「testing device」に関連した英語例文の一覧と使い方(92ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a rotational impact test method and a rotational impact testing device capable of simulating accurately temporal transition of an acceleration applied to a test body in an environment used actually.例文帳に追加

実使用環境において被試験体に印加される加速度の時間推移を精度良く模擬可能な回転衝撃試験方法及び回転衝撃試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a system for displaying residual capacity of a storage-battery, capable of easily acquiring the residual capacity of a storage battery being in a remote place without installing a special capacity testing device on a jobsite.例文帳に追加

特別な容量試験装置を現地に設置することなく、遠隔地にある蓄電池の残容量を容易に把握することが可能な蓄電池残容量表示システムを提供する。 - 特許庁

To provide a communication testing device capable of achieving a data communication test that is adjustable to various combinations of a plurality of business protocols, and in particular, combination of hierarchized business protocols.例文帳に追加

複数の業務プロトコルの多様な組み合わせ、特に、階層化された業務プロトコルの組み合わせに対応したデータ通信試験を実現可能とする通信試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a vehicle brake system testing stand device with which the test of a brake system of a vehicle having two wheels whose distance is narrow can be performed.例文帳に追加

両車輪の間隔が狭く並んで配置されている２つの車輪を有している乗り物の制動システムのテストが実施可能な乗り物の制動システムのテストスタンド用の装置を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device with an event pulse generating part capable of eliminating practically or reducing, storage updating for a storage memory provided inside the event pulse generating part.例文帳に追加

イベントパルス発生部内に備える格納メモリへの格納更新を実用的に解消若しくは低減可能とするイベントパルス発生部を備える半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

To obtain a control method and a material-testing device for performing control so that the amplitude of load fluctuation being applied to a test piece becomes a target value more accurately.例文帳に追加

試験片に加わる負荷変動の振幅が、より正確に目標値となる様に制御している材料試験装置における制御方法及び材料試験装置を提供する。 - 特許庁

To efficiently perform work for placing a work on the plate and work for taking over the work from the plate by a simple mechanism, in a plate temperature conditioned type environment testing device.例文帳に追加

プレート温調方式の環境試験装置において、ワークをプレートに載せる作業、ワークをプレートから引き取る作業を簡単な機構により効率良く行い得るようにすること。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit device for testing a reception part without using any expensive high-speed tester and also having a structure for enhancing the rate of failure detection.例文帳に追加

高価な高速テスタ−を用いることなく受信部をテストでき、しかも故障検出率を向上させることも可能な構成を持つ半導体集積回路装置を提供すること。 - 特許庁

To provide an abrasion test method and an abrasion testing device allowing the abrasion quantity of an elastic body in indoor evaluation to correspond accurately to the abrasion quantity at an actual car traveling time.例文帳に追加

室内評価での弾性体の摩耗量を実車走行時の磨耗量に精度よく対応させることの可能な摩耗試験方法および摩耗試験装置を提供する。 - 特許庁

To increase a generation voltage in a finish time point of a ramp-up time up to a reference generation voltage, even in a loading time, in an insulation withstand voltage testing device having a ramp-up function.例文帳に追加

ランプアップ機能を有する絶縁耐圧試験装置において、有負荷時においてもランプアップ時間の終了時点で発生電圧を基準発生電圧にまで上げることを可能とする。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device having a unit power supply automatic control function automatically measuring the ripple voltage of each unit power supply and checking whether the ripple voltage is within an allowable limit or not.例文帳に追加

自動的に各ユニット電源のリップル電圧を測定してリップル電圧が許容範囲にあるかをチェックするユニット電源自動管理機能を備えた半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

The testing device 1 comprises: a travel face, on which the tyre 10 of a test object can travel, on an outer peripheral surface 2o thereof; and a cylindrical drum 2 supported in a manner allowing drive and control of rotation.例文帳に追加

