「testing device」に関連した英語例文の一覧と使い方(56ページ目) - Weblio英語例文検索

FATIGUE STRENGTH TESTING DEVICE AND FATIGUE STRENGTH TEST METHOD FOR BRAKE PISTON MADE OF RESIN例文帳に追加

樹脂製ブレーキピストンの疲労強度試験装置および疲労強度試験方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEVICE TESTING APPARATUS AND METHOD FOR TIMING CALIBRATION OF THE SAME例文帳に追加

半導体デバイス試験装置のタイミング校正方法・半導体デバイス試験装置 - 特許庁

FAILURE POSITION JUDGING METHOD FOR ELEVATOR BROADCASTING CIRCUIT AND ITS OPERATION TESTING DEVICE例文帳に追加

エレベータ放送回路の故障箇所判定方法およびその動作試験装置 - 特許庁

To provide an apparatus for testing a semiconductor device capable of shortening the test time.例文帳に追加

試験時間を短縮することが可能な半導体試験装置を実現する。 - 特許庁

ANALYTICAL METHOD FOR SCAN TEST CIRCUIT, TESTING APPARATUS AND SEMICONDUCTOR INTEGRATED-CIRCUIT DEVICE例文帳に追加

スキャンテスト回路の解析方法、テスト装置、および半導体集積回路装置 - 特許庁

To provide a RAM bus handler capable of automatically testing a RAM bus type semiconductor device.例文帳に追加

RAMバス型の半導体ディバイスを自動でテストできるRAMバスハンドラを提供する。 - 特許庁

SCAN TEST CIRCUIT AND SEMICONDUCTOR DEVICE EQUIPPED WITH THE SAME AND SCAN TESTING METHOD THEREFOR例文帳に追加

スキャンテスト回路およびそれを備えた半導体装置ならびにスキャンテスト方法 - 特許庁

SEQUENCE CIRCUIT AND SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT TESTING DEVICE EQUIPPED WITH THE SAME CIRCUIT例文帳に追加

シーケンス回路及び当該回路を備える半導体集積回路試験装置 - 特許庁

VOLTAGE MONITORING CIRCUIT AND IC TESTING DEVICE WITH VOLTAGE MONITORING CIRCUIT BUILT THEREIN例文帳に追加

電圧監視回路および電圧監視回路が内蔵されたＩＣ試験装置 - 特許庁

LINEARIZATION METHOD OF VARIABLE DELAY CIRCUIT, TIMING GENERATOR AND SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE例文帳に追加

可変遅延回路の線形化方法、タイミング発生器及び半導体試験装置 - 特許庁

The accident, the 71 people who died... we were testing the cloaking device.例文帳に追加

事故で71名が死んだ 遮蔽装置のテストをしているときだ 遮蔽はできたの? - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書

The whole tissue removing or bio-testing device 10 is formed to be disposable.例文帳に追加

組織除去又は生検装置１０全体は使い捨て可能に形成される。 - 特許庁

COMMUNICATION TESTING DEVICE WITH VIRTUALIZED INPUT/OUTPUT COMMUNICATION PORT AND ITS METHOD例文帳に追加

仮想化した入出力通信ポートを具備する通信試験装置および方法 - 特許庁

To provide a test method and a test device testing a flash memory in a short time.例文帳に追加

フラッシュメモリを短時間に試験する試験方法と、試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a system, a device, and a method for dynamically testing an integrated circuit.例文帳に追加

集積回路をダイナミックにテストするシステム，デバイス，および方法を提供する。 - 特許庁

To provide a fatigue testing device and a method capable of being implemented stably.例文帳に追加

特に、安定して実施可能な疲労試験装置および方法を提供する。 - 特許庁

The temperature testing device 1 is an inline temperature testing device for testing the performance of the crystal oscillator CR while transferring the crystal oscillator CR along the X direction in one temperature bath 11.例文帳に追加

温度試験装置１は、１つの温度槽１１内において水晶振動子ＣＲをＸ方向に沿って搬送しながら水晶振動子ＣＲの特性を測定するインライン方式の温度試験装置である。 - 特許庁

