「testing device」に関連した英語例文の一覧と使い方(62ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a method for testing the identification of a user of a first device connected to a second device through a data link.例文帳に追加

データ・リンクを介して第２装置に接続された第１装置のユーザの識別を検査する方法を提供する。 - 特許庁

To provide an alarm display device for IC testing device capable of setting an allowance value corresponding to the type of an IC to be measured.例文帳に追加

被測定ＩＣの品種に応じた許容値を設定可能なＩＣ試験装置の警報表示装置を提供する。 - 特許庁

To provide a power source device capable of space saving, cost reduction or the like of a performance board of a semiconductor testing device.例文帳に追加

半導体試験装置のパフォーマンスボードの省スペース化、低コスト化等を図ることができる電源装置を提供する。 - 特許庁

To provide a deterioration acceleration testing device accelerating dynamic deterioration in operation of an electrochemical device; and its method.例文帳に追加

電気化学デバイスの運転時の動的な劣化を加速させる劣化加速試験装置及びその方法を提供する。 - 特許庁

Concerning the method and a system for testing existence of a leakage in the electronic device, the electronic device is not broken in the test.例文帳に追加

電子デバイスにおける漏れの有無を試験するための方法及びシステムであり、該試験は、該電子デバイスを破壊しない。 - 特許庁

This fixing mechanism 4 to the testing device 1 of the vibration control device 31 is composed of a positioning means 11 and a fixing means 12.例文帳に追加

防振器３１の試験装置１への固定機構４を位置決め手段１１と固定手段１２とで構成する。 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR TESTING THERMAL FATIGUE CRACK DEVELOPMENT, AND TEST BODY USED FOR THE DEVICE例文帳に追加

熱疲労き裂進展試験装置、熱疲労き裂進展試験方法および熱疲労き裂進展試験装置に用いる試験体 - 特許庁

To provide a testing device capable of preventing the test of a tested device using a false output data signal.例文帳に追加

誤った出力データ信号を用いて被試験デバイスを試験することを防ぐことができる試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a device for generating stresses on a surface and a method for testing the surface of the device.例文帳に追加

表面上に応力を生じさせるための機器および当該機器で表面を試験する方法が提供される。 - 特許庁

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE, TESTING METHOD FOR THE SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE, AND PROBE CARD USED FOR BURN-IN STRESS AND D/S例文帳に追加

半導体集積回路装置、半導体集積回路装置のテスト方法、バーインストレス＆Ｄ／Ｓに用いられるプローブカード - 特許庁

A game machine testing device is a device for carrying a pachinko machine 10 and making a functional test for the pachinko machine 10.例文帳に追加

遊技機検査装置は、パチンコ機１０を搬送するとともに、パチンコ機１０の機能検査を行うための装置である。 - 特許庁

A semiconductor testing device 1 tests a semiconductor device 3, which is an object to be tested, for predetermined electric characteristics.例文帳に追加

半導体試験装置１は、試験対象物の半導体装置３について所定の電気的特性のテストを行う。 - 特許庁

To provide a testing device for performing an efficient test by preventing writing of an individual pattern unnecessary for a semiconductor memory device.例文帳に追加

半導体メモリデバイスに不要な個別パターンを書き込むことを防ぎ、効率よく試験を行う試験装置を提供する。 - 特許庁

A digital data signal and a clock signal relevant to this digital signal are transmitted from the tested device to a testing device.例文帳に追加

デジタルデータ信号及びこのデジタル信号に関連するクロック信号を被試験デバイスから試験デバイスに送信する。 - 特許庁

To provide a semiconductor device testing device which can easily perform fault analysis by using an inexpensive data fail memory.例文帳に追加

コストが安いデータ・フェイルメモリを用いて不良解析を容易に行うことができる半導体デバイス試験装置を提案する。 - 特許庁

To provide a subscriber circuit testing device, subscriber circuit testing system, subscriber circuit testing method and subscriber circuit testing program which enable a test of an off-hook detection function and a test for the normality of a voice path to be applied to a subscriber circuit as a series of processing.例文帳に追加

加入者回路に対して、オフフック検出機能の試験と音声パスの正常性の試験を一連の処理として行うことのできる加入者回路試験装置、加入者回路試験システム、加入者回路試験方法および加入者回路試験プログラムを提供する。 - 特許庁

To obtain a semiconductor device capable of attaining time reduction in the number of testing processes, and the resulting cost reduction.例文帳に追加

テスト工程の時間短縮とそれによるコストダウンを図ることができる半導体装置を得る。 - 特許庁

To provide an electronic device being tested at high speeds through the use of a conventional testing apparatus.例文帳に追加

従来の試験装置を用いて高速の試験を行うことができる電子デバイスを提供する。 - 特許庁

To shorten the time for testing of a semiconductor device requiring frequent changes of test conditions.例文帳に追加

試験条件をしばしば変更する必要がある半導体デバイスの試験時間を短縮する。 - 特許庁

To provide a fatigue testing device capable of executing a fatigue test by load in actual conditions.例文帳に追加

実機条件の負荷による疲労試験を実施することが可能な疲労試験装置を提供する。 - 特許庁

SCREW CHARACTERISTIC TESTING DEVICE AND EXPERIENCE LEARNING METHOD, AND PRACTICAL SKILL EDUCATIONAL METHOD USING THE SAME例文帳に追加

