「testing device」に関連した英語例文の一覧と使い方(89ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide an environment testing device, capable of enhancing the acceleration properties of a test while ensuring the reproducibility of trouble produced in a test specimen under an actual use state.例文帳に追加

実際の使用状況下で試験体に生じる不具合の再現性を確保しつつ、試験の加速性を向上することが可能な環境試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a test device capable of testing presence/absence of abnormality of a decoder inside an LCD-driving IC by digital logic measurement instead of analog voltage measurement.例文帳に追加

ＬＣＤ駆動用ＩＣ内のデコーダの異常の有無を、アナログ電圧測定ではなく、デジタルロジック測定によってテストすることができるテスト装置を提供すること。 - 特許庁

This attraction system is provided with an attraction device provided in a play zone for directing the play of testing courage which surprises the player and a portable item 40 carried and moved by the player.例文帳に追加

アトラクションシステムは、プレーゾーンに設けられ、プレーヤを驚かす肝試しのプレー演出を行うアトラクション装置と、プレーヤが携帯して移動する携帯アイテム４０とを含む。 - 特許庁

A volume gain testing device for measuring the gain of a volume circuit 1 for amplifying or attenuating an input signal and the volume circuit 1 are incorporated in an IC.例文帳に追加

入力信号を増幅し又は減衰させるボリューム回路１のゲインを測定するためのボリュームゲイン試験装置が、ボリューム回路１と共にＩＣの内部に内蔵される。 - 特許庁

To provide a test circuit of a semiconductor device for entering into a test mode for testing a mounted function without a dedicated test terminal.例文帳に追加

搭載された機能をテストするためのテストモードへの移行を専用のテスト端子を用いることなく行うことができるようにする半導体装置のテスト回路を提供する。 - 特許庁

To provide an electrode part support structure of a tracking testing device for easily performing assembling and attaching work of the electrode part and easily adjusting a measuring condition and the assembling positional relationship.例文帳に追加

電極部分の組立や着脱作業が容易で測定条件や組立位置関係の調整が容易なトラッキング試験装置の電極部支持構造を提供する。 - 特許庁

When testing an analog signal concerning a device to be measured, changeover switches 36 and 38 are switched so as to connect the probe 32 to coaxial cables 16 and 18.例文帳に追加

被測定デバイスについてアナログ信号のテストを行う場合には、切換スイッチ３６、３８を、触針３２が同軸ケーブル１６、１８に接続されるように切り換える。 - 特許庁

To provide a clock generating device or the like for reducing power consumption during a normal operation when testing circuit blocks operated by clocks different from each other by a single test clock.例文帳に追加

互いに異なるクロックで動作する回路ブロックを単一のテストクロックでテストする場合に通常動作時の低消費電力化を図るクロック生成装置等を提供する。 - 特許庁

The waveform data stored in the memory 48 are selected by a load device 46 based on appearance frequency information 44 during the testing of each piece of the voice piece DB34.例文帳に追加

メモリ４８に記憶される波形データは、音声素片ＤＢ３４の各素片のテスト時の出現頻度情報４４に基づいてロード装置４６により選択される。 - 特許庁

To provide a semiconductor device which can increase the margin in the accuracy for the positioning of a probing stylus, in the wafer testing process of the manufacturing process of semiconductor devices.例文帳に追加

半導体装置の製造工程におけるウェハテスト工程でのプローブ針の位置合せにおける精度余裕を大きくすることが可能な半導体装置を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor device that can change the number of concurrently operable memory macros when testing in consideration of variation in a power supply voltage.例文帳に追加

本発明の目的は、試験時において同時動作可能なメモリマクロ数を電源電圧変動に配慮して変更することができる半導体装置を提供することである。 - 特許庁

The friction testing device tests by contacting the friction element 24 to the specimen S mounted on a table 3 in a load condition by a load mechanism 11 and reciprocating the table 3.例文帳に追加

テーブル３に載せた試験片Ｓに対して摩擦子２４を負荷機構１１による負荷条件にて当接させ、テーブル３を往復移動させて試験を行う装置である。 - 特許庁

To provide a semiconductor inspecting device capable of testing a substrate for holding a contact shoe at high temperatures and at low temperatures with preventing an occurrence of a distortion and an expansion caused by the temperature.例文帳に追加

この発明は、接触子を保持する基板を温度による歪や膨張を発生させなくして高温や低温の試験を行える半導体検査装置を提供する。 - 特許庁

The fretting corrosion testing device 1 makes a male terminal 2 and a female terminal 3 to contact/separate each other to cause them fretting corrosion and measures the electric resistance between those terminals 2 and 3.例文帳に追加

フレッチング腐食試験装置１は雄端子２と雌端子３とを互いに接離させてフレッチング腐食させこれら端子２，３間の電気的な抵抗を測定する。 - 特許庁

To provide an initialization method of a fuel cell stack capable of optimizing wettedness of an electrode without using a large-scale power generation testing device, without involving consumption of fuel.例文帳に追加

