「testing device」に関連した英語例文の一覧と使い方(54ページ目) - Weblio英語例文検索

SERIAL COMMUNICATION APPARATUS, TEST DEVICE THEREOF AND METHOD FOR TESTING SERIAL COMMUNICATION APPARATUS例文帳に追加

シリアル通信装置、その試験装置及びシリアル通信装置の試験方法 - 特許庁

A semiconductor testing device for testing a semiconductor device 20 having a bump 21 is formed of a contact 11 and a wiring board 15A fitted to each other freely to be removed from each other.例文帳に追加

バンプ21を有する半導体装置20に対して試験を行う半導体試験装置を着脱可能とされたコンタクタ11と配線基板15A とにより構成する。 - 特許庁

A test program for specifying the operation of a semiconductor testing device 2 for testing a semiconductor device DUT is generated in language for generating a test program.例文帳に追加

半導体デバイスＤＵＴを試験する半導体試験装置２の動作を規定するテスト・プログラムは、テスト・プログラム作成用言語で作成されている。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device capable of shortening a test time.例文帳に追加

テスト時間を短縮することが可能な半導体試験装置を実現する。 - 特許庁

SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE AND METHOD, AND METHOD OF MANUFACTURING SEMICONDUCTOR例文帳に追加

半導体試験装置、半導体試験方法、及び半導体の製造方法 - 特許庁

When the second testing device is connected to the system, this method includes the step of making the second testing device operational together with the above interface.例文帳に追加

第２の試験装置がシステムに接続されていた場合、本方法は、第２の試験装置が前記インタフェースと共に動作できるようにするステップを含む。 - 特許庁

ENVIRONMENTAL TESTING DEVICE HAVING ADVERTISEMENT DISPLAY FUNCTION, AND ADVERTISEMENT DISTRIBUTING SYSTEM例文帳に追加

広告表示機能を有する環境試験装置及び広告配信システム - 特許庁

To provide a semiconductor testing device capable of more precisely performing a calibration, a calibration board therefor, and a calibration method of semiconductor testing device.例文帳に追加

校正をより精度よく行うことが可能な半導体試験装置、その校正用ボード、および半導体試験装置の校正方法を提供すること。 - 特許庁

CIRCUIT AND METHOD FOR TESTING SEMICONDUCTOR DEVICE, AND SEMICONDUCTOR CHIP例文帳に追加

半導体装置の試験用回路および試験方法並びに半導体チップ - 特許庁

MECHANICAL CHARACTERISTIC TESTING DEVICE, AND STRAIN GAGE FOR HYDROGEN ATMOSPHERE USED THEREFOR例文帳に追加

機械特性試験装置およびそれに用いられる水素雰囲気用歪ゲージ - 特許庁

To provide a module for testing that does not damage an electrode pad of a semiconductor device and restrains test costs, and to provide a testing method of the semiconductor device.例文帳に追加

半導体装置の電極パッドへの損傷を与えず、且つ、試験コストを抑える試験用モジュール及び半導体装置の試験方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing substrate capable of detecting defective contact with a semiconductor device, without providing a circuit additionally to the semiconductor device of a testing object.例文帳に追加

試験対象の半導体装置に回路を付加することなく、当該半導体装置との接触不良を検出可能な半導体試験基板を提供する。 - 特許庁

TIMING ADJUSTING METHOD AND TIMING CALIBRATION METHOD IN SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE例文帳に追加

タイミング調整方法、半導体試験装置におけるタイミングキャリブレーション方法 - 特許庁

The microprogram simulator 14 simulates an operation of the IC testing device 150.例文帳に追加

マイクロプログラムシミュレータ１４は、ＩＣ試験装置１５０の動作をシミュレーションする。 - 特許庁

To provide a semiconductor test system and a method of testing a semiconductor device reliably finding a failure caused by a measurement system before testing the semiconductor device.例文帳に追加

半導体デバイスを試験する前に測定系起因の故障を確実に発見する半導体試験システム及び半導体デバイスの試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device for facilitating attaching/detaching work of a pin card.例文帳に追加

