「testing device」に関連した英語例文の一覧と使い方(88ページ目) - Weblio英語例文検索

In a system, where an ATM device 1 is connected to an STM device 2 via an STM-ATM conversion device 3 for transferring information, at least a test means 30 for testing inside a CLAD part 20 is provided in the STM-ATM conversion device 3.例文帳に追加

ＡＴＭ装置１とＳＴＭ装置２とをＳＴＭ−ＡＴＭ変換装置３を介して接続し、情報の転送を行なうシステムにおいて、前記ＳＴＭ−ＡＴＭ変換装置３内に少なくともＣＬＡＤ部２０内の試験を行なう試験手段３０を設けて構成する。 - 特許庁

When the user interface 304 is displayed, the user is able to see the boundary scanning test data, generated by a boundary scanning testing device 314, in a form which is suitable for a debugging operation.例文帳に追加

該ユーザ・インタフェース表示によって、ユーザは、境界走査テスト装置によって生成された境界走査テスト・データをデバッグに適切な形式で見ることができる。 - 特許庁

In the figure, a vertical sectioned picture where a radial superconductivity bearing 8 for testing is mounted on a revolution loss measuring device known as a prior art.例文帳に追加

図１は、本発明が適用された公知の回転損失測定装置に供試用ラジアル型超電導軸受８が装着された状態の縦断面図を示している。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device which is provided with a means to detect a change in an element related to a calibrating operation and in which a calibration control operation related to the replacement of a board can be performed precisely.例文帳に追加

キャリブレーションに係る要素の変化を検出する手段を備えて、ボード交換に係る校正管理を的確に行える半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a method for testing the tacking property of a pasting agent, capable of reflecting the actual pasting state, and high in autocorrelation with the evaluation of functionality, and to provide a device thereof.例文帳に追加

実際の粘着状態を正確に反映し、官能性評価との相関性が高い、貼付剤のタック性を試験できる方法および装置を提供する。 - 特許庁

To provide a startup range monitor system inspection testing device capable of measuring a discrete characteristic, a plateau characteristic or the like without exerting an influence on an operation processing function of an operation processing part.例文帳に追加

演算処理部の演算処理機能に影響を及ぼさずにディスクリ特性、プラトー特性等を測定することができる起動領域モニタ検査試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a user data load testing device which does not simply generate load data but can realize a load test fitting each service (bearer) operated by a 3GPP system.例文帳に追加

単に負荷データを生成するのではなく、３ＧＰＰシステムで運用される各サービス（ベアラ）に適応する負荷試験を実現可能なユーザデータ負荷試験装置を提供する。 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR EVALUATING POWER SUPPLY, METHOD FOR SUPPLYING POWER, TESTING DEVICE EMPLOYING THE SAME, POWER UNIT WITH EMULATION FUNCTION AND METHOD FOR EMULATING POWER SUPPLY ENVIRONMENT例文帳に追加

電源の評価方法、電源評価装置、電源の供給方法、それらを用いた試験装置、エミュレート機能付きの電源装置、電源環境のエミュレート方法 - 特許庁

To acquire UL synchronization of a terminal by a mobile internet measuring device and execute analysis, without having to add additional testing function to the terminal or to use a base station.例文帳に追加

端末機に別途のテスト機能を付与せず、また、基地局を使用しないで、携帯インターネット計測器で端末機のＵＬ同期を取得して分析できるようにする。 - 特許庁

To provide a semiconductor device in which the error of an uncorrectable pattern is corrected by adding the already uncorrectable pattern and one-bit fail bit, and to provide a testing method.例文帳に追加

既に訂正不可となっているパターンと、１ビットのフェイルビットの追加により、訂正不可となるパターンを誤り訂正する半導体装置及び試験方法の提供。 - 特許庁

To provide a nondestructive pile-testing method which can detect a pile length and a pile defective portion with high accuracy, and can more correctly evaluate the soundness of a pile, and to provide a sensor press-fitting device.例文帳に追加