To provide a testing device and a type-switching method capable of shortening a type switching operation time of a device, in testing of the semiconductor device under a low-temperature environment.例文帳に追加

低温環境下での半導体デバイスの試験における該デバイスの品種切替作業時間を短縮させることができる試験装置及び品種切替方法を提供することにある。 - 特許庁

A pair of front-and-rear testing rollers 3, 3 journaled on right and left upper faces of a device body 2 constituting this vehicle testing device 1 are rotated integrally by a driving force of a driving device 4.例文帳に追加

車両試験装置１を構成する装置本体２の左右上面に軸受された前後一対の試験ローラ３…を駆動装置４の駆動力で一体的に回転する。 - 特許庁

When testing the electric characteristics of a semiconductor device, an electrode formed in the semiconductor device is brought into contact with the recess 5b of a pin 5 to energize the semiconductor device to the testing substrate 9 side.例文帳に追加

半導体装置の電気的特性試験を行なう際、ピン５の凹部５ｂに、半導体装置に形成された電極を接触させ、半導体装置を試験基板９側へ付勢する。 - 特許庁

To provide a telephone exchange testing device suitable for testing a telephone exchange function to be performed in response to an API, and to provide its method.例文帳に追加

ＡＰＩに従って行われる電話交換機能の試験に適した電話交換機試験装置およびその方法を提供する。 - 特許庁

To provide a battery testing device and a battery testing method capable of appropriately verifying behavior when a battery is broken.例文帳に追加

電池が破損した場合の振る舞いを適切に検証することが可能となる電池試験装置及び電池試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a device for pull-out testing of an eyeless needle which can perform a pull out test of a plurality of eyeless needles within short time, and to provide a testing method of the same.例文帳に追加

複数のアイレス針の引抜き試験を短時間で行うことができるアイレス針の引抜試験装置と方法を提供する。 - 特許庁

To provide a memory testing device and a memory testing method which can simultaneously execute a plurality of memory tests only by simple address management.例文帳に追加

簡単なアドレス管理だけで複数個のメモリ試験を同時に実行できるメモリ試験装置およびメモリ試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a pinhole-testing device and a pinhole testing method capable of surely measuring the presence of a pinhole existing in a thin film.例文帳に追加

薄いフィルムに存在するピンホールの有無の測定を確実に行えるピンホール試験装置およびピンホール試験方法を提供する。 - 特許庁

QUENCH DUCT TESTING APPARATUS, MAGNETIC RESONANCE IMAGING DEVICE COMPRISING QUENCH DUCT TESTING APPARATUS, AND INFORMATION MANAGEMENT APPARATUS WHICH MANAGES STATUS OF QUENCH DUCT例文帳に追加

クエンチダクト検査装置、クエンチダクト検査装置を備える磁気共鳴イメージング装置、及びクエンチダクトの状態を管理する情報管理装置 - 特許庁

To provide a system for testing a semiconductor device, capable of reflecting a result of a sample test to another test, and to provide a method of testing.例文帳に追加

サンプルテストの結果を他のテストに反映させることができる半導体装置のテストシステムおよびテスト方法に関するものである。 - 特許庁

To miniaturize an optical pulse testing device (OTDR) by light-transmitting/receiving a testing light and a return light, and a monitor communication light, by means of a single unit.例文帳に追加

試験光及び戻り光と、モニタ通信光とを単体で送受光して、光パルス試験器（ＯＴＤＲ）の小型化を図る。 - 特許庁

To enable a power source short circuit testing to be performed, without having to provide a testing pad in a semiconductor device having power shutdown function.例文帳に追加

電源遮断機能を有する半導体装置において試験用パッドを設けることなく電源ショート試験の実施を可能にする。 - 特許庁

To provide a testing device and a testing method for evaluating the expansive properties of steel pipe, in an expansive type oil well, in a precisely and effective manner.例文帳に追加

拡管型油井における鋼管の拡管性を精度良く、また、効率良く評価する試験装置及び試験方法を提供する - 特許庁

To provide a device and method for testing immunity which reduces omission of fault detection at the time of testing EMC of the immunity.例文帳に追加

