「testing device」に関連した英語例文の一覧と使い方(61ページ目) - Weblio英語例文検索

To achieve a semiconductor-testing device capable of grasping fail information of each DUT when connecting one pin to a plurality of DUTs for testing.例文帳に追加

１つのピンを複数のＤＵＴに接続して試験を行う際に各ＤＵＴのフェイル情報を把握可能な半導体試験装置を実現すること。 - 特許庁

A vehicle brake system testing stand device 1 has a testing stand A of a vehicle brake system, especially a supporting element 2 attachable to a measuring roller C.例文帳に追加

乗り物の制動システムのテストスタンド用の装置１は、乗り物の制動システムのテストスタンドＡ、特に計測ローラＣに取り付け可能な支持要素２を有している。 - 特許庁

To provide a multiple-test-item continuous testing device which can continuously test a plate-shaped metallic material on a plurality of test items by using one test piece at the time of testing the metallic material.例文帳に追加

板状金属材料の材料試験において複数の試験項目の試験を１枚の試験片を使用して連続的に行なう。 - 特許庁

To provide a device and a method for testing characteristics of mobile radio equipment which can quicken characteristic testing works and prevent human errors.例文帳に追加

特性試験作業の迅速化が図れるとともに人為的ミスを防止することができる移動無線機特性試験器および方法を提供する。 - 特許庁

The device for testing piping includes at least one drive unit and at least one testing unit and can be inserted into piping to be tested.例文帳に追加

本発明の配管検査装置は、少なくとも１個の駆動ユニットと少なくとも１個の検査ユニットとを有し、検査対象の配管内に挿入可能である。 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR TESTING OPERATION OF ELECTRONIC UNIT BY SIMULATION, AND EQUIPMEMNT FOR TESTING ELECTRONIC UNIT SUITED TO RAILROAD VEHICLE OR ELECTRIC VEHICLE例文帳に追加

シミュレーションによって電子ユニットの動作を試験する方法と装置、および鉄道車両または電気車両に適合する電子ユニットを試験する設備 - 特許庁

The circuit testing device 100 also has a function for executing an operation test of the object circuit 102 by the generated circuit testing mechanism 110.例文帳に追加

また、回路試験装置１００は、生成した回路試験機構１１０によって、対象回路１０２の動作試験を実行する機能も備えている。 - 特許庁

To provide a durability testing device and a durability testing method by which durability of a liquid crystal panel can be appropriately evaluated in a short period of time.例文帳に追加

液晶パネルの耐久性を短時間で適正に評価することができる耐久性試験装置および耐久性試験方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a testing device and its testing method for a semiconductor element, suppressing progression of breakdown of the semiconductor element by over current.例文帳に追加

本発明は、過電流による半導体素子の破壊の進行を抑えることができる、半導体素子の試験装置及びその試験方法の提供を目的とする。 - 特許庁

To provide a synchronous semiconductor integrated circuit device for more rapidly testing than an external clock signal generated from a tester in a testing mode.例文帳に追加

テスト動作モードにおいてテスタ装置の生成する外部クロック信号よりも高速なテスト動作が可能な同期型半導体集積回路装置を提供する。 - 特許庁

SEMICONDUCTOR CRYSTAL DEFECT TESTING METHOD AND EQUIPMENT THEREOF, AND SEMICONDUCTOR DEVICE MANUFACTURING METHOD USING THE SEMICONDUCTOR CRYSTAL DEFECT TESTING EQUIPMENT例文帳に追加

半導体結晶欠陥検査方法、半導体結晶欠陥検査装置、及びその半導体結晶欠陥検査装置を用いた半導体装置の製造方法 - 特許庁

The optical pulse testing device includes a plurality of semiconductor lasers (DFB-LD) as testing light sources, and makes output wavelengths of the DFB-LD 2-1 to 2-N mutually different.例文帳に追加

