「testing device」に関連した英語例文の一覧と使い方(91ページ目) - Weblio英語例文検索

Thus, the output timing of the tested device can be measured more precisely than the resolving power corresponding to the predetermined clock timing in the IC testing device which has not been achieved before.例文帳に追加

こうすることで、従来ではなし得なかったＩＣ試験装置において予め決められているクロックタイミングに対応した分解能以上の細かさで被試験デバイスの出力タイミングを測定することができる。 - 特許庁

To provide a method capable of determining the quality of a semiconductor element, even after a sealing resin or the like is formed on a wafer, with regard to a semiconductor device testing method for determining the quality of the semiconductor device.例文帳に追加

本発明は半導体手装置の不良品判別を行う半導体装置の試験方法に関し、ウエーハ上に封止樹脂等を形成した後であっても半導体素子の良否判定を行うことを課題とする。 - 特許庁

This vibration testing device 1 is constituted so that acceleration data (test data) is collected by fetching the acceleration data at every fixed time and successively storing the fetched acceleration data in a storage area of a storage device 11.例文帳に追加

一定時間毎に加速度データ（試験データ）を取り込み、該取り込んだ加速度データを順次記憶装置１１の記憶領域に記憶していくことによって加速度データを収集可能な振動試験装置１である。 - 特許庁

In the testing method for the nonvolatile memory device, test data are stored and held in a buffer in the semiconductor memory device when a test is conducted instead of loading the test data from outside each time memory cells are programmed.例文帳に追加

本発明の不揮発性メモリ装置のテスト方法は、テスト時に、メモリセルがプログラムされるとき毎にテストデータを外部からローディングしてくる代わりに、テストデータを半導体メモリ装置の内部のバッファに貯蔵して置く。 - 特許庁

An acquiring device 27 acquires the final adjustment value in series of adjustment of the adjustment values s and z, from the adjustment values s and z which are output to the testing terminal 17 and sends them to a storing device 29.例文帳に追加

取得装置２７は、検査用端子１７に出力されている調整値ｓ，ｚから、これらの調整値ｓ，ｚの一連の調整における最終調整値を取得し、蓄積装置２９に送る。 - 特許庁

Further, the testing device 1 includes a compact range 12 for reflecting a radio wave from the radio wave generation device 11, converting a radio wave which is a spherical wave into a plane wave, and introducing the plane wave to the antenna B.例文帳に追加

さらに、試験装置１は、電波発生装置１１からの電波を反射すると共に球面波である電波を平面波に変換し、平面波をアンテナＢへと導くコンパクトレンジ１２をさらに備えることが望ましい。 - 特許庁

This invention relates to the communication testing device (1000) including a plurality of data communication module (40 and 50), wherein the data communication module perform data communication with a device to be tested in combination of the plurality of protocols.例文帳に追加

複数のデータ通信手段（４０，５０）を備える通信試験装置（１０００）であって、前記データ通信手段が複数の業務プロトコルの組み合わせで被試験装置とデータ通信を行うことを特徴とする。 - 特許庁

To improve a processing performance in assembling and testing processes of a semiconductor device for a fingerprint sensor, by decreasing a mounting area of the semiconductor device, so as to reduce a manufacturing cost and enhance a mounting reliability.例文帳に追加

本発明は、指紋センサ用半導体装置の実装面積を縮小化し、組立、テスト工程の処理能力を向上させて製造コストを削減し、実装信頼性を向上させることを課題とする。 - 特許庁

To provide a device and a method for inserting an additional delay time to the timing data of a specific event in an event type semiconductor test system for testing an electronic device to be tested by generating events of various timing.例文帳に追加

各種のタイミングのイベントを発生して被試験電子デバイスをテストするためのイベント型半導体テストシステムにおいて、特定のイベントのタイミングデータに追加の遅延時間を挿入する装置および方法を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor device testing apparatus changing no state of a signal imparted to a semiconductor device to be tested even if the test condition is changed when performing a test 2 immediately after a test 1.例文帳に追加

