「testing device」に関連した英語例文の一覧と使い方(50ページ目) - Weblio英語例文検索

SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE AND TEST METHOD OF SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

半導体試験装置及び半導体集積回路の試験方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE AND TEST METHOD OF SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

半導体試験装置および半導体集積回路の試験方法 - 特許庁

TESTING PROCESS/DEVICE/PROGRAM/PROGRAM RECORDING MEDIUM OF INFORMATION PROCESSING APPARATUS例文帳に追加

情報処理装置の試験方法／装置／プログラム／プログラム記録媒体 - 特許庁

To inhibit the malfunction of a temperature testing device caused by the probe pin.例文帳に追加

プローブピンが原因となる温度試験装置の不具合を防止する。 - 特許庁

To prevent conduction failure between a testing device (probe needle) for a vertical testing device and a semiconductor chip (electrode pad), or dispersion of a contact resistance.例文帳に追加

垂直式試験装置の試験装置（プローブ針）と半導体チップ（電極パッド）との導通不良や、接触抵抗のバラツキを防止する。 - 特許庁

SIGNAL MEASUREMENT APPARATUS, SIGNAL MEASUREMENT SYSTEM AND SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE例文帳に追加

信号測定装置、信号測定システムおよび半導体試験装置 - 特許庁

JITTER AMPLIFYING CIRCUIT, SIGNAL GENERATING CIRCUIT, SEMICONDUCTOR CHIP, AND TESTING DEVICE例文帳に追加

ジッタ増幅回路、信号発生回路、半導体チップ、及び試験装置 - 特許庁

SEMICONDUCTOR WAFER TESTING DEVICE AND WAFER LEVEL CHIP SIZE PACKAGE例文帳に追加

半導体ウェハの検査装置及びウェハレベルチップサイズパッケージの製造装置 - 特許庁

TEMPERATURE DETECTION CIRCUIT, ITS TESTING METHOD, AND SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

温度検出回路およびその試験方法、並びに半導体装置 - 特許庁

MOS-FET DRIVE CIRCUIT, DRIVER CIRCUIT, AND SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE例文帳に追加

ＭＯＳ−ＦＥＴ駆動回路、ドライバ回路及び半導体試験装置 - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEVICE HAVING STRUCTURE FOR CHECKING AND TESTING CRACK IN SEMICONDUCTOR CHIP例文帳に追加

半導体チップのクラックのチェックテスト構造を有する半導体装置 - 特許庁

EVENT TYPE SEMICONDUCTOR TEST DEVICE AND EVENT TYPE SEMICONDUCTOR TESTING METHOD例文帳に追加

イベント型半導体テスト装置およびイベント型半導体テスト方法 - 特許庁

TIMING SIGNAL GENERATOR AND SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT TESTING DEVICE例文帳に追加

タイミング信号発生装置及び半導体集積回路試験装置 - 特許庁

COMPOSITE SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE AND ITS CONNECTION TESTING METHOD例文帳に追加

複合半導体集積回路装置、及びその接続試験方法 - 特許庁

ATTACHMENT FOR SOCKET AND SEMICONDUCTOR DEVICE TESTING APPARATUS HAVING THE SAME例文帳に追加

ソケット用アタッチメント及びそれを有する半導体デバイス試験装置 - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEVICE, ITS MANUFACTURING METHOD AND ITS TESTING METHOD例文帳に追加

半導体装置と半導体装置の製造方法及びテスト方法 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR TESTING CROSSOVER VOLTAGE OF DEFERENTIAL SIGNAL例文帳に追加

差分信号の交差電圧をテストするための装置及びその方法 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR GRASPING EXTREMELY FINE FIBER AND EXTREMELY FINE FIBER TESTING EQUIPMENT例文帳に追加

極細繊維把持装置、把持方法および極細繊維試験装置 - 特許庁

MANUFACTURING METHOD OF SPECIMEN FOR ORGANISM-RELATED SUBSTANCE, AND TESTING DEVICE例文帳に追加

生体関連物質用試験片の製造方法、及び試験装置 - 特許庁

NONVOLATILE MEMORY DEVICE EQUIPPED WITH BUFFER FOR TEST AND TESTING METHOD THEREOF例文帳に追加

テスト用バッファを備えた不揮発性メモリ装置及びそのテスト方法 - 特許庁

PATTERN GENERATOR AND SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE EQUIPPED WITH PATTERN GENERATOR例文帳に追加

パターン発生器及びパターン発生器を備えた半導体試験装置 - 特許庁

METHOD FOR MANAGING MEMORY RESOURCE IN DATA NETWORK TESTING DEVICE例文帳に追加

データ・ネットワーク試験装置におけるメモリ資源を管理するための方法 - 特許庁

ELECTROOPTICAL APPARATUS, TESTING METHOD AND DRIVING DEVICE FOR THE SAME AND ELECTRONIC APPARATUS例文帳に追加

電気光学装置、その駆動方法、駆動装置および電子機器 - 特許庁

SCRATCH TESTING METHOD AND DEVICE USING ACCELERATION DETECTION METHOD例文帳に追加

加速度検出方式を使用したスクラッチ試験方法及び該装置 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR HOLDING EXTREMELY FINE FIBER, AND EXTREMELY FINE FIBER TESTING APPARATUS例文帳に追加

極細繊維把持装置、把持方法および極細繊維試験装置 - 特許庁

TESTING APPARATUS FOR SOLID-STATE IMAGING DEVICE, REPEATER, AND OPTICAL MODULE例文帳に追加

固体撮像素子の試験装置、中継装置および光学モジュール - 特許庁

SEMICONDUCTOR INTEGRATED DEVICE AND METHOD OF TESTING THE SAME例文帳に追加

半導体集積装置及び半導体集積装置のテスト方法 - 特許庁

RECORDING AND REPRODUCING HEAD TESTING METHOD, ITS DEVICE AND RECORDING MEDIUM例文帳に追加

記録再生ヘッド検査方法及びその装置並びに記録媒体 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device capable of a test with an irregular test pattern by adding a simple constitution to a semiconductor testing device for testing with a regular test pattern.例文帳に追加

