「testing device」に関連した英語例文の一覧と使い方(81ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a device for destructively testing a jig clamper capable of precisely grasping the strength of a jig clamper, and a method therefor.例文帳に追加

治具クランパの強度を精度高く把握することができる治具クランパ破壊試験装置及び治具クランパ破壊試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide an indicator testing device capable of performing a test optionally in a short time without dismounting indicators mounted on a monitoring board.例文帳に追加

監視盤に取付けてある指示計を取外さずに、任意に短時間で試験を行うことを可能とした指示計試験装置を提供する。 - 特許庁

To suppress fluctuation of an air pressure generated during tire test by adjusting the temperature of air supplied into a tire, in a tire testing device.例文帳に追加

タイヤ試験装置において、タイヤに供給される空気の温度を調整することで、タイヤ試験中に生じる空気圧の変動を抑える。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device capable of reducing an external load while ensuring excellent contact state between an external terminal and a conductive contact.例文帳に追加

外部端子と導電性接触子との良好な接触を取りつつ外部荷重を軽減できる半導体試験装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device capable of preventing breakage of a test object, while clarifying an exchange time of a mechanical relay.例文帳に追加

機械式リレーの交換時期の明確化を図りつつ、被試験対象の破壊を防止することができる半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

SEMICONDUCTOR WAFER AND SEMICONDUCTOR DEVICE USING THE SAME AND CHIP SIZE PACKAGE, AND SEMICONDUCTOR WAFER MANUFACTURING METHOD AND SEMICONDUCTOR WAFER TESTING METHOD例文帳に追加

半導体ウェーハとそれを用いた半導体素子及びチップサイズ・パッケージ並びに半導体ウェーハの製造方法、半導体ウェーハの検査方法 - 特許庁

TESTING DEVICE, HOLDER FOR TEST STRIP, KIT FOR DETECTING PRESENCE OF ANALYTE IN SAMPLE, AND METHOD FOR DETECTING ANALYTE IN SAMPLE例文帳に追加

試験装置、試験ストリップのためのホルダ、サンプル中の分析物の存在を検出するためのキット、及びサンプル中の分析物を検出する方法 - 特許庁

To provide a device including a testing circuit formed on a wafer to perform a radio test of a wafer having an integrated circuit and a method.例文帳に追加

集積回路を有するウェーハの無線試験を行うためのウェーハ上に形成された試験回路を含む装置および方法を提供する。 - 特許庁

A device is provided for simultaneously supplying a test signal to a plurality of IC terminals of an IC circuit during testing the integrated circuit (IC).例文帳に追加

集積回路（ＩＣ）のテスト中に前記ＩＣの複数のＩＣ端子にテスト信号を同時に供給するための装置が提供される。 - 特許庁

A testing device 900 tests a communication control apparatus 10 which functions as a band control apparatus for controlling a band to send communication data.例文帳に追加

試験装置９００は、通信データを送出する帯域を制御する帯域制御装置として機能する通信制御装置１０を試験する。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory element and a semiconductor memory device that are designed for shortening the time necessary for testing a plurality of semiconductor memory elements.例文帳に追加

複数の半導体記憶素子の試験に要する時間の短縮を図った半導体記憶素子および半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

To provide a sample making device capable of making samples for bacteria testing from a sample solution containing E. coli or general bacteria, etc.例文帳に追加

大腸菌或いは一般細菌等を含有するサンプル液から、菌検査用の検体を自動で作製できる検体作製装置を提供する。 - 特許庁

A testing device 900 tests a communication control apparatus 10 that functions as a call origination control apparatus for controlling call origination to a specific telephone number.例文帳に追加

試験装置９００は、特定の電話番号への発呼を制御する発呼制御装置として機能する通信制御装置１０を試験する。 - 特許庁

This device 1 is used for testing a tire 10 having two sidewalls 11 and 13 and a tread part 15 particularly by an interference measurement method.例文帳に追加

２つの側壁１１、１３およびトレッド部分１５を有するタイヤ１０を特に干渉測定法によって試験するための装置１である。 - 特許庁

To provide a device and a method for testing a bearing, capable of reproducing brittle separation caused by hydrogen brittleness, in a short time and with precision.例文帳に追加

水素脆化に起因する脆性剥離を短時間で的確に再現できる軸受試験装置と軸受試験方法を提供することである。 - 特許庁

The temperature testing device main body 2 is provided with the Peltier elements 5, and the heat exchanger 9 of a liquid cooling type being in contact with the Peltier elements 5.例文帳に追加

温度試験装置本体２は、ペルチェ素子５を有し、ペルチェ素子５に接触して液体冷却式の熱交換器９が設けられている。 - 特許庁

The focus is on testing the analog portion of the mixed-signal device, as the digital portion is assumed handled in the usual way. 例文帳に追加

