「testing device」に関連した英語例文の一覧と使い方(59ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a battery charging protection circuit and a power supply device for shortening a wafer testing time.例文帳に追加

ウェハーテスト時間を短縮する電池充電保護回路および電源装置の提供。 - 特許庁

To reduce the abrasion of brake shoes, and to provide a simple brake testing device for an elevator.例文帳に追加

ブレーキシューの摩擦を減少させると共に、簡易なエレベータのブレーキ試験装置を得ること。 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR TESTING QUALITY OF GLASS PLATE, AND METHOD OF MANUFACTURING GLASS PLATE例文帳に追加

ガラス板の品質試験方法、ガラス板の品質試験装置、およびガラス板の製造方法 - 特許庁

The control test support system 1 is provided with the testing tool 3 and a test device body 4.例文帳に追加

制御テスト支援システム１は、テスト治具３と、テスト装置本体４とを備えている。 - 特許庁

To provide a protective radio system testing a protection radio device during running.例文帳に追加

運行中に防護無線装置の試験を行うことができる防護無線システムを提供する。 - 特許庁

To facilitate inspection work by reducing the capacity of a testing device for inspecting a digital protection relay.例文帳に追加

デジタル保護リレーを点検する試験装置を小容量化し、点検作業を容易にする。 - 特許庁

To abridge setup time of a semiconductor testing device, and abridge its measurement and evaluation time.例文帳に追加

半導体テスト装置のセットアップ時間を短縮し、その測定・評価時間を短くする。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device capable of taking large-capacity failure data.例文帳に追加

大容量のフェイルデータを取り込むことを可能にする半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

NONDESTRUCTIVE COMPRESSIVE STRENGTH TESTING METHOD, STRESS ESTIMATING METHOD AND TEST DEVICE FOR CONCRETE例文帳に追加

コンクリートの非破壊圧縮強度試験方法及び応力推定方法及び試験装置 - 特許庁

THIN FILM TEST PIECE STRUCTURE, ITS MANUFACTURING METHOD, ITS TENSILE TEST METHOD, AND TENSILE TESTING DEVICE例文帳に追加

薄膜試験片構造体、その製造方法、その引張試験方法及び引張試験装置 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR GENERATING TEST PATTERN AND METHOD OF TESTING SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

テストパターン発生方法、テストパターン発生装置及び半導体集積回路のテスト方法 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR TESTING INTEGRATED CIRCUIT USING WEIGHTED PSEUDO-RANDOM TEST PATTERN例文帳に追加

重み付けされた擬似ランダム試験パターンを用いた集積回路試験装置および試験方法 - 特許庁

WORD LINE DRIVING CIRCUIT, SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE INCLUDING THE SAME, AND METHOD FOR TESTING THE SAME例文帳に追加

ワードライン駆動回路及びこれを備える半導体メモリ装置並びにそのテスト方法 - 特許庁

CONTINUITY TESTING DEVICE AND ITS MECHANISM FOR PRINTED CIRCUIT BOARD WITH SURFACE MOUNTED COMPONENT例文帳に追加

表面実装部品を搭載したプリント回路基板の導通検査装置およびその機構 - 特許庁

To provide a handling device for samples and reagents to be used in testing in a system.例文帳に追加

システムにおける試験に使用されるサンプルおよび試薬用の処理装置を提供する。 - 特許庁

DEVICE FOR INITIALIZING DIGITAL SIGNAL PROCESSING CIRCUIT, TEST PATTERN, TESTING APPARATUS, MEDIUM, AND INFORMATION AGGREGATE例文帳に追加

デジタル信号処理回路初期化装置、テストパターン、テスト装置、媒体及び情報集合体 - 特許庁

To conduct timing calibration using a built-in circuit, in an IC testing device.例文帳に追加

ＩＣ試験装置において内蔵されている回路を用いてタイミングキャリブレーションをすること。 - 特許庁

METHOD OF TESTING SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE, AND APPARATUS FOR INSPECTING THE SAME例文帳に追加

半導体集積回路装置のテスト方法、および半導体集積回路装置の検査装置 - 特許庁

EXCHANGING APPARATUS FOR WORK TABLE RECEIVING DISPLAY-USE SUBSTRATE AND TESTING DEVICE FOR DISPLAY-USE SUBSTRATE例文帳に追加

表示用基板を受けるワークテーブルの交換装置及び表示用基板の検査装置 - 特許庁

In the device for testing a wafer level, control means for controlling the moving means is provided.例文帳に追加

ウェハレベル試験装置には、更に、移動手段を制御する制御手段が設けられている。 - 特許庁

REWRITING METHOD OF SUBSCRIBER IDENTITY MODULE FOR TESTING, MOBILE COMMUNICATION TERMINAL, AND CONTROL DEVICE例文帳に追加

試験用の加入者識別モジュールの書換方法、移動通信端末及び制御装置 - 特許庁

COLLIMATION DEVICE, RADIOLOGY APPARATUS, TEST KIT, AND METHOD OF TESTING RADIOLOGY APPARATUS例文帳に追加

コリメーション装置、放射線装置及び試験キット、並びに放射線装置を試験する方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR CHIP, PACKAGE FOR SEMICONDUCTOR DEVICE, PROBE CARD AND PACKAGE TESTING METHOD例文帳に追加

