「testing device」に関連した英語例文の一覧と使い方(55ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a testing system, a control method therefor and a testing device, capable of easily connecting or separating a tested part.例文帳に追加

容易に試験部の接続や試験部の離脱が可能な試験システムおよびその制御方法並びに試験装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a testing method and a testing device capable of easily evaluating peeling resistance of a pressure sensitive adhesive tape to oblique bearing pressure.例文帳に追加

粘着テープの斜向面圧に対する耐剥離性を簡単に評価できる試験法、および、試験装置を提供すること。 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR DEBUGGING PROGRAM FOR TESTING SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT AND PROGRAM FOR DEBUGGING PROGRAM FOR TESTING THE SAME例文帳に追加

半導体集積回路試験用プログラムのデバッグ方法及び装置並びに半導体集積回路試験用プログラムのデバッグプログラム - 特許庁

To provide a testing device and testing method for efficiently executing the operation test of codec software.例文帳に追加

本発明は、コーデックソフトウェアの動作試験を効率的に実行可能な試験装置及び試験方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

CONTROL VOLTAGE DETERMINING METHOD OF INTEGRATED CIRCUIT, GATE VOLTAGE DETERMINING METHOD OF TEG CIRCUIT, TEG CIRCUIT TESTING METHOD AND TESTING DEVICE例文帳に追加

集積回路の制御電圧決定方法、ＴＥＧ回路のゲート電圧決定方法、ＴＥＧ回路試験方法及び試験装置 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR POSITION DETECTION, SINGLE AXIS ROBOT WITH THE DEVICE, SURFACE MOUNTING DEVICE, PART TESTING DEVICE AND SCARA-TYPE ROBOT例文帳に追加

位置検出方法、位置検出装置および同装置を備えた単軸ロボット、表面実装機、部品試験装置、スカラ型ロボット - 特許庁

METHOD OF MEASURING VOLTAGE POTENTIOMETRIC PRECISION IN A VOLTAGE MEASUREMENT DEVICE, VOLTAGE MEASUREMENT DEVICE OF ELECTRIC POWER APPARATUS, TESTING DEVICE AND CONNECTOR DEVICE例文帳に追加

電圧測定装置における電圧分圧精度を測定する方法、電力機器の電圧測定装置、試験装置、コネクタ装置 - 特許庁

The testing method of the semiconductor integrated circuit device is so constituted that testing items of the semiconductor integrated circuit device (30) can be changed on the basis of testing result in the manufacturing steps of the semiconductor integrated circuit device by testing (20) the manufacturing process of the semiconductor integrated circuit device.例文帳に追加

半導体集積回路装置の試験方法であって、前記半導体集積回路装置の製造工程において検査を行い（２０）、該半導体集積回路装置の製造工程における検査結果に基づいて、該半導体集積回路装置の試験項目を可変にする（３０）ように構成する。 - 特許庁

To provide an optical pickup device reliably testing electric conduction while preventing a connection failure between a testing device and the optical pickup device, and preventing damaging of the circuit of an important part such as a semiconductor laser part, an electronic device having the optical pickup device mounted thereon, and a device and a method for testing the optical pickup device.例文帳に追加

検査装置と検査対象である光ピックアップ装置との接続不良を回避して導通検査を確実に行い、かつ半導体レーザ部などの重要部の回路の破損を防ぐことができる光ピックアップ装置、それを搭載する電子機器、光ピックアップ装置の検査装置および検査方法を提供する。 - 特許庁

The testing device is provided with a testing section 20 which performs tests on the object to be tested with respect to the set test items and a test item setting section 10 which sets the test items for the testing section 20 based on the test results obtained by means of the testing section 20.例文帳に追加

被試験対象に対して、設定された試験項目の試験を行う試験部２０と、試験部２０の試験結果に応じて試験項目を試験部２０に対して設定する試験項目設定部１０とを備える。 - 特許庁

To provide a device to be tested, a testing system, a testing method, and a program capable of testing a nonvolatile memory, an input part and a display part even though they are defective.例文帳に追加