試験光源としての半導体レーザ（ＤＦＢ−ＬＤ）を複数備え、これらＤＦＢ−ＬＤ２−１〜２−Ｎの出力波長を互いに異ならせる。 - 特許庁

To provide a semiconductor device testing method for testing a signal which is inputted or outputted in reality without requiring a reference sample.例文帳に追加

リファレンスサンプルを必要とすることなく、実際に入出力する信号の試験を行うことができる半導体装置の試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device capable of enhancing test efficiency and convenience by reducing the time required to preparation for testing of tested devices.例文帳に追加

被試験デバイスの試験の準備に要する時間を削減することにより、試験効率及び利便性を高めることができる半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a testing device and a testing method capable of properly evaluating cleanliness of lubrication oil for an internal combustion engine at a piston under a crown in a laboratory.例文帳に追加

実験室で内燃機関用潤滑油のピストンアンダークラウンでの清浄性を適正に評価することができる試験装置および試験方法を提供する。 - 特許庁

INTERACTION TESTING DEVICE OF BIO-MOLECULE, INTERACTION TESTING METHOD OF BIO-MOLECULE, MELTING TEMPERATURE MEASURING METHOD OF BIO-MOLECULE, AND ARRAY DETECTION METHOD OF NUCLEIC ACID例文帳に追加

生体分子の相互作用試験装置、生体分子の相互作用試験方法、生体分子の融解温度測定方法、核酸の配列検知方法 - 特許庁

This individual environmental testing device is enclosed by an enclosure made of heat insulation member, and it is provided with a plurality testing parts 100A, 100B, 100C, and 100D to which modules are attached.例文帳に追加

個別環境試験装置は、断熱部材により構成される筐体であって、モジュールが装着される複数の試験部１００Ａ・Ｂ・Ｃ・Ｄを備える。 - 特許庁

As a result, inspection and testing work can be simplified without necessity of finding out a communication cable to be connected with the inspection target device for inspection and testing.例文帳に追加

よって、検査試験において検査対象装置に接続される通信ケーブルを探し出す必要がなく、検査試験の作業が簡素化される。 - 特許庁

To provide an ultrasonic testing method capable of further clearly detecting a defect part by noncontact reflection method, and an ultrasonic testing device used therefor.例文帳に追加

非接触反射法でより明確に欠陥部を検出することの可能な超音波試験方法及びこれに用いる超音波試験装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a testing device which inspects reliability of a light emitting device in a state closer to that in the real usage environment, and surely, rapidly, and easily detect a failure article, and the testing method.例文帳に追加

実使用環境下により近い状態で発光装置の信頼性を検査し、より確実に不具合品を早く検出し易くする試験装置および試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a connector, capable of connecting a testing device, and to provide a printed circuit board at a comparatively low cost, and which is especially suitable for uniform basis for achieving a JTAG testing device.例文帳に追加

比較的に低コストで試験装置とプリント回路板を接続することができ、特に、ＪＴＡＧ試験装置を実現するための統一基準に適合したコネクタを提供する。 - 特許庁

To provide a light irradiation device capable of setting the nature of light irradiating to an image sensor of a testing target without using a mechanical driving mechanism, and to provide an image sensor testing device.例文帳に追加

機械的な駆動機構を用いることなく、試験対象の撮像素子に照射する光の性質を設定できる光照射装置および撮像素子の試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a socket test device and its method capable of testing whether each contact of a socket used for testing a semiconductor device is in a good state or in a bad state.例文帳に追加

半導体デバイスをテストするために用いられるソケットのコンタクタの良好及び不良状態をテストすることができるソケットテスト装置及びその方法を提供するにある。 - 特許庁

To provide a simulated wheel device and a vehicle testing device, capable of testing, in a more accurately simulated state, a state of an axle when an actual vehicle is travelling on a road.例文帳に追加

実車両が道路を走行しているときの車軸の状態をより正確に模擬した状態で試験を行うことが可能な模擬車輪装置および車両試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device capable of achieving self-diagnosis function in a state where a DUT is connected to the testing device, without greatly increasing a substrate surface or component cost.例文帳に追加