燃料の消費を伴わず、大掛かりな発電試験装置を用いずに電極の濡れ性を最適化することができる燃料電池スタックの初期化方法を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit device for testing whether or not a power shut-off circuit normally operates even while suppressing increase in wiring area.例文帳に追加

配線領域の増大を抑制しつつも、電源遮断回路が正常に機能しているかを試験することのできる半導体集積回路装置を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor storage device capable of performing a tRCD test adapted to the reduction in time between command inputs even when the test employs a memory testing apparatus inoperable for a high speed clock.例文帳に追加

高速なクロックで動作できないメモリ試験装置を用いる場合でも、短縮化に対応したｔＲＣＤ試験を可能にする半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

To provide a frequency characteristic measuring device capable of easily performing frequency characteristic evaluation test of a vibration sensor for testing in any heating state.例文帳に追加

試験用の振動センサを、簡単に、任意の加熱状態において周波数特性評価試験を行うことができる周波数特性の測定装置を提供すること。 - 特許庁

To obtain a semiconductor testing device capable of judging the output signal of an IC to be measured in each phase by one test cycle without using a pin multiplex.例文帳に追加

本発明は、ピンマルチプレクスを使用せずに、１回の試験サイクルで各位相における被測定ＩＣの出力信号を判定できる半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device capable of dispensing with use of an expensive transmission cable for a high-frequency characteristic and prevention of a mixed noise, when distributing a clock from a clock board.例文帳に追加

クロックボードからのクロック分配の際に、高周波特性やノイズ混入防止のために高価な伝送ケーブルを使用する必要がない半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

To perform test more precisely in the test device for testing both or either of a control model and the control program created based on its control model.例文帳に追加

制御モデル及びその制御モデルをもとに作成される制御プログラムの両方又は一方を検査する検査装置において、検査をより精密に行えるようにする。 - 特許庁

To provide a parts testing device capable of effectively preventing the generation of dewing in a chamber at generating a temperature alarm and a continuous operation for a long period.例文帳に追加

温度アラームの発生や長期間の連続運転に際しても、チャンバの内部に結露が発生することを有効に防止することができる部品試験装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a semiconductor device which can realize reduction of the layout area and the testing time for voltage adjustment and generates internal voltages.例文帳に追加

レイアウト面積の低減および電圧調整のためのテスト時間の短縮を実現することのできる内部電圧を発生するための半導体装置を提供する。 - 特許庁

To obtain a method and device for monitoring static damage, capable of readily testing the presence or absence of the static damage caused, when a processing is effected by use of ions of ion implantation, etc.例文帳に追加

イオン注入等のイオンを用いる加工を行う際に生ずる静電破壊の有無を容易に検査可能な静電破壊モニタリング方法および装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing apparatus and a test system for improving the stability in test quality by self-compensating the noise superimposed on a voltage applied to a device under test.例文帳に追加

半導体試験装置及びテストシステムに関し、被試験デバイスに印加する電圧に重畳されるノイズを自己補償して試験品質の安定性を向上する。 - 特許庁

To provide a material testing device capable of accurately capturing a moment of breakage without taking time and labor of forming a thin film pattern of a conductor on a surface of a test piece.例文帳に追加

試験片の表面に導体の薄膜パターンを形成するような手間をかけず、破損の瞬間を正確に捉えることができる材料試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide equipment for testing electrical characteristics of a semiconductor device package with a first connector terminal formed on under surface and a second connector terminal formed on upper surface.例文帳に追加

下面に第１連結端子が形成され、上面に第２連結端子が形成された半導体素子パッケージの電気的特性を検査する装置を提供する。 - 特許庁

To provide system and method which can generate signals for testing optical device at a time in a plurality of remote test stations to simultaneously test a plurality of optical devices.例文帳に追加

遠く離れた複数の試験局において光学装置を試験するための信号を同時に生成し得て、複数の光学装置を同時に試験することができるようにする。 - 特許庁

A testing apparatus 900 tests a communication control unit 10 functioning as the communication monitoring device for appropriately monitoring communication data transmitted and received by a specified terminal.例文帳に追加

試験装置９００は、特定の端末が送受信する通信データを適切に監視する通信監視装置として機能する通信制御装置１０を試験する。 - 特許庁

To provide a testing method for a slack type emergency stopping device capable of working with various types of elevator devices and performing the motion check simply and quickly.例文帳に追加

種々のエレベータ装置に対応することができるとともに、簡単に、且つ、短時間に動作確認を行うことができるスラック式非常止め装置の試験方法を得る。 - 特許庁

To provide a circuit device for testing a ROM decoder, capable of executing multiple detection for the decoder by a digital circuit operation and by a simple structure circuit.例文帳に追加

