「testing device」に関連した英語例文の一覧と使い方(76ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a testing method for a semiconductor device whose measurement accuracy will not be lowered, even when the temperature fluctuates, while an IC chip is being measured.例文帳に追加

ＩＣチップを測定中に温度が変動しても測定精度が低下しない半導体装置の試験方法を提供する。 - 特許庁

SYSTEM, METHOD AND DEVICE FOR TESTING SIMPLE IP CONNECTION OF ATM LINE例文帳に追加

ＡＴＭ回線簡易ＩＰ接続試験システム、ＡＴＭ回線簡易ＩＰ接続試験方法、ＡＴＭ回線簡易ＩＰ接続試験装置 - 特許庁

To surely preclude a connection wire rope from being separated, and to prevent a testing vehicle from damaging a dolly device.例文帳に追加

連結用ワイヤロープが確実に離脱されるようにすると共に、テスト車両がドーリー装置を損傷させないようにすることである。 - 特許庁

To shorten time for determining a measuring range of a measured wavelength in a sweep synchronizing testing device for carrying out measurement quickly.例文帳に追加

掃引同調試験装置における被測定波長の測定範囲の決定の時間を短縮して、測定を迅速に行なう。 - 特許庁

To provide a tire testing device for measuring accurate tire characteristics by fully increasing a temperature of treads by traveling.例文帳に追加

走行によりトレッドの温度を十分に上昇させ、正確なタイヤ特性を測定可能とするタイヤ試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a TFT array and its testing device capable of measuring an amount of current of a transistor for driving and testing presence/absence of defects of pixels at a state close to an actual use state in current copy type pixels.例文帳に追加

カレントコピー型の画素において、実使用状態に近い状態で、駆動用トランジスタの電流量を測定し、画素の欠陥の有無を試験することが可能なＴＦＴアレイおよびその試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a parts testing device and a parts testing method capable of shortening the rising time of a tester by achieving the shortening of the temperature rising or falling time in a test chamber and easy in maintenance.例文帳に追加

試験用チャンバ内における昇温または降温時間の短縮を図り、試験装置の立ち上がり時間を短くすることが可能であり、しかも、メンテナンスが容易な部品試験装置および試験方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a method for testing a projection optical system and a testing device or the like by which the optical performance of a liquid-immersion type projection optical system wherein a liquid is arranged on the side of an image surface can be tested accurately and easily.例文帳に追加

像面側に液体が配置される液浸式の投影光学系の光学性能を精確且つ容易に検査することができる投影光学系の検査方法及び検査装置等を提供する。 - 特許庁

To provide a test method and a testing device of a semiconductor integrated circuit capable of testing the semiconductor integrated circuit without generating overshoot of a supply voltage, and to provide the semiconductor integrated circuit.例文帳に追加

半導体集積回路の試験を、電源電圧のオーバーシュートを生じることなく行うことができる半導体集積回路の試験方法および試験装置、並びに、半導体集積回路の提供を図る。 - 特許庁

To provide an improved cold thermal shock test device allowing a plurality of researchers to perform cold thermal shock tests of a plurality of kinds of objects for testing mixed in a testing chamber without causing confusion.例文帳に追加

冷熱衝撃試験装置を改良するものであり、複数の研究者が１つの試験室に複数種類の被試験物を混在させて冷熱衝撃試験をする場合の混乱を解消することを目的とする。 - 特許庁

To provide a material testing machine allowing optimum detail display in response to a processing item from a graph displaying a test result, even without sufficient knowledge about the testing machine and without skill in an operation for a device.例文帳に追加

試験機に関する知識が乏しくとも、また、装置の操作に習熟していなくても、試験結果を表すグラフから処理項目に応じた最適な詳細表示を行うことのできる材料試験機を提供する。 - 特許庁

This testing device is equipped with a plurality of test modules for testing a plurality of devices to be tested, and the central processing unit for controlling test operation of the plurality of test modules based on a designated operation mode.例文帳に追加

複数の被試験デバイスの試験を行う複数の試験モジュールと、指定された動作モードに基づいて複数の試験モジュールの試験動作を制御する中央処理装置とを備える試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor-testing apparatus for efficiently and easily increasing the number of devices to be tested simultaneously corresponding to the bit configuration of the I/O pin of the device to be tested when simultaneously testing the plurality of devices to be tested.例文帳に追加

本発明は、複数の被試験デバイスを同時試験する場合に、被試験デバイスのＩ／Ｏピンのビット構成に対応して同時試験個数を効率よく容易に増加できる半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