このミクストシグナル・デバイスのアナログ部分の試験に焦点が置かれる.一方, ディジタル部分は通常の方法で扱われるものと前提している. - コンピューター用語辞典

To provide a highly reliable IC testing device capable of conducting an operation for voltage limitation accurately in measurement of a direct current characteristic.例文帳に追加

直流特性の測定において、電圧制限の作動を正確に行うことができ、信頼性の高いＩＣ試験装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a device and method for testing semiconductor integrated circuit by which the measured result of a specific pin can be easily made to be referred to.例文帳に追加

特定のピンの測定結果を容易に参照することができる半導体集積回路試験装置及び試験方法を提供する。 - 特許庁

To apply excitation input in the two or more directions to a test object, in a vibration testing device formed by combining a plurality of vibrating tables and excitation means.例文帳に追加

複数の振動台及び加振手段を組み合わせた振動試験装置において、２方向以上の加振入力を試験体に与えること。 - 特許庁

To improve workability and to improve yield by reducing the intervention of a test worker in measuring and testing a semiconductor device.例文帳に追加

半導体装置測定試験に際し試験作業者の介入を少なくし、作業性を向上させると共に歩留まりの向上を図ること。 - 特許庁

ELECTRO-OPTIC PANEL BOARD, METHODS OF TESTING AND MANUFACTURING THE SAME, ELECTRO-OPTIC DEVICE AND ELECTRONIC EQUIPMENT例文帳に追加

電気光学パネル用基板の検査方法、電気光学パネル用基板の製造方法、電気光学パネル用基板、電気光学装置および電子機器 - 特許庁

To provide a time domain reflection factor meter-testing device that is easy to manufacture, is inexpensive, and can test a matching impedance test point.例文帳に追加

製造が容易で安価な整合インピーダンス試験点の試験ができる自動化された時間領域反射率計試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a fatigue testing device 1 that can test specimen easily and grasp a fatigue state of the specimen correctly.例文帳に追加

試験体を容易に試験することができ、且つ試験体の疲労状態を正確に把握することができる疲労試験装置１を、提供する。 - 特許庁

This bench testing device 1 is equipped with a flat base (ground plane) 2, a noise source electric wire 3 connected to a noise generator 5, and an electric wire to be measured connected to a noise measuring device 6.例文帳に追加

このベンチ試験装置１は、平板状基台（グランドプレーン）２と、ノイズ発生器５に接続されたノイズ源電線３と、ノイズ測定器６に接続された被測定電線とを備えている。 - 特許庁

Electron beam is irradiated on a substrate 7 mounted on a mounting table 38 installed in a chamber 31 of the charged particle beam device, and a prescribed process like testing is carried out at the inside of the device.例文帳に追加

荷電粒子ビーム装置のチャンバー３１内の載置台３８に載置された基板７には電子ビームが照射され、当該装置内にて検査等の所定の工程が実施される。 - 特許庁

To provide an IC tester (semiconductor device-testing apparatus) which can restrict ringing generated when a response waveform from a DUT (semiconductor device to be tested) is multiple reflected in a transmission line between the DUT and a pin electronics.例文帳に追加

ＤＵＴからの応答波形がＤＵＴとピンエレクトロニクス間の伝送路で多重反射して発生するリンギングを抑制することができるＩＣテスタを提供することにある。 - 特許庁

To provide a magnetic detection device capable of simply detecting especially whether an output offset is within an allowable predetermined range, and to provide a method of testing the magnetic detection device.例文帳に追加

特に、出力のオフセットが許容所定内であるか否かを簡単に検出することが出来る磁気検出装置及び磁気検出装置のテスト方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

To dispense with a line testing device exclusive for FCS check and to enable a normal operation confirmation test of FCS check during service in which a subscriber device is constantly stored.例文帳に追加

ＦＣＳチェック専用の回線試験装置を不要にし、かつ、加入者装置を常時収容している運用中でのＦＣＳチェックの正常動作確認試験を可能にする。 - 特許庁

A concave surface adhesion test device 1 for testing an adhesion state of the adhesive sheet includes a concave surface bonding jig 30 and a concave surface pressing device 10.例文帳に追加

粘着性シートの接着状態を試験する凹曲面接着試験装置１において、凹曲面接着試験装置１は、凹曲面貼り付け冶具３０と、凹曲面押圧装置１０を有する。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory device and a method of testing a semiconductor memory device having a high degree of freedom in setting conditions of a stress test, and detecting various defects.例文帳に追加

ストレス試験の条件設定の自由度が大きく、様々な欠陥を検出可能な半導体記憶装置及び半導体記憶装置の試験方法を提供することである。 - 特許庁

To provide an impact testing device capable of applying a shock nearly equivalent to that of a fall test to a specimen with high reproducibility without increasing the height of the device.例文帳に追加

