「testing device」に関連した英語例文の一覧と使い方(79ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a test piece for a high pressure air-tight testing device and a refrigerating cycle, which may facilitate preparation of a high pressure air-tight test.例文帳に追加

高圧気密試験の準備作業の容易化が図れる、高圧気密試験装置の供試体及び冷凍サイクルを提供する。 - 特許庁

To provide a driver waveform generation circuit in a semiconductor testing device adaptable to various driver waveform generation specifications by making small changes.例文帳に追加

小変更で、様々なドライバ波形生成仕様に適応可能な、半導体試験装置におけるドライバ波形生成回路を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor device capable of testing its own circuit operating at a high speed by using a general low speed LSI tester.例文帳に追加

一般的な低速ＬＳＩテスターを用いて、高速動作する自己の回路を試験できるようにした半導体装置を提供する。 - 特許庁

To stably dispense a liquid such as a reagent or the like at a uniform discharge amount in a dispensing operation in a specimen testing device.例文帳に追加

検体試験装置における分注作業において、試薬等の液体を均一な吐出量にて安定して分注すること - 特許庁

The drainage testing device (1) of an indoor unit of an air conditioner uses a powder source voltage different from the rated voltage of the air conditioner.例文帳に追加

空気調和機の定格電圧とは異なる電源電圧を用いる、前記空気調和機の室内機のドレン排水試験装置（１）。 - 特許庁

To provide a vibration testing device capable of performing a vibration test of vibrating a work with long period and large acceleration amplitude.例文帳に追加

長周期且つ大加速度振幅でワークを振動させるような振動試験を行うことが可能な振動試験装置提供する。 - 特許庁

To provide a device for testing semiconductor, capable of performing accurate measurement by executing relay-off operation with appropriate waiting time, after switching off the power.例文帳に追加

パワーオフ後に適切な待ち時間でリレーオフ動作を実行することにより、正確な測定が可能な半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide automatic inspection equipment for semiconductor devices capable of highly accurately and efficiently testing a semiconductor device with a cable connected thereto.例文帳に追加

ケーブルが接続された半導体デバイスを高精度で効率良く検査することができる半導体デバイス自動検査装置を提供する。 - 特許庁

TEST DEVICE FOR TESTING CABLE UNDER TEST, APPARATUS AND METHOD FOR INSPECTING ETHERNET(R) NETWORK CABLE例文帳に追加

検査中のケーブルを検査するための検査器、イーサネット（Ｒ）ネットワークケーブルを検査するための装置およびネットワークケーブルを検査するための方法 - 特許庁

To provide a method by which DMA information of an optical disk is confirmed at the time of initialization which is not verified, and a testing device for performing the method.例文帳に追加

検証しない初期化時の光ディスクのDMA情報を確認する方法及びこれを行うためのテスト装置を提供する。 - 特許庁

The main control device is provided with a test means S02 testing whether or not the command confirming means of the sub-control means normally operates.例文帳に追加

メイン制御装置は、サブ制御装置のコマンド確認手段が正常に動作するか否かを試験する試験手段（Ｓ０２）を備える。 - 特許庁

METHOD FOR INSPECTING ON-SITE SURGE CURRENT DISCHARGE EXPERIMENT TO EQUIPOTENTIAL CONNECTION AND BASIC PILE GROUNDED PLATE, DISCHARGE TESTING DEVICE, AND DISCHARGE MONITORING METHOD例文帳に追加

等電位接続と基礎杭アース板への現場サージ電流放電実験検査方法及び放電試験装置並びに放電監視方法 - 特許庁

To provide a semiconductor memory device capable of confirming a high-speed testing characteristics by receiving a low-speed clock.例文帳に追加

本発明は、低速クロックを受信して高速のテスト特性を確認することができる半導体メモリ装置を提供することにある。 - 特許庁

The present invention includes a testing turn-on device 14 for making a liquid crystal panel turn on for testing, a timing device 22 for generating a signal of a predetermined timing, a photographing device 16 for photographing an image of the liquid crystal panel 10 in synchronization with the signal, and a turning-off device for detecting a turning-on pixel or a turning-off pixel from the photographed image.例文帳に追加

