「testing device」に関連した英語例文の一覧と使い方(74ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a method for confirming the operation of a crusher, a method for managing the accuracy of a pretreatment device for testing genes, and a sample analysis system, improving the reliability of the data of gene testing, by improving the reliability of crushing process as a pretreatment of gene testing.例文帳に追加

遺伝子検査の前処理である破砕処理の信頼性を向上させることにより遺伝子検査のデータの信頼性を高めることができる破砕装置の動作確認方法、遺伝子検査用前処理装置の精度管理方法及び試料分析システムを提供する。 - 特許庁

To provide a ground property testing method and a ground property testing device capable of measuring with high accuracy a displacement amount of the ground displaced by directly applying a load on a ground surface reached by an excavation head, and performing highly reliable ground property testing.例文帳に追加

掘削により到達した地盤表面に直接荷重をかけることで変位した地盤の変位量を高精度で測定することができ、信頼性の高い地盤の特性試験を行うことが可能な地盤特性試験方法及び地盤特性試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a deciphering processing testing device and a method by which abnormality in deciphering processing can easily be analyzed in occurrence of a fault in the deciphering processing of an opposed device by easily testing the deciphering processing of the opposed device by using a W-CDMA system, etc.例文帳に追加

Ｗ−ＣＤＭＡシステム等に用いる対向装置の秘匿解読処理を容易に試験することができ、対向装置の秘匿解読処理に障害が発生した時に秘匿解読処理の異常を容易に解析することができる秘匿解読処理試験装置及び方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a semiconductor device, its testing method and design method with which it can be decided whether or not the semiconductor device is defective or a test mode controller is defective, when the test result of the semiconductor device fails and by which testing time can be shortened and the yield be improved.例文帳に追加

半導体装置のテストが不合格の場合、半導体装置の故障なのか、テストモード制御装置が故障であったのかを判別することができ、またテスト時間の短縮と歩留りの向上を図ることができる半導体装置、そのテスト方法および設計方法を提供する。 - 特許庁

To provide an impact testing device capable of applying a reproducible impact force to a test object, and acquiring an accurate test result, concerning the impact testing device for performing an impact test of the test object or the like in the state where an electronic component is loaded on a substrate.例文帳に追加

電子部品を基板に搭載した状態の被試験物等の衝撃試験を行う衝撃試験装置に関し、被試験物に再現性のある衝撃力を加えることができ、正確な試験結果が得られる衝撃試験装置を実現する。 - 特許庁

To provide a testing device and a test method capable of testing whether a prepreg does not slide and can be easily removed or not, when the surface of the sheet-shaped prepreg has proper tackiness and is stuck onto a die with an automatic laminating device.例文帳に追加

シート状のプリプレグの表面が適度な粘着性を有していて、自動積層装置で金型上に貼り付けられた際に、滑らず、かつ、容易に剥がせるものであるかどうかを、簡便に試験できる試験装置および試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method for testing a semiconductor device capable of preventing lead-free solder from being attached to a contact terminal of a socket for test, when testing a semiconductor device having an external connection terminal soldered with lead-free solder by the socket for test.例文帳に追加

鉛フリー半田でめっきされた外部接続端子を有する半導体装置をテスト用ソケットにより検査する際に、テスト用ソケットの接触端子に鉛フリー半田が付着するのを防ぐことができる半導体装置の検査方法を得る。 - 特許庁

To obtain a tray conveyance device capable of moving and stopping a testing tray at a comparatively high speed, capable of shortening the index time of the test, and capable of improving the reliability of the test, a testing device and a test method.例文帳に追加

試験用トレイを比較的高速で移動および停止させることが可能であり、試験のインデックスタイムの短縮を図ることができ、且つ試験の信頼性を向上させることができるトレイ搬送装置、試験装置および試験方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a device for testing an insulation monitor which is prevented from being affected by the insulation monitor being a test object, by separating the device for testing from the insulation monitor physically and electrically, and thus can properly perform a test of the insulation monitor.例文帳に追加

