「testing device」に関連した英語例文の一覧と使い方(63ページ目) - Weblio英語例文検索

To enhance a yield in a product test, in a semiconductor device and a testing method therefor.例文帳に追加

半導体装置およびそのテスト方法における製品テストでの歩留まりを向上させる。 - 特許庁

WET TESTING DEVICE FOR POWER GENERATOR STATOR WIRING INSULATOR USING CROSS CAPACITANCE AND METHOD THEREOF例文帳に追加

クロスキャパシタンスを用いた発電機固定子巻線絶縁物の吸湿試験装置及びその方法（ＡＰＰＡＲＡＴＵＳＡＮＤＭＥＴＨＯＤＯＦＷＡＴＥＲＡＢＳＯＲＰＴＩＯＮＴＥＳＴＦＯＲＧＥＮＥＲＡＴＯＲＳＴＡＴＯＲＷＩＮＤＩＮＧＩＮＳＵＬＡＴＯＲＵＳＩＮＧＣＲＯＳＳＣＡＰＡＣＩＴＡＮＣＥ） - 特許庁

To provide an effective testing method and device to check tunneling magnetoresistive effect elements.例文帳に追加

トンネル磁気抵抗効果素子の良否を判別する効果的な試験方法及び装置を提供する。 - 特許庁

To prevent a mistake of a device to be measured by suppressing a change of a supply power during testing.例文帳に追加

試験中の供給電源の変動を抑制し、被測定デバイスの誤動作を防止する。 - 特許庁

To provide a deterioration testing device capable of executing a highly-accurate deterioration test in a short time.例文帳に追加

短時間に高精度の劣化試験を実施することができる劣化試験装置を提供する。 - 特許庁

To reduce the power consumption of a semiconductor device to which a boundary scan testing circuit is mounted.例文帳に追加

バウンダリスキャンテスト回路を搭載した半導体装置の消費電力を軽減することにある。 - 特許庁

The control device 103 outputs a test result by the material testing machine body 100 to a monitor 104.例文帳に追加

制御装置１０３は、材料試験機本体１００による試験結果をモニタ１０４にする。 - 特許庁

METHOD, EQUIPMENT AND SYSTEM FOR TESTING OPTICAL PROPERTY OF OPTICAL FIBER DEVICE例文帳に追加

光ファイバデバイスの光学特性検査方法、光学特性検査装置、および光学特性検査システム - 特許庁

This testing device comprises a mounting plate 20, a mounting fixture 22, a connecting member 24 and a spacer 26.例文帳に追加

試験装置は、載荷板２０と、取付治具２２と、連結部材２４と、スペーサ２６とを備えている。 - 特許庁

To provide an electronic circuit board which improves a mounting density of the board and a testing device for the same.例文帳に追加

基板の実装密度を向上させる電子回路基板とそのテスト装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a test probe capable of testing an electronic device without inserting connectors.例文帳に追加

コネクタを嵌合せずに電子機器の検査を行うことができる検査用プローブを提供すること。 - 特許庁

To disclose an exemplary method for testing a process system, a device, and a product.例文帳に追加

プロセス制御システムを試験するための例示的方法、装置、および製造物品を開示する。 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR CONTROLLING MATERIAL-TESTING MACHINE FOR FATIGUE CRACK GROWTH TEST例文帳に追加

疲労き裂進展試験のための材料試験機制御方法及び材料試験機制御装置 - 特許庁

To provide a wire testing structure that determines open circuit and short circuit, in a semiconductor device.例文帳に追加

半導体デバイス中の開路および短絡を決定する配線試験構造を提供すること。 - 特許庁

In this state, the device for testing an elevator governor 6 is mounted on the main body of the governor 1.例文帳に追加

この状態で、調速機１の本体に、エレベータ調速機試験装置６を取り付ける。 - 特許庁

The fatigue testing device includes an external waveform generating part 11, a control part 12 and a drive part 13.例文帳に追加