The device 1 sets a temperature change rate when changing the testing environment temperature between a low-temperature set temperature and a high-temperature set temperature, and changes the testing environment temperature as set.例文帳に追加

熱疲労評価装置１は、試験環境温度を低温設定温度と高温設定温度との間で変化させる際の温度変化率を設定し、この設定通りに試験環境温度を推移させることができる。 - 特許庁

To provide a semiconductor device capable of observing the internal signal in a substantially actual state, and moreover capable of grasping the difference of quality of the signal wave shapes caused by different testing environments or testing devices.例文帳に追加

内部信号を実際の波形状態に近い状態で観測することができ、しかも、試験環境や試験装置の違いによる信号波形の品質の違いをも把握することができる半導体装置を提供する。 - 特許庁

To obtain a testing method of radar proper for a testing method for radar during mass production, by making target detection performance of an FM-CW radar, capable of inspecting easily and in a short time, and to provide its device at low cost.例文帳に追加

ＦＭ−ＣＷレーダのターゲット検出性能を安価な設備で容易かつ短時間で検査できるようにして、レーダの大量生産時の試験方式として好適なレーダ試験方法および装置を得ること。 - 特許庁

To provide a testing socket used for measuring electrical characteristics of a semiconductor device and capable of further preventing a solder attachment from being attached thereto; and to provide a further simple manufacturing method of a contact terminal of a testing socket.例文帳に追加

半導体装置の電気的諸特性の測定を行うテスト用ソケットであって、ハンダ凝着物がより付着しにくいもの、および、より簡易なテスト用ソケットの接触端子の製造方法を提供する。 - 特許庁

In this air filter testing device, air containing testing particles is introduced into a filter storage part 2 for storage-fixing an air filter 3 for a radioactive aerosol, to test the performance such as particle collection efficiency of the air filter 3.例文帳に追加

放射性エアロゾル用のエアフィルタ３が収納固定されるフィルタ収納部２に、試験用粒子を含む空気を導入して、エアフィルタ３の粒子捕集効率等の性能を試験するエアフィルタ試験装置である。 - 特許庁

To provide a foam discharge testing device and a foam discharge testing method by which the time and labor for the foamg discharge test of a foam fire extinguishing equipment is eliminated, the cost for an inspection is inexpensive, and the possibility of contaminating environment is small.例文帳に追加

泡消火設備の泡放出試験に手間がかからず、点検に要する経費も低廉で、環境を汚染するおそれの少ない泡放出試験装置および泡放出試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide an engine testing device that easily and properly reproduces an engine behavior of an actual vehicle at an abrupt change in engine rotation speed such as at the time of engine start-up or speed change, and to provide an engine testing method.例文帳に追加

エンジン始動時や変速時などのエンジン回転速度の急変時における実車でのエンジン挙動を容易かつ的確に再現することのできるエンジン試験装置及びエンジン試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a roof tile lifting load testing device and its method capable of testing mounting strength of a roof tile in the conditions similar to the actual constructed conditions on the roof of a building.例文帳に追加

実際に建物の屋根に施工された状態に近い状態において、屋根瓦の取付強度に関する試験を行うことができる瓦の引き上げ荷重試験装置及び瓦の引き上げ荷重試験方法を提供する。 - 特許庁

The testing device having a plurality of replaceable test modules that supply test signals to devices to be tested is emulated to verify a testing environment without use of the real items such as the devices to be tested and the test modules.例文帳に追加

試験信号を被試験デバイスにそれぞれ供給する交換可能な複数の試験モジュールを備える試験装置をエミュレートし、被試験デバイスや試験モジュール等の実物を用いることなく試験環境を検証する。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit testing apparatus and a method, capable of acquiring digital waveform data wherein the position on the time base is accurate, when testing a test object device for outputting analog signal.例文帳に追加

アナログ信号を出力する被試験対象デバイスを試験する場合において、時間軸上の位置が正確なデジタル波形データを得ることのできる半導体集積回路試験装置及び方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method, a device and a test piece for testing rubbing strength capable of testing the rubbing strength in a bonding face end part of the test piece between a metal material and a synthetic resin material, without providing an initial crack.例文帳に追加

