「testing device」に関連した英語例文の一覧と使い方(82ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a noise-waveform-accompanied driver input generating method for a semiconductor testing device, allowing the evaluation of noise resistance by applying an input waveform accompanied by noises to a measuring device.例文帳に追加

ノイズを伴う入力波形を測定デバイスに印加し、ノイズ耐性評価を実現させることができる半導体試験装置のノイズ波形を伴うドライバ入力発生方法を提供する。 - 特許庁

In the programmable logic device having the dedicated multiplier circuit, some of scan chain registers normally used for testing the device are arranged proximately to the inputs of the multipliers.例文帳に追加

専用のマルチプライヤ回路を有するプログラマブルロジックデバイスにおいて、通常はデバイスの検査に使用されるスキャンチェーンレジスタのいくつかがマルチプライヤの入力に近接して配置される。 - 特許庁

To provide a testing device capable of suppressing the amount of cables between a body section and test heads to 1/2 or less as compared to a conventional device, and making an optional configuration of a fail memory have flexibility.例文帳に追加

本体部とテストヘッド間のケーブル量を従来に比較して１／２以下に抑えると共に、フェイルメモリのオプション構成に柔軟性を持たせることが可能な試験装置を実現する。 - 特許庁

A low-temperature tank 15 and a high-temperature vessel 16 are installed in parallel via an insulating layer 17 in a lower part of a device main body 14 of the liquid tank type thermal shock testing device 13.例文帳に追加

液槽式冷熱衝撃試験装置１３の装置本体１４の下方に低温槽１５及び高温槽１６が断熱層１７を介して並列状態に設置されている。 - 特許庁

To provide an address pattern generation device capable of generating an address pattern for accessing a part of a memory space without forcing an excessive load on user for preparing a device program and to provide a device for testing a semiconductor integrated circuit.例文帳に追加

デバイスプログラムを作成する過度の負担をユーザに強いることなくメモリ空間の一部をアクセスするアドレスパターンを発生させることができるアドレスパターン発生装置及び半導体集積回路試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a cleaning sheet for various devices, for example, a manufacturing device or a testing device for a semiconductor, a flat panel display and a printed circuit board, i.e., a cleaning sheet for a substrate treating device which dislikes foreign materials.例文帳に追加

本発明は、各種装置をクリーニングするシートに関し、例えば、半導体、フラットパネルディスプレイ、プリント基板などの製造装置や検査装置など、異物を嫌う基板処理装置などのクリーニングシートを提供する。 - 特許庁

This lubricating function evaluating device is provided with a control means, a driving control device controlled by the control means, a driving-detecting device for detecting the torque of a tested body, and a testing machine for enclosing the tested body.例文帳に追加

制御手段と、同制御手段によって制御される駆動制御装置と、被試験体のトルクを検出する駆動・検出装置と、被試験体を収納する試験機とを備えてなる潤滑機能評価装置。 - 特許庁

To reduce the influence of thermal jitter generated in the starting of an auxiliary circuit in a semiconductor device testing device constituted so as to perform a test by applying a test signal to a semiconductor device to be tested through the auxiliary circuit.例文帳に追加

被試験半導体デバイスに対して補助回路を通して試験信号を印加し、試験を行う構成とした半導体デバイス試験装置において、補助回路の起動時に発生する熱ジッタの影響を低減する。 - 特許庁

To contemplate miniaturization, thinning and cost reduction on a mounting structure of a semiconductor device socket, for mounting the semicon ductor device socket, where a semiconductor device is mounted, on a testing circuit board.例文帳に追加

本発明は半導体装置が装着される半導体装置用ソケットを試験用回路基板に取り付ける半導体装置用ソケットの取付構造に関し、小型薄型化及び低コスト化を図ることを課題とする。 - 特許庁

To constitute a removable detection module so that radiation light from a light emitting device in an oven is guided to the outside of an oven without affecting a high temperature environment in a testing device in a screening test of the light emitting device.例文帳に追加

取外し可能な検知モジュールにおいて、発光素子の選別試験で試験装置内の高温環境に影響を与えずにオーブン内の発光素子からの放射光をオーブン外部に誘導するように構成する。 - 特許庁