疲労試験装置は、外部波形発生部１１と、制御部１２と、駆動部１３とを具備する。 - 特許庁

VIBRATION TESTING DEVICE FOR STRUCTURE, DIGITAL COMPUTER USED THEREFOR, AND METHOD FOR VIBRATION TEST例文帳に追加

構造物の振動試験装置及びそれに用いるデジタル計算機ならびに振動試験方法 - 特許庁

To provide a testing device for detecting properly a delay trouble in a signal propagation route within a circuit.例文帳に追加

回路内の信号伝播経路の遅延故障を適切に検出する試験装置を提供する。 - 特許庁

Sun Developer Network Mobile Device Technology Center - Information about Creating, testing and certifying mobile applications. 例文帳に追加

Sun Developer Network モバイルデバイステクノロジセンター - モバイルアプリケーションを作成、テスト、および証明する方法についての情報。 - NetBeans

MEMORY DEVICE HAVING OUTPUT CIRCUIT SELECTIVELY ENABLED FOR TEST MODE AND ITS TESTING METHOD例文帳に追加

テストモードのために選択的にイネーブルされる出力回路を有するメモリ装置及びそのテスト方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEVICE WITH OUTPUT IMPEDANCE ADJUSTING CIRCUIT AND METHOD OF TESTING OUTPUT IMPEDANCE例文帳に追加

出力インピーダンス調節回路を備えた半導体装置及び出力インピーダンスの試験方法 - 特許庁

CASK FOR RADIOACTIVE WASTE STORAGE AND ITS TRANSPORTATION METHOD AND ITS GAS LEAKAGE TESTING DEVICE例文帳に追加

放射性廃棄物貯蔵用キャスクおよびその輸送方法並びにそのガス漏洩試験装置 - 特許庁

METHOD, DEVICE FOR TESTING REAL PAGE NUMBER BIT IN CACHE DIRECTORY, AND COMPUTER RECORDABLE MEDIUM例文帳に追加

キャッシュ・ディレクトリ内の実ページ番号ビットのテスト方法、装置、およびコンピュータ記録可能な媒体 - 特許庁

The environmental testing device 1 is equipped with four chambers of A, B, C, D, and a common duct 2.例文帳に追加

環境試験装置１は、４基のチャンバーＡ，Ｂ，Ｃ，Ｄと、共通ダクト２を備えている。 - 特許庁

To detect a difference between a rising response and a falling response of a comparator of a testing device.例文帳に追加

試験装置のコンパレータの立ち上がり応答と、立ち下がり応答との差を検出するする。 - 特許庁

SIGNAL OUTPUT CIRCUIT FOR OUTPUTTING SIGNAL, AND TESTING DEVICE EQUIPPED WITH THE SIGNAL OUTPUT CIRCUIT例文帳に追加

信号を出力する信号出力回路、及び信号出力回路を備える試験装置 - 特許庁

TEST APPARATUS AND METHOD FOR TESTING A PLURALITY OF DEVICES, AND SEMICONDUCTOR WAFER LEVEL TEST DEVICE例文帳に追加

複数のデバイスを試験するための試験装置、方法および半導体ウェーハ・レベル試験デバイス - 特許庁

DEVICE FOR TESTING SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT AND METHOD OF MANUFACTURING SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT USING SAME例文帳に追加

半導体集積回路の試験装置およびそれを用いた半導体集積回路の製造方法 - 特許庁

PROBE NEEDLE FOR TESTING SEMICONDUCTOR DEVICE, ITS MANUFACTURING METHOD AND PROBE CARD WITH THE PROBE NEEDLE例文帳に追加

半導体装置のテスト用プローブ針とその製造方法およびそのプローブ針を備えたプローブカード - 特許庁

DEVICE FOR DETECTING PHYSICAL QUANTITY BY UTILIZING DISTANCE CHANGE BETWEEN ELECTRODES AND ITS OPERATION TESTING METHOD例文帳に追加

電極間距離の変化を利用して物理量を検出する装置およびその動作試験方法 - 特許庁

To provide a testing device for performing various function tests in a comparatively simple configuration.例文帳に追加

比較的簡易な構成により多様なファンクションテストを行うことができる試験装置を提供する。 - 特許庁

TIMING CALIBRATION METHOD, TIMING-CALIBRATING APPARATUS, AND IC-TESTING DEVICE WITH TIMING-CALIBRATING APPARATUS例文帳に追加

タイミング校正方法、タイミング校正装置及びこのタイミング校正装置を備えたＩＣ試験装置 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device capable of performing accurate comparison processing in comparators.例文帳に追加