絶縁監視装置と物理的・電気的に切り離すことで、試験対象である絶縁監視装置の影響を受けることがなく、それにより、絶縁監視装置の試験を適正に行うことができる絶縁監視装置の試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a diagnostic and testing device and method for a horse, in more details, a testing device, a kit and a method for confirming antibodies to equine albumin and hemoglobin, equine stomach and colon ulcers, other digestive tract hemorrhage and a position thereof.例文帳に追加

診断及び試験装置ならびに方法に関し、より詳細には、馬ヘモグロビン及びアルブミンに対する抗体ならびに馬の胃、結腸潰瘍及び他の消化管出血及び位置確認するための試験装置、キット及び方法を提供する。 - 特許庁

This testing device for testing a device to be tested is equipped with a test module for supplying test data to a device under test, a test program storage part for storing a plurality of test programs for realizing respectively a plurality of test sequences, and a control device for controlling operation by the test module by performing the test program.例文帳に追加

被試験デバイスを試験する試験装置であって、被試験デバイスに試験データを供給するテストモジュールと、複数の試験シーケンスをそれぞれ実現する複数の試験プログラムを格納する試験プログラム格納部と、試験プログラムを実行することによりテストモジュールによる動作を制御する制御装置とを備える。 - 特許庁

To provide a manufacturing method for an actuator, that prevents physical breakage such as crack, chip, or fracture while increasing the rigidity, and provide a switch device including the actuator, and a testing device including the switch device.例文帳に追加

剛性を高めつつ、割れ、欠け、またはヒビ等の物理的な破壊を防ぐアクチュエータの製造方法、およびアクチュエータを備えるスイッチ装置、スイッチ装置を備える試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a method for testing a bearing device that can easily select even when erroneous assembly of a constitution member composing a bearing device occurs, and to provide its manufacturing method and the bearing device.例文帳に追加

軸受装置を構成する構成部材の誤組付けが生じても容易に選別を行うことが可能な軸受装置の検査方法及び製造方法、軸受装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a cleaning sheet and method for cleaning a base substrate- treating device evading foreign materials such as a producing device or testing device of e.g. a semiconductor, flat panel display, printing base substrate, etc.例文帳に追加

本発明は、例えば、半導体、フラットパネルディスプレイ、プリント基板などの製造装置や検査装置など、異物を嫌う基板処理装置のクリーニングシート及びクリーニング方法を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device capable of suppressing cost increase, easily transferring miniaturizing devices, and suppressing decline in the quality of the device or working ratio decline of a manufacturing device.例文帳に追加

コスト増大を抑制し、小型化するデバイスの搬送も容易に行なえ、さらにはデバイスの品質低下や製造装置の稼動率低下をも抑制可能な半導体検査装置を提供する。 - 特許庁

To simplify the constitution of an environmental testing device for electronic parts so as to remarkably reduce the cost and size of the device, and to make the device compact even when an automatic entrance opening/ closing mechanism section is additionally provided in a limited space.例文帳に追加

限られたスペースに自動開閉式の出入口開閉機構部を付設する場合であっても、構成の簡易化を実現し、大幅なコストダウン及び小型コンパクト化を図る。 - 特許庁

To provide a testing device capable of measuring accurately a supply current of an electronic device by removing fluctuations of a sub-threshold leak current of a field effect transistor included in the electronic device.例文帳に追加

電子デバイスに含まれる電界効果トランジスタのサブスレッショルドリーク電流の変動を無くし、電子デバイスの電源電流を精度よく測定することのできる試験装置を提供する。 - 特許庁

To prevent a reverse power flowing to an AC power system when a power conversion device is anomalous with respect to a testing device with an interconnection inverter device as a dummy load for testing the operation of a DC power supply including the power supply device for converting an AC power into a DC power and an auxiliary power supply device.例文帳に追加

交流電力を直流電力に変換する電力変換装置と補助電源装置とを備えた直流電源の動作試験を行うための擬似負荷として、系統連系インバータ装置を備えた試験装置において、電力変換装置の異常時に交流電力系統への逆潮流が発生するのを防止する。 - 特許庁