ピンカードの脱着作業が容易な半導体試験装置を実現する。 - 特許庁

METHOD FOR CONFIRMING AND TESTING SEALING PLATE BREAKAGE OF PRESSURE POWDER FIRE EXTINGUISHER AND DEVICE THEREFOR例文帳に追加

加圧式粉末消火器の封板破れ確認試験方法とその装置 - 特許庁

FLASH POINT DETECTING DEVICE AND DIELECTRIC STRENGTH TESTING METHOD FOR GAS INSULATED ELECTRIC DEVICE USING THE SAME FLASH POINT DETECTING DEVICE例文帳に追加

閃絡点検出装置及びこの閃絡点検出装置を用いたガス絶縁電気装置の耐電圧試験方法 - 特許庁

ILLUMINATION CONDITION SPECIFYING METHOD, COMPONENT RECOGNITION DEVICE, AND SURFACE MOUNTING EQUIPMENT AND COMPONENT TESTING DEVICE PROVIDED THE DEVICE例文帳に追加

照明条件特定方法、部品認識装置、同装置を備えた表面実装機および部品試験装置 - 特許庁

AUDIO PLAYBACK DEVICE TEST SYSTEM, INTEGRATED CIRCUIT DEVICE, AUDIO PLAYBACK EVALUATION SYSTEM, AND TESTING METHOD FOR AUDIO PLAYBACK DEVICE例文帳に追加

音声再生装置テストシステム、集積回路装置、音声再生評価システム、音声再生装置のテスト方法 - 特許庁

METHOD AND CIRCUIT FOR TESTING SEMICONDUCTOR STORAGE DEVICE, SEMICONDUCTOR STORAGE DEVICE, AND SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

半導体記憶装置のテスト方法、半導体記憶装置のテスト回路、半導体記憶装置及び半導体装置 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR MEASURING AMPLITUDE OF PERIODIC SIGNAL AND METHOD AND DEVICE FOR TESTING MAGNETIC HEAD例文帳に追加

周期信号の振幅測定方法および装置並びに磁気ヘッドの試験方法および装置 - 特許庁

The control unit 15 informs (display) a monitoring device 8 and a data rewriting device 9 of a testing result.例文帳に追加

制御部１５はモニタ装置８やデータ書換装置９に試験結果を通知（表示）する。 - 特許庁

SOUND REPRODUCTION CONTROL APPARATUS, INTEGRATED CIRCUIT DEVICE, SOUND REPRODUCTION EVALUATION SYSTEM AND TESTING METHOD OF SOUND REPRODUCTION DEVICE例文帳に追加

音再生制御装置、集積回路装置、音再生評価システム、音再生装置のテスト方法 - 特許庁

IMITATION REFORMED GAS MANUFACTURING METHOD, ITS DEVICE, AND FUEL CELL TESTING DEVICE USING THIS例文帳に追加

模擬改質ガス製造方法およびその装置ならびにこれを用いた燃料電池試験装置 - 特許庁

To obtain a semiconductor device testing device including a power source unit to supply a low noise voltage.例文帳に追加

低ノイズ電圧を供給する電源ユニットを含む半導体デバイス試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a collision testing device capable of verifying operation of a collision damage reducing device.例文帳に追加

衝突被害軽減装置の作動を検証することが可能な衝突試験装置を提供する。 - 特許庁

The fatigue testing device 1 includes: a device body 10; a rolling body 30; and support means 20.例文帳に追加

疲労試験装置１は、装置本体１０と、転動体３０と、支持手段２０とを、備えている。 - 特許庁

The weather resistance-testing device is provided with a trestle (support body) 2, a processing device 6, a temperature-measuring instrument 4, and a moisture- measuring instrument 5.例文帳に追加

架台（支持体）２と、処理装置６と、温度測定器４と、湿度測定器５とを備える。 - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEVICE TESTER, BURN-IN TESTER AND METHOD OF TESTING IN SEMICONDUCTOR DEVICE TESTER例文帳に追加

半導体デバイス試験装置、バーンイン試験装置、および、半導体デバイス試験装置における試験方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEVICE TESTER, TIMING GENERATOR, METHOD FOR TESTING SEMICONDUCTOR DEVICE, AND METHOD FOR GENERATING TIMING例文帳に追加

