「testing device」に関連した英語例文の一覧と使い方(67ページ目) - Weblio英語例文検索

When switching an operation mode in the testing device 1, the air velocity of air introduced into the testing chamber 10 during a shift period until an atmosphere temperature in a testing part reaches a predetermined temperature is higher than the air velocity of air introduced into the testing chamber during a testing period until the high temperature exposing mode or the low temperature exposing mode is completed after reaching the predetermined temperature.例文帳に追加

試験装置１は、運転モードの切替に際して、試験部内の雰囲気温度が所定温度に到達するまでの移行期間において試験室１０に対して導入される気体の風速が、所定温度に到達してから高温晒しモードあるいは低温晒しモードが完了するまでの試験期間において試験室に対して導入される気体の風速よりも高くなる。 - 特許庁

A data of a testing body part is converted into a data of a format along an MIB to be stored in an MIB database, using an MIB conversion part for conducting mutual conversion between the data of the testing body part for testing the quality of a semiconductor and the data of the format along the MIB, the semiconductor testing device is controlled using the SNMP.例文帳に追加

半導体の良否をテストするテスト本体部のデータとＭＩＢに沿った形式のデータとの相互変換を行うＭＩＢ変換部を用い、テスト本体部のデータをＭＩＢに沿った形式のデータに変換してＭＩＢデータベースに格納すると共に、ＳＮＭＰを用いて半導体テスト装置を管理できるようにした。 - 特許庁

(2) This scratchability testing device comprises the testing machine according to claim 1 or 2, the floor material horizontally placed on a mounting base; a traveling inclined passage for the testing machine set at an angle of 10-20° to the floor material, and a stopper mechanism for stooping the testing machine provided on the inclined passage at a traveling start point.例文帳に追加

（２）請求項１又は２記載の試験機、載置台上に水平に載置された床材、該床材に対し１０〜２０°の角度で設置された前記試験機の走行用傾斜路、該傾斜路に設けられた前記試験機を走行開始点に停止させておくストッパー機構よりなることを特徴とする床材用傷付き性試験装置。 - 特許庁

To provide an inverter testing device and an inverter testing method capable of easily measuring a current phase angle and/or a voltage phase angle with respect to a reference phase angle with an external measuring instrument, and testing an inverter satisfactorily.例文帳に追加

基準位相角に対する電流位相角及び／または電圧位相角を外部の計測器にて容易に計測することができ、インバータの試験を良好に行うことができるインバータ試験装置及びインバータ試験方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a clip tester for extremely improving reliability of verification by generating pseudo failure at timing corresponding to operation timing of a circuit to be tested, and to provide a clip testing device, a clip testing method and a clip testing program.例文帳に追加

被試験回路の動作タイミングに対応したタイミングで擬似故障を発生させることができ、もって、検証の信頼性を極めて向上させることができるクリップテスタ、クリップ試験装置、クリップ試験方法、およびクリップ試験プログラムを提供する。 - 特許庁

To provide a testing device capable of easily testing the immunity in a short time superior in operability and reproducibility by facilitating and automating an immunity testing system which is large in scale and requires time and effort.例文帳に追加

本発明の目的は、規模が大がかりで時間と手間のかかるイミュニティ試験系を簡易化および自動化することにより、イミュニティ試験が容易かつ短時間に行え、操作性および再現性にもすぐれた試験器を提供することにある。 - 特許庁

Vibrational oscillation force is imparted to the testing body, by passing compressed air through a valve device opened and closed repeatedly at a high speed, and by blowing the compressed air intermittently against the testing body, and the testing body is thereby oscillated, without being restricted by the material and a form thereof.例文帳に追加

圧縮空気を高速で開閉を繰り返す弁装置を通過させ、圧縮空気を間歇的に試験体に吹き付けすることで振動的加振力を試験体に与え、その材質や形態に制約されずに試験体を加振できるようにする。 - 特許庁

The remote diagnosis is performed, based on second diagnostic information exchanged (S6, S7) between the remote testing device 2 and the control devices 3 which are connectable to the remote testing device 2 via the communication network 4.例文帳に追加

遠隔診断は、遠隔試験装置２と、通信ネットワーク４を介して遠隔試験装置２に接続可能な制御装置３との間で交信される（Ｓ６、Ｓ７）第２の診断情報に基づいて行われる。 - 特許庁

