「testing device」に関連した英語例文の一覧と使い方(70ページ目) - Weblio英語例文検索

The radio base station device 4 of the present invention sends a monitor/control signal to a monitor device 1 loop back to the radio-side interface in the radio base station device 4 and uses a testing call for the monitor/control signal set in the radio base station device 4 to has a function capable of monitoring and control from a testing monitor device 7.例文帳に追加

本発明の無線基地局装置４は、監視装置１への監視・制御信号を無線基地局装置４内部で無線側インタフェースに折り返し、無線基地局装置４内に設定した監視・制御信号用の試験用呼を使って、試験用監視装置７から監視、制御ができる機能を保有する。 - 特許庁

This semiconductor testing system is provided with a semiconductor test equipment for feeding test signal to the device under test and testing the device under test, the performance board for electrically connecting the semiconductor test equipment with the device under test, and a carrier device for conveying the device under test to electrically connect it with the performance board.例文帳に追加

半導体試験システムは、被試験デバイスに試験信号を供給し、被試験デバイスの試験を行う半導体試験装置と、半導体試験装置と被試験デバイスとを電気的に接続するパフォーマンスボードと、被試験デバイスを搬送し、パフォーマンスボードに被試験デバイスを電気的に接続させる搬送装置とを備える。 - 特許庁

To provide a method for reflectrometric testing of an optical transmission line gF from an optical transmission and reception device TRx, and also to provide an optical device and an optical transmission and reception device therefor.例文帳に追加

光送受信装置ＴＲｘから光伝送路ｇＦの反射試験を行う方法、ならびに、そのための光装置および光送受信装置を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor-testing device which can cope with a change in standards, such as the arrangement, number, size, and PKG size of device pins in a semiconductor device to be tested.例文帳に追加

試験対象の半導体装置のデバイスピンの配置、数、およびサイズならびにＰＫＧサイズなどの規格に変更があっても対応可能な半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

When the adjustment mode switch of the radar device is turned on, the radar device is shifted to self adjustment mode and is automatically calibrated through loopback test using the testing device.例文帳に追加

そして、レーダ装置の調整モードスイッチをＯＮすると、レーダ装置が自己調整モードに移行し、試験装置を介したループバック試験で自動的にキャリブレーションが行われる。 - 特許庁

A testing device 900 tests a communication control device 10, which functions as a route information managing device managing route information for transmitting and receiving communication data.例文帳に追加

試験装置９００は、通信データを送受信するための経路情報を管理する経路情報管理装置として機能する通信制御装置１０を試験する。 - 特許庁

To provide a testing device capable of reducing an effect of a leakage current varied in response to a temperature of a device under test, and capable of determining precisely quality of the device under test.例文帳に追加

被試験デバイスの温度に応じて変化するリーク電流の影響を低減し、被試験デバイスの良否を精度よく判定することができる試験装置を提供する。 - 特許庁

A testing device 900 tests a communication control device 10 which functions as a database access control device that controls access to the data stored in a database server.例文帳に追加

試験装置９００は、データベースサーバに格納されたデータに対するアクセスを制御するデータベースアクセス制御装置として機能する通信制御装置１０を試験する。 - 特許庁

This sort of testing device 10 can apply stress to the semiconductor device X stably and can easily confirm the semiconductor device X to which stress has been applied.例文帳に追加

このような試験装置１０では、半導体装置Ｘに安定して応力を加えることができ、応力が加えられた半導体装置Ｘを容易に確認できる。 - 特許庁

A testing device 900 tests a communication control device 10 which functions as a file access control device that controls access to the file stored in a file server.例文帳に追加

試験装置９００は、ファイルサーバに格納されたファイルに対するアクセスを制御するファイルアクセス制御装置として機能する通信制御装置１０を試験する。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device which easily inputs into a semiconductor device, test information necessary for an operation test of the semiconductor device to be tested.例文帳に追加

被試験デバイスである半導体装置の動作テストに必要なテスト情報を、容易に半導体装置に入力することのできる、半導体テスト装置を提供する。 - 特許庁

To provide an alcohol testing device capable of making it difficult for impersonators to be examined as someone else in alcohol testing and rationalizing roll call by specifying subjects through the use of biological information even when no roll caller is present during the alcohol testing of breath.例文帳に追加