ねじの特性試験装置とその装置を用いた体験学習方法及び実技教育方法 - 特許庁

To provide a Fretting corrosion testing device capable of implementing micro-sliding wear test correctly.例文帳に追加

微摺動摩耗試験を正確に行うことができるフレッチング腐食試験装置を提供する。 - 特許庁

In one embodiment, the testing device is a glucose meter and the analyte being tested is glucose.例文帳に追加

一実施形態において、試験機器はグルコース測定器であり、試験される検体はグルコースである。 - 特許庁

To instantly determine whether or not a servo-type testing device is operated ideally.例文帳に追加

サーボ式試験装置が理想的に運転されているか否かを即座に判定できるようにする。 - 特許庁

To provide a testing device of combustible gas having little gas release, capable of controlling a pressure.例文帳に追加

圧力の制御が可能なガス放出の少ない可燃性ガスの試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a method and device for testing memory for shortening an erase test of non-volatile memory.例文帳に追加

不揮発性メモリの消去試験を短縮するメモリ試験方法及び装置を提案する。 - 特許庁

In this centrifugal load testing device, a rotating arm 6 is fixed horizontally to a vertical rotating shaft 4.例文帳に追加

遠心力載荷装置では、垂直な回転軸４に水平方向に回転腕６を固定する。 - 特許庁

To provide a device for testing, capable of reducing time necessary for clearing an address fail memory (AFM).例文帳に追加

ＡＦＭのクリア処理に要する時間を低減することができる試験装置を提供する。 - 特許庁

To enable measurement of a polarization state of an optical fiber in an optical pulse testing device.例文帳に追加

光パルス試験装置において、光ファイバの偏波状態について測定できるようにする。 - 特許庁

To realize a memory test system which can improve throughput when testing a device under test.例文帳に追加

被試験デバイスのテスト時のスループットを向上することのできるメモリテストシステムを実現すること。 - 特許庁

To provide a pressure-sensitive sensor testing device for effectively performing an accurate test.例文帳に追加

精度の高い試験を効率的に実施することが可能な感圧センサ試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a method of testing a semiconductor device that ensures long-term reliability.例文帳に追加

長期信頼性を保障することができる半導体装置の試験方法を提供すること。 - 特許庁

IMAGE DISPLAY DEVICE, GAME MACHINE, IMAGE DATA TESTING METHOD, IMAGE DATA TEST PROGRAM AND STORAGE MEDIUM例文帳に追加

画像表示装置、遊技機、画像データ検査方法、画像データ検査プログラム、および記録媒体 - 特許庁

PACKAGE HAVING BALL MINIMIZING CONTACT RESISTANCE, TESTING DEVICE AND MANUFACTURING METHOD THEREOF例文帳に追加

コンタクト抵抗を最小化するボールを有するパッケージ及びテスト装置、並びにそのパッケージの製造方法 - 特許庁

RADIATION INTENSIFYING SCREEN, ITS MANUFACTURING METHOD, RADIATION RECEPTOR USING IT, AND RADIATION TESTING DEVICE例文帳に追加

放射線増感紙、その製造方法、それを用いた放射線レセプターおよび放射線検査装置 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device capable of shielding a cable inexpensively with excellent work efficiency.例文帳に追加

低コストで作業性よくケーブルをシールドすることのできる半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a peel testing device capable of performing a peel test with ease and high accuracy.例文帳に追加

簡便且つ高精度に剥離試験を行うことが可能な剥離試験装置を提供する。 - 特許庁

METHOD FOR TESTING SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT AND METHOD FOR GENERATING TEST PATTERN AND ITS DEVICE AND PROGRAM例文帳に追加

半導体集積回路の試験方法と試験パタン生成方法及び装置並びにプログラム - 特許庁

To provide a semiconductor testing device using a sequence control circuit, capable of heightening operation speed.例文帳に追加

動作速度を高速化できるシーケンス制御回路を用いた半導体試験装置を実現すること。 - 特許庁

To provide a plurality of individual single-column test elements for use in a clinical testing device.例文帳に追加

臨床検査装置における使用のために複数の個別単一カラム検査要素が提供される。 - 特許庁

To precisely and quickly regulate the phase of each driver output/comparator input of a testing device.例文帳に追加

試験装置の各ドライバ出力／コンパレータ入力の位相調整を高精度かつ高速に行う。 - 特許庁

DIGITAL CONTROL SYSTEM, DIGITAL CONTROL DEVICE, AND METHOD OF TESTING TRANSMISSION OF THE DIGITAL CONTROL SYSTEM例文帳に追加

デジタル制御システムおよびデジタル制御装置並びにデジタル制御システムの伝送試験方法 - 特許庁

TEST PIECE GRIPPING DEVICE FOR HIGH-SPEED ROTARY BEND FATIGUE TESTING MACHINE COMPRISING CHUCKING ROD AND TAPER BUSH例文帳に追加

チャッキングロッドおよびテーパーブッシュからなる高速回転曲げ疲れ試験機用試験片の把持装置。 - 特許庁

INDUCTION NOISE ELIMINATING METHOD IN DEGRADATION DIAGNOSIS ON POWER CABLE AND TESTING DEVICE FOR POWER CABLE例文帳に追加

電力ケーブルの劣化診断における誘導ノイズの除去方法および電力ケーブルの試験装置 - 特許庁

To provide an electronic part testing device easy to put in and take out a tray storage cassette.例文帳に追加

トレイ収納用カセットの投入および取り出しが容易な電子部品試験装置を提供する。 - 特許庁