本発明は、不揮発メモリ、入力部、表示部に不良があってもテストを行える試験対象装置、試験システム、テスト方法及びプログラムを提供することを課題とする。 - 特許庁

To provide a testing device capable of exposing the whole of a workpiece fed into a testing vessel to a gas of constant temperature/constant humidity, and capable of uniformizing a temperature distribution and a humidity distribution in the testing vessel.例文帳に追加

試験槽に投入されたワークの全体を恒温・恒湿の気体に晒すことができ、試験槽内の温度分布や湿度分布が均一な試験装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a testing apparatus which is easy in positioning an optical system for irradiating a solid-state imaging device with the light for testing, and is capable of performing highly efficient testing.例文帳に追加

固体撮像素子に試験用光を照射する光学系を固体撮像素子へ位置決めするのが容易で、効率の高い試験を行うことができる試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a data sampling method in a material testing machine and the material testing device continuously grasping the material testing conditions in a pretreatment process and in a main process.例文帳に追加

材料試験の前処理工程および本工程における状態を継続して把握することができる材料試験装置におけるデータサンプル方法および材料試験装置を提供する。 - 特許庁

Since the performance determination testing result is recorded in the performance determination testing medium, the medium is loaded into another information recording/reproducing device to determine the success of a performance determination testing result.例文帳に追加

また、性能判定試験結果は性能判定試験媒体内に記録されるため、該媒体を他の情報記録再生装置に入れ替えて性能判定試験結果の合否を判定する。 - 特許庁

To provide a testing system and testing method which is capable of testing with a constant accuracy regardless of its process capabilities, and also to provide a method of manufacturing an electronic device using these.例文帳に追加

プロセスの能力に関わらず，ある一定の精度を保った状態で検査可能な検査システム，検査方法，及びこれらを用いた電子装置の製造方法を提供する。 - 特許庁

Impact resistance of a wafer 5 with a chip for an inertia sensor formed is tested in this impact resistance testing device.例文帳に追加

慣性センサー用のチップを形成したウエハ５の耐衝撃を試験する。 - 特許庁

To provide a semiconductor storage device which can reduce a testing cost.例文帳に追加

テストコストの低減化を図ることが可能な半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

MAGNETIC RECORDING MEDIUM TESTING DEVICE AND METHOD, AND MAGNETIC RECORDER例文帳に追加

磁気記録媒体検査装置、磁気記録媒体検査方法および磁気記録装置 - 特許庁

METHOD AND SYSTEM FOR APPLYING TRIGGER AND FREQUENCY AREA TESTING AND MEASURING DEVICE例文帳に追加

トリガをかける方法及びシステム並びに周波数領域試験測定装置 - 特許庁

INTEGRATED CIRCUIT, METHOD FOR TESTING THE SAME AND LIQUID CRYSTAL DRIVING DEVICE例文帳に追加

集積回路の試験方法ならびに集積回路および液晶駆動装置 - 特許庁

COVER FOR PREPARATION WORK IN SPACE ENVIRONMENT TESTING DEVICE, AND ITS INSTALLING METHOD例文帳に追加

宇宙環境試験装置における準備作業用カバー及びその設置方法 - 特許庁

POWDER FLOW CHARACTERISTIC ESTIMATING METHOD, AND POWDER FLOW CHARACTERISTIC TESTING DEVICE例文帳に追加

粉体流動特性の推定方法及び粉体流動特性試験装置 - 特許庁

OIL RESISTANCE TEST METHOD OF RESIN MATERIAL OR RUBBER COMPOSITION, AND TESTING DEVICE THEREFOR例文帳に追加

樹脂材料またはゴム組成物の耐油性試験方法およびその試験装置 - 特許庁

To provide a method for testing a semiconductor device, which can reduce test costs.例文帳に追加

テストコストの低減を実現可能な半導体装置のテスト方法を提供する。 - 特許庁

To provide an image display device capable of reducing the time of testing image data.例文帳に追加

画像データの検査時間を短縮できる画像表示装置を提供する。 - 特許庁

The testing device which is used for the colorimetry of a specimen is provided.例文帳に追加

