「testing device」に関連した英語例文の一覧と使い方(58ページ目) - Weblio英語例文検索

METHOD OF TESTING SEMICONDUCTOR CHIP AND SEMICONDUCTOR WAFER, AND METHOD OF MANUFACTURING SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

半導体チップ、半導体ウエハのテスト方法および半導体装置の製造方法 - 特許庁

CRITICAL VULCANIZATION DEGREE TESTING DEVICE FOR FOAMING IN RUBBER SAMPLE AND ITS METHOD FOR DETERMINING VULCANIZATION LIMIT例文帳に追加

ゴムサンプルの発泡限界加硫度試験装置およびその加硫限界特定方法 - 特許庁

To provide a semiconductor memory device which achieves speed up of a testing operation.例文帳に追加

テスト動作の高速化を図ることが可能な半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

To provide a safety evaluation testing method and a testing device for the same, which can capture the total amount of gas that is generated in a power storage device while testing and carry out a component analysis while making unnecessary a high pressure durable and high volume testing container for storing the power storage device and carrying out a safety evaluation test.例文帳に追加

本発明は、蓄電デバイスを収容し、安全性評価試験を行なうために高耐圧かつ高容積な試験容器が不要でありながら、試験時に蓄電デバイスから発生したガスの全量を捕獲し、成分分析が可能な安全性評価試験方法およびその試験装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

The testing device for testing a device to be tested is provided, which includes: a testing board equipped with a programmable circuit and testing the device to be tested by operation of the programmable circuit; and a control board equipped with a configuration memory which stores configuration data for programming a circuit configuration of the programmable circuit.例文帳に追加

被試験デバイスを試験する試験装置であって、プログラマブル回路を搭載し、プログラマブル回路の動作により被試験デバイスを試験する試験ボードと、プログラマブル回路の回路構成をプログラムするためのコンフィギュレーションデータを記憶するコンフィギュレーションメモリを搭載する制御ボードと、を備える試験装置を提供する。 - 特許庁

Since the test sequence and the testing patterns are stored in the nonvolatile memory 16 of the display device 10, this eliminates the need for cumbersome and extensive tasks of preparing testing devices respectively corresponding to the models of the display device and the test sequence and the testing pattern which are respectively suitable for the models of the display device and storing them in the testing devices, respectively.例文帳に追加

これにより、表示装置１０の不揮発性メモリ１６に検査シーケンスおよび検査用パターンが格納されているため、モデルごとに検査装置を準備し、モデルに合わせた検査シーケンスおよび検査用パターンをそれぞれの検査装置に格納するという煩雑で大掛かりな作業が不要となる。 - 特許庁

TESTING METHOD OF SEMI-CONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT, TESTING DEVICE OF SEMI-CONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT, STANDARD CIRCUIT BOARD USED FOR PERFORMING TESTING METHOD OF SEMI-CONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT AND DC SYSTEM RELAY MEANS USED FOR PERFORMING TESTING METHOD OF SEMI-CONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

半導体集積回路の試験方法と、半導体集積回路の試験装置と、半導体集積回路の試験方法の実施に用いる標準回路基板と、半導体集積回路の試験方法の実施に用いるＤＣ系中継手段 - 特許庁

A semiconductor testing system has: a semiconductor testing apparatus 1 for executing a predetermined test on a semiconductor device 11a; and a control apparatus 2 for setting testing conditions and instructing the semiconductor testing apparatus 1 to execute the test.例文帳に追加

半導体試験システムは、半導体デバイス１１ａに対して所定の試験を行う半導体試験装置１と、試験条件を設定するとともにこの試験の実行を半導体試験装置１に対して指示する制御装置２とを有する。 - 特許庁

To provide a display device, a testing method for the display device and a testing device for the display device, with which a wiring failure on a panel is detected correctly, while suppressing degradation in manufacturing yield.例文帳に追加

パネル上の配線不良を確実に検出でき、しかも、製造歩留まりの低下を抑制することが可能な表示装置、表示装置の検査方法、及び、表示装置の検査装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a testing device for experimentally testing for a prescribed period operation of a power distribution system linking a distributed power source.例文帳に追加

分散型電源を連系した配電系統の運用を所定期間にわたり実験的に試験することができる試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device having high versatility that can perform a favorable testing with less crosstalk even if an efficient way to use pins is employed.例文帳に追加

ピンの有効利用形態をとる場合でも、クロストークの少ない良好な試験が可能な、汎用性の高い半導体試験装置を実現する。 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR TESTING FUNCTION OF ACTIVE FINE- STRUCTURE ELEMENT, AND METHOD FOR MANUFACTURING ACTIVE FINE ELEMENT USING THE TESTING METHOD例文帳に追加