生体情報を利用して被験者を特定することにより、呼気中のアルコール検査時に点呼者の立ち会いがなくても、なりすましによりアルコール検査を受けることが困難であり、点呼作業の合理化を図ることのできるアルコール検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a device of testing the dynamic balance and/or uniformity of a tire with a wheel, which can conduct a test in substantially the same number of steps as that when testing a single kind of a tire, even when testing a plurality kinds of tires significantly different in terms of hub hole diameter.例文帳に追加

ハブ穴径が大幅に異なる複数種類のタイヤを試験する場合であっても、単一種類のタイヤを試験する場合とほとんど変わらない工数で試験を実施可能な、ホイール付きタイヤの動釣合および／またはユニフォーミティ試験装置を提供する。 - 特許庁

In the method of manufacturing the semiconductor device, the semiconductor package is conveyed to a testing socket while the periphery of the semiconductor package is being held, for electrical testing of a dual-face type package to perform the electrical testing; then, the semiconductor package is taken out.例文帳に追加

本願の一つの発明は、デュアルフェイス型パッケージの電気的なテストにおいて、半導体パッケージの周辺部を保持した状態で、半導体パッケージをテスト用ソケットに搬送し、電気的なテストの後、そこから搬出する半導体装置の製造方法である。 - 特許庁

For each testing item on the semiconductor device, setting processes for respectively setting a voltage, an input/output level, and a plurality of measurement patterns are combined mutually for setting a testing condition, power is turned on, testing and result determination is carried out for a plurality of measurement patterns, and then, the power is turned off.例文帳に追加

半導体デバイスのテスト項目ごとに、電圧，入出力レベル，複数の測定パターンをそれぞれ設定する処理を組み合わせてテスト条件を設定し、パワーオンを行い、複数の測定パターンに対してテスト実行，結果判定を行い、パワーオフを行う。 - 特許庁

In addition, the optical pulse testing device suppresses output light intensity of DFB-LD 2-1 to 2-N up to a degree not generating induced brillouin scattering in a fiber to be tested 18, and increases the intensity of total testing light pulses by wavelength-multiplexing each output light (testing light).例文帳に追加

また、ＤＦＢ−ＬＤ２−１〜２−Ｎの出力光強度を、被試験ファイバ１８において誘導ブリルアン散乱を生じない程度にまで抑えるとともに、各出力光（試験光）を波長多重することでトータルの試験光パルスの強度を増加させる。 - 特許庁

CONNECTION STRUCTURE OF HIGH-FREQUENCY DEVICE, HIGH- FREQUENCY MODULE USING THE SAME, AND TESTING METHOD OF HIGH-FREQUENCY DEVICE USING THE HIGH-FREQUENCY MODULE例文帳に追加

高周波デバイスの接続構造およびこれを用いた高周波モジュール並びにこの高周波モジュールを用いた高周波デバイスの検査方法 - 特許庁

To reduce the number of driving power supplies of IGBT in a semiconductor device of a three level inverter circuit to enable testing of the semiconductor device.例文帳に追加

３レベルインバータ回路の半導体装置におけるＩＧＢＴの駆動電源数を減らし、かつ半導体装置の試験を行えるようにする。 - 特許庁

To realize a semiconductor testing device which can synchronize a high speed determination result data and Device Under Test(DUT) determination result data and display it.例文帳に追加

高速側判定結果データおよびＤＵＴ判定結果データを同期して表示することが可能な半導体試験装置を実現する。 - 特許庁

Since the testing device 1 is equipped with the load cell 28 and the load application device 50, various performance tests of the electrically-driven servo 31 can be conducted.例文帳に追加

試験装置１には、ロードセル２８と荷重付加装置５０を備えるため、電動サーボ３１の各種性能試験を行うことができる。 - 特許庁

The control/processing device 13 specifies the value of the parameter by analyzing the changed waveform, and outputs it to an IC testing device 14.例文帳に追加

制御／処理装置１３は、上記変更後の波形を解析することにより、パラメータの値を特定し、ＩＣ試験装置１４へ出力する。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device which can regenerate exhaust energy without using such a large-scale device as to cover the entire factory.例文帳に追加