この発明は、検体の比色測定に使用される試験器具を提供する。 - 特許庁

To reduce cost by simplifying the configuration of a device for testing a heat retaining property of a futon.例文帳に追加

布団用保温性試験装置の構成を単純化し、コストを低減する。 - 特許庁

A power cycle testing device 1 comprises a resistor part DE and a power supply unit 10.例文帳に追加

パワーサイクル試験装置１は、抵抗部ＤＥと電源部１０とを備える。 - 特許庁

TESTING METHOD AND DEVICE FOR PERFORMANCE EVALUATION FOR VEHICLE BY AUTOMATIC PRESSING OF OPERATION MEMBER例文帳に追加

操作部材の自動押圧による車輌の性能評価試験方法及び装置 - 特許庁

To provide a small universal testing device and a small hydraulic actuator.例文帳に追加

小型の万能試験装置及び、小型の油圧アクチュエータを提供することである。 - 特許庁

A simulator main body 1 simulates movement of a tester device for testing a semiconductor.例文帳に追加

シミュレータ本体１は、半導体を試験するテスタ装置の動作をシミュレートする。 - 特許庁

RING NETWORK SYSTEM, NODE DEVICE AND PROTECTION BAND TESTING METHOD FOR RING NETWORK SYSTEM例文帳に追加

リングネットワークシステム、ノード装置及びリングネットワークシステムのプロテクション帯域試験方法 - 特許庁

METHOD AND PRETREATMENT DEVICE FOR TESTING AND ANALYZING TRACE AMOUNT OF ELEMENT例文帳に追加

微量元素試験分析方法及び微量元素試験分析前処理装置 - 特許庁

SWEEP SYNCHRONIZATION TESTING DEVICE, AND METHOD OF SIMULATING OPTIMUM CONTROL SET VALUE THEREFOR例文帳に追加

掃引同調試験装置及びその最適制御設定値シミュレーション方法。 - 特許庁

TRAY FOR ELECTRONIC PART SUBSTRATE, TESTING DEVICE AND TEST METHOD OF ELECTRONIC PART SUBSTRATE例文帳に追加

電子部品基板用トレイ、電子部品基板の試験装置および試験方法 - 特許庁

INTEGRATED CIRCUIT WITH TEST MODE AND TEST DEVICE FOR TESTING INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

テストモードを備えた集積回路および集積回路のテストのためのテスト装置 - 特許庁

To shorten testing time in a product test of a semiconductor storage device.例文帳に追加

半導体記憶装置の製品テストにおけるテスティング時間の短縮化を図る。 - 特許庁

PROBE CARD AND METHOD FOR TESTING WAFER ON WHICH A PLURALITY OF SEMICONDUCTOR DEVICE ARE FORMED例文帳に追加

プローブカード及び複数の半導体装置が形成されたウエハの試験方法 - 特許庁

METHOD FOR TESTING SEMICONDUCTOR DEVICE, FOR CALIBRATING IC TESTER, AND CLEANING BOARD例文帳に追加

半導体デバイスの検査方法、ＩＣテスタの校正方法、及びクリーニング用ボード - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEVICE TESTER AND TESTING METHOD IN IT例文帳に追加

半導体デバイス試験装置および半導体デバイス試験装置における試験方法 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR TESTING BOND STRENGTH OF IC CHIP例文帳に追加

ＩＣチップの接合強度試験装置及びＩＣチップの接合強度試験方法 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR TESTING DISTRIBUTION LINE RELAY例文帳に追加

配電線継電器単体試験装置および配電線継電器単体試験方法 - 特許庁

To provide a test system for efficiently testing a tested device.例文帳に追加

被試験装置の試験を効率良く行うことができる試験システムを提供する。 - 特許庁

COMPONENT-RECOGNIZING METHOD, COMPONENT-RECOGNIZING DEVICE, SURFACE MOUNTING EQUIPMENT AND COMPONENT-TESTING EQUIPMENT例文帳に追加

部品認識方法、部品認識装置、表面実装機および部品試験装置 - 特許庁