| 例文 |
testing deviceの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 5533件
To provide an operational test apparatus for a USB interface capable of testing an operation of the USB interface solely by an electric device, without using a specific additional test apparatus.例文帳に追加
USBインターフェースの動作試験を実施するに際して、特別な付加的試験装置を用いることなく、当該電子機器単独で実施することが可能なUSBインターフェースの動作試験装置を提供する。 - 特許庁
To provide a drop impact testing device, capable of carrying out precisely a natural drop impact test dropped under identical conditions, from a fixed height each time, and accurately dropped at the same spot.例文帳に追加
一定高さから毎回同じ条件で落下させ、同一箇所に正確に落とすといった自然落下衝撃試験を精度良く行うことができる落下衝撃試験装置を提供すること。 - 特許庁
To provide a service life testing device for a bearing capable of realizing a long service life of a rolling bearing by acquiring establishment of a service life evaluation method in a slip generation domain, stability and high reliability.例文帳に追加
滑り発生領域での寿命評価法の確立、安定性、高信頼性を得ることにより転がり軸受の長寿命を図ることができる軸受用寿命試験装置を提供する。 - 特許庁
A portable corn penetration testing device 10A is set on the ground by placing lower ends of two side plates 1202 on a surface of the ground with a frame 12 (a corn mounting rod 20) orthogonal to the surface of the ground.例文帳に追加
2つの側板1202の下端を地盤の表面に当て付け、フレーム12(コーン取り付けロッド20)が地盤の表面に対して直交するようにポータブルコーン貫入試験装置10Aを載置する。 - 特許庁
To enable a test cost of a device under test to be suppressed without depending on a probing operation using an oscilloscope, a sampling scope, and the like, and to enable the production cost of a semiconductor testing apparatus to be suppressed.例文帳に追加
オシロスコープやサンプリングスコープ等によるプロービングに依存することなく、被試験体の試験コストを抑制できるようにすると共に、半導体試験装置の製造コストを抑制できるようにする。 - 特許庁
Three lines (101-103) out of the four lines are used to make connection to a semiconductor testing device (300), and the remaining line (104) is connected to a power supply (VTX) via a terminating resistor (R_VTX).例文帳に追加
4本の配線のうち3本の配線(101〜103)で半導体試験装置(300)と接続し、残る1本の配線(104)を終端抵抗(R_VTX)を介して電源(VTX)へ接続する。 - 特許庁
A switching unit 7 switches in a testing mode an input origin to the control operation unit 3 and an output destination of the control operation unit 3 to a simulator unit 6 inside of the plant monitoring control device.例文帳に追加
そして試験モード時に、切り換え部7により、制御演算部3への入力元および制御演算部3からの出力先を、プラント監視制御装置の内部のシミュレータ部6に切り換える。 - 特許庁
The shear testing device (12) includes a drive mechanism that provides relative movement between an X-Y table (13) to which the substrate (300) is attached and a test tool (100) mounted on a baseplate (20) via a resilient connector (21).例文帳に追加
剪断試験装置(12)は、基板(300)が取付けられるX−Yテーブル(13)と、弾性コネクタ(21)を介してベースプレート(20)に取付けられた試験ツール(100)との間の相対移動を行う駆動機構を有する。 - 特許庁
To provide a testing method and its system for accurately measuring electric characteristics of a circuit board which is heated or cooled in advance, with no inspecting device side affected by heat, for environmental test and the like.例文帳に追加
環境試験などのために、予め加熱または冷却した回路基板を、検査装置側で熱影響を受けることなく、正確に電気的特性を計測する試験方法とそのシステムを提供する。 - 特許庁
To provide a travel testing device for vehicles having multiple power sources whose driving source has a battery as an energy source, performing mode driving evaluation while changing a driving condition of the driving source.例文帳に追加
駆動源がバッテリーをエネルギー源とする複数の動力源を持つ車両の走行試験装置として、駆動源の運転条件を変化させながらモード運転評価を可能とするものが要望されている。 - 特許庁
To provide a testing device, a high-speed serial controller, and an image processor which don't require preparation of apparatus for error function evaluation when evaluating an error function between connected semiconductors.例文帳に追加
接続された半導体間におけるエラー機能評価を行う際に、エラー機能評価を行うための機器類を用意する必要がないテスト装置、高速シリアルコントローラ及び画像処理装置を提供する。 - 特許庁
To provide a disk storage device capable of ensuring high reliability by performing a magnetization test even in a magnetic disk drive of a small diameter with increased data sector length, a head amplifier and a head testing method.例文帳に追加
データセクタ長が増えた小径の磁気ディスク装置でも帯磁テストを行なうことで、高い信頼性が確保可能なディスク記憶装置、ヘッドアンプ装置及びヘッドテスト方法を提供することにある。 - 特許庁
