「testing device」に関連した英語例文の一覧と使い方(75ページ目) - Weblio英語例文検索

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE, CIRCUIT AND METHOD FOR TESTING SAME, AND METHOD FOR FORMING TEST PATTERN例文帳に追加

半導体集積回路装置および半導体集積回路装置の検査回路および検査方法および検査パターンの生成方法 - 特許庁

To provide a testing arrangement supplying test signal of proper voltage accordingly to the specification of the input terminal of a tested device.例文帳に追加

被試験デバイスの入力端子の仕様に応じて適切な電圧の試験信号を供給する試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor device for testing an internal integration circuit and also for checking impurity concentration by electric characteristics.例文帳に追加

内部集積回路の試験動作を行うとともに、不純物濃度を電気特性で確認する半導体装置を提供する。 - 特許庁

To provide a high-speed abrasion testing device, measuring abrasion loss of a rubber member in a selectively preset speed range.例文帳に追加

選択的に設定された速度域におけるゴム部材の磨耗量を計測することができる高速磨耗試験装置を得る。 - 特許庁

To provide a temperature testing device capable of dealing with wide a temperature range, and excellent in temperature changing efficiency at the time of changing measurement temperature.例文帳に追加

広い温度範囲に対応することができ、また、温度切換え時の変温効率に優れた温度試験装置を提供する。 - 特許庁

A target data generation portion 11a of a 1st testing device 10 generates target data of a data pattern extracted through complicated operation.例文帳に追加

第１の試験装置10のターゲットデータ生成部11aは、複雑な演算を元に抽出されるデータパターンのターゲットデータを生成する。 - 特許庁

To provide a voltage detection circuit test device for testing a voltage detection circuit simply, accurately in a short time.例文帳に追加

本発明は電圧検出回路を短時間に簡単かつ正確に試験する電圧検出回路試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a temperature testing device and a temperature adjustment method therefor, capable of performing a temperature test inexpensively and efficiently.例文帳に追加

低コストで効率的に温度試験を実施することができる温度試験装置およびその温度調整方法を提供する。 - 特許庁

To provide an environmental testing device capable of stably controlling the amount of dew condensation on a test object.例文帳に追加

被試験物に結露する結露量を安定して制御することができる環境試験装置を提供することを課題とする。 - 特許庁

To obtain a semiconductor device capable of shortening a testing time for a plurality of memory circuits having different configurations.例文帳に追加

構成が異なる複数のメモリ回路に対する試験時間の短縮を図ることのできる半導体装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a semiconductor device capable of shortening the time for testing, to two or more memory circuits with few misjudgment.例文帳に追加

判定誤りが少なく、複数のメモリ回路に対する試験時間を短縮することのできる半導体装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a magnetic storage device having a test mode for testing a memory cell and a spare memory cell itself for saving the reference cell.例文帳に追加

リファレンスセルおよびリファレンスセルを救済するスペアメモリセル自体を試験するテストモードを備えた磁気記憶装置を提供する。 - 特許庁

When a fault is not found, a signal showing that the mixed memory array contains no fault is given to the external testing device.例文帳に追加

障害が見つからなかった場合、メモリ混載アレーは障害を含まないことを示す信号を外部試験装置に与える。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit device which can markedly shorten time for testing a memory cell part with a small number of additional circuits.例文帳に追加

少ない付加回路でメモリセル部のテスト時間を大幅に短縮することができる半導体集積回路装置を実現する。 - 特許庁

To provide an LSI-testing adaptor, which can reduce costs for the test by suppressing an increase in the circuit scale of an LSI device.例文帳に追加

ＬＳＩデバイスの回路規模の増大を抑えたままテスト費用を削減することができるＬＳＩテスト用アダプタを提供する。 - 特許庁

To provide a device for rocking/rotation testing for carrying out both an endurance test and a performance test on machine parts, etc.例文帳に追加

機械部品等の耐久試験と性能試験との両方を行うことが可能な揺動回転試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a lubricating characteristic testing device of a transmission capable of executing easily attitude control of a transmission under test.例文帳に追加

試験用トランスミッションの姿勢制御を容易に行うことのできるトランスミッションの潤滑特性試験装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a fatigue testing device capable of vibrating easily a specimen in the running direction of a truck and in the vertical direction.例文帳に追加

供試体を台車の走行方向と上下方向とに容易に振動させることができる疲労試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit and its testing method and device capable of accomplishing an effective test of the integrated circuit and generating a scan design involving less entanglement of the wiring.例文帳に追加

半導体集積回路の効果的なテストを実現し、且つ、配線の錯綜の少ないスキャンデザインを提供する。 - 特許庁

To provide a testing method for easily securing the recording/reproduction quality of magnetic disk device in a low-temperature environment.例文帳に追加

低温環境下における磁気ディスク装置の記録再生品質を簡易に確保することができる試験方法を提供すること。 - 特許庁

To equally set the thermal impact to an electronic part that is a test sample in a thermal impact testing device to enhance the precision of test.例文帳に追加

熱衝撃試験装置において、被試験サンプルである電子部品の熱衝撃度を同一にし、試験の精度を上げる。 - 特許庁

To provide an error testing device with which an error test of required accuracy can be performed in a short time and directly with satisfactory efficiency, on the basis of a metered value.例文帳に追加

本発明は、計量値から直接、必要な精度の誤差試験を短時間で効率良く行うことを目的とする。 - 特許庁

To provide a wave-forming program allowing easy understanding and judgement of inspection data acquired by a testing device for Pachinko game machine.例文帳に追加

パチンコ遊技機用試験装置で取得した検査データを容易に理解・判断することができる波形化プログラムを提供する。 - 特許庁

To provide a rolling testing device for spun yarn capable of evaluating binding strength (binding looseness) of the spun yarn, with high reliability.例文帳に追加