工場全体に亘るような大掛かりな装置を用いなくても、排出エネルギーを回生できるようにした半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

This device includes: a main frame for testing; a plurality of trays; receptacles for chip test; and one or more pick up/placing device.例文帳に追加

本発明の装置は試験用メイン・フレームと複数の器皿と、チップ・テスト・レセプタクルと、１つまたはそれ以上の取り上げ/安置器とを含んでいる。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing apparatus capable of preventing hang-ups of both a control device and a processing device in the event of an occurrence of an instantaneous interruption.例文帳に追加

瞬低が生じた場合に制御装置と処理装置との双方のハングアップを回避することができる半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

To rapidly and efficiently inspect a torque wrench 12 in an operating device for testing the torque wrench having a data storage device 14.例文帳に追加

データ記憶装置１４を備えたトルクレンチ１２を検査する操作装置において、トルクレンチの検査を迅速かつ効率的に実施できるようにする。 - 特許庁

The transmitting device 11 inputs the positions of the control rods 6, selected control rod coordinates, and the driving mode of the control rods 6 into a testing device 1.例文帳に追加

伝送装置11により制御棒６の位置、選択制御棒座標及び制御棒６の駆動モードを試験装置１に入力する。 - 特許庁

A testing apparatus 900 tests a communication control device 10 functioning as a bot detection device for detecting a bot which performs illegal communication.例文帳に追加

試験装置９００は、不正な通信を行うボットを検出するボット検出装置として機能する通信制御装置１０を試験する。 - 特許庁

To provide a brake testing device capable of performing a braking test with a high accuracy even in a brake device requiring a braking test at a low operation pressure.例文帳に追加

低い操作圧で制動試験をしなければならないブレーキ装置でも高精度で制動試験を行うことができるブレーキ試験装置を得る。 - 特許庁

To obtain a semiconductor device capable of testing an input circuit for inputting a signal from the outside inside the device.例文帳に追加

外部から信号を入力するための入力回路のテストを、装置内部にて行うことができる半導体装置を得ることを目的とする。 - 特許庁

A testing device 900 tests a communication control device 10 that functions as a protocol converter for converting call control procedures of an IP telephone.例文帳に追加

試験装置９００は、ＩＰ電話の呼制御手順を変換するプロトコル変換装置として機能する通信制御装置１０を試験する。 - 特許庁

To provide an ion engine testing device which is improved in vacuum evacuation speed without enlarging the device and responds to higher output of an ion engine or the like.例文帳に追加

装置を大型化することなく真空排気速度を向上でき、イオンエンジン等の高出力化に対応したイオンエンジン試験装置を得る。 - 特許庁

To provide a semiconductor device failure analysis system that displays a fail bit map speedily so as to prevent increase in the cost of semiconductor device testing.例文帳に追加

フェイルビットマップを速やかに表示し、半導体装置の検査コストの増大を防止できる半導体装置の不良解析システムを提供する。 - 特許庁

To provide a device and a method for mounting/incorporating a micro device in a macro instrument to be used for analyzing or testing a reagent.例文帳に追加

マイクロ装置を、試薬の分析又は検査のために用いられるマクロ機器に実装し、組み込むための装置及び方法を提供すること。 - 特許庁

The load testing device 9 performs a call processing sequence corresponding to each bearer with a radio control part 4a of the node B device 4.例文帳に追加

負荷試験装置９はノードＢ装置４の無線制御部４ａとの間での各ベアラに応じた呼処理シーケンスを任意タイミングで実行する。 - 特許庁

To make application of a high voltage caused by an accumulated charge preventable easily and surely in a testing device, when applied, for example, to a semiconductor testing device used for a test of various characteristics of an integrated circuit.例文帳に追加

本発明は、試験装置に関し、例えば集積回路の各種特性の試験に供する半導体試験装置に適用して、蓄積電荷による高電圧の印加を簡易かつ確実に防止することができるようにする。 - 特許庁

To provide a testing device for an electrically-driven actuator for a valve opening/closing and a test method for the electrically-driven actuator for the valve opening/closing capable of performing various tests for maintenance inspection of the electrically-driven actuator by one testing device.例文帳に追加