To provide a comparator circuit in a semiconductor testing device capable of comparing and measuring by a high-impedance input when an output voltage of an IC to be measured is not more than a rated voltage of a comparator.例文帳に追加
被測定ICの出力電圧がコンパレータの定格電圧以内の場合に、高インピーダンス入力による比較測定を行うことができる半導体試験装置におけるコンパレータ回路を提供する。 - 特許庁
To provide a spring limit value testing device and an efficient spring limit value measurement method for reducing a sample cost, working man-hours and a working time while securing accuracy of data.例文帳に追加
データの正確性を担保しつつ試料コストの削減が図れ、且つ作業工数および作業時間を軽減したばね限界値試験機および効率的なばね限界値測定方法を提供する。 - 特許庁
To provide a system for measuring maximum value of applied stress voltage which can determine whether burn-in test of a semiconductor device has been performed under proper conditions or not during the burn-in testing.例文帳に追加
本発明は、半導体装置のバーンインテスト時にバーンインテストが適切な条件で実施されたか否かを判断することができる印加ストレス電圧の最大値を測定する装置を提供する。 - 特許庁
To provide the inspecting method of semiconductor device which can measure in direct carrier distribution at the cross-section of a semiconductor testing sample using a scanning probe microscope without cutting out a thin semicoductor test sample.例文帳に追加
半導体試料を薄く切り出さずに、該半導体試料の断面におけるキャリア分布を走査型プローブ顕微鏡により直接測定することが可能な半導体装置の検査方法を提供する。 - 特許庁
To reduce man-hours concerning a circuit for testing a gate array provided in a one-chip ASIC microcomputer and automatically convert test vectors for the gate array to test vectors for a semiconductor integrated circuit device.例文帳に追加
ゲート・アレイ部を備えたワンチップASICマイコンにおいて、ゲート・アレイ部の試験のための回路についての工数を削減し、ゲート・アレイ部のテストベクタを半導体集積回路装置のテストベクタに自動で変換する。 - 特許庁
A flexible printed wiring board is used as wiring for transmitting a vibration signal, which is detected by a vibration detector installed to the vibration base in the vibration testing machine, from this vibration detector to another device.例文帳に追加
振動試験機の振動台の取り付けられた振動検出器で検出した振動信号を前記振動検出器から他の装置に送信するための配線をフレキシブルプリント基板にする。 - 特許庁
To shorten a temperature rise and fall time of a tested object by efficiently creating a low temperature and high temperature state, in a tank of an electronic component temperature testing device that uses Peltier elements.例文帳に追加
ペルチェ素子を用いた電子部品の温度試験装置において、低温および高温の槽内状態を効率よく作り出すことにより、被試験物の温度上昇、下降時間を短縮する。 - 特許庁
To provide a semiconductor device wherein a semiconductor element and an external electrode are connected by lead wiring, and which can prevent the occurrence of areas not filled by a sealing resin and can ease testing processes.例文帳に追加
半導体素子と外部電極とがリード配線で接続された半導体装置において、封止樹脂の未充填領域の発生を防ぎ、かつ試験工程が容易な半導体装置を提供する。 - 特許庁
To provide a collision-testing device, capable of reproducing in a simulating manner drop of a robot arm having a comparatively heavy load with a simple constitution, and of performing easily a high-accuracy collision test.例文帳に追加
簡単な構成でありながら荷重の比較的大きいロボットアームの落下を模擬的に再現することができ、精度の高い衝突試験が容易に行える衝突試験装置を提供する。 - 特許庁
To provide a semiconductor testing apparatus, capable of making an input test pattern associate with an abnormality of voltage in detecting the abnormality of the voltage, when the test pattern is input into a device.例文帳に追加
テストパターンをデバイスに入力した時の電圧の異常を検出する際に、入力テストパターンと電圧の異常との対応付けをすることができる半導体試験装置を提供することを課題とする。 - 特許庁
To provide a device and method for testing a circuit component for performing a load test at an optional timing without depending on the timing of a test signal to a circuit component as an object to be tested.例文帳に追加
被試験体である回路部品に対して試験信号のタイミングに依存することなく任意のタイミングで負荷試験を行うことができる回路部品試験装置および方法を提供する - 特許庁
The semiconductor-testing device has been improved, which tests a liquid crystal drive driver, incorporating a relay for connecting output from the positive-electrode amplifier and negative-electrode amplifier provided for each pin to the pin.例文帳に追加
ピンごとに設けられる正極アンプ、負極アンプからの出力をピンに接続させるリレーを内蔵した液晶駆動ドライバの試験を行なう半導体試験装置に改良を加えたものである。 - 特許庁
To provide a gamma ray irradiation testing device which carries out a radiation irradiation test, utilizing effectively a radiation emitted from a radioactive waste, using an existing storage facility for the radioactive waste.例文帳に追加