テスト対象のタイヤ１０が走行しうる走行面を外周面２ｏに有し、かつ回転駆動及び制動が可能に支持された、円筒形状のドラム２を具える。 - 特許庁

To set a reference value to be high, when shutting down a semiconductor testing device by a current flowing instantly in a power supply line, while avoiding damage of a connector.例文帳に追加

コネクタの損傷を回避しつつ、電源供給ラインを瞬間的に流れる電流で半導体テスト装置をシャットダウンさせる場合の基準値を高く設定できるようにする。 - 特許庁

The testing device 10 icnludes a guide member 28, into which a groove 32 to guide a shaft 38 of a test tool 36 along a vertical direction of a moving direction of a weight 18 is formed.例文帳に追加

試験装置１０は、試験治具３６の軸部３８を錘１８の移動方向である鉛直方向に沿って案内する溝部３２が形成されたガイド部材２８を備える。 - 特許庁

When the water level sensor 2 measures a water level in the water storage tank 1 and informs of a reduced water warning, the water tank device opens the testing valve 5 to start water supply from a second sub water flow path 32 to the water storage tank 1.例文帳に追加

水位センサ２が貯水槽１の水位を計測し、減水警報を報知すると、試験弁５を開けて第２のサブ流水路３２から貯水槽１への給水を開始する。 - 特許庁

To provide a method for testing an optical property of an optical fiber device which is capable of conducting loss measurement and reflection loss measurement by easily switching between them without need of processing of an optical fiber end.例文帳に追加

光ファイバの終端処理が不要で、損失測定と反射減衰量測定を容易に切り替えて行える、光ファイバデバイスの光学特性検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method and a device for economically and speedily testing a complicated integrated circuit without introducing a delay to the timing of a critical path.例文帳に追加

本発明の目的は、クリティカル・パスのタイミングに遅延を導入することなく、より経済的かつ迅速に、複雑な集積回路をテストするための方法及び装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a maintenance testing device for a guiding indicator panel that is provided with a maintenance test function which performs a test without undergoing the restriction of an external system and which is for quickly performing a confirmation test after a failure.例文帳に追加

外部システムの制約を受けずに試験を行え、故障後の確認試験を迅速に行うための保守試験機能を備えた案内表示盤の保守試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a testing device of an IC capable of shortening a test time of the IC having a detection circuit and a circuit for changing an output signal corresponding to an output signal of the detection circuit.例文帳に追加

検波回路と検波回路の出力信号に応じて出力信号を変化させる回路とを有するＩＣの試験時間を短縮するＩＣの試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a high speed bus interface of a semiconductor testing device for increasing transfer capacity, reducing the number of signal conductors of a bus, and capable of freely setting order of the signal conductors.例文帳に追加

本発明は、転送容量を増加し、バスの信号線数を削減し、信号線の順番を自由に設定できる半導体試験装置の高速バスインタフェースを提供する。 - 特許庁

To provide an emulation apparatus capable of appropriately emulating a testing device that is achieved by an open architecture and that is used while carrying modules developed by various vendors.例文帳に追加

試験装置がオープンアーキテクチャにより実現され、様々なベンダによって開発されたモジュールを混載して使用する試験装置を適切にエミュレートすることができるエミュレート装置を提供する。 - 特許庁

To provide a vapor-liquid two-phase flow simulation testing device capable of acquiring a flowing process in a steam generator or an IMR (Integrated Modular Reactor) wherein water is spontaneously circulated by buoyancy caused by generated steam.例文帳に追加

発生蒸気による浮力によって水が自然循環する蒸気発生器やＩＭＲの流動過程を把握することができる気液二相流模擬試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a data driver whose operating test can be performed easily and surely at a manufacturing stage and also whose testing time can be shortened and a display device in which the driver is used.例文帳に追加