半導体チップおよび半導体装置用パッケ—ジ、並びに、プロ—ブカ—ドおよびパッケ—ジのテスト方法 - 特許庁

TESTING SOCKET, MANUFACTURING METHOD OF CONTACT TERMINAL, SEMICONDUCTOR DEVICE, AND ITS MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

テスト用ソケット、接触端子の製造方法、並びに、半導体装置およびその製造方法 - 特許庁

CONTACT PROBE, ELECTRONIC CIRCUIT TESTING DEVICE USING IT, AND MANUFACTURING METHOD OF CONTACT PROBE例文帳に追加

コンタクトプローブ及びこれを用いた電子回路試験装置、並びにコンタクトプローブの製造方法 - 特許庁

REFERENCE HEAT SOURCE FOR ELECTROMAGNETIC WAVE TEST TO INFRARED RADIATION MEASURING DEVICE, AND METHOD FOR TESTING THEREOF例文帳に追加

赤外放射計測機器の電磁波試験用参照熱源及びその試験方法 - 特許庁

This continuity testing device is provided with an auxiliary part U having an outline shape allowing fitting in the connector.例文帳に追加

検査器に、コネクタに嵌合できる外形形状を有する補助部Ｕを備えた。 - 特許庁

To fix an LSI to a testing device easily and surely without using an expensive IC socket.例文帳に追加

高価なＩＣソケットを使用せず、ＬＳＩを容易かつ確実に試験装置に固定する。 - 特許庁

To measure the output timing precisely more than the resolving power of the IC testing device.例文帳に追加

当該装置の具える分解能以上の細かさで出力タイミングを測定する。 - 特許庁

This game machine testing device is provided with a lower roller 61 and an upper roller 71.例文帳に追加

この遊技機検査装置は下側ローラ６１及び上側ローラ７１を備えている。 - 特許庁

To provide a game machine testing device which facilitates its connection with a game machine.例文帳に追加

遊技機と遊技機試験装置との接続を容易にした遊技機試験装置を提供する。 - 特許庁

SURFACE-HOLDING MOVEMENT/GUIDING MECHANISM AND CONTINUITY TESTING DEVICE FOR WIRING BOARD AND THE LIKE BY USING THE MECHANISM例文帳に追加

面保持移動案内機構およびこれを用いた配線基板等の導通試験装置 - 特許庁

Additionally, the testing device 82 is furnished with a filling container 84 in which gas for fuel is filled.例文帳に追加

また、試験装置８２は、燃料用ガスが充填される充填容器８４を備える。 - 特許庁

To provide a method for testing an integrated circuit by using an automatic test device.例文帳に追加

自動テスト装置１２を使用して、集積回路１０をテストする方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a heated platen assembly for use in a biological testing device.例文帳に追加

生物学的試験デバイスにおいて使用するための加熱プラテンアセンブリを提供すること。 - 特許庁

A probing device 100 for testing an object W in a vacuum state is provided.例文帳に追加

被検査体Ｗを真空状態で検査するプローブ装置１００が提供される。 - 特許庁

METHOD FOR EVALUATING INTEGRITY OF VIBRATION OF STEAM DRYER AND STEAM DRYER TESTING DEVICE例文帳に追加

蒸気乾燥器の振動健全性を評価する方法及び蒸気乾燥器の試験装置 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device which shortens pattern-data loading time.例文帳に追加

パターンデータのロード時間を短縮することが可能な半導体試験装置を実現する。 - 特許庁

SPINDLE STAGE FOR TESTING MAGNETIC HEAD HAVING VCM MECHANISM AND MAGNETIC HEAD AUTOMATIC LOADING/UNLOADING DEVICE例文帳に追加

ＶＣＭ機構を有する磁気ヘッド試験用スピンドルステージおよび磁気ヘッド自動着脱装置 - 特許庁

GUIDE FOR PROBE CARD, PROBE CARD MOUNTING THE SAME, AND METHOD FOR TESTING ELECTRONIC CIRCUIT DEVICE例文帳に追加

プローブカード用ガイド、これを装着したプローブカード及び電子回路デバイスの検査方法 - 特許庁

APPARATUS AND METHOD FOR TESTING DEVICE UNDER TEST, AND TOOL FOR CUTTING AND CONNECTING TRANSMISSION CABLE例文帳に追加

被試験機器テスト装置、被試験機器テスト方法及び通信ケーブル切断／接続治具 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device shortening a loading time of a test program.例文帳に追加

テストプログラムのロード時間を短くすることができる半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

DEVICE FOR TESTING SOIL BEARING WITH FIXED BEAM IN CAISSON WORK ROOM, AND SOIL BEARING TEST METHOD例文帳に追加

ケーソン作業室における不動梁付き地耐力試験装置及び地耐力試験方法 - 特許庁

TEST DEVICE OF SEMICONDUCTOR WAFER, TESTING METHOD OF SEMICONDUCTOR WAFER, AND PROBE CARD FOR SEMICONDUCTOR WAFER例文帳に追加

半導体ウェハのテスト装置、半導体ウェハのテスト方法及び半導体ウェハ用プローブカード - 特許庁

PROBE CARD, SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT TESTING DEVICE, AND SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT TEST METHOD例文帳に追加

プローブカード、半導体集積回路試験装置、及び、半導体集積回路試験方法 - 特許庁