能動微細構造素子の機能試験方法及び装置、当該方法を用いて能動微細素子を製造する能動微細素子製造方法 - 特許庁

To readily and accurately provide a hepatitis C testing method capable of grasping the extent of advance of hepatitis C, and to provide a hepatitis C testing device.例文帳に追加

容易かつ正確にＣ型肝炎の進行度を把握できるＣ型肝炎検査方法およびＣ型肝炎検査装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a water-flow testing device 50 for testing a turbine blade profile constituting element 20 having inlets 30, 38, 44 for two water-flow routes.例文帳に追加

２つの水流経路の入口（３０、３８、４４）を有するタービン翼形部構成要素（２０）を試験する水試験装置（５０）を提供する。 - 特許庁

The present invention provides improvement for a testing device for testing the examined object for outputting a digital data and a synchronization word detecting signal.例文帳に追加

本発明は、デジタルデータ及び同期ワード検出信号を出力する被試験対象を試験する試験装置に改良を加えたものである。 - 特許庁

The testing device for the automobile 1 transmits the input vibration while imparting the rotational load to the wheels of the testing object X.例文帳に追加

そして、自動車用試験装置１は、試験対象Ｘの車輪に回転負荷を付与しつつ入力振動を伝達することを特徴とする。 - 特許庁

NUCLEIC ACID IMMOBILIZING SUBSTRATE, METHOD FOR MANUFACTURING SAME, NUCLEIC ACID TESTING DEVICE, METHOD FOR MANUFACTURING SAME AND NUCLEIC ACID TESTING METHOD例文帳に追加

核酸固定用基材、核酸固定用基材の製造方法、核酸検査用デバイス、核酸検査用デバイスの製造方法、並びに核酸検査方法 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device testing a plurality of DUTs simultaneously at a high speed, while suppressing deterioration of a test signal waveform.例文帳に追加

試験信号波形の劣化を抑えながら、複数のＤＵＴの試験を同時に高速で行える半導体試験装置を提供すること。 - 特許庁

To provide an electronic component testing device comprising a pin assign converter capable of converting a logical pin number of a testing unit into a physical pin number.例文帳に追加

試験ユニットの論理ピン番号を物理ピン番号に変換することができるピンアサインコンバータを備えた電子部品試験装置を提供する。 - 特許庁

The testing device includes also an strength measuring instrument constituted to measure frictional force generated between the testing material and the towing face.例文帳に追加

試験装置にはまた、試験材料と牽引面との間に生じる摩擦力を測定するように構成された強度測定装置が含まれる。 - 特許庁

To provide an electronic component testing device which is capable of performing a test at an accurate temperature in consideration of self-heating of an electronic component during testing.例文帳に追加

テスト時における電子部品の自己発熱を考慮して正確な温度で試験を行うことができる電子部品試験装置を提供する。 - 特許庁

This general-purpose testing tool 30 for testing the electronic device 20 such as a bare printed circuit board includes a plurality of address-specifiable contacts 200.例文帳に追加

ベアプリント回路基板等の電子デバイス２０をテストするための汎用テスト治具３０は、複数のアドレス指定可能な接点２００を含む。 - 特許庁

To provide a lift-off testing device capable of re-tensioning various anchors, and improving efficiency and safety of testing work.例文帳に追加

多様なアンカーに対して再緊張が可能であり、かつ試験作業の効率と安全性を向上させたアンカーのリフトオフ試験装置を提供する。 - 特許庁

A device comprises a testing unit 12 disposed outside of a wafer 16 and at least one testing circuit 14 formed on the wafer including an integrated circuit.例文帳に追加

ウェーハ１６の外部にある試験ユニット１２、および集積回路を含むウェーハ上に製造された少なくとも1つの試験回路１４を含む。 - 特許庁

To provide a semiconductor wafer testing method capable of testing whether each optical semiconductor device is normally operated or not, before completion.例文帳に追加

各光半導体装置が完成する前に正常動作するか否かを試験することが可能な、半導体ウェハの試験方法を提供する。 - 特許庁

Each of these four chambers A/B/C/D independently functions as a burn-in testing device, the burn-in testing device 1 of this embodiment may also be defined as the one consisting of four burn-in testing devices linked by the common duct 2.例文帳に追加

４基のチャンバーＡ，Ｂ，Ｃ，Ｄは、いずれも単独でバーンイン試験装置として機能するものであり、本実施形態のバーンイン試験装置１は、４台のバーンイン試験装置を共通ダクト２で繋いだものであるとも言える。 - 特許庁

To provide a device for testing a molded container which can save its installation space and a method for testing the molded container which can save a space necessary for testing the molded container.例文帳に追加

その設置スペースを小さなものとすることができる成形容器の検査装置、および成形容器の検査に必要なスペースを小さなものとすることができる成形容器の検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide a program device, a program testing method and a program testing program capable of performing program testing with a programmable condition and prohibiting occurrence of a program error.例文帳に追加