液晶パネルを試験的に表示させる試験点灯装置１４と、所定のタイミングの信号を発生させるタイミング装置２２と、前記信号と同期して液晶パネル１０の画像を撮影する撮影装置１６と、撮影した画像から点灯画素または消灯画素を検出する消灯装置を有するものである。 - 特許庁

To provide a burn-in device capable of enhancing reliability of a testing objective circuit, in a device for carrying out a burn-in test for a semiconductor integrated circuit of a testing object, and to provide a semiconductor integrated circuit device capable of dispensing with preparing separately a circuit for the burn-in test in an outside.例文帳に追加

試験対象となる半導体集積回路に対してバーンイン試験を行う装置において、試験対象回路の信頼性をより向上できるようにしたバーンイン装置を提供し、バーンイン試験用の回路を別途外部に用意する必要をなくした半導体集積回路装置を提供する。 - 特許庁

In the semiconductor testing system wherein a plurality of semiconductor test units equipped respectively with a semiconductor testing device, a test management processor and the cooling device communicate with the host computer, and the cooling device includes a heat exchanger controlled by a controller, a two-way communication means is provided between the controller and the host computer.例文帳に追加

夫々が半導体試験装置、試験管理プロセッサ、冷却装置を備える複数の半導体試験ユニットがホストコンピュータと通信すると共に、前記冷却装置がコントローラにより制御される熱交換器を備える半導体試験システムにおいて、 前記コントローラと前記ホストコンピュータ間に双方向通信手段を設ける。 - 特許庁

In a tire wear test method using a wear testing device 10 making an inspected tire 14 run on an infinite running surface 16, the wind below the temperature of the circumference of this tire wear testing device 10 is sent in at least one direction toward the tread surface of the running inspected tire 14 from a blower device 20.例文帳に追加

被験タイヤ１４を無限走行面１６上に走行させるタイヤ摩耗試験機１０を使用して行うタイヤ摩耗試験方法において、送風装置２０から走行する被験タイヤ１４のトレッド表面に向かって、該タイヤ摩耗試験機１０の周辺の温度以下の風を少なくとも一方向より送る。 - 特許庁

A test auxiliary device (BOST device) is disposed near a test circuit board for giving and receiving a signal to and from the semiconductor integrated circuit to be tested, and the testing D/A converter circuit and testing A/D converter circuit of the test auxiliary device, a measurement data memory and an analyzing part are respectively mounted on separate circuit boards.例文帳に追加

被試験半導体集積回路と信号のやり取りを行うテスト回路基板の近傍にテスト補助装置（ＢＯＳＴ装置）を設け、このテスト補助装置の試験用Ｄ／Ａ変換回路と試験用Ａ／Ｄ変換回路と、測定データメモリと、解析部とをそれぞれ別の回路基板に搭載する。 - 特許庁

The output 13 of a boundary scan adaptive device 1 for testing is put to LO to control the outputs of the buffers 7 and 8 to enable so that the outputs 23 and 24 of the adaptive device 2 are connected to the inputs 13 and 14 of the adaptive device 1, thereby accomplishing the testing of the connection state of the outputs 23 and 24.例文帳に追加

試験用バウンダリースキャン対応デバイス１の出力１３をＬＯとしバッファ７及び８の出力をイネーブルに制御することで、対応デバイス２の出力２３及び２４と、対応デバイス１の入力１３及び１４が接続し、出力２３及び２４の接続状態の試験を行うことができる。 - 特許庁

An environmental testing device 1 includes a case 12 having an air-conditioned chamber 25 with a temperature and humidity regulating means housed, and a cover 15 comprising a testing chamber 14 with the object 9 to be tested adjacent to the air-conditioned chamber 25 housed.例文帳に追加