ＥＭＣイミュニティ試験時の不具合検出漏れを減少させ、且つ省力化が可能なイミュニティ試験装置及び試験方法の提供。 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR MODELING OPERATIONAL SPEED OF WORKING MACHINE, METHOD AND DEVICE FOR OPTIMIZING OPERATIONAL ROUTE, AND METHOD AND DEVICE FOR TESTING OPERATIONAL SPEED例文帳に追加

加工機の動作速度モデル化方法、装置、動作経路最適化方法、装置、及び、動作速度検定方法、装置 - 特許庁

The lay-out providing device comprises a device for synthesizing the test probe molecule with high density, a microarray testing device and a microarray reading device.例文帳に追加

レイアウト提供装置は、高密度でテストプローブ分子を合成するための装置、マイクロアレイ・テスト装置、及びマイクロアレイ読み取り装置からなる。 - 特許庁

In addition, the core-line determining device 60 controls a light pulse testing control terminal device 50 so as to make a light pulse testing device 30 perform testing of a light pulse, and thereby a light line length between the OLT 11 and each of optical filters 22-1 to 22-8 is computed.例文帳に追加

また、心線判定装置６０は、光パルス試験制御端末５０を制御して光パルス試験装置３０による光パルス試験を実行させ、ＯＬＴ１１と光フィルタ２２−１〜２２−８それぞれとの間の光線路長を算出する。 - 特許庁

To provide an analyte measurement device for testing blood glucose levels, and a method of operating the analyte measurement device.例文帳に追加

血液中の血糖値を試験するための検体測定装置およびその操作方法を提供する。 - 特許庁

A semiconductor inspection system 200 has a sorter 10, a detecting device 30 and a testing device 40.例文帳に追加

半導体検査システム２００は、分類装置１０と検出装置３０と試験装置４０とを有する。 - 特許庁

To provide a device capable of individually testing each layer of thin membrane of an integral multi-layered device.例文帳に追加

一体式の多層装置の薄膜の各層を個々に試験することを可能にする装置を提供する。 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR DETECTING FLUORESCENT BEAD OR FLUORESCENT DOT ARRAY, AND DNA TESTING METHOD AND DEVICE例文帳に追加

蛍光ビーズ又は蛍光ドットアレーの検出方法及び装置並びにＤＮＡ検査方法及び装置 - 特許庁

To provide a device for testing an element which improves productivity of a semiconductor device and attains cost reduction thereof.例文帳に追加

半導体装置の生産性を向上させ、低コスト化を実現する素子試験装置を提供する。 - 特許庁

To easily install a vibration control device in a predetermined position where its axis is made coincident with a driving part of a testing device.例文帳に追加

防振器を試験装置の駆動部との軸心を一致させた所定位置に簡単に取り付ける。 - 特許庁

To provide an elevator device and a testing method for confirming the operation of an emergency stop device easily.例文帳に追加

非常止め装置の動作確認が容易に行えるエレベーター装置及び試験方法等を提供する。 - 特許庁

TRANSMISSION LINE TESTING DEVICE FOR BS ADDED CHANNEL, AND TRANSMISSION LINE TEST SIGNAL GENERATING DEVICE FOR BS ADDED CHANNEL例文帳に追加

ＢＳ追加チャンネル用伝送路試験装置およびＢＳ追加チャンネル用伝送路試験信号発生装置 - 特許庁

To provide a washing device of a water-cooled cooling mechanism, used for a test head of an IC testing device.例文帳に追加

ＩＣ試験装置のテストヘッドに使用される水冷式冷却機構の洗浄装置を提供する。 - 特許庁

VOLTAGE/CURRENT GENERATION MEASURING DEVICE AND THE SAME FOR SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE例文帳に追加

電圧電流発生測定装置及びこれを用いる半導体試験装置の電圧電流発生測定装置 - 特許庁

SUBSTRATE, SEMICONDUCTOR DEVICE USING THE SAME, AND TESTING METHOD AND MANUFACTURING METHOD FOR SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

基板、これを用いた半導体装置、半導体装置の検査方法および半導体装置の製造方法 - 特許庁