弁開閉用電動アクチュエータの保守点検のための種々の試験を一台の試験装置で行うことができる弁開閉用電動アクチュエータの試験装置及び弁開閉用電動アクチュエータの試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide an electronic component testing device which accurately controls, in particular, a temperature in a test tank into a test temperature and to provide a compact variable fin area radiator for use in the electronic component testing device.例文帳に追加

本発明は電子部品試験装置に関し、特に試験槽内の温度を精度よく試験温度に制御する電子部品試験装置と電子部品試験装置に使用するコンパクトなフィン面積可変型ラジエーターに関するものである。 - 特許庁

To provide a compression/shear test method and its testing device capable of testing a performance test of compression deformation and/or shear deformation of a large-size sample piece without using large-scale equipment or a device.例文帳に追加

大型の供試体の圧縮変形及び／または剪断変形の性能試験を大掛かりな設備や装置を用いることなく試験することが出来る圧縮・剪断試験試験方法及びその試験装置を提供することにある。 - 特許庁

To provide a technique as to a test for a semiconductor device, capable of reducing lot switching work to enhance an operation rate of a semiconductor testing device, when testing the semiconductor devices of small lot multi-product.例文帳に追加

少量多品種の半導体デバイスを試験する場合、ロットの切り替え作業を削減して、半導体デバイス試験装置の稼働率を向上を可能とする半導体デバイスの試験に関する技術を提供することを課題とする。 - 特許庁

To provide a testing device using interactive communication, enabling simultaneous control of a plurality of testing devices from an interactive communication system in which the plurality of devices can participate, and an auxiliary device therefor.例文帳に追加

双方向通信を利用した試験用装置とその補助装置に関し、特に複数参加可能な双方向通信システムから、複数の装置に対して同時制御可能とする試験用装置及びその補助装置を提供する。 - 特許庁

The second spring part 56 generates a load pressing a spring lower part 36 onto the board side 48 of an apparatus testing device, to thereby enable superior electrical contact, by pressing the housing and the board of the apparatus testing device onto the board with a constant load at all times.例文帳に追加

第二バネ部５６は、機器試験装置のボード側４８にスプリング下部３６を押し付ける荷重を発生させ、ハウジングと機器試験装置のボードとを常に一定の荷重でボードに押し付け良好な電気的接触が可能となる。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device allowing a test in a relation where generation of a test pattern is synchronized with operation of each receiving unit in the set and change of the operating condition of the hard resource possessed by the semiconductor testing device to be executed.例文帳に追加

半導体試験装置が備えるハード資源（ハードリソース）の動作条件を設定変更するときに、試験パターンの発生と各受信ユニットとの動作を同期した関係で試験実施可能な半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

Processing of diagnosing equipment to be diagnosed with a remote testing device connectable to the diagnosed equipment via a communication network diagnoses by exchanging diagnostic information between the remote testing device and the diagnosed equipment.例文帳に追加

通信ネットワークを介して被診断機器に接続可能な遠隔試験装置によって被診断機器を診断する処理において、遠隔試験装置と被診断機器との間で診断情報を交換することにより診断を行う。 - 特許庁

To provide a specific testing method and device capable of performing testing without any influence of bending moment generated by applying forced displacement to the edge of a specimen having a crack at one side in a crack development testing method and device for making a crack to develop while maintaining a stress intensity factor fixedly.例文帳に追加

応力拡大係数を一定に維持しつつき裂を進展させるき裂進展試験方法及び装置において、片側にき裂を有する試験片の端部に強制変位を加えることにより発生する曲げモーメントの影響なく試験を行うことができる具体的な試験方法及び装置を提供する。 - 特許庁

The tire testing device 1 includes an information acquisition device 2 for acquiring information (grounding information) concerning the grounding state of the tire and an information processor 3 for calculating a change ratio of the grounding state to the change of a testing condition based on the grounding information acquired under a plurality of mutually different testing conditions.例文帳に追加

このタイヤ試験装置１では、タイヤの接地状態に関する情報（接地情報）を取得する情報取得装置２と、相互に異なる複数の試験条件下にて取得された接地情報に基づいて試験条件の変化に対する接地状態の変化率を算出する情報処理装置３とを有する。 - 特許庁