「testing device」に関連した英語例文の一覧と使い方(60ページ目) - Weblio英語例文検索

To shorten a test time is a semiconductor test device testing a semiconductor memory.例文帳に追加

半導体メモリの試験を行う半導体試験装置に於いて、試験時間を短縮する。 - 特許庁

AIRCRAFT LANDING DEVICE HAVING SEVERAL ELECTROMECHANICAL ACTUATORS, AND TESTING METHOD THEREOF例文帳に追加

複数の電気機械式アクチュエータを含む飛行機用着陸装置およびその試験方法 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR TESTING SEMICONDUCTOR, METHOD FOR MANUFACTURING SEMICONDUCTOR, AND SEMICONDUCTOR MEMORY例文帳に追加

半導体試験装置、半導体試験方法、半導体製造方法、ならびに半導体メモリ - 特許庁

Then, the overcurrent detection result of the semiconductor device is outputted to testing equipment.例文帳に追加

そして、半導体装置に対する過電流検出結果をテスト装備に出力する。 - 特許庁

SEMICONDUCTOR TEST SYSTEM AND TEST METHOD CAPABLE OF EFFICIENTLY TESTING SEMICONDUCTOR DEVICE WITH MANY PINS例文帳に追加

多数ピンの半導体装置を効率よくテストできる半導体テストシステム及びテスト方法 - 特許庁

CONTROL DEVICE OF GAS TURBINE ENGINE, AND TESTING METHOD OF OVER SPEED PREVENTIVE FUNCTION PART OF GAS TURBINE ENGINE例文帳に追加

ガスタービンエンジンの制御装置およびガスタービンエンジンの過回転防止機能部の試験方法 - 特許庁

To provide a testing device which integrates a mixed signal processing circuit with a test interface.例文帳に追加

本発明は、混合信号処理回路をテストインターフェースに統合する試験機を提供する。 - 特許庁

The device that dr. granger was testing could save countless lives.例文帳に追加

グレンジャー博士が実験していた装置は 数え切れないほど多くの命を救えるもので - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書

TEST METHOD FOR DETERMINING OIL SEPARABILITY OF LUBRICATING GREASE, AND TESTING DEVICE FOR EXECUTING METHOD例文帳に追加

潤滑グリースの油分離性を求める試験方法及びこれを実施する試験装置 - 特許庁

This IC tester is acquired by improving on an IC tester for testing a device under test.例文帳に追加

本発明は、被試験対象を試験するＩＣテスタに改良を加えたものである。 - 特許庁

FACE-HOLDING MOVEMENT AND GUIDE MECHANISM, AND CONTINUITY TESTING DEVICE FOR WIRING BOARD AND THE LIKE USING THE SAME例文帳に追加

面保持移動案内機構およびこれを用いた配線基板等の導通試験装置 - 特許庁

The light is received by a light receiving part 80 of the testing device 70, and the address information of the fire detector in the alarm-sounding state is specified by a control part 81 of the testing device 70, and simultaneously the address is displayed on a display part 82 of the testing device 70.例文帳に追加

そして、その光が試験装置７０の受光部８０で受光され、試験装置７０の制御部８１によって前記発報状態にある火災感知器のアドレス情報が特定されると共に、そのアドレスが試験装置７０の表示部８２に表示される。 - 特許庁

To highly precisely conduct waveform shaping of a signal input to a tested device and its timing correction by simple circuit constitution, in an IC testing device for testing a semiconductor device.例文帳に追加

半導体デバイスを試験するＩＣ試験装置において、被試験デバイスに入力される信号の波形整形とタイミング補正とを、より簡単な回路構成によって高い精度で実行できるようにする。 - 特許庁

When the testing data A are returned to a testing unit 14 through the intermediary of an optional external device or a transmission line, the test data control unit 145 compares the testing data A previously stored in a testing data storing unit 1451 when external data are written with the returned testing data A, and informs the control unit 15 of a comparison result.例文帳に追加

任意の外部装置や伝送路を経由して試験部１４に試験データが戻ってくると、試験データ制御部１４５は外部からのデータ書込み時に試験データ記憶部１４５１に予め記憶しておいた試験データＡと、戻ってきた試験データとを比較し、比較結果を制御部１５に通知する。 - 特許庁

OIL MOISTURE CONTENT REMOVING DEVICE AND OIL MOISTURE CONTENT REMOVING METHOD IN LOW TEMPERATURE ENVIRONMENT TESTING DEVICE FOR INTERNAL COMBUSTION ENGINE例文帳に追加