Control results at that time are outputted to the communication equipment through the communication controller and the installation type testing device, and the test result state of the communication path to be tested is also decoded and displayed by a portable testing device.例文帳に追加

そのときの制御結果は、通信制御装置，設置型試験装置を介して、通信機に出力され、またその当該被試験通信路の試験結果状態は携帯形試験装置で解読され表示される。 - 特許庁

The ultrasonic testing device comprises the sensor head 2 with the plurality of probes 10, and the testing device body for transmitting/receiving the electric signals to or from the probes 10.例文帳に追加

試験体１００に超音波の送信及び受信を行う複数の探触子１０を有するセンサヘッド２と、探触子１０に電気信号の送信及び受信を行う試験装置本体とを備えた超音波試験装置である。 - 特許庁

A semiconductor device to be tested is mounted on a socket installed on a board of a burn-in testing apparatus and a voltage is applied to the semiconductor device while increasing the voltage up to a maximum testing voltage Vm in a stepped manner.例文帳に追加

バーンイン試験装置のボードに設けられたソケットに、試験対象の半導体装置を装着し、その半導体装置に対し、電圧を最大試験電圧Ｖｍまでステップ状に上昇させて印加していく。 - 特許庁

To provide a return testing device of a shock absorber for an elevator, dispensing with a shortcircuit of a safety device, capable of testing in an ordinary travel range, being not a long size material and not combustibles, simple in attachment-detachment, and easy in handling.例文帳に追加

安全装置の短絡が不要で、通常の走行範囲で試験ができるとともに、長尺物でも可燃物でもなく、着脱が簡単で取り扱いが容易なエレベータ用緩衝器の復帰試験装置を得る。 - 特許庁

To provide a thermostatic device for testing where a sample placement section is deflected less even if temperature is adjusted to an extremely low temperature or a high temperature by improving the thermostatic device for testing used for the performance test or the like of a semiconductor wafer.例文帳に追加

半導体ウエハの性能試験等に使用される試験用恒温装置を改良し、極低温や高温に温度調節しても試料配置部の撓みが少ない試験用恒温装置を提供する。 - 特許庁

To provide a small synthetic aperture radar testing device capable testing including a phase error by beam movement in a synthetic aperture radar device for moving a beam with electronic beam control.例文帳に追加

フェーズドアレイアンテナを用いて電子的なビーム制御によりビームを移動させる合成開口レーダ装置におけるビーム移動による位相誤差を含めた試験を実現できる小型な合成開口レーダ試験装置を得る。 - 特許庁

This software testing device 2 shows a relation between software 4 to be verified and the software testing device 2, interfaces with input/output to/from the software, and operates as an external environment for the whole of the software 4.例文帳に追加

このソフトウェアテスト装置２は、検証対象となるソフトウェア４とソフトウェアテスト装置２との関係を示しており、ソフトウェアへの入力、および出力とインターフェイスし、ソフトウェア４の全ての外部環境として動作する。 - 特許庁

To provide a relay diagnosis device and a semiconductor testing device, capable of estimating the individual replacement time of each relay that constitutes a semiconductor testing circuit, with high reliability, and of reducing the maintenance cost.例文帳に追加

半導体試験回路を構成するリレー１個毎の個別の交換時期を高い信憑性をもって推定することができ、保守費用を低減化できるリレー診断装置及半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a voice output method in a testing device for enabling an operator to relatively easily change the data and the presence or absence of generated voice, the testing device, and a record medium storing a test control program.例文帳に追加

操作者が音声発声の内容や有無を比較的簡単に変更することができる試験装置における音声出力方法、試験装置および試験制御プログラムが記録された記録媒体を提供する。 - 特許庁

To provide a testing device, a quality determination reference setting device, a testing method and a test program capable of detecting highly sensitively and reliably abnormality in a static electric power source current value by taking dispersion in a process condition into account.例文帳に追加

プロセス条件のばらつきを考慮した、静的電源電流値の異常を高い感度・及び信頼性で検出可能な試験装置、良否判定基準設定装置、試験方法及び試験プログラムを提供する。 - 特許庁

The vehicle testing apparatus 30 includes an actuator 40; a pneumatic-pressure-generating device 70; a pneumatic-pressure control device 71; and a control unit 72.例文帳に追加

車両試験装置３０は、アクチュエータ４０と、空圧発生装置７０と、空圧制御装置７１と、制御装置７２とを備える。 - 特許庁

To provide a loading device capable of testing loadings with large instantaneous peak, while constraining jumboizing of device size.例文帳に追加