既存の放射性廃棄物の保管施設を用いて、放射性廃棄物から放射される放射線を有効利用して放射線の照射試験が行えるガンマ線照射試験装置を提供する。 - 特許庁
To provide a testing device capable of supplying test signals to a plurality of tested devices formed on the same substrate to conduct tests, and capable of determining accurately the qualities of the plurality of tested devices.例文帳に追加
同一基板上に形成された複数の被試験デバイスに試験信号を供給して試験し、複数の被試験デバイスの良否判定を正確に行うことができる試験装置を提供する。 - 特許庁
In an actual operation state of the low-voltage wiring 1, an imaginary load testing device 13 is connected between an output terminal 1at of the first line 1a and an output terminal 1bt of a neutral line 1b.例文帳に追加
低圧配線1の実稼動状況において、第1線1aの出力端子1atと中性線1bの出力端子1btとの間に虚負荷試験装置13を接続する。 - 特許庁
To provide a reliability testing device and a reliability test method capable of performing a reliability test in a comparatively short time at low cost, and having a small error of an estimated value based on the test result.例文帳に追加
信頼性試験を比較的短時間で低コストに行うことができ、また、試験結果に基づく推定値の誤差が少ない信頼性試験装置および信頼性試験方法を提供すること。 - 特許庁
A second testing tool 70 is attached to a maintenance device 44, disposed in water supply piping to which a primary side of the hose 28 is connected so as to shut off the communication between the hose primary side and the water supply piping.例文帳に追加
第2試験治具70はホース28の1次側が接続される給水配管に設けられたメンテナンス用装置44に装着されて、ホース1次側と給水配管との間を遮断する。 - 特許庁
In the PACHINKO game machine 1, the unrewritable performance image memory device 340 has stored therein performance image data for use in the performance display operation and the test display data for use in testing the display operation.例文帳に追加
パチンコ機1において書き換え不可能な演出画像記憶装置340には、演出表示動作に用いる演出画像データおよび、表示動作の試験に用いるテスト表示データを記憶している。 - 特許庁
To provide a method and a device for testing a droplet ejecting head, capable of finding out a failure which could not be found in the past early by laying the head in a state equal to the actual using state.例文帳に追加
実際と同様の使用状態にすることで従来では発見できなかった不良を早期に発見することができる液滴吐出ヘッドの試験方法および試験装置を提供する。 - 特許庁
To provide an optical pulse testing device and its adjusting method capable of adjusting light-receiving sensitivity of a light-receiving part for receiving back scattered light, regardless of the change in the ambient temperature, to desired light-receiving sensitivity.例文帳に追加
周囲温度の変化に拘わらず後方散乱光を受光する受光部の受光感度を所望の受光感度にすることができる光パルス試験装置及びその調整方法を提供する。 - 特許庁
To provide a testing device for conducting a test by generating, in a real time, a response signal based on a control signal from a control part to transmit a reply to the control part, and a response signal generator.例文帳に追加
制御部からの制御信号に基づく応答信号をリアルタイムに生成して該制御部に返信し、試験を行うことを可能とする試験装置及び応答信号生成装置を提供する。 - 特許庁
This materials testing machine, during a test, controls the movement of a projector 71 for dimensional measurements and a light-receiving unit 72 following a detection arm 52, and makes a detector 70S of a dimension measuring device 70 follow the movement of the detection arm 52.例文帳に追加
試験中、検出腕52に追従して測寸用投光器71と受光器72を移動制御して測寸装置70の検出器70Sを検出腕52の移動に追従させる。 - 特許庁
To provide an alcohol testing device capable of surely preventing spoofing without the witness of a roll caller when breath alcohol of a crew is tested, and rationalizing roll call operation.例文帳に追加
乗務員の呼気中アルコール検査時に、点呼者の立ち会いを必要としないで確実になりすましを防止することができ、かつ、点呼業務の合理化を図ることができるアルコール検査装置を提供する。 - 特許庁
The characteristic test device and characteristic test method are provided for testing optical characteristics or electrical characteristics by collectively setting a plurality of optical modules detachably mounted on test boards, to a prescribed test temperature.例文帳に追加
検査ボードに着脱自在に取り付けた複数の光モジュールを一括して所定の検査温度に設定して光学的特性或いは電気的特性を検査する特性検査装置と特性検査方法。 - 特許庁
To provide a test result verification server having a test result verification part separated from a specimen testing device for performing test result verification with excellent variety and flexibility.例文帳に追加
検査結果検証部を検体検査装置より切り離した検査結果検証サーバとし、多様性、融通性に優れた検査結果検証を行うことができる検査結果検証サーバを提供すること。 - 特許庁