内燃機関の低温環境試験装置における油内水分除去装置及び油内水分除去方法 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR PRELIMINARILY EXAMINING INFLUENCE OF UPDATE PROCESSING AND DEVICE AND METHOD FOR TESTING OPERATION OF UPDATE PROCESSING PROGRAM例文帳に追加

更新処理の影響事前調査装置及び方法、更新処理プログラムの動作テスト装置及び方法 - 特許庁

To provide a testing device capable of realizing a test of a device having a high operation speed, inexpensively in a small size.例文帳に追加

動作速度が高速な被試験デバイスの試験を小型且つ安価に実現できる試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit device test unit which is suitable for testing a three-dimensional semiconductor integrated circuit device.例文帳に追加

３次元半導体集積回路装置に好適な半導体集積回路装置のテスト装置を提供する。 - 特許庁

POWDER SUBSTANCE LEAK REPRODUCING DEVICE, POWDER SUBSTANCE LEAK TESTING DEVICE, AND POWDER SUBSTANCE LEAK TEST METHOD例文帳に追加

粉状物質漏洩再現装置及び粉状物質漏洩試験装置ならびに粉状物質漏洩試験方法 - 特許庁

POLISHING DEVICE, CIRCUIT BOARD TESTING DEVICE PROVIDED WITH ABRASIVE, AND CIRCUIT BOARD MANUFACTURING METHOD PROVIDED WITH POLISHING STEP例文帳に追加

研磨装置、研磨材を備えた回路基板試験装置、及び研磨工程を備えた回路基板製造方法 - 特許庁

TESTING DEVICE FOR SEMICONDUCTOR, AND DEVICE AND METHOD FOR REGULATING TIMING THEREFOR例文帳に追加

半導体試験装置、半導体試験装置のタイミング調整装置および半導体試験装置のタイミング調整方法 - 特許庁

To provide a method and a device for highly reliably testing an electronic device having source synchronizing signal output.例文帳に追加

源同期信号出力を有する電子デバイスの高信頼性試験のための方法および装置を提供する。 - 特許庁

METHOD OF AND DEVICE FOR PUNCHING TESTPIECE AND TESTPIECE TESTING MACHINE INCORPORATING THE METHOD AND THE DEVICE例文帳に追加

試験片打ち抜き方法、試験片打ち抜き装置、及びその方法又はその装置を備えた試験片試験機。 - 特許庁

To provide a testing device capable of performing quickly and easily operation verification on a failure of an electric vehicle control device.例文帳に追加

電気車制御装置の故障に関する動作検証を迅速かつ容易に行なう試験装置を得ること。 - 特許庁

To provide a manufacturing method of a semiconductor device capable of further improving the operation efficiency of a testing device.例文帳に追加

試験装置の稼動効率をより向上させることのできる半導体装置の製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method for calibrating or testing a lithographic device or a part thereof and a method for manufacturing the device.例文帳に追加

リソグラフィ装置又はその一部を較正又は検定する方法及びデバイス製造方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a disk attaching device capable of eliminating the trouble of replacing a disk in a disk related testing device.例文帳に追加

ディスク関連試験装置におけるディスク交換の煩わしさを解消するディスク取り付け装置を提供する。 - 特許庁

CORRECTION METHOD, LIGHT SOURCE APPARATUS, PROGRAM, RECORDING MEDIUM, OPTICAL SCANNING APPARATUS, IMAGE FORMING DEVICE, TESTING DEVICE, AND TEST METHOD例文帳に追加

補正方法、光源装置、プログラム、記録媒体、光走査装置、画像形成装置、試験装置及び試験方法 - 特許庁

EXTENDABLE MEMBER TESTING DEVICE, EXTENDABLE MEMBER INSPECTION DEVICE, EXTENDABLE MEMBER TEST METHOD, AND EXTENDABLE MEMBER INSPECTION METHOD例文帳に追加

伸縮部材試験装置、伸縮部材検査装置、伸縮部材試験方法及び伸縮部材検査方法 - 特許庁

To test a semiconductor device in a testing environment using a low-speed test device having few terminals.例文帳に追加

端子数が少なく且つ低速な試験装置を用いた試験環境で半導体装置を試験できるようにする。 - 特許庁

BURST INTERVAL MEASURING DEVICE, BURST INTERVAL MEASUREMENT METHOD, DRIVE APPARATUS, SERVO PATTERN WRITING DEVICE, AND MAGNETIC TAPE TESTING APPARATUS例文帳に追加