装置の高さを大きくすることなく、落下試験と略等価といえる衝撃を高い再現性をもって供試体に加えることが可能な衝撃試験装置を提供する。 - 特許庁

To prevent ground water flowing out of a test drilled hole from flowing out to an outside of a hole, while elevating a device support member for inserting a testing device into the test drilled hole.例文帳に追加

試験装置を試錘孔内に挿入するための装置支持部材を昇降させながら尚且つ試錐孔から湧き出る地下水の孔外への流出を防止することを可能とする。 - 特許庁

To provide an electric property testing device for a semiconductor device capable of effectively preventing unfavorable appearance due to particles and improper electrical property (shoot, etc.), in the next test process.例文帳に追加

半田屑による概観不良、及び次テスト工程での電気的特性不良（シュート等）を効果的に防止することができる半導体装置の電気的特性試験装置を提供する。 - 特許庁

A fault information storage means 2 performs the reception state check of a frame for testing to a present device, error check and CRC, and stores error information in the register group 8 of the present device.例文帳に追加

障害情報蓄積手段２は、自装置宛の試験用フレームの受信状態チェック，エラーチェック，およびＣＲＣを行い、エラー情報を自装置のレジスタ群８に蓄積する。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device easily applicable to various kinds of semiconductor tests and capable of reducing the production cost and dealing with the change in a measurement device in a short delivery time.例文帳に追加

多品種の半導体テストに容易に対応出来、生産コストを低減出来、測定デバイスが変更になった場合でも、短納期で容易に対応出来る半導体テスティング装置を提供する。 - 特許庁

To provide a static electrification testing device that can test the relation between electric charges and electrostatic breakdowns, by intentionally electrostatically charging a device and controlling the electric charges.例文帳に追加

意図的にデバイスを帯電させ、また、その帯電量の制御を行なうことができて、帯電量と静電気破壊との関係を試験することができる静電気帯電試験装置を提供する。 - 特許庁

For a burn-in test that energizes a semiconductor device 5 in a high-temperature atmosphere for a specific amount of time, the semiconductor device 5 is supplied to a substrate 4 for testing where a number of sockets 3 are arranged on an insulating substrate l.例文帳に追加

そのため、半導体装置を試験用基板に装着する前に実施しているが、少数の不良品のために全数短絡試験をすることは無駄であった。 - 特許庁

To provide a suction device for an electronic component testing device capable of ensuring a uniform pushing pressure at the time of pressing an electronic component to be tested in an adhered state by suction against the contact part of a test head.例文帳に追加

被試験電子部品を吸着した状態でテストヘッドのコンタクト部へ押し付ける際の押圧力を均一化できる電子部品試験装置用吸着装置を提供する。 - 特許庁

To provide a high-function semiconductor device testing jig at low cost even if the number of pins of the device is increased, and capable of minimizing decline of measuring accuracy caused by mutual interference of wiring.例文帳に追加

デバイスのピン数が増加しても、低コストで、配線の相互干渉による測定精度の低下を最小限にとどめることのできる、高機能半導体デバイス試験治具を提供する。 - 特許庁

To provide an alternating current load device, capable of conducting load test of an inverter, by inputting pulse width alternating voltage width controlled alternating voltage, using a comparatively simple constitution, regarding the alternating loading device for testing inverter load test.例文帳に追加

インバータの負荷試験を行う交流負荷装置に関し、比較的簡単な構成により、インバータのパルス幅制御出力交流電圧を入力して、インバータの負荷試験を行う。 - 特許庁

LOAD TESTING DEVICE, COMPUTER-READABLE RECORDING MEDIUM WITH LOAD TEST PROGRAM RECORDED THEREON, FAILURE DIAGNOSING DEVICE AND COMPUTER-READABLE RECORDING MEDIUM WITH FAILURE DIAGNOSTIC PROGRAM RECORDED THEREON例文帳に追加

負荷試験装置、負荷試験プログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体、障害診断装置、および障害診断プログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体 - 特許庁

To provide a search device for acoustic source to highly precisely search an acoustic source by reducing deterioration of a sound wave by influence of a free shear layer, and to provide a wind tunnel testing device.例文帳に追加

自由せん断層の影響により生じる音波の劣化を低減して高精度に音源を探査することができる音源探査装置及び風洞試験装置を提供する。 - 特許庁

When a test of a step S1 is started, a transmission protocol testing device in a step S2 transmits a control command for setting a test target device in an initial state and receives an executed response.例文帳に追加

ステップＳ１のテストを開始すると、ステップＳ２の伝送プロトコルテスト装置は、テスト対象機器を初期状態に設定する制御コマンドを送信し、実行済のレスポンスを受け取る。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device capable of suppressing the reduction in conductivity of a terminal and a probe needle even when an oxide film and a foreign substance exist on the surface of the terminal of a semiconductor device.例文帳に追加

半導体装置の端子の表面に酸化膜や異物が存在する場合でも、端子とプローブ針の導通性の低下を抑制できる半導体試験装置を提供する。 - 特許庁