本発明は、製造段階において容易で確実な動作試験が行えると共に、試験時間を短縮することができるデータドライバ及びそれを用いた表示装置を提供する。 - 特許庁

To provide a testing device for a micro-component capable of being arranged on a sample mount within a sample chamber of an electronic microscope and applying outside force while observing a sample.例文帳に追加

電子顕微鏡の試料室内の試料台に配設可能であって、試料の観察を行いながら外力を加えることができる微小部品用試験装置を提供する。 - 特許庁

To appropriately evaluate the strength of a corner part by suppressing that a large load is locally charged on one end of a flange piece during a strength test, in a flange piece strength testing device.例文帳に追加

フランジ片強度試験装置において、強度試験中にフランジ片の一端部に局所的に大きな荷重がかかることを抑制して適切なコーナ部の強度評価を可能とする。 - 特許庁

To provide a device for testing a bearing which generates static electricity without relying on external voltage and can check white detachment and which can also measure durable life in a short time.例文帳に追加

外部電圧に頼らずに静電気を発生させ白色はく離を確認できると共に、短時間で耐久寿命を測定できる軸受試験装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

To suppress a fraud by making a situation that a fraud is hardly performed instead when making a situation that a fraud prevention device does not function in testing a game machine.例文帳に追加

遊技機のテストを行う際に不正防止装置を機能しない状態とした場合に、代わりに不正行為の行いにくい状況を生じさせて不正行為の発生を抑制する。 - 特許庁

To provide a test circuit capable of performing a DC test with a smaller number of pins, while suppressing the area of a test circuit which a semiconductor device has within to be small, and to provide a method for testing.例文帳に追加

半導体装置に内蔵されたテスト回路の回路面積を抑えながら直流試験を少ないピン数で行うことができるテスト回路及びテスト方法を提供する。 - 特許庁

The rubber friction testing machine 10 includes a measuring device 16 to which a rubber specimen p has been attached; and a test road surface material 15 relatively moving in contact with a surface of this rubber specimen p.例文帳に追加

ゴム摩擦試験機１０は、ゴム試験片ｐを取り付けた計測装置１６と、このゴム試験片ｐの表面に接触し、相対移動する試験路面材１５とを備えている。 - 特許庁

To provide a continuous abrasion testing device capable of performing an abrasion test not in a batch style but continuously in succession without opening a lower tank or an upper tank, and improving efficiency.例文帳に追加

バッチ式ではなく、下部タンクや上部タンクを開放せずに連続的に継続して摩耗試験を行うことができ、効率向上を図り得る連続式摩耗試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a load testing device having a simple constitution capable of verifying the degree of keeping a rotational frequency in the fixed state, against fluctuation of a load torque.例文帳に追加

負荷トルクの変動に対して、回転数がどの程度一定で保持することができるのかを検証することができる簡易な構成の負荷試験装置を提供することにある。 - 特許庁

To provide an electrical apparatus testing device capable of preventing an electrical apparatus operation test from being performed with a test plug being inserted in a test terminal by mistake before a signal line is disconnected.例文帳に追加

信号線路を遮断する前に誤って試験プラグを試験端子に挿入して電気設備の動作試験を実施することを防ぐことができる電気設備の試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a heat cycle testing device and a heat cycle test method capable of giving a temperature gradient to a sample, and fluctuating periodically the temperature of an evaluation object portion of the sample.例文帳に追加

試料に温度勾配を持たせられ、しかも試料の評価対象部位の温度を周期的に変動可能な熱サイクル試験装置及び熱サイクル試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a tire curbstone run-over testing method and device that can dispense with a plurality of test vehicles, facilitate the maintenance, and prevent a damage in a measuring apparatus.例文帳に追加

複数台の試験車を不要にすると共にメンテナンスを容易にし、かつ測定機器に対する損傷を防止することが可能なタイヤ縁石乗り越し試験方法及び装置を提供する。 - 特許庁

In advance of testing the semiconductor device, the relation between the noise quantity and the delayed time is determined by using an LSI 10 for evaluation having a delay measuring circuit 11 and a noise generating circuit 12.例文帳に追加