IMAGE PROCESSING SYSTEM, IMAGE PROCESSOR, ALGORITHM GENERATION DEVICE, IMAGE TESTING DEVICE, PROGRAM FOR MAKING COMPUTER FUNCTION AS IMAGE PROCESSOR, PROGRAM FOR MAKING COMPUTER FUNCTION AS ALGORITHM GENERATION DEVICE, AND RECORDING MEDIUM例文帳に追加

画像処理システム、画像処理装置、アルゴリズム作成装置、画像検査装置、コンピュータを画像処理装置として機能させるためのプログラム、コンピュータをアルゴリズム作成装置として機能させるためのプログラム、および記録媒体 - 特許庁

The controller for testing 50 delivers operation commands to a device for driving load 60 acting as a tested device during an operating test, and receives predetermined data, indicating the status of the device for driving load 60 from the loads 60, as well.例文帳に追加

試験用コントローラ５０は、動作試験時、被試験装置である負荷駆動装置６０へ動作指令を出力するとともに、負荷駆動装置６０の状態を示す所定のデータを負荷駆動装置６０から受ける。 - 特許庁

To provide a method and a device for testing an electronic circuit device whereby the overall action of the electronic circuit device, the action of a single computing circuit chip, and the action of a single memory chip can be easily tested.例文帳に追加

電子回路装置の全体動作のテストと、演算回路チップの単体動作テストと、メモリチップの単体動作テストを容易に行うことができる電子回路装置のテスト方法、およびテスト装置を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor device test system for quickly investigating the cause of a failure and preventing the use of a semiconductor device in a testing or packing process when the failure occurs to manage the test result of the semiconductor device.例文帳に追加

半導体製造の検査結果の管理において、不良発生時の原因究明を迅速に行い、且つテスト工程や梱包工程への半導体装置の誤投入を防ぐ、半導体装置テストシステムを構築する。 - 特許庁

To provide a test method for a semiconductor test device realizing an efficient device test method without testing doubly an address region already tested, in simultaneous measurement of plural DUT(device to be tested) utilizing a matched mode function.例文帳に追加

マッチモード機能を利用した複数ＤＵＴの同時測定において、試験済のアドレス領域を重複試験しないで効率的なデバイス試験方法を実現する半導体試験装置の試験方法を提供する。 - 特許庁

In the thermal shock testing device 1, the sample W is exposed under the testing environment over a prescribed exposure time counted from a time point with the lapse of the difference time, after the detection temperature by the environment temperature detecting sensor 9 reaches the prescribed set temperature, in an objective test.例文帳に追加

冷熱衝撃試験装置１は、本試験において、環境温度検知センサ９の検知温度が所定の設定温度に到達した後、差異時間が経過した時点から所定の晒し時間にわたって試料Ｗを試験環境下に晒す。 - 特許庁

A method for testing a semiconductor device comprises steps of contacting a probe needle 2 with the pad, wafer testing of an IC, and constituting the needle 2 of a tungsten alloy in which one or more metals selected from a group containing Y, La and Ce is added unit 0.1 to 1.0 wt.%.例文帳に追加

プローブ針２をパッドに接触させてＩＣのウエハテストを行なうに際し、プローブ針２をＹ，Ｌａ，Ｃｅを含むグループから選ばれた１つまたは２つ以上の金属を０.１〜１.０重量％添加したタングステン合金で構成する。 - 特許庁

To provide a testing device supplying a test signal that is made to maintain an optional phase state by performing phase synchronization of a pseudo response signal and a transmission leakage signal with a reference signal of an R/W (Reader/Writer) when testing the R/W of an RFID (Radio Frequency Identification).例文帳に追加

ＲＦＩＤのＲ／Ｗを試験する場合に、擬似的な応答信号及び送信リーク信号をＲ／Ｗの基準信号と位相同期させ、任意の位相状態に維持させた試験信号を供給できる試験装置を提供する。 - 特許庁