To provide a burn-in method for an integrated semiconductor laser device that can constantly hold temperatures of a plurality of semiconductor laser elements when they are to be tested respectively and can shorten a testing time.例文帳に追加
複数の半導体レーザ素子のそれぞれの試験時の温度を均一に保持し且つ試験時間を短くすることができる集積型半導体レーザ装置のバーンイン方法を提供すること。 - 特許庁
To provide a truck testing device capable of keeping truck levelness even if braking force or external force or disturbance input acts on a test truck, and ensuring the straight-ahead stability of the test truck.例文帳に追加
試験台車に制動力や外力や外乱入力が作用しても台車水平度を保持し、試験台車の直進安定性を確保することができる台車試験装置を提供すること。 - 特許庁
To provide a method for testing a semiconductor memory device, which detects a minute defect in an SRAM memory cell without finely controlling a voltage or excessively increasing measuring time.例文帳に追加
電圧を細かく制御させることなく、かつ測定時間を極端に増大させることなく、SRAMメモリセルの微小欠陥を検出可能な半導体記憶装置の試験方法を提供する。 - 特許庁
To provide a semiconductor testing device, capable of returning a peripheral circuit power source which is capable of dispensing with executing self-diagnosis program and a calibration when a protection circuit of the periphery circuit power source operates.例文帳に追加
周辺回路用電源の保護回路が動作したとき、自己診断プログラムを実行したり、キャリブレーションをしなくてもすむように周辺回路用電源の復帰ができる半導体試験装置を提供する。 - 特許庁
The fuel cell evaluation testing device 1 has a gas passage 2 through which the gas to be supplied to the fuel cell 10 is circulated, and a thermostatic means 5 capable of housing the fuel cell 10.例文帳に追加
燃料電池評価試験装置1は、燃料電池10に対して供給するためのガスが流通するガス流路2と、燃料電池10を収容可能な恒温手段5とを有する。 - 特許庁
In the testing support device 1, normality determination is made by comparing an output signal obtained from the employment transmission processing apparatus 9 with the output signal of the tested transmission processing apparatus 8.例文帳に追加
試験支援装置1においては、運用通信処理装置9から得た出力信号と、試験対象通信処理装置8の出力信号とを比較することにより、正常性判断を行う。 - 特許庁
To provide a testing method for evaluating segregation resistance of fresh concrete with a slump value of 18-23 cm which can be easily conducted by using a simple apparatus or device.例文帳に追加
簡単な器具ないし装置を用いて容易に実施することのできる、スランプ値が18〜23cmのコンクリートのフレッシュ時の材料分離抵抗性を評価するための試験方法を提供する。 - 特許庁
To provide a method and a device for testing nuclear fuel pellets which enable accurate and efficient tests on the whole surface of them without being affected by inspectors'vision and the like.例文帳に追加
原子力燃料ペレットの全表面を検査員の視力等によって影響されることなく正確に効率良く検査することのできる原子力燃料ペレット検査方法および装置を提供する。 - 特許庁
In the testing device, a mechanical filter (18) is disposed between the radiation source (14) and the receptacle member (12), whereby the intensity of light which is radiated by the radiation source and impacts on the receptacle, is homogenized over the whole sample.例文帳に追加
放射源(14)と受台部材(12)との間に機械的フィルタ(18)を配置し、これによって、放射源から受台部材上の試料全体にわたり放射源からの光度が均一に分配される。 - 特許庁
To provide a subject control method capable of holding the vertical stress applied to the shearing surface of a material test piece vertically to an almost constant state and a material testing device.例文帳に追加
材料試験片の剪断面に垂直に加わる垂直応力を略一定な状態に保つことができる材料試験装置における制御方法および材料試験装置を提供する。 - 特許庁
An adapter with a lower portion designed to be connectable to an upper horizontal opening 11 of the antenna device 100 may be used to accommodate various testing and tuning equipment.例文帳に追加
上記アンテナ装置100の上側の水平口11に接続できるように設計される下側部分を有するアダプタは、様々なテスト及び調整装置に対応するように用いられてもよい。 - 特許庁
Testing to confirm the device operation can be repeated as you like by pushing the weight of the hammer lever.例文帳に追加
取付には家具上面部に両面テープで位置を決め、ビス止め治具を使用しドライバーで三本のビスを止めて完了する、作動確認テストはハンマーレバーの分銅を押すことで作動確認が何回でもできる。 - 特許庁
To provide a testing device of a bearing around a crank of an engine by which durability and life of the bearing which is used around the crank of the engine are evaluated in accordance with rolling of the bearing.例文帳に追加
軸受を転がり化することに伴い、エンジンのクランク周辺に用いられる軸受の耐久性や寿命を評価することができるエンジンのクランク周辺軸受の試験装置を提供する。 - 特許庁
| 例文 |
| Copyright © Japan Patent office. All Rights Reserved. |
|
ログイン |
Weblio会員(無料)になると
|
|
ログイン |
Weblio会員(無料)になると
|