装置サイズの大型化を抑制しつつ、瞬時的に大きなピークを有する負荷の試験を行うことができる負荷装置を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor inspection device and a method of inspecting a semiconductor device for testing contact resistance under the same conditions.例文帳に追加

接触抵抗が同じ条件でテストを行うことができる、半導体検査装置、及び半導体装置の検査方法を提供する。 - 特許庁

A test vehicle V is fixed through a belt 11 stretched between the test vehicle V loaded on a vehicle testing device and the device itself.例文帳に追加

車両試験装置上に積載された試験車両Ｖとの間に張架したベルト１１を介して、試験車両Ｖを固定する。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device capable of enhancing computation efficiency of the device by making a using temperature of a semiconductor element proper.例文帳に追加

半導体素子の使用温度を適正化することにより装置の演算効率の向上ができる半導体試験装置を実現する。 - 特許庁

With such device testing apparatus 1, erosion of the tip section is avoided, and a semiconductor device 20 can be evaluated with sufficient accuracy.例文帳に追加

このような素子試験装置１によれば、先端部の目減りが防止され、半導体素子２０を精度よく評価することができる。 - 特許庁

To provide a testing device for a sorter capable of reducing labor taken for confirming operation of the sorter of a semiconductor device.例文帳に追加

半導体デバイスの分類装置の動作確認にかかる手間を低減することができる分類装置用の試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a tester device capable of suppressing useless power consumption, when testing a device to be tested formed on a wafer.例文帳に追加

ウエハーに形成されている被試験デバイスのテストを行う際における、無駄な消費電力の抑制を図ったテスター装置を提供する。 - 特許庁

To provide a dew condensation suppression device for improving a suppression function of dew condensation generation, and an environmental testing device equipped therewith.例文帳に追加

結露発生の抑制機能を向上させることが可能な結露抑制装置、およびそれを備えた環境試験装置を提供する。 - 特許庁

METHOD FOR REPAIRING AND ANALYZING DEFECTIVE MEMORY AND MEMORY-TESTING DEVICE WITH DEVICE FOR REPAIRING AND ANALYZING DEFECTIVE MEMORY TO WHICH THE ANALYSIS METHOD IS APPLIED例文帳に追加

メモリの不良救済解析方法及びこの解析方法を適用した不良救済解析器を搭載したメモリ試験装置 - 特許庁

In this device for testing studs, a controller 11, a camera controller 12, a television monitor 13 and an ultrasonic flaw detector 14 are connected to a main body 9 of the device via a cable 10.例文帳に追加

検査装置本体９にケーブル10を介して制御装置11，カメラコントローラ12，テレビモニタ13および超音波探傷器14を接続する。 - 特許庁

To provide a method for testing characteristics of a communication device, in which the characteristics can be tested via a communication interface which the communication device has.例文帳に追加

通信機器が有する通信インタフェースを介して特性を試験することが可能な通信機器の特性試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a washing-unrequired rice producing device for testing so as to determine processing conditions when a washing-unrequired rice producing device installed in a rice milling plant is operated in earnest, the device for testing producing washing-unrequired rice by using only about 1 kg of a rice grain raw material.例文帳に追加

精米工場に設置した無洗米製造装置を本稼動する際の加工条件を決定するために、わずか１kg程度の量の原料穀粒を使用して無洗米を製造することが可能なテスト用無洗米製造装置を提供する。 - 特許庁

To prevent a tip part of the probe needle from being fused or broken by confirming a state of contact between a probe needle and a pad prior to an actual test and measurement, in a method of testing and measuring a semiconductor device and a device for testing and measuring the semiconductor device.例文帳に追加

半導体装置の試験測定方法及び半導体装置の試験測定装置に関し、実際の試験測定に先立ってプローブ針とパッドとの接触状態を確認して、プローブ針の先端部の溶断や破損を防止する。 - 特許庁

To provide a tire detaching device capable of mounting a tire for measurement smoothly and surely to a tire testing device without interference with each constitutional part of the tire testing device, and dispensing with a work in a half-sitting posture of an operator.例文帳に追加

タイヤ試験装置の構成各部との干渉のおそれなしに、測定用タイヤをタイヤ試験装置に円滑かつ確実に装着することができ、作業者の中腰での作業を不要とすることができるタイヤ脱着装置を提供する。 - 特許庁

