「testing device」に関連した英語例文の一覧と使い方(85ページ目) - Weblio英語例文検索

DEVICE, METHOD AND PROGRAM FOR TESTING BRANCH PREDICTION CIRCUIT OF INFORMATION PROCESSOR例文帳に追加

情報処理装置の分岐予測回路の試験装置、情報処理装置の分岐予測回路の試験方法及び情報処理装置の分岐予測回路の試験プログラム - 特許庁

To provide an error testing device in a TCM (time division direction control) interface which directly inserts an error bit into a main signal and can optionally set an error occurrence rate.例文帳に追加

主信号に直接エラービットを挿入し、エラー発生率を任意に設定できるＴＣＭインタフェースにおけるエラー試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a method for testing a mutual authentication device in which operations of a pair of transmittable and receivable devices can be tested without binding the devices to each other in advance.例文帳に追加

一対の送受信可能なデバイスの動作試験を予め紐付けすることなく実施できる相互認証デバイスの試験方法を提供する - 特許庁

To provide a thunder impulse voltage testing device which can adjust duration of wave front, without shortening duration of wave tail of thunder impulse voltage wave form.例文帳に追加

雷インパルス電圧波形の波尾長を短くすることなく波頭長を調整することが可能な雷インパルス電圧試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a weighing type testing device that can collect a right amount of blood and can also confirm the collection of the right amount of blood.例文帳に追加

正しい量の血液を採取することができ、正しい量の血液が採取されたことを確認することもできる試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a device and method for testing a system between data communication equipment for performing an operation confirmation test of the entire system without arranging a person at the opposite party side.例文帳に追加

対向側に人員を配置することなく、システム全体の動作確認試験を行うデータ通信装置間システム試験装置および方法を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device capable of easily changing the speed of a pattern to be applied to a DUT by an inexpensive configuration without using on-the-fly timing control.例文帳に追加

安価な構成でオンザフライタイミング制御によらずにＤＵＴに与えるパターンの速度を容易に変えることが可能な半導体試験装置を実現する。 - 特許庁

To provide the novel test piece supply device of an impact resilience testing machine, capable of preliminarily incorporating a large number of test pieces to continuously supply the test pieces.例文帳に追加

予め多数の試験片を組み込み、連続して試験片を供給できる反発弾性試験機の新規な試験片供給装置を提供する。 - 特許庁

To provide an environmental testing device for a fuel cell for accurately evaluating performance of a fuel cell under stable environmental conditions.例文帳に追加

安定した環境条件下で精度良く燃料電池の性能を評価することが可能な燃料電池の環境試験装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a disk storage device capable of attaining magnetization testing function for automatically executing a test mode for detecting the magnetization state of a write head.例文帳に追加

ライトヘッドの帯磁状態を検出するテストモードを自動的に実行する帯磁テスト機能を実現できるディスク記憶装置を提供することにある。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device capable of eliminating waste in storage capacity in a pattern memory, as well as detecting an error at a high speed by hardware.例文帳に追加

パターンメモリにおいて記憶容量の無駄を廃すると共に、ハードウェアによって高速にエラー検出をすることが可能な半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device and a parallel processing method for it having a plurality of memory banks, a controller, and a data processing processor for performing measurement and data processing in parallel.例文帳に追加

複数のメモリバンクとコントローラとデータ処理プロセッサとを備え、測定の実行とデータ処理を並行して行う半導体試験装置と並列処理方法。 - 特許庁

As a result, the chemical testing device is inserted in the depth of the element such as the inside of the blood vessel or the inside of the body cavity without causing damage to the sensor and to the blood vessel walls.例文帳に追加

このことにより、血管内や体腔内等の体内深部に、血管壁等もセンサーも損傷させることなく挿入することができる。 - 特許庁

The aging testing device performs the high- and low-temperature tests on a plurality of magnetic disk devices by means of an external tester while performing uniform temperature control by forming high- and low- temperature environments through program control.例文帳に追加

プログラム制御にて高低温環境を作り、外付けしたテスタにて複数の磁気ディスク装置に均一な温度制御をしながら試験する装置。 - 特許庁

In this semiconductor testing device, the above approximate waveform with high approximate precision is used as a test signal, whereby the quality judgment can be precisely performed.例文帳に追加

半導体試験装置において、上述した近似精度の高い近似波形を試験信号とすることで良否判定が正確に行うことが可能となる。 - 特許庁

To separately control and test semiconductor devices under test in a semiconductor device tester for testing the semiconductor devices.例文帳に追加