初期亀裂を設けることなく試験片の金属材料と合成樹脂材料との接着面端部での摺り強度を試験することができる摺り強度試験方法及び装置、試験片を提供する。 - 特許庁

In Japan, global standardization activities have developed by taking advantage of the measures undertaken by the national government, while solidifying the foundation built in the areas of terminology, testing and evaluation, and testing methods. Based on the “MEMS Standardization Roadmap,” continuous efforts are being made to create and submit global standardization proposals for product and device specifications.例文帳に追加

我が国では、国の施策を活用しながら、用語や評価試験方法で足固めをしつつ、「MEMS標準化ロードマップ」を踏まえ、継続的に製品・デバイス規格の作成・提案へと展開している。 - 経済産業省

A bending deflection shape measuring device incorporated into the three-point bending testing device includes a movable noncontact displacement gage 4, its sending device 5, a sending amount control device 6, a sending amount measuring device 7, a data recording device 8 and a data analyzer 9.例文帳に追加

３点曲げ試験装置に組み込まれた曲げたわみ形状測定装置であり、移動可能な非接触変位計４と、その送り装置５と、送り量制御装置６と、送り量測定装置７と、データ収録装置８と、データ解析装置９からなる。 - 特許庁

The testing device includes: a dead band setting part for inputting velocity signals for the front and rear wheels of the testing device respectively and preventing output if a preset velocity difference is within a prescribed value; and a dead band determination part for determining the existence of signals due to the dead band setting part.例文帳に追加

試験装置の前後輪用の速度信号をそれぞれ入力し、予め設定された速度差が所定値以内では出力を阻止するデッドバンド設定部と、このデッドバンド設定部による信号の有無を判定するデッドバンド判定部を設ける。 - 特許庁

To provide a network testing apparatus which when testing whether or not a relay device for establishing an Ethernetwork mounts an Ethernet-OAM, easily carries the test and carries out the test only with the relay device which is minimally necessary for a various test.例文帳に追加

イーサネットワークを構築する中継装置がＥｔｈｅｒｎｅｔ−ＯＡＭを実装しているか否かを試験するのに際して、簡単に試験を実施することが可能であることと、各種試験に必要な最低限の中継装置のみで試験を実施することを課題とする。 - 特許庁

The semiconductor testing apparatus 1 includes a tester controller 10 for controlling the semiconductor testing apparatus 1, a redundancy system 20 for performing redundancy computation using a test result of a semiconductor device, and an instantaneous interruption detection device 30 for detecting the instantaneous interruption which occurs in a bus B.例文帳に追加

半導体試験装置１は、半導体試験装置１を統括制御するテスタコントローラ１０と、半導体デバイスの試験結果を用いてリダンダンシ演算を行うリダンダンシシステム２０と、バスＢで生ずる瞬低を検出する瞬低検出装置３０とを備える。 - 特許庁

To enable the use of elements in a spare region as spare elements after verification of a semiconductor testing apparatus, by electrically providing defective elements, without physically destroying the elements, in a semiconductor device for verifying a semiconductor testing apparatus that tests the semiconductor device.例文帳に追加

半導体装置を試験する半導体試験装置を検証するための半導体装置において、素子を物理的に破壊せずに電気的に不良素子を設け半導体試験装置の検証後スペア領域の素子をスペア素子として使用することができるようにする。 - 特許庁

To provide a rolling/sliding fatigue life testing method for steel materials such as a material for rolling motion components and the like, capable of minimizing disturbances, simulating an actual device as possible, and efficiently generating early breakage caused by hydrogen brittleness, and a testing device for this method.例文帳に追加

なるべく外乱が少なく、なるべく実機を模擬して、水素脆性起因の早期損傷を効率よく起こさせることができる転動部品材料等の鋼製材料の転がりすべり疲労寿命試験方法およびその試験装置を提供する。 - 特許庁

In this card torsion testing device, the card can be mounted or dismounted easily, and the card can be set simply without replacing a component of the testing device even to a card having the different card length such as an extended specification.例文帳に追加

本発明のカードのねじり試験は、カードの取付け取外しを容易にし、エクステンデット規格等のカード長さの異なったカードに対しても試験装置の部品を交換することなく、簡単にカード設定が可能なカードのねじり試験装置の提供を目的とする。 - 特許庁

In this card bending testing device, the card can be mounted or dismounted easily, and the card can be set simply without replacing a component of the testing device even to a card having the different card length such as an extended specification.例文帳に追加

本発明のカードの曲げ試験は、カードの取付け取外しを容易にし、エクステンデット規格等のカード長さの異なったカードに対しても試験装置の部品を交換することなく、簡単にカード設定が可能なカードの曲げ試験装置の提供を目的とする。 - 特許庁