試験１の後に直ちに試験２を実行する場合に、試験条件の変更を行なっても、被試験半導体デバイスに与えている信号の状態が変化しない半導体デバイス試験装置を提供する。 - 特許庁

This method makes it possible to determine whether to assemble a semiconductor device using the semiconductor element 11 based on the testing result of the electric characteristics of the distorted semiconductor element 11, and to reduce production cost of the semiconductor device.例文帳に追加

歪曲した半導体素子１１の電気特性の試験結果に基づいて、当該半導体素子１１を半導体装置に組み立てるか否かを判断できるようになり、半導体装置の製造コストが低減する。 - 特許庁

A detection circuit 5 is provided for detecting the electrical load factors, affecting test results occurring at testing of a semiconductor device 4 from the electrical signal applied to input/output terminals of the semiconductor device 4.例文帳に追加

半導体装置４の試験時に発生する試験結果に影響を与える電気的負荷要因を、半導体装置４の入出力端子に印加する電気信号から検出する検出回路５を設ける。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory device and a control method of a semiconductor memory device by which a testing time can be shortened at the time of a test, while keeping low current consumption operation at the time of normal access operation.例文帳に追加

通常のアクセス動作時における低消費電流動作を維持しながら、試験時において、試験時間を短縮することが可能な半導体記憶装置及び半導体記憶装置の制御方法を提供すること - 特許庁

Each visual acuity testing device is provided with a measurement data obtaining and outputting means 16 obtaining measurement data MD, ID, PRI (Person Response Information) and ISI necessary for calculating the visual acuity, and outputting them to the central management device.例文帳に追加

各視力検査装置は、視力を演算するために必要な測定データＭＤ、ＩＤ、ＰＲＩ、ＩＳＩを取得して中央管理装置に出力する測定データ取得出力手段１６を有する。 - 特許庁

This running testing device 50 for a railway vehicle is equipped with a rail wheel 16, a rail wheel motor 7, a rail wheel hydraulic shaker, a truck hydraulic shaker, a car body hydraulic shaker 36, a hydraulic system, a flywheel device and a control means.例文帳に追加

鉄道車両用走行試験装置５０は、軌条輪１６、軌条輪電動機７、軌条輪油圧加振機、台車油圧加振機、車体油圧加振機３６、油圧システム、フライホイール装置、制御手段を備える。 - 特許庁

To obtain the method and device for transmission line capacitance measurement of a packet switching network which can measure the capacitance of a transmission line at a distance from a testing device sending test packets, specially, transmission capacitance of the line beyond a bottleneck.例文帳に追加

テストパケットを送信する試験装置から離れた伝送路の容量、特に、ボトルネック以遠の伝送路容量も測定可能なパケット交換網の伝送路容量測定方法および装置を提供する。 - 特許庁

To perform the evaluation of the noise resisting performance resulted from a DC power source in the noise test of an electric applied device loaded with a switching type DC power source which could not be performed by the application of a noise from an external noise testing device.例文帳に追加

スイッチング方式の直流電源を搭載した電気応用装置のノイズ試験に、外部のノイズ試験装置からノイズを印加するのでは、直流電源に起因する耐ノイズ性能評価ができない。 - 特許庁

In order to measure a target 250 on the device, two contacts 200a, 200b on the general-purpose testing tool 30 are selected based on the position of the target 250 on the device 20 to the contact 200.例文帳に追加

デバイス２０上のターゲット２５０の測定を行うため、汎用テスト治具３０上の２つの接点２００ａ、２００ｂが、接点２００に対するデバイス２０上のターゲット２５０の位置に基づいて選択される。 - 特許庁

To provide a device power supply system for a semiconductor tester to suppress variation in power supply voltage for a testing-object semiconductor device without consuming extra current, and also to provide a voltage correction data generating method.例文帳に追加

余分な電流を消費することなく試験対象の半導体デバイスの電源電圧の変動を抑えることのできる半導体試験装置用デバイス電源システムおよび電圧補正データ生成方法を提供する。 - 特許庁

To provide a testing device and a test method of a semiconductor device capable of performing a test, while optional one of a plurality of semiconductor devices is pressed onto a contactor from the back side.例文帳に追加