The laser ablation device 1 memorizes film thickness distribution information per unit time obtained from the thickness of each film respectively deposited on a substrate for testing in each of a plurality of testing positions in a preliminary stage in a memory unit in a storage part of a control means 70.例文帳に追加

レーザアブレーション装置１は、複数の試験位置の各々において、予工程にて試験用基板上にそれぞれ堆積された膜厚から得られた単位時間当たりの膜厚分布情報を制御手段７０の記憶部に記憶する。 - 特許庁

The controller 11 controls also the one information out of the information about the testing condition and a result of the IC testing device 150, and the simulation condition and the result of the simulator 14, based on the other information out of them.例文帳に追加

更に、管理装置１１は、ＩＣ試験装置１５０の試験条件及び結果に関する情報と、マイクロプログラムシミュレータ１４のシミュレーション条件及び結果に関する情報のうちの一方の情報に基づいて、他方の情報を管理する。 - 特許庁

To provide a testing device for a semiconductor element and a testing method for the semiconductor element, capable of reducing the number of probes in a probe card by rotating the semiconductor element to carry out a probing test by twice measurements, and capable of reducing a manufacturing cost of the probe card.例文帳に追加

半導体素子を回転させて２回の測定でプロービングテストを行うことによりプローブカードのプローブの数を減らせるとともに、プローブカードの製作コストを低減する半導体素子の試験装置および半導体素子の試験方法を提供する。 - 特許庁

To perform an electric characteristics inspection using a testing land even when a wiring board is downsized in a surface mount semiconductor device having the testing land on the undersurface of the wiring board on which a semiconductor chip is mounted.例文帳に追加

半導体チップが搭載された配線基板の下面にテスト用ランドを備えた面実装型半導体装置において、配線基板を小型化した場合でも、テスト用ランドを使った電気特性検査を精度よく行うことができるようにする。 - 特許庁

Pulsated testing lights with plural wavelengths are made incident from a wavelength-variable OTDR testing device 11 to an optical fiber 19 before branched as a branched optical line, to detect the reflected light from optical fibers 21 after being branch connected via a branching element 20.例文帳に追加

波長可変であるＯＴＤＲ試験装置１１から複数の波長のパルス状の試験光を分岐光線路の分岐前光ファイバ１９に入射し、分岐素子２０を介して接続された分岐後光ファイバ２１からの反射光を検出する。 - 特許庁

To provide a vehicle travel virtual testing system capable of dispensing with an actual traveling test course and a large-scaled testing device, capable of modeling each component before structure is determined, and capable of constructing a vehicle model to verify a vehicle and a travel thereof.例文帳に追加

実走行用のテストコース及び大規模な試験装置の必要がなく、構造が確定される前に各部品をモデル化し車両モデルを構築して車両及びその走行を検証し得る車両走行仮想試験システムを提供する。 - 特許庁

The method is used in a test for a solution or a solid phase such as a nylon film, and the later method may be used in measurement by a device or tool such as a color reader, and in combination of another ALD testing means and a pH testing means.例文帳に追加

この方法は溶液又はナイロン膜等の固相での試験、また後者の方法は色読取装置等の装置又は器具による測定、更に別のＡＬＤ試験手段及びｐＨ試験手段との組み合わせにおいて使用することもできる。 - 特許庁

To provide a load testing machine of a structure, capable of grasping the dynamic characteristics of the actual size structure of a building/civil-engineering structure, even if a jack drive device which does not have relatively large loading force is used, and to provide a load testing method which uses it.例文帳に追加

比較的大きな載荷力を有していないジャッキ駆動装置を用いても、建築および土木構造物の実大構造物の力学特性を把握することができる構造体の載荷試験装置および方法を提供すること。 - 特許庁

Particularly, at least one head unit includes a sucking head 5 for sucking an electronic component E supplied from the component supplying section 22 and carries this component E to the area on the substrate P, and a testing device 6 for testing the substrate P.例文帳に追加

とくに、ヘッドユニットの少なくとも１つが、部品供給部２２から供給された電子部品Ｅを吸着し、電子部品Ｅを前記基板Ｐ上に搬送する吸着ヘッド５と、基板Ｐの検査を行う検査装置６とを有する。 - 特許庁