基板面積や部品コストを大幅に増大させることなく、試験装置にＤＵＴを接続させたまま自己診断機能を実現することのできる半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

This device is equipped with a control device for controlling the test of the plurality of testing object devices having the same pin arrangement, and a plurality of pin resources provided respectively corresponding to each terminal of the testing object devices.例文帳に追加

同一のピン配置を有する複数の被試験デバイスの試験を制御する制御装置と、それぞれが被試験デバイスの端子に対応して設けられた複数のピンリソースとを備える。 - 特許庁

To provide a method for testing a semiconductor device capable of testing a semiconductor device outputting a reference clock DQS, used for data delivery, simultaneously to data reading, with high accuracy in a short period.例文帳に追加

データの読み出しに同期してデータの受渡しに利用される基準クロックＤＱＳを出力する半導体デバイスを短時間に高精度に試験する試験方法を提案する。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device capable of shortening a total testing period by carrying out a determination processing at a side of measurement module rather than conventionally at a side of control device.例文帳に追加

従来は制御装置側で行なっていた判定処理を計測モジュール側で行なえるようにして、トータルのテスト時間を短縮できるようにした半導体テスト装置を提供する。 - 特許庁

To provide a reliability testing device capable of preventing breakage of the testing device by blocking a member to be tested from a current detection means at high speed.例文帳に追加

本発明は、被試験部材と電流検出手段とを高速に遮断することにより、試験装置を破損させることを防止することができる信頼性試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide an intermittent energization testing device, an intermittent energization testing method, and a heat generating electronic device, which can save power supply and a wire rod cost, and shorten time of a test cycle.例文帳に追加

電源と線材コストを抑え、かつ試験サイクルの時間を短縮することができる断続通電試験装置、断続通電試験方法、および発熱電子デバイスを提供する。 - 特許庁

The testing device is provided with a test board having a wiring pattern connected with the channel of the testing device and an IC socket having a plurality of pogo pins that are respectively connected with the land of the wiring pattern.例文帳に追加

テスト装置は、テスト装置のチャンネルと連結される配線パターンを有するテストボードと配線パターンのランドとそれぞれ連結される複数のポゴピンを有するＩＣソケットとを備える。 - 特許庁

METHOD FOR TESTING SEMICONDUCTOR DEVICE, SEMICONDUCTOR DEVICE CONSTITUTED TESTABLE USING THE METHOD, METHOD FOR TESTING SEMICONDUCTOR MEMORY, AND THE SEMICONDUCTOR MEMORY CONSTITUTED TESTABLE USING THE METHOD例文帳に追加

半導体装置のテスト方法及び同方法を用いてテスト可能に構成した半導体装置、並びに半導体メモリのテスト方法及び同方法を用いてテスト可能に構成した半導体メモリ - 特許庁

The memory test system is equipped with a memory testing device 10 having the fail memory 15 for storing a test result of the memory to be tested and a controller 1 for controlling the memory testing device 10.例文帳に追加

メモリ試験システムは、被試験メモリの試験結果を格納するフェイルメモリ１５を有するメモリ試験装置１０と、メモリ試験装置１０を制御する制御装置１とを備える。 - 特許庁

To provide a voltage testing plug that can prevent temporary blackout in the event of measuring a voltage even when the plug is inserted into or pulled out from a voltage testing terminal of an electric device and can prevent an interphase short circuit even when a tester is connected in the event of testing the electric device.例文帳に追加

電気装置の電圧試験ターミナルに抜き差ししても、電圧測定のときには瞬断を防止でき、電気装置を試験するときには試験器を接続していても相間短絡を防止できる電圧試験プラグを提供することである。 - 特許庁

This cold thermal shock testing device 1 has a high-temperature testing laboratory 2 and a low temperature testing laboratory 3 The device can change the test environment in the cold thermal shock test by moving a rack 4, on which a sample is placed between both the laboratories.例文帳に追加