本発明は、複数の半導体装置のうち任意の一つを背面側からコンタクタに対して押圧しながら試験を施すことができる半導体装置の試験装置及び試験方法を提供することを課題とする。 - 特許庁

To provide a testing device for tire vibrational characteristic with which the user can measure the vibrational characteristic of a tire to be tested from low-frequency vibrations to 100-500 Hz road noise in the same test by only using the device.例文帳に追加

一つの試験装置を用いて、低周波振動から１００〜５００Ｈｚのロードノイズにいたる試験タイヤの振動特性を同一の試験で計測することのできるタイヤ振動特性試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a method and device for fluorescent magnetic particle testing which enables an enhancement of detection precision while avoiding the scaling-up the device and an enhancement of the dustproof properties of an electronic equipment system.例文帳に追加

装置の大型化を回避しつつ検出精度を向上させることができるとともに、電子機器系統の防塵性を向上させることができる蛍光磁粉探傷方法および蛍光磁粉探傷装置を提供する。 - 特許庁

To provide a loop testing device of a LAN system for preventing a frame from being aborted even if the frame outputted from an own device is returned.例文帳に追加

本発明はＬＡＮシステムのループ試験装置に関し、自装置から出力したフレームが折り返されて戻ってきた場合でも、フレームの破棄が起きないようにしたＬＡＮシステムのループ試験装置を提供することを目的としている。 - 特許庁

This test pattern evaluating device 2 comprising an evaluating condition output section 21, a test result input section 22 and a test pattern editing section 23, outputs test pattern evaluating conditions to a test pattern testing section 1 for carrying out testing of a test pattern using a tester to a semiconductor device to be measured, and corrects the test pattern.例文帳に追加

本発明のテストパターン評価装置２は、評価条件出力部２１と、試験結果入力部２２と、テストパターン評価装置２３とを備え、測定対象の半導体装置に対してテスタを用いてテストパターンの試験を行うテストパターン試験部１に対してテストパターンの評価条件の出力したり、テストパターンの修正を行う。 - 特許庁

To provide a circuit board testing device capable of bringing a probe into contact with a measuring point on a circuit board with a proper pressure, concerning the circuit board testing device having a circuit board holding tool for holding the circuit board and a probe holding tool for holding the probe for measuring the measuring point in contact with the measuring point on the circuit board.例文帳に追加

回路基板を保持する回路基板保持具と、回路基板の被測定点に接触して被測定点の計測を行うプローブを保持するプローブ保持具とを有する回路基板試験装置であって、回路基板の被測定点に適度な圧力でプローブを接触させることができる回路基板試験装置を提供することを課題とする。 - 特許庁

To provide a tester and a testing device for judging uniformity of an insulation film that do not damage a normal insulation film part, easily specify a failure position, sufficiently take measures against a residual charge effect and an absorbing phenomenon, and do not generate a malfunction to electrical noise, and are suitable as a tester and a testing device on a line.例文帳に追加

正常な絶縁皮膜部分を破壊することなく、不良個所の特定が容易であり、残留電荷効果・吸収現象に対する対策が十分に施され、また、電気的ノイズに対して誤動作が生ぜず、ライン上の試験器、試験装置として好適な絶縁皮膜均一性判定試験器および試験装置を安価に提供する。 - 特許庁

The testing device includes: a test execution means that executes testing including one or more test items selected from among a plurality of test items as an object to be executed to a device to be tested concerning each of the test items by using one or more measuring instruments; and a test item display means that indicates a test image including one or more selected test items.例文帳に追加

複数の試験項目から実行対象として選択された１つ以上の試験項目を含む試験を、試験項目毎に、１つ以上の測定器用いて、被試験器に対して実行する試験実行手段と、選択された１つ以上の試験項目を含む試験画像を表示する試験項目表示手段と有する。 - 特許庁

To provide a forming method of a deflecting voltage can copy with both of PVC mode and NVC mode, and to provide a testing device can improve detection sensitivity by reducing scanning deviation of an electron beam caused by noises of a deflection control circuit in an electron beam type testing device based on an electrostatic deflector system of a multi-stage and multi-pole constitution.例文帳に追加