バースト間隔測定装置、バースト間隔測定方法、ドライブ装置、サーボパターン書き込み装置および磁気テープ検査装置 - 特許庁

To provide a substrate test device capable of efficiently and randomly testing plural kinds of substrates with one device.例文帳に追加

１台で複数種類の基板をランダムに且つ効率よく検査することができる基板検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a dew condensation suppression device for avoiding breakage of a bag body, and an environmental testing device equipped therewith.例文帳に追加

袋体の破損を回避できる結露抑制装置、およびそれを備えた環境試験装置を提供する。 - 特許庁

DIFFRACTION GRATING PATCH STRUCTURE, LITHOGRAPHIC APPARATUS, METHOD OF TESTING, METHOD OF MANUFACTURING DEVICE, AND DEVICE MANUFACTURED BY THE METHOD例文帳に追加

回折格子パッチ構造、リソグラフィ装置、試験方法、デバイス製造方法及び該方法によって製造したデバイス - 特許庁

HIGH-FREQUENCY IC SOCKET, SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE, SEMICONDUCTOR TEST METHOD AND MANUFACTURING METHOD OF SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

高周波ＩＣソケット、半導体試験装置および半導体試験方法ならびに半導体装置の製造方法 - 特許庁

To provide a data transfer circuit and a semiconductor testing device equipped therewith which are capable of significantly reducing the waiting time during the semiconductor testing, and performing arithmetic operation processings on the data for testing which are now measured during the testing period.例文帳に追加

本発明は、半導体試験における待ち時間を大幅に削減し、かつ試験中に現在測定している試験のデータの演算処理を行うことができるデータ転送回路、およびこれを備えた半導体試験装置を提供することを目的としている。 - 特許庁

To provide a mobile terminal testing device which enables the test time for testing a transmission power control function of a mobile terminal to be shortened.例文帳に追加

移動端末機の送信電力制御機能を試験する際に、試験時間を短縮することができる移動端末機試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a liquid crystal device, etc. in which corrosion resistance, etc. of a testing terminal for testing goodness/badness of a display panel and a connection terminal can be improved.例文帳に追加

表示パネルの良否を検査する検査用端子、及び接続用端子の耐食性等の向上を図ることが可能な液晶装置等を提供する。 - 特許庁

To provide a structure and testing method for suppressing peak power consumption at the time of testing an integrated circuit device.例文帳に追加

集積回路装置のテスト時におけるピークの消費電力を抑制するための構造，テスト方法，設計方法及び設計用データベースを提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor-testing device for suppressing expansion of damage to specimens by continuation currents after the specimens are destroyed and damage to testing circuits.例文帳に追加

被検体の破壊後に継続電流による被検体の損傷拡大や試験回路の損傷を抑制可能な半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a testing method for a facsimile machine that can relive a load on a person measuring, and to provide the facsimile machine and a facsimile testing device.例文帳に追加

測定者の負担を軽減できるファクシミリ装置の試験方法およびファクシミリ装置およびファクシミリ試験装置を提供することを目的としている。 - 特許庁

A testing part is formed in an alarm device arranged in each dwelling unit of the apartment house, and the testing part executes automatically a test on the fire sensor or the like.例文帳に追加

共同住宅の各住戸内に配置される警報装置に試験部を設け、試験部は、火災感知器などに対する試験を自動的に実施する。 - 特許庁

To shorten testing time by diagnosing units included in a semiconductor testing device to estimate a unit to be replaced.例文帳に追加

半導体試験装置に備えられるユニットの診断を行って、交換するユニットを推定することで、試験時間の短縮化を図ることを目的とする。 - 特許庁

To provide a portable corn penetration testing device which is capable of executing a portable corn penetration testing without requiring manual assistance and advantageous in eliminating variations in measurements.例文帳に追加

人手を要せずにポータブルコーン貫入試験を行え、測定結果のばらつきをなくす上で有利なポータブルコーン貫入試験装置を提供する。 - 特許庁

A testing device simultaneously supplies one testing pattern data to the first and second circuits 32, 33 to execute operating tests of both the circuits 32 and 33.例文帳に追加

試験装置は、第１及び第２メモリ回路３２，３３に同時に１つの試験パターンデータを供給して両メモリ回路３２，３３の動作試験を実施する。 - 特許庁