機等の負荷特性試験において、工業用水を使用せずに負荷制御値に連続的に精度よく追従し、その値を持続できる低圧負荷演算制御方法及び装置の提供。 - 特許庁

This environmental testing device 1 includes a horizontal carrying mechanism 13 for carrying the workpiece 2 along a first horizontal carrying passage 11, and a first vertical carrying mechanism 15 for carrying the workpiece 2 along a first vertical carrying passage 14.例文帳に追加

環境試験装置１は第１水平搬送路１１に沿ってワーク２を搬送する水平搬送機構１３と第１垂直搬送路１４に沿ってワーク２を搬送する第１垂直搬送機構１５を備える。 - 特許庁

A sensor 16, a sensor driving means 19, and a controlling means 35 for controlling the sensor driving means 19 are included in a housing unit 31 so that integration and downsizing of the urine testing device can be achieved.例文帳に追加

センサ１６とセンサ駆動手段１９と、このセンサ駆動手段１９を制御する制御手段３５を収納ユニット３１に備えることにより、尿検査装置の一元化とともに小形化を図ることができる。 - 特許庁

After the positions of terminals of the measured device are recognized by the imaging element 52 in testing, the positions of the charge-discharge pin 51 and the measuring pin 12 of the meter 11 are made to coincide with those of the terminals from the mutual positional relationship.例文帳に追加

試験時に撮像素子５２で被測定デバイスの端子の位置を認識してから、該相互位置関係より充放電ピン５１・電荷量計１１の測定ピン１２の位置を該端子の位置に一致させる。 - 特許庁

To provide a card torsion testing device used for determining whether a set strength standard is satisfied or not by applying a prescribed external force to a card, especially a PC card or the like, concerning a card mechanical strength test.例文帳に追加

本発明はカードの機械的強度試験に関し、特にＰＣカード等のカードに規定の外力を加え、定められた強度基準を満たすかどうかの判定に用いられるカードのねじり試験装置に関する。 - 特許庁

The nuclear magnetic resonance testing apparatus 10 is provided with an image display device 320 which receives an MRI signal released from the object to be tested by a receiver 100, and which displays an image based on the received MRI signal.例文帳に追加

核磁気共鳴検査装置１０は検査対象から放出されるＭＲＩ信号を受信器１００で受信し、受信したＭＲＩ信号に基づく画像を表示する画像表示装置３２０を備える。 - 特許庁

To provide an endless belt type running testing device capable of preventing meandering of an endless belt caused by being influenced by camber thrust (lateral force) of a tire, and reproducing simply running speed in consideration of slip of the belt surface.例文帳に追加

タイヤのキャンバスラスト(横力)等の影響を受けてエンドレスベルトが蛇行するのを防止し、さらにベルト面の滑りを考慮した走行速度を簡単に再現することができるエンドレスベルト式走行試験装置を提供する。 - 特許庁

A governor 60 to be controlled and an ECU 10 are connected by connecting the ECU 10 and a first cable unit 56, and a reception test is performed by giving a simulation signal by program processing of a testing device 34.例文帳に追加

ＥＣＵ１０と第１ケーブルユニット５６とを接続することにより、模擬制御対象のガバナ６０とＥＣＵ１０とを接続し、検査装置３４のプログラム処理により模擬信号を与えて受入検査を行う。 - 特許庁

To provide a crash testing device and a crash test method for an automobile body capable of performing a crash test, while measuring acceleration applied to a vehicle compartment at a collision time, in a comparatively narrow footprint.例文帳に追加

比較的狭い設置面積で、衝突時の車室に作用する加速度を計測しながら衝突試験を行うことができる自動車車体の衝突試験装置及び衝突試験方法を提供する。 - 特許庁

METHOD OF PROVIDING PRODUCER, CONSUMER AND THE LIKE WITH DATA FROM DEVICE OR THE LIKE FOR MEASURING AND TESTING ARTICLE VIA COMMUNICATION LINE例文帳に追加

商品を計測・試験する装置等からのデータを通信回線を通じて生産者等に提供する方法と商品を計測・試験する装置等からのデータを通信回線を通じて消費者等に提供する方法 - 特許庁

To provide a testing method and a device by which the contact area of a sample solution and the wall of a biochip is kept small and a reaction rate between a substance to be tested in a sample solution and a specific binding substance in the biochip is enhanced.例文帳に追加

サンプル液とバイオチップの壁面との接触面積を小さく保ち、且つ、サンプル液の被検物質とバイオチップの特異結合物質との反応速度を高める検査方法及び装置を提供する。 - 特許庁

In the method for testing or calibrating the lithographic device or the part thereof, a measurement point is individually excluded at each field of view or each substrate by using a predetermined objective criterion such as a Chauvenet's criterion.例文帳に追加

リソグラフィ装置又はその一部を検定又は較正する方法において、チョーベネットの判定基準などの所定の客観的判定基準を使用して、視野毎に、又は基板毎に個々に測定ポイントが除外される。 - 特許庁

To provide an anisotropic electric conductive sheet having superior inadhesive character preventing the state of adhesion to a substance, even if the substance is pressed against the sheet, and a testing device using thereof.例文帳に追加

その表面に対して物体が圧接された場合にも、当該物体と粘着状態となることが防止され、優れた非接着性を有する異方導電性シートおよびそれを用いた検査装置を提供することにある。 - 特許庁