In the automatic testing system 1, the automatic testing device 20 selects an appropriate measuring device from among a plurality of measuring devices 21a, 21b, 21c provided according to test items to a device 10 to be tested, measures the device 10 to be tested through the use of a selected measuring device, collects and processes measurement data on it, and creates test result data.例文帳に追加

この発明の自動試験システム１において、自動試験装置２０は、被試験機１０に対する試験項目に応じて、具備する複数の測定器２１ａ，２１ｂ，２１ｃから適切な測定器を選択し、選択した測定器を用いて被試験機１０を測定し、その測定データを収集処理して試験結果データを生成する。 - 特許庁

In the semiconductor testing device for storing pieces of pattern data of predetermined channel numbers and bits for controlling jumps of patterns at different addresses of a pattern memory, and testing DUTs, the testing device includes a mask control unit which masks the bits for controlling jumps read out from the pattern memory, when only the pieces of pattern data of predetermined channel numbers are used and no pattern jumps are performed.例文帳に追加

所定チャンネル数のパターンデータとパターンのジャンプを制御するビットをパターンメモリの異なるアドレスに記憶させてＤＵＴの試験をする半導体試験装置において、所定チャンネル数のパターンデータのみを使用してパターンのジャンプを行わない場合に、パターンメモリから読み出されたジャンプを制御するビットをマスクするマスク制御部を設ける。 - 特許庁

This leak testing system is provided with a pre-processor 10 putting the work W in the pressurized helium atmosphere, a lead testing device 50 performing the helium leak test on the work W, a transfer mechanism 40 carrying out the work W from the pre-processor 10 and setting it on the leak testing device 50, and a controller 90 controlling the devices 10 and 50 and the mechanism 40.例文帳に追加

リークテストシステムは、ワークＷを加圧ヘリウム雰囲気に置く前処理装置１０と、ワークＷのヘリウムリークテストを行うリークテスト装置５０と、ワークＷを前処理装置１０から搬出し、リークテスト装置５０にセットする転送機構４０と、これら装置１０，５０及び機構４０を制御するコントローラ９０とを備えている。 - 特許庁

To simplify a device and to reduce cost without needing to provide an exclusive terminal for an output monitor in adding a testing function.例文帳に追加

テスト機能を付加するに際し、出力モニタ専用に端子を設ける必要がなく、デバイスの簡素化およびコストの低減を図る。 - 特許庁

To provide a sample fixing device which fixes properly a sample on a sample stand with a simple mechanism, and also to provide a hardness testing machine.例文帳に追加

簡易な機構で試料を試料台に好適に固定する試料固定装置及び硬さ試験機を提供することである。 - 特許庁

To provide a game machine which facilitates the testing of a game device in which working states vary following the variable probability state.例文帳に追加

確変状態に付随して作動状態が変化する遊技装置の試験を容易にすることが可能な遊技機を提供する。 - 特許庁

To provide a game machine which can facilitate the testing of a game device which causes changes in operation state associated with the variable probability state.例文帳に追加

確変状態に付随して作動状態が変化する遊技装置の試験を容易にすることが可能な遊技機を提供する。 - 特許庁

To provide a tire travel testing device capable of obtaining a travel test of high reliability, with simple constitution.例文帳に追加

簡単な構成でありながら、信頼性の高い走行試験結果が得られるようにしたタイヤ走行試験装置を提供する。 - 特許庁

An IC tester diagnosing device for diagnosing an IC tester for testing an examined object is improved in the present invention.例文帳に追加

本発明は、被試験対象を試験するＩＣテスタの診断を行うＩＣテスタ診断装置に改良を加えたものである。 - 特許庁

An outlet, formed at the second end of the hollow body, is adapted for coupling a testing device to an interior volume of the hollow body.例文帳に追加

中空体の第２の端に形成される出口が、試験装置を中空体の内容積部に結合するようになっている。 - 特許庁

To provide an improved method and device for programming and operating automatic testing equipment that are improved more, as compared with those of prior art.例文帳に追加

従来技術に対して、より改善された自動テスト機器をプログラミングし操作する方法および装置が要求される。 - 特許庁

To provide a semiconductor device which is capable of making an entry into a testing mode without using excessive terminals.例文帳に追加