複数の半導体デバイスの試験を行う半導体デバイス試験装置において、試験の対象となる半導体デバイスを個々に制御し、試験できるようにする。 - 特許庁

To provide a testing device for drug elution, capable of accurately predicting drug discharge behavior in designing or evaluating a percutaneous application type preparation.例文帳に追加

経皮適用型製剤を設計または評価するに際し、薬物の放出挙動を的確に予測することが可能な薬物溶出試験装置を提供する。 - 特許庁

To detect soldering inferiority of constituent components and half-insertion inferiority of connectors by giving the optimum excitation stress to mobile electronic equipment without using a special testing device.例文帳に追加

特別な検査装置を用いずに、携帯電子機器へ最適な加振ストレスを与えて、構成部品の半田付け不良やコネクターの半挿し不良を検出する。 - 特許庁

To provide a semiconductor-testing device flexibly stopping application and determination of test signals without drastically increasing a circuit scale.例文帳に追加

回路規模の大幅な増大を招くことなく、試験信号の印加や判定を柔軟に停止させることができる半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

To perform an operation margin test in case that a duty ratio varies while dispensing with the need for changing the duty ratio of an input clock signal in testing a semiconductor device.例文帳に追加

半導体装置の試験の際に、入力クロック信号のデューティ比を変更する必要なく、デューティ比が変動した場合の動作マージン試験を行う。 - 特許庁

At the time of performing an arithmetic operation by an electronic circuit in an equivalence testing device, an Euler method and a backward Euler method are alternately performed in each micro-sampling time interval ΔT.例文帳に追加

等価試験装置内の電子回路による演算を、微小サンプリング時間間隔ΔT毎にオイラー法と後退オイラー法を交互に行うものである。 - 特許庁

This fretting corrosion testing device measures an electric resistance between female and male terminals by contacting and separating the female terminal and the male terminal to be fretting-corroded.例文帳に追加

フレッチング腐食試験装置は雌端子と雄端子を互いに接離させてフレッチング腐食させこれら端子間の電気的な抵抗を測定する。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory device capable of testing the operation margin of an internal circuit while separating address latch operation from internal operation according to a command input.例文帳に追加

アドレスラッチ動作とコマンド入力に応じた内部動作とを切り分け、内部回路の動作マージンを試験できる半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device capable of suppressing the transfer quantity of pattern files inside to the minimum to reduce the test time of semiconductors.例文帳に追加

内部におけるパタンファイルの転送量を最小限に抑え、半導体の試験時間を軽減することを可能とする半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

To independently and readily test a downward voice system by arbitrarily sending out voices from a maintenance center side without stationing any maintenance personnel to a base-station testing device side.例文帳に追加

基地局試験装置側に保守員を配置せずに保守センタ側から任意の音声送出を行い、下り音声系統を単独で簡便に試験する。 - 特許庁

A collision testing device 1 has actuators 4A, 4B, 4C, 4D and 4E which move vehicle structural members of a vehicle toward a side of a mounting section 3 where a dummy DM is placed.例文帳に追加

衝突試験装置１は、ダミーＤＭが載置される載置部３側に向かって車両構造部材を移動させるアクチュエータ４Ａ，４Ｂ，４Ｃ，４Ｄ，４Ｅを備えている。 - 特許庁

To provide a semiconductor device which is not easily placed in test mode even when high voltage noise is input to a terminal also used for testing.例文帳に追加

この発明は、テスト兼用端子に高電圧のノイズが入力された場合でも容易にテストモードに入ることのない半導体装置を提供する。 - 特許庁

In this system, the failure diagnosing is performed by exchanging diagnostic information between the remote testing device 4A and the devices to be tested 4B through a communication network.例文帳に追加

通信ネットワークを介して遠隔試験装置４Ａと被試験装置４Ｂとの間で診断情報を交換することにより故障診断を行う。 - 特許庁

A testing apparatus 900 tests a communication control unit 10 functioning as a grammar checking device for checking grammar in a script included in communication data.例文帳に追加

試験装置９００は、通信データに含まれるスクリプトの文法をチェックする文法チェック装置として機能する通信制御装置１０を試験する。 - 特許庁

To shorten the test time without using an expensive tester at the time of testing a semiconductor storage device.例文帳に追加