コンパレータにおける正確な比較処理を可能とする半導体試験装置を提供すること。 - 特許庁

PROBE CARD AND ITS MANUFACTURING METHOD, PROBE APPARATUS, PROBE TESTING METHOD, AND MANUFACTURING METHOD OF SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

プローブカード及びその製造方法、プローブ装置、プローブ試験方法、半導体装置の製造方法 - 特許庁

To provide a particularly easy-to-use and effective method for testing bus protocol compliance of a device.例文帳に追加

デバイスのバス・プロトコル準拠性を試験する特に使い易く効率的な方式を提供する。 - 特許庁

To prepare a thin sample for testing internal structure of a manufactured device to form an image.例文帳に追加

製造されたデバイスの内部構造をテストするために薄いサンプルを準備して像形成する。 - 特許庁

To provide a waterproof test device capable of testing the waterproof performance of a waterproof case at low cost.例文帳に追加

防水ケースの防水性能試験を低コストで行える防水試験装置を提供する。 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR FAULT TEST AND RECORDING MEDIUM WHERE FAULT TESTING METHOD IS RECORDED例文帳に追加

障害試験装置及び障害試験方法及び障害試験方法を記録した記録媒体 - 特許庁

EDDY CURRENT FLAW DETECTION SIGNAL EVALUATION DEVICE, AND EDDY CURRENT FLAW DETECTION TESTING DEVICE AND METHOD OF EVALUATING EDDY CURRENT FLAW DETECTION SIGNAL INCLUDING THE EDDY CURRENT FLAW DETECTION SIGNAL EVALUATION DEVICE例文帳に追加

渦電流探傷信号評価装置、当該装置を備えた渦電流探傷試験装置および渦電流探傷信号評価方法 - 特許庁

To obtain a much information on a semiconductor device determined as a defective, in a burn-in testing device for executing heating test of the semiconductor device.例文帳に追加

半導体デバイスを加熱試験するバーンイン試験装置において、不良品と判定された半導体デバイスについて多くの情報を得る。 - 特許庁

A testing device 900 tests a communication control device 10 which functions as the accounting management device for filtering communication data about transaction.例文帳に追加

試験装置９００は、取引に関する通信データをフィルタリングする会計管理装置として機能する通信制御装置１０を試験する。 - 特許庁

To improve the yield of a device in a testing device, by storing the value of a data signal extracted from a data signal in a device to be tested and by testing the performance of a semiconductor using the value of the data signal stored in the device to be tested.例文帳に追加

被試験デバイス内にデータ信号から抽出したデータ信号の値を格納して、被試験デバイス内に格納したデータ信号の値を用いて半導体の性能を試験することにより、試験装置においてデバイスの歩留まりの向上を図る。 - 特許庁

This network load testing method is different from a conventional testing method, does not stop the transmission of the self-device on the basis of the reception completion of the opposite device but stops the transmission of the self-device on the basis of the reception completion of the self-device itself.例文帳に追加

本発明のネットワーク負荷試験方法は、従来の試験方法と異なり、相手装置側の受信完了に基づいて、自装置側の送信が停止せず、自装置側自身の受信完了に基づいて、自装置側の送信が停止する。 - 特許庁

To carry out current limiting with high accuracy in comparison with a conventional device by applying a semiconductor device operating at high voltage such as an IC for PDP panel drive in a testing device in regard to a current limiting circuit, and a testing device.例文帳に追加

本発明は、電流制限回路及び試験装置に関し、例えばＰＤＰパネルドライブ用ＩＣ等の高電圧で動作する半導体素子の試験装置に適用して、従来に比して高精度に電流制限することができるようにする。 - 特許庁

To provide a normality testing method and a normality testing device capable of easily confirming a phase error and the stepping state of a built-in clock of a new time signal guide device to Japan Standard Time.例文帳に追加

新時報案内装置の内蔵時計の日本標準時に対する位相誤差および歩進状態を簡単に確認し得る正常性試験方法および正常性試験装置を提供する。 - 特許庁