半導体デバイス試験装置、タイミング発生器、半導体デバイス試験方法及びタイミング発生方法 - 特許庁

APPARATUS AND METHOD FOR SEMICONDUCTOR DEVICE TESTING AND SEMICONDUCTOR DEVICE MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

半導体装置の試験装置、半導体装置の試験方法及び半導体装置の製造方法 - 特許庁

To provide a semiconductor device inspecting apparatus capable of testing a semiconductor device for a short test time.例文帳に追加

短いテストタイムで半導体装置の試験ができる半導体装置試験装置を提供する。 - 特許庁

SEMICONDUCTOR EQUIPMENT, DEVICE FORMATION SUBSTRATE, WIRING CONNECTION TESTING METHOD, AND MANUFACTURING METHOD OF SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

半導体装置、デバイス形成基板、配線接続試験方法、および半導体装置の製造方法 - 特許庁

PROBE NEEDLE FOR TESTING SEMICONDUCTOR DEVICE, ITS MANUFACTURING METHOD, AND PROBE DEVICE USING THE PROBE NEEDLE例文帳に追加

半導体装置のテスト用プローブ針とその製造方法、このプローブ針を用いたプローブ装置 - 特許庁

SEMICONDUCTOR WAFER, FERROELECTRIC STORAGE DEVICE, ELECTRONIC APPARATUS, AND METHOD OF TESTING FERROELECTRIC STORAGE DEVICE例文帳に追加

半導体ウエハ、強誘電体記憶装置、電子機器および強誘電体記憶装置の試験方法 - 特許庁

TESTING DEVICE OF SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT AND TEST METHOD OF SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT USING DEVICE例文帳に追加

半導体集積回路の試験装置およびそれを用いた半導体集積回路の試験方法 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR COMPUTING ADJACENT-CHANNEL LEAKING POWER AND TESTING DEVICE例文帳に追加

隣接チャネル漏洩電力算出装置、隣接チャネル漏洩電力算出方法、及び試験装置 - 特許庁

MOUNTING METHOD OF EXCRETA TESTING DEVICE, AND SANITARY WASHING DEVICE HAVING EXCRETA MEASUREMENT FUNCTION例文帳に追加

排泄物測定装置の取付方法および排泄物測定機能付き衛生洗浄装置 - 特許庁

AUTOMATIC TESTING DEVICE, AUTOMATICALLY TESTING METHOD AND COMPUTER-READABLE RECORDING MEDIUM WITH CONTROL PROGRAM FOR AUTOMATIC TEST RECORDED THEREON例文帳に追加

自動テスト装置、自動テスト方法及び自動テスト用制御プログラムが記録されたコンピュータにより読み取り可能な記録媒体 - 特許庁

To realizes a device and method for testing a memory capable of shortening a testing time of a memory to be tested.例文帳に追加

被試験メモリの試験時間を短縮することができるメモリ試験装置及びメモリ試験方法を実現することを目的にする。 - 特許庁

The chip testing device consists of a plurality of testing units including a selector, a flip-flop unit, the first buffer, a display and the second buffer.例文帳に追加

セレクター、フリップフロップユニット、第一緩衝器、表示装置及び第二緩衝器を含む複数のテストユニットから構成される。 - 特許庁

To provide an inverter testing device and the like that can perform tests at the appropriate number of revolutions and in an appropriate rotational direction, in testing an inverter.例文帳に追加

インバータを試験するに当たり、適切な回転数、回転方向で試験できるインバータ試験装置等を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor device testing circuit which can set the test mode in a short time and moreover reduce the testing time.例文帳に追加

テストモードを短時間に設定でき、しかも、テスト時間を短縮することを可能にした半導体装置のテスト回路を提供する。 - 特許庁

To provide a burn-in environmental testing device which reaches a testing temperature in a short period of time at lower power consumption.例文帳に追加

試験温度に達するまでの時間が短く、且つ消費電力が低いバーンイン試験装置を提供することを課題とする。 - 特許庁