To provide a serial signal generating apparatus for generating a series signal capable of testing a receiving device in an actual operation frequency, and to provide a device-testing apparatus capable of performing efficiently various tests of the receiving device by using the series signal.例文帳に追加

受信デバイスの実動作周波数での試験を可能とするシリアル信号を生成するシリアル信号生成装置、及び当該シリアル信号を用いて受信デバイスの多種多様な試験を効率的に行うことができるデバイス試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide an IC device-testing method and an IC device-testing system for inexpensively applying a laser beam different targets of a semiconductor IC device (DUT) to be inspected simultaneously in parallel, speedily successively without requiring any rematching in a microscope.例文帳に追加

検査対象の半導体ＩＣデバイス（ＤＵＴ）の互いに異なるターゲットを同時並行的にまたは高速逐次的に顕微鏡の再整合を要することなく低コストでレーザ光照射するＩＣデバイス試験方法・システムを提供する。 - 特許庁

To prevent a support bearing from being broken during a test, in a bearing testing device for testing a test bearing by mounting the test bearing on a rotating shaft supported by the support bearing.例文帳に追加

支持軸受に支持された回転軸に供試軸受を装着して当該供試軸受の試験を行う軸受試験装置において、試験中に支持軸受が破壊されることを防止する。 - 特許庁

To acquire highly-reliable test result efficiently in a time and a cost, when testing the relation between irradiance and aging deterioration of a sample in a weather/light resistance testing device.例文帳に追加

耐候光試験装置において、放射照度と、試料の老劣化の関係を試験する場合に、時間的、費用的に効率よく、しかも信頼性の高い試験結果を得られるようにすること。 - 特許庁

To provide a device and method for testing a model structure for testing, with a simple model, a physical phenomenon occurring when a mobile unit moves in the structure.例文帳に追加

構造物内を移動体が移動する際に発生する物理現象を簡単な模型によって試験することができる模型構造物の試験装置とその試験方法を提供する。 - 特許庁

To enhance a testing workability by easily mounting a testing device to a speed adjustment machine even in the case where a surrounding space of the speed adjustment machine is narrow.例文帳に追加

本発明は、調速機の周囲のスペースが狭い場合でも、調速機への取付を容易に行えるようにし、試験の作業性を向上させることを目的とするものである。 - 特許庁

To provide a method and a device for testing a disk defect, capable of testing the surface undulation of a disk, and improving accuracy of determining acceptability of the disk.例文帳に追加

ディスクの表面のうねりを検査することが可能で、ディスクの合否判定の精度を向上させることができるようなディスク欠陥検査方法および検査装置を提供することになる。 - 特許庁

The short circuit testing device 1 evaluates safety of a battery 10 in forcibly generating internal short circuit by sticking and passing through the nail 4 into the battery 10 for testing.例文帳に追加

短絡試験装置１は、試験用の電池１０に対して釘４を突き刺して貫通させ、強制的に内部短絡を発生させたときの電池１０の安全評価を行う。 - 特許庁

To enable semiconductor testing to be performed at a desired low-speed rate time length and cycle ratio by means of a semiconductor testing device equipped with a high-speed pattern generator and a low-speed pattern generator.例文帳に追加

高速パターン発生器と、低速パターン発生器とを備えた半導体試験装置で、希望する低速レート時間長とサイクル比とで半導体試験を行なえるようにする。 - 特許庁

To provide the acceleration testing device and acceleration testing method of software for investigating the situations of a failure in the acceleration test of software including an application program in detail.例文帳に追加

アプリケーションプログラムを含むソフトウェアの加速試験における不具合の状況を詳細に調査することのできるソフトウェアの加速試験装置及び加速試験方法を提供する。 - 特許庁

A testing CPU 161 is a CPU for internally storing a ROM and a RAM, and makes a test signal to be supplied to a testing device connected to an external part of a game machine.例文帳に追加

試験用ＣＰＵ１６１は、ＲＯＭおよびＲＡＭを内蔵したＣＰＵであって、遊技機外部に接続される試験装置等に供給するための試験信号を作成する。 - 特許庁

To provide a testing device of existence of cable disconnection and a test method of existence of the cable disconnection capable of testing with high reliability on a neutron detector and a test of existence of the cable disconnection.例文帳に追加

中性子検出器とケーブルの断線有無の試験について信頼性の高い試験ができるケーブル断線の有無試験装置およびケーブル断線の有無試験方法を提供すること。 - 特許庁