杭長及び杭欠損部を精度よく検出し、杭の健全性をより正確に評価できる非破壊の杭検査方法及びセンサー圧着装置を提供する。 - 特許庁

To provide a drop testing device capable of carrying out a drop test by easily holding the desired attitude of even a large and heavy packing box for large-sized AV equipment.例文帳に追加

大型ＡＶ機器用の大きくて重い梱包箱であっても、所望の姿勢を容易に保持して落下試験を行うことができる落下試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a method and a device for simultaneously testing a sample for the presence, absence, and/or amounts of one or more in a plurality of selected analytes.例文帳に追加

複数の選択された分析物の１つ以上の存在、非存在、および／または量について、サンプルを同時に試験するための方法およびデバイスを提供する。 - 特許庁

This circuit testing device 10 is equipped with a pattern supply part 12, a supply current measuring part 14, a determination part 16, an electromagnetic wave supply part 18 and a movable part 20.例文帳に追加

本発明による回路試験装置１０は、パターン供給部１２、電源電流測定部１４、判定部１６、電磁波供給部１８および可動部２０を備える。 - 特許庁

To provide a device and method for testing a vehicle passing through a tunnel capable of performing simulation of tunnel-passing by using a launching means provided with a pair of rotary role.例文帳に追加

一対の回転ロールを備えた発射手段を用いて、トンネル走行の模擬実験を正確に行うことを可能とするトンネル走行実験装置及び方法を提供する。 - 特許庁

The air of low temperature is press fed from an air supply device located outside of the testing laboratory to the hollow part 13 through the air inlet 14.例文帳に追加

そして、上記試験室外の空気供給装置から給気口１４を介して中空部１３へ低温空気が圧送されることにより車輌２０が輻射冷却される。 - 特許庁

To provide a device for testing semiconductor capable of continuously using hardware without replacing it, even when a failure occurs in a storage part, and capable of reducing warranty cost.例文帳に追加

記憶部に故障が発生した時でもハードウェアを交換することなしに継続して使用することができ、ワランティコストの削減が可能な半導体試験装置を実現する。 - 特許庁

To provide a testing method for accelerating the deterioration in an electrophotographic photoreceptor used in an image forming apparatus, such as a laser printer or copying machine, and a device for executing the method.例文帳に追加

レーザープリンター・複写機等の画像形成装置に使用される電子写真用感光体の劣化加速試験方法及び該方法を実施する装置に関する。 - 特許庁

To provide a method and device for testing semiconductor capable of reducing the test pattern storage media cost and the communication cost in the transmission of a test pattern and shortening the time of a test pattern.例文帳に追加

テストパターン記憶メディアコストおよびテストパターン伝送時の通信コストの軽減、テストパターンの時間短縮を図ることができる半導体試験方法および装置を得る。 - 特許庁

To provide a semiconductor device that can load various chips to be driven with a high voltage higher than supply voltage, and can achieve testing of a plurality of chips of different voltages within a short period of time.例文帳に追加

供給電圧よりも高電圧で駆動する種々のチップを搭載でき、電圧の異なる複数のチップを短時間でテスト可能な半導体装置を提供する。 - 特許庁

To provide a testing device for efficiently regulating and acquiring phase shift generated when propagating a rising signal and a falling signal output by DUT.例文帳に追加

ＤＵＴが出力する立上り信号及び立下り信号を伝播する際に生じる位相のずれを効率良く調整して取得する試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide an abrasion testing device for appropriately simulating the degree of abrasion that differs depending on the structure of the groove pattern of a tire and further the usage condition when being mounted on a loaded vehicle.例文帳に追加

タイヤの溝パターンや構造、さらには実車搭載時の使用態様により異なる摩耗度合いを良好にシュミレートできる摩耗試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a method and device for simultaneously testing a sample for the presence, absence, and/or amounts of one or more of a plurality of selected analytes.例文帳に追加