半導体装置の試験にあたって、遅延測定回路１１とノイズ発生回路１２とを有する評価用ＬＳＩ１０を用いて、ノイズ量と遅延時間の関係とを求めておく。 - 特許庁

To provide a device and a method for testing a magnetic recording medium, by which an environment inside the magnetic disk drive is reproduced with higher fidelity by using particles which are finer than the conventional particles.例文帳に追加

従来よりも微細な粒子を用いて、磁気ディスク装置内の環境をより忠実に再現することができる磁気記録媒体の試験装置及び試験方法を提供すること。 - 特許庁

The testing device 20 stores the archive 13a and the archive managing file 13b in a temporary directory 21 and stores a file, with which the archive 13a is expanded, in a product directory 22.例文帳に追加

試験装置２０は、テンポラリディレクトリ２１にアーカイブ１３ａとアーカイブ管理ファイル１３ｂとを格納し、アーカイブ１３ａを展開したファイルを製品ディレクトリ２２に格納しておく。 - 特許庁

A reflectivity correcting means 14 outputs the correction data D18 to the test light intensity setting means 12 on the basis of reflectivity sampling data D17 acquired from a testing device 3A.例文帳に追加

反射率補正手段１４は検査装置３Ａから得られる反射率サンプリングデータＤ１７に基づき補正データＤ１８を検査光強度設定手段１２に出力する。 - 特許庁

To achieve a semiconductor-testing device for speedily determining whether a semiconductor is appropriate, based on a difference between a positive-electrode voltage from a positive electrode amplifier and a negative-electrode voltage from a negative electrode amplifier.例文帳に追加

正極アンプからの正極電圧と負極アンプからの負極電圧との差分に基づいての良否判定を高速に行なう半導体試験装置を実現することにある。 - 特許庁

To provide a temperature-testing device, capable of quickly performing an operation confirming test at the accurate temperature by directly setting a part of an object to be tested to the predetermined temperature.例文帳に追加

試験対象の部品を直接、所定の温度にすることができ、正確な温度での動作確認試験をしかも速く行うことが可能な温度試験装置を提供すること。 - 特許庁

To execute the simulation of sensors by using a simulated target reproducing the motion of an actual target more faithfully, when testing a target information processing device connected to plural different sensors.例文帳に追加

複数の異なるセンサを接続する目標情報処理装置のテストを行う場合に、実目標の動きをより忠実に再現した模擬目標を用いることでセンサの模擬を行う。 - 特許庁

The device and method are usable in administering a small amount of test material to an animal body such as plant or reptile and testing it for availability as a crop protecting agent.例文帳に追加

この装置および方法は少量の試験物質を植物または虫類のような生物体に投与し作物保護剤としてのその有用性を試験するのに使用することができる。 - 特許庁

To find bonding strength of a semiconductor bump electrode by replacing the attachment for fixing a sample of a bonding strength testing device, which makes full test of a wire bonding and the share test of the wire bonding.例文帳に追加

半導体バンプ電極のボンディング強度を、ワイヤボンディングのプルテスト及びシェアテストを行うボンディング強度試験装置の試料固定用アタッチメントを付け替えることによって可能にする。 - 特許庁

To provide a device for testing position sense of human knee joint characterized in that the knee joint angle can be measured objectively for examination of the position sense of a human knee joint.例文帳に追加

人の膝関節の位置覚を検査するために、膝関節角度を客観的に測定ができるようにしたことを特徴とした膝関節位置覚検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a diversity evaluation signal generating device capable of testing receiving diversity at low cost by enabling generation of test signals of a plurality of systems with one signal generator.例文帳に追加

１台の信号発生器で複数系統の試験信号を発生可能とすることにより、受信ダイバーシティの試験を低コストで行えるダイバーシティ評価信号発生装置を提供すること。 - 特許庁