環境試験装置１は、温湿度調整手段が収容された空調室２５を有する筐体１２と、空調室２５に隣接した被試験体９を収容する試験室１４を構成するカバー１５とを含んでいる。 - 特許庁

To provide a testing technology of a semiconductor device, which restricts the overhead of an area to a minimum and can make a signal propagate in parallel to testing by a method, wherein the signal is bypassed by utilizing an existent data path in an IP core.例文帳に追加

ＩＰコア内の既存のデータパスを利用して信号をバイパスさせることで、面積のオーバーヘッドを最小限に抑えながら、パラレルに信号を伝播させてテストを行うことができる半導体装置のテスト技術を提供する。 - 特許庁

To provide a testing method for the installation of an overcurrent alarm device, which enables simple testing without need for any electrical equipment specially prepared only for checking operation or any burdensome work, such as looking for an outlet.例文帳に追加

動作確認の試験のためだけにわざわざ電気機器を用意したり、コンセントを探す等の煩雑な作業を必要とすることがなく、簡単に試験をすることができる過電流警報装置の設置試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide an interface board testing device and an interface board testing method which can test an interface board in a short period of time, and obtain an appropriate test result independently of analog characteristics of a member stored in a slot.例文帳に追加

短時間でインタフェースボードを試験することができ、かつ、スロットに格納される部材のアナログ特性に依存せず、適切な試験結果を得ることができるインタフェースボード試験装置及びインタフェースボード試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a puncture testing device for tires which enables visual observation of the condition of a puncture and remarkable reduction in puncture testing cost, by reproducing the condition of the puncture having an inside pressure by using a sample piece of a tire.例文帳に追加

タイヤのサンプル片を用いて内圧を付与したパンク状況を再現することにより、パンク状況を目視により観察可能にし、かつタイヤのパンク試験コストを大きく削減することが可能なタイヤのパンク試験装置を提供する。 - 特許庁

Respective tests such as a DC parameter, an AC parameter, and a thermal resistance are switchingly performed by one contact device having movable contact portions with the AC testing machine 16 and the DC testing machine 17 respectively at the electrode part on the intermediate electrode plate 20.例文帳に追加

中間電極板２０上の電極部分にＡＣ試験機１６、ＤＣ試験機１７各々との可動接触部を設けた一台のコンタクト装置で、ＤＣパラメータ、ＡＣパラメータ、および熱抵抗の各試験を切替えて行う。 - 特許庁

To provide an artificial ground fault testing device for a dispersion reactor system for sharply reducing a cost and time and sharply shortening a time for locking a ground fault directional relay and a ground fault overvoltage relay during testing.例文帳に追加

費用および時間を大幅に削減することができるとともに試験中に地絡方向継電器および地絡過電圧継電器をロックする時間が大幅に短くなる分散リアクトル系統用人工地絡試験装置を提供する。 - 特許庁

The testing process of polyester taste is characterized in that a polyester molded article is heat-treated in ultrapure water to prepare an extraction water, and the extraction water is then measured by a taste testing device equipped with a taste sensor formed of an artificial lipid membrane.例文帳に追加

ポリエステルからなる成形体を超純水中で加熱処理をして得られた抽出水を人工脂質膜からなる味センサを備えた味検査装置で測定することを特徴とするポリエステルの味覚試験方法。 - 特許庁

The LED light source 23 for testing is used as a light source for the solar cell evaluation device for evaluating the output characteristics of a solar cell 22 by applying dummy sunlight to the solar cell 22 housed in a testing chamber.例文帳に追加

又、この試験用ＬＥＤ光源２３を、試験室内に収容された太陽電池２２に疑似太陽光を照射して太陽電池２２の出力特性を評価する太陽電池評価装置の光源として使用する。 - 特許庁

The testing system is equipped with a socket 31 where the semiconductor package 1 is placed with the electrode surface on the upside; and a testing device 2 provided on the upside of the socket 31, for executing the test in contact with the electrode of the semiconductor package 1.例文帳に追加