本発明は、複数の選択された分析物の１つ以上の存在、非存在、および／または量について、サンプルを同時に試験するための方法およびデバイスに関する。 - 特許庁

To provide a swelling testing device and a swelling test method capable of measuring accurately an expansion coefficient even to a sample which is not only expandable but also deformable by moisture absorption.例文帳に追加

吸湿すると膨張するだけでなく変形し得る試料に対しても正確に膨張率を測定できる膨潤試験装置及び膨潤試験方法を提供する。 - 特許庁

To measure a fine resistance value with simple configuration, concerning a testing device applied to measurement of a fine resistance related to, for example, an integrated circuit.例文帳に追加

本発明は、試験装置に関し、例えば集積回路に係る微小抵抗の測定に適用して、簡易な構成により微小抵抗値を測定することができるようにする。 - 特許庁

To provide a steering column evaluation testing device and an evaluation test method capable of evaluating impact absorbing performance of a steering column simple body on which an air bag is mounted.例文帳に追加

エアバッグを装着したステアリングコラム単体での衝撃吸収性能を評価することができるステアリングコラム評価試験装置、および評価試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a highly reliable burn-in testing device capable of conducting surely screening for a plurality of measured devices (DUT hereinafter), and free from a secondary trouble in the DUT.例文帳に追加

複数の被測定デバイス（以下「ＤＵＴ」という）を確実にスクリーニングし、信頼性が高く、ＤＵＴに二次故障を発生させないバーイン試験装置を提供する。 - 特許庁

The device 10 is set corresponding to the operation data, and the operation data are evaluated for carrying out similar operation to that in the first use of the instrument 30, or testing the instrument.例文帳に追加

その操作データに応じて装置１０を設定し、器具３０の最初の使用と同様の操作を行ったり、器具３０をテストする目的で操作データを評価したりする。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device capable of easily performing timing correction at the leading end of the socket, which is electrically connected to an IC to be tested, with high accuracy.例文帳に追加

被試験ＩＣと電気的に接続するソケット先端におけるタイミング補正を高精度に且つ容易に行えるようにした半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide an information communication testing device for automatically erasing unnecessary personal information from among captured actual data and medical equipment using the same.例文帳に追加

キャプチャした実データの中から自動的に不要な個人情報の削除を行うことができる情報通信試験装置及びそれを使用した医療機器を提供する。 - 特許庁

The ATM transmission testing device to which the test request is sent generates an ATM cell for transmission test corresponding to the test mode of the test request and transmits the ATM cell to the opposite node.例文帳に追加

試験要求が出されたＡＴＭ伝送試験装置は、試験要求の試験モードに応じた伝送試験用ＡＴＭセルを生成し、対向するノードに送信する。 - 特許庁

To accurately position a steam turbine cascade testing device by preventing a pitot tube for measuring a flow out of a cascade from making contact with a cascade supporting part.例文帳に追加

蒸気タービンの翼列試験装置に関し、翼列を出た流れを測定するピトー管の翼列支持部に接触するのを防止し、正確な位置決めを可能とする。 - 特許庁

The process of exchanging diagnostics information is coordinated or executed by SOAP modules 6a, 6b implemented in the remote testing device 4A and the devices to be tested 4B respectively.例文帳に追加

診断情報交換処理は、遠隔試験装置４Ａと被試験装置４Ｂのそれぞれに実装されているＳＯＡＰモジュール６ａ、６ｂにより調整又は実行される。 - 特許庁

To provide a vehicle testing device applicable to a composite test of a brake test and a speed test of a vehicle and capable of stopping the rotation of drive rollers even when carrying out the brake test.例文帳に追加

車両のブレーキテストとスピードテストの複合試験に適用できて、ブレーキテスト時にも駆動ローラの回転の停止を可能にした車両試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a shock absorber of favorable performance exerting a sufficient damping amount as well on the elongation side as the contraction side and integrated into a pseudo seismic testing device.例文帳に追加

