「testing device」に関連した英語例文の一覧と使い方(52ページ目) - Weblio英語例文検索

CHIP HOLDING MEANS FOR SEMICONDUCTOR DEVICE TESTING UNIT AND TEST METHOD例文帳に追加

半導体デバイスの試験装置用のチップ保持手段及び試験方法 - 特許庁

ANISOTROPIC ELECTRICAL CONDUCTIVE SHEET, TESTING DEVICE AND CONNECTOR USING THE SAME例文帳に追加

異方導電性シートおよびそれを用いた検査装置並びにコネクター - 特許庁

SIGNAL GENERATOR, METHOD OF GENERATING SIGNAL, TESTING DEVICE, AND SEMICONDUCTOR CHIP例文帳に追加

信号発生器、信号発生方法、試験装置および半導体チップ - 特許庁

DEVICE FOR DETECTING ANGLE-POSITION/SPEED OF ROTOR AND SYSTEM FOR TESTING MOTIVE POWER例文帳に追加

回転体の角度位置／速度検出装置および動力試験システム - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR TESTING DRIVING SOURCE OUTPUT TRANSMISSION BODY FOR VEHICLE例文帳に追加

車両の駆動源出力伝達体の試験方法及び試験装置 - 特許庁

METHOD FOR REMOVING NOISE AND OPTICAL LINE TESTING DEVICE USING THE METHOD例文帳に追加

雑音除去方法及び当該方法を用いた光線路試験装置 - 特許庁

CONTROL-SYSTEM TESTING DEVICE AND METHOD FOR RENEWING FIELD EQUIPMENT USING THE SAME例文帳に追加

制御系試験装置、及び、これを用いたフィールド機器の更新方法 - 特許庁

To provide an alarm device with a testing function convenient in use for a user.例文帳に追加

ユーザの使い勝手が良い、試験機能付きの警報器を提供する。 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR TESTING GROUND LEAKAGE BREAKER BUILT IN ELECTRIC WORK DRUM例文帳に追加

電工ドラムに内蔵された漏電遮断器の試験方法および装置 - 特許庁

To perform easily and surely testing a single unit of a storage device.例文帳に追加

記憶装置の単体テストが簡単、かつ確実に行えるようにする。 - 特許庁

HYDRAULIC TESTING DEVICE FOR PIPE JOINT SECTION AND HYDRAULIC TEST METHOD USING THE SAME例文帳に追加

管継手部の水圧試験装置とこれを用いた水圧試験方法 - 特許庁

EXTERNAL WALL FOULING ACCELERATED TEST METHOD AND EXTERNAL WALL FOULING ACCELERATED TESTING DEVICE例文帳に追加

外壁汚れ促進試験方法及び外壁汚れ促進試験装置 - 特許庁

IMPEDANCE CONVERSION CIRCUIT, INPUT AND OUTPUT CIRCUIT, AND SEMI-CONDUCTOR TESTING DEVICE例文帳に追加

インピーダンス変換回路、入出力回路及び半導体試験装置 - 特許庁

To provide a small-sized and simple joining strength testing device at low cost.例文帳に追加

小型で簡便な接合強度試験装置を低コストで提供する。 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR TESTING LUBRICATION PROPERTY OF EMULSION ROLLING OIL例文帳に追加

エマルション圧延油の潤滑性試験装置および潤滑性試験方法 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device reducing a management load of a DUT board.例文帳に追加

DUTボードの管理負担を軽減する半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

TIMING CALIBRATION CIRCUIT AND TIMING CALIBRATION METHOD OF SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE例文帳に追加

半導体試験装置のタイミング校正回路及びタイミング校正方法 - 特許庁

The volume gain testing device includes a correction volume circuit 2 and a controller 3.例文帳に追加

ボリュームゲイン試験装置は、補正ボリューム回路２とコントローラ３とを含む。 - 特許庁

WAFER PROBER AND SEMICONDUCTOR DEVICE MANUFACTURING METHODS AND ASSOCIATED SEMICONDUCTOR TESTING EQUIPMENT例文帳に追加

ウェハプローバ及び半導体装置の製造方法、半導体試験装置 - 特許庁

To provide a technology for properly testing a database access control device.例文帳に追加

データベースアクセス制御装置を適切に試験する技術を提供する。 - 特許庁

TRANSFORMATION PLASTIC COEFFICIENT TESTING DEVICE AND TRANSFORMATION PLASTIC COEFFICIENT IDENTIFICATION METHOD例文帳に追加

変態塑性係数試験装置および変態塑性係数同定方法 - 特許庁

ENVIRONMENTAL TESTING DEVICE HAVING DEW CONDENSATION CONTROL MECHANISM FOR TEST OBJECT SURFACE例文帳に追加

被試験物表面の結露制御機構を備えた環境試験装置 - 特許庁

ELECTRODE REACTION CHARACTERISTIC TESTING DEVICE AND ELECTRODE REACTION CHARACTERISTIC TEST METHOD例文帳に追加

電極反応特性試験装置及び電極反応特性試験方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR TEST CIRCUIT, SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE, AND SEMICONDUCTOR TESTING METHOD例文帳に追加

半導体試験回路、半導体記憶装置および半導体試験方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR TESTING APPARATUS, WAFER MAP DISPLAY DEVICE, AND WAFER MAP DISPLAY PROGRAM例文帳に追加

半導体試験装置、ウエハマップ表示装置及びウエハマップ表示プログラム - 特許庁

NOISE-WAVEFORM-ACCOMPANIED DRIVER INPUT GENERATING METHOD FOR SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE例文帳に追加