複数段多極構成の静電偏向器方式に基づいた電子ビーム式検査装置において、ＰＶＣモードとＮＶＣモードのいずれにも対応できる偏向電圧生成方法を提供すると共に、偏向制御回路のノイズに起因する電子ビームの走査ずれを低減して検出感度を向上できる検査装置を提供する。 - 特許庁

In this testing method for testing a short circuit in the connecting end 2 of the semiconductor electronic device arranged inside a housing 1 and fixed on the conductor board, the level of each connecting end 2 is set to a level different from that of the adjacent connecting end at least once, and current inflow of the semiconductor electronic device is monitored while the respective connecting ends are set.例文帳に追加

ハウジング１内に配置され，導体板上に固定される半導体電子デバイスの接続端２の短絡を検査する方法であって，−各接続端２のレベルを，少なくとも一度，隣接する接続端と異なるレベルにセットし；かつ−各接続端２のセット間に，半導体電子デバイスの電流流入が監視される。 - 特許庁

This parallel bit test method of the semiconductor memory device comprises a step of writing data in each of many memory cells in the semiconductor memory device, a step of reading the data from each of many memory cells, a step of testing the data from each of many memory cells for a first test mode, and a step of testing the data from each of many memory cells for a second test mode.例文帳に追加

半導体メモリ装置の並列ビットテスト方法は、半導体メモリ装置の多数のメモリセルのそれぞれにデータを書き込む段階と、多数のメモリセルのそれぞれからデータを読み出す段階と、第１のテストモードに多数のメモリセルのそれぞれからのデータをテストする段階と、第２のテストモードに多数のメモリセルのそれぞれからのデータをテストする段階と、を含む。 - 特許庁

The apparatus for testing semiconductor device for testing a DUT (device under test) while supplying power voltage comprises a voltage detecting part for outputting a detection signal by detecting the voltage of the power source arrival at a threshold voltage set previously, an operation control part for setting the threshold voltage, and a test performing part for starting the test using the detection signal.例文帳に追加

ＤＵＴに電源電圧を供給して試験を行う半導体試験装置において、電源電圧が予め設定された閾値電圧に到達したことを検出して検出信号を出力する電圧検出部と、閾値電圧を設定する演算制御部と検出信号に基づいて試験を開始する試験実行部とを備える。 - 特許庁

The device 4 has a first cylindrical member 24 having the testing chamber 26 therewithin and having an upper surface opened so as to open the testing chamber 26 to the exterior, a first piston member 23 inserted from the opening of the cylindrical member 24 and capable of moving in close contact therewith, and a first cylinder device 16 for advancing or retreating the piston member 23.例文帳に追加

高圧装置４は、高圧試験室２６を内部に有し、高圧試験室２６を外部に開放するように上面が開口された第１筒状部材２４と、第１筒状部材２４の開口から密接状態で移動自在に内挿された第１ピストン部材２３と、第１ピストン部材２３を進退移動させる第１シリンダ装置１６とを有している。 - 特許庁

To provide a flat display device and a method for testing the flat display device which are applied, for example, to a liquid crystal display device with a driving circuit integrally formed on an insulating substrate, so as to simply and certainly detect a defect related to a potential failure.例文帳に追加

本発明は、フラットディスプレイ装置及びフラットディスプレイ装置の試験方法に関し、例えば絶縁基板上に駆動回路を一体に形成した液晶表示装置に適用して、電位欠陥に係る不良を簡易かつ確実に検出することができるようにする。 - 特許庁

To provide a sequence control circuit that can perform a higher speed operation as compared with the conventional practice and to provide a pattern generating device capable of generating a high speed pattern by providing the sequence control circuit to it, and a semiconductor testing device provided with the pattern generating device.例文帳に追加

従来よりも高速動作が可能なシーケンス制御回路を提供するとともに、当該シーケンス制御回路を備えることで高速なパターン発生が可能なパターン発生装置、及び当該パターン発生装置を備える半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