そして、かかるテストシステムは、半導体パッケージ１を電極面を上方にして載置するソケット３１と、ソケット３１の上方に設けられ、半導体パッケージ１の電極と接触してテストを実行するテスト装置２とを備えている。 - 特許庁

To provide a testing device and a test method capable of testing various semiconductor integrated circuit having different characteristics, and coping with diversification of an analog characteristic test by fulfillment of generation function of DAC data or the like.例文帳に追加

特性の異なる種々の半導体集積回路の試験を可能にすると共に、ＤＡＣデータの発生機能の充実化を図るなど、アナログ特性試験の多様化に対応できる試験装置及び試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide an information acquiring method and device for quickly and precisely testing identification information by satisfactorily evading radio waves from a transmitter mounted on an adjacent vehicle at the time of testing identification information.例文帳に追加

識別情報を検査するときに、隣接する車両に搭載されている送信装置からの電波を良好に回避し、短時間で精度良く識別情報を検査できる情報取得方法及び情報取得装置を得る。 - 特許庁

When testing the IC card program, the IC card test device 1 successively interprets statements included in the designated test script, and makes an emulator 2 execute the interpreted processing for testing the IC card program stored in the emulator 2.例文帳に追加

ＩＣカードプログラムをテストするとき、ＩＣカードテスト装置１は、指定されたテストスクリプトに含まれるステートメントを逐次解釈し、解釈した処理をエミュレータ２に実行させることで、エミュレータ２に記憶されたＩＣカードプログラムをテストする。 - 特許庁

To create an optimal schedule in consideration of a constraint condition in which "for some testing devices, different kinds of components can be set and tested together using the same testing device, the same tool and the same test condition".例文帳に追加

「一部の試験装置については、同一の試験装置、同一の治具、同一の試験条件で、異なる種類の部品をセットにして一緒に試験を行うことが可能」といった制約条件を考慮して、最適なスケジュールを作成する。 - 特許庁

To provide a degrading acceleration testing device and a degrading acceleration testing method for photoreceptors for electronic photography that allow control, as desired, of a voltage applied to an electrifying means and the concentration of a discharge product independently of each other in a degrading test.例文帳に追加

劣化試験時の帯電手段への印加電圧と放電生成物の濃度とを独立して任意に制御することが可能な電子写真用感光体の劣化加速試験装置及び劣化加速試験方法を提供する。 - 特許庁

To efficiently capture FBM (a fail bit map) information for indicating physical position information of failure in a testing device and an testing method, especially in the failure analysis, for a RAM inside an LSI chip, such as a CPU and a DSP.例文帳に追加

ＣＰＵやＤＳＰ等のＬＳＩ内部におけるＲＡＭ用の試験装置及び試験方法に関し、特に障害解析において故障の物理位置情報を表すＦＢＭ情報（フェイルビットマップ）の取得を効率良く行うこと。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing apparatus and a semiconductor testing method capable of bringing all measurement terminals into contact with the terminal of a semiconductor device with a uniform contact pressure and capable of achieving reliable contact.例文帳に追加

本発明は、全ての測定端子を均一な接触圧で半導体装置の端子に接触させることができ、確実なコンタクトをとることのできる半導体試験装置及び半導体試験方法を提供することを課題とする。 - 特許庁

To take out surely and smoothly stacked dumbbell samples or sample cassettes from the lower part of a magazine with simple and inexpensive construction, and automate transfer of the dumbbell samples or the sample cassettes to a testing device and all operations of material testing.例文帳に追加

簡単で且つ安価な構成でマガジン下部からスタックしたダンベルサンプル又はサンプルカセットを確実に且つ円滑に取り出すことができ、ダンベルサンプル又はサンプルカセットの試験装置への搬送及び材料試験動作全ての自動化を図る。 - 特許庁

To provide a semiconductor test device, a semiconductor memory test device, and a semiconductor memory test method in which testing capability of a semiconductor device is maximized, and factors of rise of a device cost can be minimized, and test cost is reduced.例文帳に追加