デコーダの多重検出をデジタル的な回路動作で、且つ、より簡単な構成の回路によって行うことができるＲＯＭのデコーダテスト回路装置を提供する。 - 特許庁

Also, a testing circuit 5 which decides an external bit output according to the analytical results and does not perform a control output to the device 6 in the case of a wrong output is provided.例文帳に追加

また、解析結果による外部ビット出力を判定して、誤出力であった場合には、現場機器６へ制御出力をしない検定回路５を設ける。 - 特許庁

To provide a concrete compressive strength testing device having a simple structure capable of performing a highly accurate compressive strength test by applying a required compressive load to a concrete specimen.例文帳に追加

コンクリート供試体に所要の圧縮荷重を加えて高精度の圧縮強度試験を行うことができる簡易型構造のコンクリート圧縮強度試験装置を得る。 - 特許庁

To cope with increase of the number of test ICs testable in one period and the number of input/output pins of the test ICs without increasing the number of channel circuits of a semiconductor testing device.例文帳に追加

半導体試験装置のチャンネル回路数を増設せずに、一時期に試験可能な被試験ＩＣ数、被試験ＩＣの入出力ピン数の増加に対応すること。 - 特許庁

To provide a testing method capable of evaluating precisely and easily freezing and thawing durability in a short time under a condition of a reproduced aggregate, without using any special device.例文帳に追加

再生骨材の状態のままで、凍結融解耐久性を短期間で精度良く、特殊な装置などを用いずに簡易に評価することのできる試験法を提供する。 - 特許庁

A holding device, to which the sample fiber is attached and the holders are connected by a holder connector, is detached from the slider mechanism 51 to be mounted on testing apparatus.例文帳に追加

試料繊維が取り付けられ、ホルダ連結具によってホルダが連結された把持装置がスライダ機構５１から取り外されて試験装置に対して装着される。 - 特許庁

To provide a torsion testing device capable of applying torsional stresses to a test piece, using a servo motor and applying a torsional load to the test piece at high frequency.例文帳に追加

サーボモータを用いて試験片にねじり応力を加え、且つ、高い繰り返し速度でねじり荷重を試験片に加えることができるねじり試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a radio base station testing device by which accurate reception characteristics can be grasped, even when a transmission output end and a reception input end are used in common.例文帳に追加

送信出力端と受信入力端とが共用されている場合であっても、正確な受信特性が把握できる無線基地局試験装置を提供する。 - 特許庁

When testing the transmission/reception of radio waves concerning the device to be measured, the changeover switches 36 and 38 are switched so as to connect the probe 32 to the antenna 26 for measurement.例文帳に追加

被測定デバイスについて電波の送受信のテストを行う場合には、触針３２が測定用アンテナ２６に接続されるように切換スイッチ３６、３８を切り換える。 - 特許庁

To provide a testing device and method in which termination processing can be carried out efficiently in safety upon occurrence of abnormality in a test object, i.e. a power converter.例文帳に追加

試験対象である電力変換器の異常発生時に、効率的かつ安全な異常検出時終了処理が可能な試験装置および試験方法を提供する。 - 特許庁

The semiconductor device is provided, between a plurality of chips 2 formed on a wafer 1, with a test circuit including a TAP 3 for accessing an objective circuit 5 in a chip externally and testing the circuit 5.例文帳に追加

ウエハ１上に形成された複数のチップ２間にチップ内のテスト対象回路５に外部からアクセスしてテストを行うＴＡＰ３を含むテスト回路を備える。 - 特許庁

To provide a liquid vessel type thermal shock testing device, capable of efficiently recovering a heating medium liquid evaporated from a high-temperature liquid vessel, and capable of restraining the running cost of the heating medium liquid.例文帳に追加

高温液槽から蒸発する熱媒液を効率よく回収し、熱媒液のランニングコストを抑制した液槽式熱衝撃試験装置を実現する。 - 特許庁

To provide a remote testing apparatus for a protective device in which an artificial readout error does not occur and by which an operator need not go to a distant place for a test.例文帳に追加

人為的読取り誤差が発生することがなく、また、試験のために作業者が遠隔地まで出向く必要がない保護装置の遠隔試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide an inspection device and an inspection method for a fare adjustment program for easily testing the fare adjustment program, and for easily developing the highly reliable fare adjustment program.例文帳に追加

容易に精算プログラムをテストすることができ、信頼性の高い精算プログラムを容易に開発することができる精算プログラムの検査装置及び検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide a wireless connection confirmation testing device that discriminates whether or not a communication opposite party is a terminal to be tested, so as to reduce interference on other communication.例文帳に追加

通信相手が試験をされるべき端末であるかを判断することで他の通信への干渉を低減させることのできる無線接続確認試験装置を得ること。 - 特許庁