半導体試験装置のノイズ波形を伴うドライバ入力発生方法 - 特許庁

METHOD FOR PREPROCESSING SEMICONDUCTOR TEST PROGRAM AND SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE例文帳に追加

半導体試験用プログラムの前処理方法および半導体試験装置 - 特許庁

PROCESS TREATING DEVICE FOR WIRE HARNESS, AND CONDUCTION TESTING METHOD OF WIRE HARNESS例文帳に追加

ワイヤーハーネス用工程処理装置及びワイヤーハーネスの導通検査方法 - 特許庁

TACKINESS TESTING DEVICE FOR PREPREG AND TACKINESS TEST METHOD OF PREPREG例文帳に追加

プリプレグの粘着性試験装置およびプリプレグの粘着性試験方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE AND METHOD, AND METHOD OF MANUFACTURING SEMICONDUCTOR例文帳に追加

半導体試験装置及びその方法並びに半導体の製造方法 - 特許庁

SIGNAL PROCESSING APPARATUS AND SEMICONDUCTOR DEVICE TESTING APPARATUS USING ITS APPARATUS例文帳に追加

信号処理装置およびその装置を用いた半導体デバイス試験装置 - 特許庁

To reduce cost and period in a test device for testing an integrated circuit.例文帳に追加

集積回路をテストするテスト装置において、費用、期間を削減する。 - 特許庁

To provide a technique for suitably testing a route information managing device.例文帳に追加

経路情報管理装置を適切に試験する技術を提供する。 - 特許庁

INVERTER TYPE X-RAY HIGH VOLTAGE GENERATOR AND ITS AUTOMATIC OPERATION TESTING DEVICE例文帳に追加

インバータ式Ｘ線高電圧装置およびその自動動作試験装置 - 特許庁

TEST PIECE CLAMPING DEVICE AND TESTING MACHINE EQUIPPED WITH THE SAME例文帳に追加

試験片クランプ装置及びこの試験片クランプ装置を備えた試験機 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR TESTING SHAPE FOR DIGITAL IMAGE READER例文帳に追加

デジタル画像読取装置用形状検査装置および形状検査方法 - 特許庁

To provide a testing device capable of conducting low-load testing operating only the control circuits and subsequent high-load testing, with no temporary blackout, and without the use of no high-capacity program power supply.例文帳に追加

試験装置において、大容量のプログラム電源を用いることなく、制御回路だけを動作させる低負荷試験と、それに続く高負荷試験とを瞬断なく行う。 - 特許庁

This thermal shock testing device 1 has a high temperature testing vessel 2 and a low temperature testing vessel 3, and a rack 4 for mounting the sample is movable between the both.例文帳に追加

冷熱衝撃試験装置１は、高温試験槽２と低温試験槽３とを有し、両者の間を試料Ｗを載せたラック４が移動可能な構成とされている。 - 特許庁

To provide a magnetic head slider testing device and a magnetic head slider testing method capable of efficiently and highly accurately positioning a row bar on a testing stage by a simple structure.例文帳に追加

効率よく、簡単な機構でかつ高い精度でロウバーを検査ステージに位置決めできる磁気ヘッドスライダ検査装置および磁気ヘッドスライダ検査方法を提供することにある。 - 特許庁

To provide a tire testing device and a tire testing method for testing uniformity upon generating a flat spot to a tire under environment close to that of an actual vehicle.例文帳に追加

実車に近い環境でフラットスポットをタイヤに生成した上でユニフォーミティの試験を行うことができるタイヤ試験装置およびタイヤ試験方法を提供する。 - 特許庁

TESTING SYSTEM, CLIENT DEVICE AND RELAY DEVICE CONTAINED IN THE SYSTEM, TESTING METHOD FOR COMMUNICATIONS APPARATUS, AND PROGRAM PRODUCT FOR CAUSING COMPUTER TO FUNCTION AS CLIENT DEVICE OR RELAY DEVICE例文帳に追加

テストシステム、そのシステムに含まれるクライアント装置および中継装置、通信機器のテスト方法、ならびに、コンピュータをクライアント装置または中継装置として機能させるためのプログラム - 特許庁

The estimation means estimates the internal variable on the basis of data transmitted from the device to be tested to the testing device and data transmitted from the testing device to the device to be tested.例文帳に追加

前記推定手段は、被試験装置から試験装置に送信されたデータ、および試験装置から被試験装置へ送信されたデータに基づいて前記内部変数を推定する。 - 特許庁

To realize an access timing desired by an operator by varying the timing of access to a file device by a device driver, in a testing device for file device and a test method in the file device testing device.例文帳に追加

本発明はファイル装置の試験装置及び該ファイル装置の試験装置における試験方法に関し、デバイスドライバのファイル装置へのアクセスタイミングを可変にすることで、オペレータが意図したアクセスタイミングを実現する。 - 特許庁

This environment testing device 1 cools or heats the testing object 3 placed on a work placing surface 4a controlled in the prescribed temperature by a work placing surface temperature control mechanism 5, and transfers the testing object to a prescribed testing temperature.例文帳に追加

環境試験装置１ではワーク載置面温度制御機構５によって所定温度に制御されているワーク載置面４ａに載せた被試験品３が冷却あるいは加熱されて所定の試験温度に移行する。 - 特許庁

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE, TEST PATTERN GENERATING METHOD FOR IT, METHOD FOR TESTING SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE, AND SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT TESTING DEVICE例文帳に追加

半導体集積回路装置のテストパターン作成方法、半導体集積回路装置、半導体集積回路装置のテスト方法、および、半導体集積回路試験装置 - 特許庁