半導体デバイスのテスト能力が極大化されると共に、装置価格の上昇要因を最小化し得、テストコストも削減される半導体テスト装置、半導体メモリテスト装置および半導体メモリテスト方法を提供すること。 - 特許庁

To readily automate an automatic gas sample injection device, by simplifying the operation of drawing and inserting/moving of a syringe with a comparatively small device, regarding the automatic gas sample injection device for introducing the gas sample into the testing device, in combination with the syringe with an extension needle and the sample chamber integrated gas injection port.例文帳に追加

本発明は、延長針付注射器と試料室一体型ガス注入口とを組み合わせて用いて、気体試料を試験装置へ導入するための自動気体試料注入装置に関するものである。 - 特許庁

The signal propagation time of each pin-selected path of a pin selecting device to selectively connect the output pins of the semiconductor device testing device for a timing measuring device is previously measured and prepared as known values TA1, TA2, TA3, etc.例文帳に追加

半導体デバイス試験装置の出力ピンを選択的にタイミング測定器に接続するピン選択装置の各ピン選択経路毎の信号伝播時間を予め測定し、既知の値ＴＡ１、ＴＡ２、ＴＡ３…として用意する。 - 特許庁

The semiconductor device has constitutively a high-voltage applying function for applying a high voltage from the outside in order to write data in its memory means, and a testing function used for testing the semiconductor device to be able to control the testing function and the high-voltage applying function by a common input terminal to both the functions.例文帳に追加

上記目的を達成するために、本発明による半導体装置は、記憶手段にデータの書き込みを行う為に外部から高い電圧を印加する高電圧印加機能と、当該半導体装置のテスティングを行うために使用するテスト機能を有し、該テスト機能と前記高電圧印加機能とを共通の入力端子より制御できるように構成することを特徴とする。 - 特許庁

To provide a RAID (Redundant Arrays of Inexpensive Disks) test system with which a disk controller of a RAID device is substituted with a conventional testing computer to perform a test of another RAID device about a shipping test of RAID devices, a RAID test program and a RAID testing method.例文帳に追加

ＲＡＩＤ装置の出荷試験に関し、より詳細にはＲＡＩＤ装置のディスクコントローラを従来の試験用コンピュータと代替し、他のＲＡＩＤ装置に対して試験の実施を行うＲＡＩＤ試験システム、ＲＡＩＤ試験プログラムおよびＲＡＩＤ試験方法に関する。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device having a voltage impression current measuring function shortening a testing time by preventing lowering of a response rate while maintaining the minimum phase margin even if a bypass capacitor having any capacitance value is connected to a power source pin of a device to be measured.例文帳に追加

被測定デバイスの電源ピンにバイパスコンデンサとしてどのような容量値のものが接続されたとしても、最低限の位相余裕を確保しつつ応答速度の低下を防止し、テスト時間を短縮することができる電圧印加電流測定機能を備えた半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

The testing device for testing the encoder wherein the output shaft is rotated corresponding to rotation of the input shaft via the power transmission device includes a control part for controlling rotation of the input shaft, and detecting the error between the rotation position of the input shaft and the rotation position of the output shaft.例文帳に追加

入力軸の回転に応じて出力軸が動力伝達装置を介して回転するエンコーダを試験する試験装置が、入力軸の回転を制御するとともに、入力軸の回転位置と出力軸の回転位置との誤差を検出する制御部を備える。 - 特許庁

This device further comprises a test control device which is operated by an artificial operation to energize the testing means 25 and operates the elevator body 2 to the position where the fire detector 24 is opposed to the testing means 25 and operated thereby to tentatively operate the fire detector 24.例文帳に追加

そして、人為操作により動作して試験手段２５を付勢し、かつ火災検出器２４に試験手段２５が対向し火災検出器２４が動作する位置に昇降体２を運転して、火災検出器２４を試験的に作動させる試験用制御装置を設ける。 - 特許庁