A semiconductor device comprises the semiconductor elements (203, 207), the scanning circuit (220) connectable to the semiconductor elements (203, 207) for testing the performance thereof, and the process monitor (PM) which is arranged in a path subjected to the testing by the scanning circuit (220).例文帳に追加

半導体素子（２０３，２０７）と、半導体素子に接続可能であり、半導体素子の機能を試験するためのスキャン回路（２２０）と、スキャン回路が試験を行うパス中に設けられるプロセスモニタ（ＰＭ）とを有する半導体装置が提供される。 - 特許庁

To provide an energizing mechanism for opening and closing a gate valve between a sample exchange chamber (auxiliary exhaust chamber) for mounting and removing a sample and a sample chamber in a device such as a testing device, a machining device or a plotting device using a charged particle beam.例文帳に追加

荷電粒子ビームを用いた検査装置、加工装置あるいは描画装置等の装置において、試料を装・脱着するための試料交換室（予備排気室）と試料室との間のゲート弁等の開閉のための増力機構を提供する。 - 特許庁

The inspecting apparatus for a semiconductor device for testing durability of the semiconductor device against a temperature, comprises: a match plate; and a contact module connected with the match plate, and having a radiating part radiating the heat generating from the semiconductor device to the outside and a test part for press-contact of lead wires of the semiconductor device.例文帳に追加

このように正確なテストが行われ、テスト時発生する半導体素子の熱によって良品の半導体素子を不良品と判定する誤判定が抑制されることにより、生産性向上及び費用を節減することができる。 - 特許庁

To provide a substrate testing device measuring and compensating a brightness through a detection compensation section without measuring the brightness of each panel, wherein the substrate is tested even without independent equipment through the detection compensation section integrated to the substrate without using substrate testing equipment for testing an organic light emitting display panel, and a method thereof.例文帳に追加

各パネルの輝度を測定することなく、感知補償部を通じて輝度の測定と補償がすべて行われ、有機電界発光表示パネルを検査する基板検査装備を用いることなく、基板に集積された感知補償部を通じて、独立した装備がなくても基板検査が可能な基板検査装置及び方法を提供する。 - 特許庁

The apparatus for testing the power conversion apparatus used in place of the finished-product power converter includes a testing power converter having a lower output capacity than this power converter, and a high-frequency voltage application device applying a noise voltage to between a reference potential section of a control circuit and a ground potential section of the testing power converter.例文帳に追加

提案する電力変換装置の試験装置は、最終製品の電力変換器に換えて用いられて、この電力変換器よりも出力容量が小さい試験用電力変換器と、制御回路の基準電位部と、前記試験用電力変換器の接地電位部との間にノイズ電圧を印加する高周波電圧印加装置と、を備える。 - 特許庁

There are provided a plurality of programmable distribution type testing units 12, individually communicating with a related device in a plurality of devices; networks 24, 36 for transmitting information among the plurality of distribution type testing units 12; and a system monitoring unit 16 for communicating with a plurality of programmable distribution type testing units 12 via the networks 24, 36.例文帳に追加

複数のデバイスの内の関連するデバイスと個別に通信を行う複数のプログラム可能な分散形試験ユニット１２と、複数の分散形試験ユニット１２の間で情報を伝達させるネットワーク２４，３６と、このネットワーク２４，３６を通して複数のプログラム可能な分散形試験ユニット１２と通信を行うシステムモニタユニット１６とを備える。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit device having a test function capable of testing process operations by use of a various-purpose logic tester when testing the semiconductor integrated circuit device in a semiconductor integrated circuit device for processing a data signal while inputting a data signal in response to a high-speed clock.例文帳に追加

本発明は、高速のクロックに対応したデータ信号が入力されるとともに該データ信号を処理する半導体集積回路装置において、該半導体集積回路装置をテストする際に汎用のロジックテスタを使用してその処理動作のテストを行うことが可能なテスト機能を有する半導体集積回路装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a transmission line testing device for BS added channel capable of testing whether or not in particular a transmission line in a facility can transmit a BS-IF signal of the BS added channel without the need for an exclusive device to generate the BS-IF signal and to provide a transmission line test signal generating device for BS added channel.例文帳に追加