伸び側と縮み側のいずれの側においても充分な減衰量を得ることが出来、これにより擬似地震試験装置に組み込まれる好適なショックアブソーバを提供する。 - 特許庁

To provide a device for testing a gear pair capable of obtaining precise test results by faithfully reproducing the meshing in an actual machine in an actual usage state.例文帳に追加

実機上での使用状態に忠実な歯車対の噛合い状態を再現し、高精度の試験結果を得ることができる歯車対の試験装置を提供する。 - 特許庁

A method of testing a braking device 31 in a drivetrain 10 of the vehicle V which includes at least one tractive element 23 coupled to a traction motor 22 is provided.例文帳に追加

トラクションモータ（２２）に連結された少なくとも１つの牽引要素（２３）を備える、車両（Ｖ）の駆動系（１０）内のブレーキ装置（３１）を検査する方法を提供する。 - 特許庁

The moving picture distribution testing device includes: a moving packet simulator for simulating a packet loss by each moving picture stream sectioned by refresh; a moving picture frame header detection section; and a frame prediction type detection section.例文帳に追加

リフレッシュによって区切られた動画ストリーム毎にパケット損失をシミュレートする動画パケットシミュレータと、動画フレームヘッダ検出部と、フレーム予測タイプ検出部と、を備える。 - 特許庁

A weight body 13 is held by a holding device 4B of the pile driver body 1, a load mounting test is performed to a testing pile 5 by making it fall after it has been moved to a position with a predetermined height.例文帳に追加

前記杭打ち機本体１の把持装置４Ｂに錘体１３を把持させ、所定の高さ位置に移動後落下させて試験用杭５に載荷試験を行う。 - 特許庁

To provide a power train testing device and method which can easily test a test piece of a power train under various road disturbance environments.例文帳に追加

本発明は、パワートレーン系試験装置及び試験方法に関し、様々な路面外乱下で行うパワートレーン系の供試体の試験を簡易に実現することを目的とする。 - 特許庁

To provide a friction testing device without generation of a deviation in the parallelism between a specimen and a friction element and a fluctuation in the contact pressure between them, and providing a proper and reliable evaluation.例文帳に追加

試験片と摩擦子との間の面間の平行度の狂いや面圧変動の発生がなく、適正且つ信頼性の高い評価を行える摩擦試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide an impact testing device and method of a conveyor belt for promptly and accurately evaluating impact resistance by repeatedly dropping a weight in a fixed period.例文帳に追加

一定の周期で繰り返し錘を落下させて、迅速に精度よく耐衝撃性を評価することが可能なコンベヤベルトの衝撃試験装置および方法を提供する。 - 特許庁

RANDOM-NUMBER GENERATING CIRCUIT, NONCONTACT IC CARD AND READER/WRITER HAVING SAME RANDOM-NUMBER GENERATING CIRCUIT INSIDE, AND METHOD FOR TESTING DEVICE HAVING SAME RANDOM-NUMBER GENERATING CIRCUIT INSIDE例文帳に追加

乱数生成回路、当該乱数生成回路を内蔵する非接触ＩＣカード及びリーダ／ライタ、並びに、当該乱数生成回路を内蔵する装置のテスト方法 - 特許庁

An external testing device 17 as a logic tester outputs a test start command to the automatic rewriting circuit 16, and then starts the operation test of the logic circuit 14.例文帳に追加

そして、ロジックテスタとしての外部の試験装置１７は、上記自動書換え回路１６に試験開始指令を出力した後、ロジック回路１４の動作試験を開始する。 - 特許庁

A test processor 1 of the memory testing device is capable of simultaneously writing, reading, or erasing a test signal for each memory block with respect to a plurality of devices (DUT) to be tested.例文帳に追加

メモリ試験装置のテストプロセッサ１は、複数の被試験デバイス（ＤＵＴ）に対して同時に、メモリブロック単位で試験信号を書き込み、読み出し、あるいは消去が可能である。 - 特許庁