冷熱衝撃試験装置１は、高温試験室２と低温試験室３とを有し、両者の間を試料Ｗを載せたラック４が移動することにより、冷熱衝撃試験の試験環境を切り替え可能な構成とされている。 - 特許庁

This method 100 and the device for testing the device using a transition stamp is used for evaluating an output signal of the device.例文帳に追加

遷移タイムスタンプを用いてデバイスを試験するための方法１００及び装置が、デバイスの出力信号を評価するのに使用される。 - 特許庁

To provide a semiconductor device capable of shortening time for development of the semiconductor device, and to provide a method of testing the semiconductor device.例文帳に追加

半導体装置の開発時間を短縮することができる半導体装置及び半導体装置の試験方法を提供すること。 - 特許庁

A testing device 900 tests a communication control unit 10 functioning as a protection device for protecting attack to a communication device.例文帳に追加

試験装置９００は、通信装置に対する攻撃を防御する防御装置として機能する通信制御装置１０を試験する。 - 特許庁

A testing device 900 tests a communication control device 10 functioning as a virus detection device which detects and filters computer virus.例文帳に追加

試験装置９００は、コンピュータウィルスを検出してフィルタリングするウィルス検出装置として機能する通信制御装置１０を試験する。 - 特許庁

A testing device 900 tests the communication controlling device 10 functioning as the monitor device monitoring communication data output from the sensor.例文帳に追加

試験装置９００は、センサから送信される通信データを監視する監視装置として機能する通信制御装置１０を試験する。 - 特許庁

In the testing device, at least a part of a support for the device has a reflectivity which does not obstruct an error detection means in a measuring device.例文帳に追加

この試験器具において、装置の支持材の少なくとも一部は計測器のエラー検出手段を妨害しない反射性を有する。 - 特許庁

A testing device 30 tests electrical characteristics of a solid-state imaging device as a semiconductor device formed in a semiconductor wafer 10.例文帳に追加

検査装置３０は、半導体ウエハ１０に形成された半導体デバイスとしての固体撮像素子の電気的特性を検査する。 - 特許庁

To provide an IC testing system capable of decoding the location data of a wafer prober in any chip arrangement by an IC testing device in an IC testing system which decodes any location data furnished by a wafer prober using an IC testing device making out a chip map for distinguishing tested chips from chips not yet tested, to perform a test.例文帳に追加

ウェハプローバが発信するロケーション・データをＩＣ試験装置が読み取り、ＩＣ試験装置でチップマップを作成し、試験済チップと未試験チップを区別して試験を実行するＩＣテストシステムにおいて、如何なるチップ配置のウェハプローバでもＩＣ試験装置でそのロケーション・データを解読することができるＩＣテストシステムを提供する。 - 特許庁

This testing device is equipped with a testing device body for applying a prescribed load repeatedly on the test piece having a notch for cracking to develop a crack on the test piece, and an imaging means for imaging the cracking surface of the test piece mounted on the testing device body and served for a fatigue crack test.例文帳に追加

亀裂発生用の切欠きを備えた試験片に所定の負荷を繰り返し加えて該試験片に亀裂を生起する試験装置本体と、この試験装置本体に装着されて疲労亀裂試験に供されている試験片の亀裂発生面を撮像する撮像手段とを備える。 - 特許庁

To provide a penetration testing device securing high reliability of measurement data as the penetration testing device applied to a Swedish sounding test, the penetration testing device being capable of penetrating a penetration test rod into the ground in a mechanically clamped state and automatically conducting loading, load separation, and rotary excavation by mechanical means.例文帳に追加

スウェーデン式サウンディング試験に適用する貫入試験装置として、貫入試験用ロッドを機械的にクランプした状態で地盤中に貫入でき、荷重の負荷及び切り離し、回転掘進を機械的手段で自動的に行って測定データの高い信頼性を確保する。 - 特許庁