ＢＳ−ＩＦ信号を発生させる専用の装置を必要とすることなく、当該設備の特に伝送路がＢＳ追加チャンネルのＢＳ−ＩＦ信号を伝送できるかどうかを試験することができるＢＳ追加チャンネル用伝送路試験装置およびＢＳ追加チャンネル用伝送路試験信号発生装置を提供する。 - 特許庁

In this automatic testing device (ATE) 200 having a tester architecture classified by terminals provided with plural dispersed testing units 700 classified by the terminals, the each testing unit 700i issues a stimulation response signal to each DUT terminal di of a tested device (DUT) 600, and/or receives a stimulation signal from the each DUT terminal, to test the each DUT terminal.例文帳に追加

分散した複数の端子別試験ユニット（７００）を設けた端子別テスタアーキテクチャを持つ自動試験装置（ＡＴＥ）（２００）であって、各端子別試験ユニット（７００ｉ）が、被験デバイス（ＤＵＴ）（６００）のそれぞれのＤＵＴ端子（ｄｉ）へと刺激応答信号を発し、および／又は前記それぞれのＤＵＴ端子から刺激応答信号を受信することにより、前記それぞれのＤＵＴ端子を試験する。 - 特許庁

To provide a device capable of testing a large-sized object by an actual object, without taking a closing rate into consideration, even when not provided with a big wind tunnel.例文帳に追加

閉塞率を考慮する必要がなく、かつ巨大な風洞がなくとも、大型の対象物を実物によって試験することができる装置を提供する。 - 特許庁

To provide a test device capable of improving reaction efficiency while keeping the size of a microchannel as it is, and to provide a reaction apparatus and a method of testing reaction.例文帳に追加

微細流路のサイズは従来のままで反応効率を向上させることのできる試験デバイス、反応装置及び反応試験方法を得る。 - 特許庁

To provide a testing device for accurately and efficiently achieving a test accompanied by the extension of the terminal of a monitoring control system.例文帳に追加

監視制御システムの端末を増設する場合に、その増設に伴う試験を確実かつ高い効率で行なうことができる試験装置を提供することにある。 - 特許庁

Measurement data of an instrument, such as a load cell 18, is acquired by statistical test work for evaluating the grade of the testing machine and is stored in a data storage device 29.例文帳に追加

試験機の等級を評価するための検定作業によりロードセル１８等の計測器の計測データを取得し、データ記憶装置２９に記憶する。 - 特許庁

A discharge characteristic testing apparatus 1 comprises a capacitor C1, a charge/discharge switch 3, a resistance circuit 4, a device connection part 5, a comparator 6, and a control decision part 7.例文帳に追加

放電特性テスト装置１は、コンデンサＣ１と、充放電スイッチ３と、抵抗回路４と、デバイス接続部５と、コンパレータ６と、制御判定部７とを備える。 - 特許庁

To resolve the difficulty with damage protection, impact testing and simple manipulation of each device used in a battle game and a competition between devices.例文帳に追加

装置同士の格闘遊戯や競技を実施するにあたり、各装置における破損の回避や衝撃の検定および簡易な操作を行う事が困難である。 - 特許庁

To provide a reader testing device, capable of easily determining that a reader is normally operating around the reader.例文帳に追加

本発明は、リーダが正常に動作していることを、リーダ周辺にて簡便にまた容易に判断することができるリーダ試験装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a testing device with a simple configuration that is capable of preventing damage of a back surface of a semiconductor chip, for example, when it is applied to examining characteristics of a laser diode chip.例文帳に追加

試験装置に関し、例えばレーザーダイオードチップの特性を試験する場合に適用して、簡易な構成で半導体チップの裏面の傷付きを防止する。 - 特許庁

To provide a salt damage testing method for an ventilating air filter unit, allowing objective salt damage test at any site in a short time, and to provide its device.例文帳に追加

任意の場所において短時間で客観的な塩害試験を行うことができる換気用エアフィルタユニットの塩害試験方法および装置を提供する。 - 特許庁