To provide a biological testing device and a biological testing method, efficiently picking a precise ultrasonic image in a short time, and reducing variation in test result depending on the ability of an operator using the device and operator's mental burden.例文帳に追加

的確な超音波画像を短時間に効率的に採取することができ、使用する操作者の習熟度による検査結果のばらつき及び操作者の精神的負担を軽減することが可能な生体検査装置及び生体検査方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a device and a method for updating a control program which is capable of assigning control program updating work easily without deteriorating operational efficiency of an apparatus for testing a semiconductor integrated circuit and an apparatus for testing a semiconductor integrated circuit equipped with the above device.例文帳に追加

半導体集積回路試験装置の稼働効率を低下させず、且つ、容易に制御プログラム更新作業の割り当てを行うことができる制御プログラム更新装置及び方法並びに当該装置を備える半導体集積回路試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a test module used for verifying proper arrangement of a light-emitting device on an electronic assembly, by testing light color and light intensity on the light-emitting device.例文帳に追加

発光デバイス上で色及び光度試験を実施することにより、電子アセンブリ上の発光デバイスの適正な配置を検証するために用いられるテストモジュールを提供する。 - 特許庁

Test systems (10, 25) contain generators (12, 22) and analyzers (13, 21) that co-operate for testing a device (11) provided with a plurality of device communication channels.例文帳に追加

本発明のテストシステム（１０，２５）は、複数の装置通信チャネルを有する装置（１１）をテストするために共働動作する発生器（１２，２２）及び解析器（１３，２１）を含む。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory device capable of performing testing at an actually operating speed of the semiconductor memory device, and capable of reducing the number of input/output terminals of a tester required for connection.例文帳に追加

半導体記憶装置の実動作速度でテストを行い、且つ接続に要するテスターの入出力端子数を削減できる半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

To conduct a loop-back test including the intermediate testing device as an intermediate element even for an exchange where an intermediate element can not be specified as the address of the device conducting the loop-back test.例文帳に追加

ループバック試験を行う装置のアドレスとして中間要素を指定できない交換機であっても、中間試験装置を中間要素としたループバック試験を実施する。 - 特許庁

To provide a burn-in device capable of unifying the internal temperature of a thermostatic bath while evading the complicated operation at the time of inserting the testing device into the burn-in board.例文帳に追加

被試験デバイスをバーンインボードに挿入する際の作業の煩雑化を回避しつつ、恒温槽内部の温度の均一化を図ることのできる、バーンイン装置を提供する。 - 特許庁

To reduce the occupying space of an aging testing device by improving the yield and packaging density of the device by upgrading the accuracy of high- and low-temperature tests performed on magnetic disk devices.例文帳に追加

磁気ディスク装置の高低温試験における試験精度改善による歩留まり向上及び実装密度向上によるエージング試験装置の省スペース化。 - 特許庁

ARTICLE RECOGNITION METHOD AND ITS SYSTEM, SURFACE MOUNTING MACHINE EQUIPPED WITH THE SYSTEM, COMPONENT-TESTING ARRANGEMENT, DISPENSER, MOUNTED SUBSTRATE INSPECTION DEVICE AND PRINTED BOARD INSPECTION DEVICE例文帳に追加

物品認識方法及び同装置、並びに同装置を備えた表面実装機、同部品試験装置、同ディスペンサ、同実装基板検査装置及び同印刷基板検査装置 - 特許庁

An engine testing device 10 comprises: a dynamometer 14 for applying a load to an engine 12 to be tested; and a control device 20 that controls the engine 12 and the dynamometer 14.例文帳に追加

エンジン試験装置１０は、試験対象であるエンジン１２に負荷を与えるダイナモメータ１４と、エンジン１２及びダイナモメータ１４を制御する制御装置２０とを備える。 - 特許庁

To provide a testing device for repulsive type hardness meter, dispensing with a computer or a control device and which becomes inexpensive by mechanically renewing and moving a test hitting position.例文帳に追加

検定打撃位置を機械的に更新移動させることにより、コンピュータや制御機器が不要で安価となる反発式硬度計の検定装置を目的とする - 特許庁

To provide a device and for testing flexibility capable of readily and quickly changing the width of the back and forth movement of a part of an object to be tested, and to provide a method for the device.例文帳に追加

容易かつ迅速に被試験物の一部の往復移動の幅を変化させることが可能な耐屈曲性試験装置および耐屈曲性試験方法を提供する。 - 特許庁