半導体記憶装置の検査を行うに際し、高価なテスターを用いることなく検査時間の短縮を図ることができるようにすることを目的とする。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory device which enables mask/ disable operation only with control of only one mask/disable terminal during the testing time.例文帳に追加

試験の際に１つのマスク／ディセーブル端子の制御のみでマスク／ディセーブル動作をおこなうことができる半導体記憶装置を提供することを課題とする。 - 特許庁

To provide a testing device for brake performance evaluation for automatically returning a brake pedal to the origin when a brake stepping operation is stopped.例文帳に追加

ブレーキ踏み込み動作を停止させた場合に、ブレーキペダルを自動的に原点復帰させることのできるブレーキ性能評価試験装置を提供する。 - 特許庁

In the semiconductor testing device, an algorithmic pattern generator has an address generation part and a scrambler, which has a plurality of the scramble memory.例文帳に追加

半導体試験装置であって、アルゴリズミックパターン発生器はアドレス発生部とスクランブラを有し、該スクランブラは複数のスクランブルメモリを有することを特徴とする。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device having a pin electronic card capable of outputting two outputs in a condition assigned in one tester pin.例文帳に追加

１つのテスタピンに指定された条件で２つの出力を出力することができるピンエレクトロニクスカードを有する半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor module capable of testing with high accuracy the connecting state of an internal connection between semiconductor devices, and to provide the semiconductor device.例文帳に追加

半導体装置間の内部結線の接続状態をより高精度に試験することが可能な半導体モジュールおよび半導体装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a semiconductor storage device for selectively executing a fast random cycle writing operation and a boundary scan testing operation without increasing a circuit area.例文帳に追加

回路面積を大きくすることなく、高速なランダムサイクルのライト動作とバウンダリスキャンテスト動作とを選択的に実行する半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

In the electronic beam-testing system, electron beams are applied to a semiconductor integrated circuit device to be analyzed for acquiring potential contrast to be analyzed.例文帳に追加

被解析対象物である半導体集積回路装置に、電子ビームを照射して解析のための電位コントラストを取得する電子ビームテストシステムである。 - 特許庁

To provide a corrosion-proof testing device for performing safely a corrosion test by salt water, hydrofluoric acid, sulfuric acid or nitric acid in the air, hydrogen or oxygen.例文帳に追加

空気・水素・酸素中において、塩水・フッ化水素酸・硫酸・硝酸による腐食試験が安全にできる耐腐食試験装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device capable of shortening a test time by shortening an overhead time generated by using a software.例文帳に追加

ソフトウェアを用いることで発生するオーバーヘッド時間を短縮することにより、試験時間を短縮することが可能な半導体試験装置を実現する。 - 特許庁

To provide test result data with a high degree of freedom for a user of a semiconductor integrated circuit testing device and to reduce cost on the utilization.例文帳に追加

半導体集積回路試験装置のユーザがより高い自由度で試験結果データを利用することができると共に、当該利用に関するコストを低減する。 - 特許庁

To provide a testing device and a test method for evaluating the rigidity and long-term heat resistance of a brake piston made of a resin in a high temperature atmosphere.例文帳に追加

樹脂製ブレーキピストンの高温雰囲気中における剛性、長期耐熱性を評価する試験装置並びにその試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a test device for lens array capable of testing a lens array having an eccentric lens in which the optical axis position deviates from the geometrical center of lens.例文帳に追加

光軸位置がレンズの幾何学的な中心からずれている偏心レンズを有するレンズアレイの検査を行うことが可能なレンズアレイの検査装置の提供。 - 特許庁

To provide a semiconductor device capable of suppressing the occupied area of a test circuit from increasing and simultaneously testing operations tests of plural memory circuits.例文帳に追加

試験回路の占有面積増加を抑え、且つそれにより複数のメモリ回路の動作試験を同時に実施することが可能な半導体装置を提供すること。 - 特許庁

The apparatus and method are particularly useful for digital signal processing in communications and for performing digital transition timing testing on a device under test.例文帳に追加

装置および方法は、通信におけるデジタル信号処理および試験対象デバイスについてデジタル遷移タイミング試験を実行するのに特に有効である。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device and its adjusting method capable of adjusting the timing with high accuracy, and in a short time.例文帳に追加

高精度のタイミング調整が可能であり、且つ短時間でタイミング調整を行うことができる半導体試験装置及びその調整方法を提供する。 - 特許庁