規則的なテストパターンでテストを行うための半導体試験装置に簡易な構成を付加することで不規則テストパターンでのテストが可能となる半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide an electric wire flexibility testing device and its testing method, capable of carrying out testing at a high measurement accuracy, inexpensively, without twisting of wires during testing, and with little fluctuation of measurement.例文帳に追加

低コストで、試験中に電線が捩れることなく、計測のバラつきが少なく、高い計測精度で試験を行うことができる電線の耐屈曲性試験装置およびその試験方法を提供する。 - 特許庁

To reduce remarkably a time necessary for a multi process testing accompanying a retesting process with a mechanical constitution equipped with the present testing devices as it is, with respect to the multi-process testing method and the multi-process testing device.例文帳に追加

多工程試験方法及び多工程試験装置に関し、現在の試験装置の具備する機械的構成のままで再試験工程を伴う多工程試験に要する時間を大幅に低減する。 - 特許庁

The network switching apparatus includes a signal determining device 1 for determining a testing data transmitted and received via lines among VLAN sites 100, a testing signal generating device 2 for generating testing data as a response of the testing data or testing data for requesting transmission via the lines, and a switching control device 3 for controlling switching transmission of this testing data.例文帳に追加

ＶＬＡＮサイト１００の相互間で回線を介して送受信される試験用データを判断する信号判断手段１と、この試験用データの応答としての試験用データ又は回線を介して送信する要求としての試験用データを生成する試験信号生成手段２と、このデータのスイッチング送信を制御するスイッチ制御手段３とを備える。 - 特許庁

The testing device 20 monitors an output terminal voltage of the testing device 20, and elevates a voltage command value for applying an output voltage of the testing device 20 up to a level of the output terminal voltage, when the actual output terminal voltage is higher than the output voltage of the testing device 20.例文帳に追加

試験装置２０は、試験装置２０の出力端電圧を監視し、試験装置２０の出力電圧よりも実際の出力端電圧の方が高いとき、試験装置２０の出力電圧を与えるための電圧指令値を実際の出力端電圧のレベルに上昇させる。 - 特許庁

To provide an LSI testing device which can easily test an electronic device.例文帳に追加

電子デバイスについて、容易に試験を行うことのできるＬＳＩ試験装置を提供する。 - 特許庁

METHOD FOR CALIBRATING OR TESTING LITHOGRAPHIC DEVICE OR PART THEREOF AND METHOD FOR MANUFACTURING DEVICE例文帳に追加

リソグラフィ装置又はその一部を較正又は検定する方法及びデバイス製造方法 - 特許庁

To provide a more inexpensive interface between a testing device and an application device.例文帳に追加

試験装置とアプリケーション装置の間におけるより低コストのインターフェイスを提供する。 - 特許庁

TIMING CALIBRATION METHOD FOR IC TESTING DEVICE, AND SHORT- CIRCUIT DEVICE USED FOR THE CALIBRATION METHOD例文帳に追加

ＩＣ試験装置のタイミング校正方法及びこの校正方法に用いるショートデバイス - 特許庁

EXPOSURE METHOD, DEVICE MANUFACTURING AND PROCESSING METHOD, DEVICE MANUFACTURING AND PROCESSING SYSTEM, AND MEASURING AND TESTING APPARATUS例文帳に追加

露光方法、デバイス製造処理方法、デバイス製造処理システム及び測定検査装置 - 特許庁

IMPACT TEST METHOD, IMPACT TESTING DEVICE AND RELIABILITY EVALUATION METHOD OF SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

衝撃試験方法、衝撃試験装置および半導体装置の信頼性評価方法 - 特許庁

GRADATION WIRING FOR DISPLAY DEVICE, DRIVER FOR LIQUID CRYSTAL DISPLAY DEVICE AND ITS STRESS TESTING METHOD例文帳に追加

表示器用階調配線、液晶表示器用ドライバ及びそのストレス試験方法 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR CALIBRATING VOLTAGE GENERATOR OF IC TESTING DEVICE例文帳に追加

ＩＣ試験装置における電圧発生器の校正方法・電圧発生器の校正装置 - 特許庁

DATA COMMUNICATION DEVICE, CENTRAL MANAGEMENT DEVICE, TESTING METHOD, REMOTE MANAGEMENT SYSTEM, AND COMPUTER PROGRAM例文帳に追加

データ通信装置、中央管理装置、テスト方法、遠隔管理システム及びコンピュータプログラム - 特許庁

SUBSTRATE FOR MANUFACTURING PROBE CARD, TESTING DEVICE, DEVICE, AND METHOD FOR THREE-DIMENSIONAL MOLDING例文帳に追加

プローブカード製造用基板、検査装置、３次元造形装置および３次元造形方法 - 特許庁

HOLDING DEVICE FOR ELECTRONIC PART TEST, ELECTRONIC PART TESTING DEVICE AND ELECTRONIC PART TEST METHOD例文帳に追加

電子部品試験用保持装置、電子部品試験装置および電子部品試験方法 - 特許庁

METHOD OF CLEANING NEEDLE TIP OF PROBE CARD, WAFER-TESTING DEVICE OF SEMICONDUCTOR DEVICE, DATA RECORDING MEDIUM例文帳に追加

プローブカードの針先クリーニング方法，半導体装置のウエハ検査装置，データ記録媒体 - 特許庁