紡績糸の結束強さ（結束の甘さ）を高い信頼性で評価できる、紡績糸の転がり試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a memory tester which offers a minimal hardware solution to an address problem in testing a packet-based memory device.例文帳に追加

パケットベースのメモリ素子の検査においてアドレス問題に対する最小のハードウエアによる解決法を提供するメモリテスタの提供。 - 特許庁

To provide a TCP handling device suitable for testing a TCP provided with contact portions for tests (test pads) at desired positions of leads.例文帳に追加

リードの所望の位置に試験用接触部（テストパッド）を設けたＴＣＰの試験に好適なＴＣＰハンドリング装置を提供する。 - 特許庁

To process a network testing system at high speed with a rate near the maximum data transfer rate of a network path or a network device.例文帳に追加

ネットワーク検査システムにおいて、ネットワーク経路またはネットワーク装置の最大転送速度に近い速度で処理できるようにする。 - 特許庁

To improve efficiency of operation in a test of a vehicular relay testing device, and to eliminate an accident at the same time.例文帳に追加

車両用継電器試験装置の試験における操作の効率化を図ると同時に事故を排除することを目的とする。 - 特許庁

To prohibit over-write-in and over-erasure of data with a bit unit in testing a function of a memory device such as a flash memory or the like.例文帳に追加

フラッシュメモリ等のメモリデバイスの機能試験に際し、ビット単位でデータの過剰書込み及び過剰消去を禁止する。 - 特許庁

To provide a game machine capable of easily testing a game device whose operation state is changed accompanying a probability variable state.例文帳に追加

確変状態に付随して作動状態が変化する遊技装置の試験を容易にすることが可能な遊技機を提供する。 - 特許庁

To provide a method for diagnosing devices via a remote testing device which is connectable to devices to be diagnosed via a communication network.例文帳に追加

通信ネットワークを介して被診断装置に接続可能な遠隔試験装置を介して装置を診断する方法を提供する。 - 特許庁

To provide a test circuit, a semiconductor integrated circuit and a power supply device, capable of testing correctly a signal to be tested.例文帳に追加

被テスト信号のテストを正しく行うことが可能なテスト回路，半導体集積回路および電源装置の提供を図る。 - 特許庁

To efficiently perform testing to be carried out when creating a control map stored and used in an engine control device.例文帳に追加

エンジン制御装置に格納されて使用される制御マップを作成するにあたり実施される試験を効率的に行うこと。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device of a network license system which is usable without lowering production efficiency/test efficiency.例文帳に追加

生産効率・テスト効率を低下させることなく使用できるネットワークライセンス方式の半導体試験装置を実現すること。 - 特許庁

MOBILE INTERNET MEASURING DEVICE WITH BASE STATION EMULATING FUNCTION, AND UL SYNCHRONIZATION ACQUISITION AND TERMINAL TESTING METHOD USING THE SAME例文帳に追加

基地局エミュレーティング機能を有する携帯インターネット計測器及びこれを利用したＵＬ同期取得及び端末のテスト方法 - 特許庁

To facilitate the fitting of the spline section between a torque converter and a testing device, to increase the number of torque converters to be tested, and to improve productivity.例文帳に追加

トルクコンバータと試験装置とのスプライン部の嵌合を容易にし、トルクコンバータの試験台数を増加し、生産性を高める。 - 特許庁

A boundary scan cell 1 in the semiconductor storage device (memory core) is disposed corresponding to each terminal 22 to execute boundary scan testing.例文帳に追加

半導体記憶装置（メモリコア）内のバウンダリスキャンセル１は、バウンダリスキャンテストを行なうために各端子２２に対応して設けられる。 - 特許庁

To provide a Kelvin connector which surely fixes a battery state testing device mechanically and electrically to a battery post.例文帳に追加

蓄電池の状態を試験するための器具をバッテリポストに対して機械的、電気的に確実に固定するケルビンコネクタを提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor storage device capable of independently testing a memory cell array section and a logic section in a memory circuit.例文帳に追加

メモリセルアレイ部とメモリ回路内ロジック部をそれぞれ独立してテストすることが可能な半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

The testing mainframe processes the n-bit code word further to determine whether or not the device satisfies a predetermined operability criterion.例文帳に追加

試験メインフレームはｎビットコードワードを更に処理して、装置が操作性の所定の判定基準に及第するか否かを決定する。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory device, whose test time can be reduced by simultaneously testing a plurality of memory devices.例文帳に追加

同時に複数個のメモリ装置をテストすることによってテスト時間を減らすことができる半導体メモリ装置を提供する。 - 特許庁

CARTRIDGE FOR MONITORING FUNCTION OF DEVICE FOR TESTING BLOOD PLATELET ACTION, METHOD FOR FUNCTION MONITORING, AND USE OF TEST FLUID例文帳に追加

血小板の働きを検査する装置の機能をモニタするためのカートリッジ、機能をモニタする方法および検査流体の使用 - 特許庁

To provide a semiconductor device, a testing method thereof and a semiconductor chip which is capable of independently inspecting the semiconductor chip.例文帳に追加

半導体チップを単独で検査することができる半導体装置およびその検査方法および半導体チップを提供する。 - 特許庁

The IC socket, for testing an IC having many electrodes, is mounted on a test device through a socket board.例文帳に追加

ＩＣソケットは、ソケットボードを介して試験装置に設置され、多数の電極を配列したＩＣを試験するために設けられている。 - 特許庁

To provide a testing mode control circuit of a semiconductor device that can execute plural kinds of test mode in an arbitrary order.例文帳に追加

複数種類のテストモードを任意の順番で実施することができる半導体装置のテストモード制御回路を提供する。 - 特許庁