pogopinとは 意味・読み方・使い方

SEMICONDUCTOR TEST SOCKET HAVING POGOPIN CONTACT例文帳に追加

ポーゴーピン接点を有する半導体試験ソケット - 特許庁

A pogopin (spring-incorporating contact pin) 6 has a pogopin upper part 6a and pogopin lower part 6b and a spring 6c, and the pogopin upper part 6a contacts an earth contactor 3 in a state the semiconductor device 1 is not installed.例文帳に追加

ポゴピン（ばね内臓式接触ピン）６は、ポゴピン上部６ａとポゴピン下部６ｂとばね６ｃを有しており、半導体装置１が装着されない状態で、ポゴピン上部６ａはアースコンタクタ３と接触している。 - 特許庁

When the semiconductor device 1 is pressed {figure (c)}, the pogopin upper part 6a also slides in the lower direction, the pogopin upper part 6a is released from contact to the earth contactor 3, the solder ball 1a of the semiconductor device 1 is connected to the measuring device by way of the pogopin 6 so as to be in a state capable of starting measuring.例文帳に追加

半導体装置１が押圧されると｛図（ｃ）｝、ポゴピン上部６ａも下部方向に摺動し、ポゴピン上部６ａはアースコンタクタ３との接触が解かれ、半導体装置１の半田ボール１ａがポゴピン６を経由して測定装置に接続されていることにより測定開始可能な状態となる。 - 特許庁

The test head 11 includes a movable connecting mechanism 27 for permitting the movement of the pogopin head 26, and guides 33, 47 for positioning the pogopin head 26 to contact against the probe card 43.例文帳に追加

上記ポゴピンヘッド２６の移動を許容する可動接続機構２７と、上記ポゴピンヘッド２６を上記プローブカード４３に対して正確に位置決めして接触させる案内ガイド３３，４７とを備えた。 - 特許庁

The back board 17 located between the pin card 16 and the pogopin head 26 is connected to the pin card 16 by a connector 22, and also, the connector 22 of the back board 17 and each pogopins 29 of the pogopin head 26 are connected by a cable 23.例文帳に追加

上記バックボード１７が上記ピンカード１６とポゴピンヘッド２６との間に位置して上記コネクタ２２で上記ピンカード１６に接続されると共に、上記バックボード１７のコネクタ２２と上記ポゴピンヘッド２６の各ポゴピン２９とがケーブル２３で接続された。 - 特許庁

When the semiconductor device 1 is put on {figures (a) and (b)}, a solder ball 1a is grounded by way of the pogopin upper part 6a, the earth contactor 3 and a resistor 7.例文帳に追加

半導体装置１が載置されると｛図（ａ），（ｂ）｝、半田ボール１ａはポゴピン上部６ａ、前記アースコンタクタ３、抵抗７を経由して接地される。 - 特許庁

The test head 11 for a testing device includes a pin card 16, a back board 17 connected to the pin card 16, and a pogopin head 26 for mounting a plurality of pogopins 29 contacting to the contacting terminals of the probe card 43.例文帳に追加

ピンカード１６と、当該ピンカード１６が接続されるバックボード１７と、プローブカード４３の接触端子に接触するポゴピン２９が複数取り付けられたポゴピンヘッド２６とを備えた試験装置用テストヘッド１１である。 - 特許庁