To improve accuracy in timing calibration for making uniform the signal propagation time of each pattern signal propagation path of a semiconductor device testing device, constituted in such a way as to be provided with a plurality of channel pattern signal propagation paths for providing test pattern signals for a semiconductor device to be tested.例文帳に追加

被試験半導体デバイスに試験パターン信号を与える複数のチャンネルのパターン信号伝送路を具備して構成される半導体デバイス試験装置の各パターン信号伝送路の信号伝播時間を揃えるためのタイミング校正の精度を向上する。 - 特許庁

To provide a game capable of accurately executing a test based on a shift of a control state by accurately acquiring the shift of the control state of the game machine in a testing device side.例文帳に追加

試験装置側で遊技機の制御状態の遷移を正確に把握して正確な制御状態の遷移に基づいて試験を行うことができるようにした遊技機を提供すること。 - 特許庁

The wall part 7 is preferably arranged in the substantially same plane as the nozzle end face of the wind tunnel testing device 2 so as not to receive variation force due to the main stream F_1 as much as possible.例文帳に追加

壁部７は、主流Ｆ_1による変動力を可能な限り受けないように、風洞試験装置２のノズル端面と略同一平面に配置することが特に好ましい。 - 特許庁

To provide an excreta testing device for preventing a user from getting flustered by a determination result by reporting the measurement result in a form, so that the user can easily connect the result to improvement in living.例文帳に追加

測定結果を使用者が生活改善に結び付け易い形で報知することにより、使用者が測定結果でとまどうことのない排泄物測定装置を提供する。 - 特許庁

An inclined stage of this permeability testing device is provided with structure for supporting an upper plate 5 and a lower plate 6 in the state of inclining at a specified angle from a horizontal direction in vertical section.例文帳に追加

透過性試験装置の傾斜ステージは、上部プレート５及び下部プレート６を垂直断面において水平方向から所定角度傾斜させて支持する構造を備える。 - 特許庁

To provide an artificial network switch testing device capable of verifying validity of a protocol while maintaining synchronism between two devices in a state of traffic close to that in an actual environment.例文帳に追加

実環境に近いトラフィックを発生させた状態で２台の装置の同期を保持しながらプロトコルの妥当性を検証することができる擬似ネットワークスイッチ試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a method for testing functions of a TAG-RAM without loading all capacity of actual memories for all patterns of address data stored in a TAG-RAM, and to provide its device.例文帳に追加

ＴＡＧ−ＲＡＭに格納するアドレスデータの全パターンについて実メモリを全容量分装着せずにＴＡＧ−ＲＡＭの性能を試験する方法とその装置を提供する。 - 特許庁

To provide a testing device for rotational bodies for automotive use that can reduce the time taken to reach a target temperature and hold the temperature in a constant temperature tank during an evaluation test at the target level.例文帳に追加

目標温度に達するまでの時間の短縮化、及び評価試験時における恒温槽内の温度を目標温度に保持可能な自動車用回転体の試験装置を提供する。 - 特許庁

An assembly test is performed by connecting the governor ASSY 14 and a second cable unit 58, by switching an inner relay of a relay unit 52, and by giving the simulation signal by program processing of the testing device 34.例文帳に追加

ガバナＡＳＳＹ１４と第２ケーブルユニット５８とを接続し、リレーユニット５２の内部リレーを切り替え、検査装置３４のプログラム処理により模擬信号を与えてアッセンブリ検査を行う。 - 特許庁

For that reason, whether the DMA information generated after the initialization which a recording and reproduction device does not verify is decoded and processed well can be easily confirmed by using the empty testing disk.例文帳に追加

したがって、空テストディスクを使用して、記録及び再生装置が検証しない初期化後に生成されたDMA情報をうまく解読し処理しているかどうかを容易に確認できる。 - 特許庁

The automatic testing device 1 converts an inputted document file into a list format (step ST2), extracts a table unit (step ST3) and performs structure analysis of the table (step ST4).例文帳に追加

自動テスト装置１は、入力された文書ファイルをリスト形式に変換し（ステップＳＴ２）、表の単位を抽出して（ステップＳＴ３）、表の構造解析を行う（ステップＳＴ４）。 - 特許庁