本発明は、余計な端子を使用することなく試験モードにエントリ可能な半導体装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide an electronic component handling device for testing an electronic component to be tested having input/output terminals provided on both sides.例文帳に追加

両面に入出力端子が配置された被試験電子部品を試験するための電子部品ハンドリング装置を提供する。 - 特許庁

CONTACTOR, FRAME WITH THIS TYPE OF CONTACTOR, ELECTRICAL MEASUREMENT AND TESTING DEVICE AND CONTACTING METHOD USING THIS TYPE OF CONTACTOR例文帳に追加

接触器、この種の接触器を備えたフレーム、電気的測定および試験装置およびこの種の接触器による接触方法 - 特許庁

To provide a template preparation device capable of easily defining and reviewing the specification of a template and easily debugging and testing the template.例文帳に追加

テンプレートの仕様の定義およびレビューと、テンプレートのデバックおよびテストとが容易なテンプレートを作成する装置を提供する。 - 特許庁

To provide a device for testing rocking rotation, capable of performing both endurance test and performance test of a machine component or the like.例文帳に追加

機械部品等の耐久試験と性能試験との両方を行うことが可能な揺動回転試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device capable of shortening a time necessary for skew adjustment, and to provide a method of adjusting the same.例文帳に追加

スキュー調整に要する時間を短縮することができる半導体試験装置及びその調整方法を提供する。 - 特許庁

To provide an impedance matching device having a test function for testing whether or not the mechanical part of a variable impedance element is normal.例文帳に追加

可変インピーダンス素子の機構部が正常であるか否かを検査する機能を備えたインピーダンス整合装置を提供する。 - 特許庁

To provide a pipe testing device which can easily and accurately test the finishing of a steel pipe before lining by a simple data measuring.例文帳に追加

簡単なデータ測定により容易にかつ正確に原管の仕上り検査を可能にした原管検査装置を提供する。 - 特許庁

To increase the use rate of an input/output pin of a measurement device and to increase the number of measured devices to be simultaneously subjected to measurement testing.例文帳に追加

測定装置の入出力ピンの使用率を高め、同時に測定試験を行える被測定デバイスの数を増加させる。 - 特許庁

To provide a device that can erect testing pole corresponding to various diameters of the poles, and at the same time, can surely maintain the erected state.例文帳に追加

種々の柱径に対応して試験柱を立設することができ、かつ、立設状態を確実に維持できる装置を提供する。 - 特許庁

To provide a d.c. characteristic testing device that is high in measuring accuracy in VSIM mode and can correspond to both DC tests.例文帳に追加

ＶＳＩＭモードにおける測定精度が高く、双方のＤＣテストに対応できる直流特性試験装置を提供する。 - 特許庁

The engine testing device 10 comprises a shaft 20; a motor 42 for rotating the shaft 20; and a chuck unit 50.例文帳に追加

本発明に係るエンジン試験装置１０は、主軸２０と、主軸２０を回転させるモータ４２と、チャックユニット５０を備える。 - 特許庁

To provide a pre-winder device capable of dispensing with mounting, disassembling, reassembling, and testing of a spacer or a shim.例文帳に追加

スペーサまたはシムの装着、分解、再組立て、および試験の反復を不要にできるプリワインダ装置を提供することにある。 - 特許庁

To obtain a circuit testing device which tests a logic circuit without stopping a system using the logic circuit, with a simple configuration.例文帳に追加

簡易な構成で論理回路を用いたシステムを停止させることなく論理回路の試験を行なう回路試験装置を得ること。 - 特許庁

To provide a test device for testing a semiconductor integrated circuit in a short time without applying excessive stress.例文帳に追加

過剰なストレスを付加することなく、短時間で半導体集積回路を試験することが可能な試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a bending fatigue testing device that is miniaturized by giving bending stress with a simple configuration.例文帳に追加

簡素な構成で曲げ応力を与えるようにすることにより、小型化を図ることができる曲げ疲労試験装置を提供する。 - 特許庁