本発明は、プログラマブルな条件でプログラム試験が行え、プログラムエラーの発生を未然に防ぐことができるプログラム装置、プログラム試験方法およびプログラム試験用プログラムを提供することを目的とする。 - 特許庁

The semiconductor testing apparatus 1 includes a tester controller 10 for controlling the semiconductor testing apparatus 1 in an integral manner, and a redundancy system 20 which performs redundancy operations using the result of testing a semiconductor device.例文帳に追加

半導体試験装置１は、半導体試験装置１を統括制御するテスタコントローラ１０と、半導体デバイスの試験結果を用いてリダンダンシ演算を行うリダンダンシシステム２０とを備える。 - 特許庁

To provide an electronic circuit testing device suitable for testing an electronic circuit for conducting inter-substrate communication by inductive coupling, and capable of testing the electronic circuit without using a pad for a test.例文帳に追加

誘導性結合によって基板間通信を行う電子回路を試験するのに好適で、テスト用のパッドを使わなくても電子回路を試験することができる電子回路試験装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing apparatus capable of reducing the footprint of the semiconductor testing apparatus inside a semiconductor clean area, and thereby, reducing installation cost and device testing cost and time that accompany installation.例文帳に追加

半導体クリーンエリア内の半導体試験装置の占有面積を低減して、設置コストやそれに伴うデバイスのテストコスト及びテスト時間を低減することができる半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

The cold thermal shock testing device 1 stops fans 11, 16 at the time of a change in test environment and stops air circulation inside the high-temperature testing laboratory 2 and inside the low-temperature testing laboratory 3.例文帳に追加

冷熱衝撃試験装置１は、試験環境の切り替え時に送風機１１，１６を停止し、高温試験室２内および低温試験室３内における空気の循環流を停止させる。 - 特許庁

To provide a technique for enabling error verification of a disk device from an upper level device without using a dedicated testing device.例文帳に追加

専用の試験機を用いずに，上位装置からディスク装置のエラー検証を行うことを可能とする技術を提供する。 - 特許庁

To provide a highly durable semiconductor device testing device adaptable to a semiconductor device having a fine-pitch electrode.例文帳に追加

ファインピッチの電極を有する半導体デバイスに対応可能であり，耐久性の高い半導体デバイス試験装置を提供する。 - 特許庁

ANISOTROPIC CONDUCTIVE SHEET AND ITS MANUFACTURING METHOD, ADAPTER DEVICE AND ITS MANUFACTURING METHOD AS WELL AS ELECTRICAL TESTING DEVICE OF CIRCUIT DEVICE例文帳に追加

異方導電性シートおよびその製造方法、アダプター装置およびその製造方法並びに回路装置の電気的検査装置 - 特許庁

To provide a telephone switchboard testing device of improved operability for speaking time setting.例文帳に追加

通話時間設定の操作性向上を図った電話交換機試験装置を提供する。 - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEVICE, ITS BURN-IN TESTING METHOD, ITS MANUFACTURING METHOD, BURN-IN TEST CONTROL CIRCUIT例文帳に追加

半導体装置及びそのバーンインテスト方法、製造方法並びにバーンインテスト制御回路 - 特許庁

In each testing element, a measuring and computing circuit is arranged and connected to the semiconductor inspection device.例文帳に追加

各々の試験素子に測定・演算回路を設け、半導体検査装置に接続する。 - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEVICE, USE THEREOF, AND METHOD OF TESTING THE SAME例文帳に追加

半導体装置および半導体装置の使用方法ならびに半導体装置の試験方法 - 特許庁

To provide a highly reliable device for testing a stud that permits easy and steady access to it.例文帳に追加

スタッドに容易かつ確実にアクセスでき、信頼性の高いスタッド検査装置を提供する。 - 特許庁

To achieve a high speed and high functionalization of an existing testing device at a low cost by means of an addition circuit.例文帳に追加

付加回路を用いて既存の試験装置を低コストで高速および高機能化する。 - 特許庁

To provide a semiconductor device that can improve the testing accuracy of an MCP.例文帳に追加

ＭＣＰの試験精度を向上させることのできる半導体装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a system and a method for compressing effectively a test data for testing a device to be tested (DUT).例文帳に追加

試験対象デバイス(DUT)をテストするためのテストデータをより効果的に圧縮する。 - 特許庁

To provide a testing apparatus which can examine the jitterproof strength of an electronic device, with precision.例文帳に追加

電子デバイスのジッタ耐力を精度よく試験することができる試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor device for reducing power consumption at testing.例文帳に追加

本発明は、テスト時における消費電力を小さくする半導体装置を提供する。 - 特許庁