「testing device」に関連した英語例文の一覧と使い方(57ページ目) - Weblio英語例文検索

METHOD AND APPARATUS FOR CONTROLLING TEMPERATURE OF SEMICONDUCTOR DEVICE, AND METHOD AND APPARATUS FOR TESTING SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

半導体装置の温度制御方法及び装置、及び半導体装置の試験方法及び試験装置 - 特許庁

A test program debug device includes a device under test simulator and a semiconductor testing apparatus simulator.例文帳に追加

本発明のテストプログラムデバッグ装置は、被試験デバイスシミュレータ及び半導体試験装置シミュレータとを備える。 - 特許庁

ESD RESISTANCE EVALUATION METHOD FOR ELECTRONIC ELEMENT, ESD RESISTANCE TESTING DEVICE AND ESD RESISTANCE EVALUATION DEVICE例文帳に追加

電子素子のＥＳＤ耐性評価方法、ＥＳＤ耐性試験装置並びにＥＳＤ耐性評価装置 - 特許庁

APPARATUS AND METHOD FOR TESTING DIFFUSION CIRCUIT IN COMMUNICATION DEVICE AND COMMUNICATION DEVICE EMPLOYING THE APPARATUS AND THE METHOD例文帳に追加

通信装置における拡散回路の試験装置及びその方法並びにそれを用いた通信装置 - 特許庁

To shorten the testing time, and to reduce the testing cost and the manufacturing cost in a device having the transmitting-receiving function such as a physical layer device for an IEEE 1394 interface.例文帳に追加

ＩＥＥＥ１３９４インターフェースの物理層デバイスのように送受信機能を有するデバイスにおいて、テスト時間を短縮し、テストコスト及び製造費用の低減を図ること。 - 特許庁

To provide a testing device for inverter capable of suppressing the number of inverters for which the load energization is simultaneously performed, to a number which can be covered with the power supply capacity of the testing device.例文帳に追加

負荷通電が同時に実行されるインバータの台数を、試験装置の電源容量でカバーできる台数に抑えることが可能なインバータの試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor package connection testing device capable of testing connection between a terminal of a semiconductor package and a pad of a chip without connecting an output signal measuring device to all the terminals of the semiconductor package.例文帳に追加

半導体パッケージの全ての端子に出力信号測定器を接続しなくても、半導体パッケージの端子とチップのパッドとの接続テストを可能とする。 - 特許庁

To reduce the number of terminals on a testing device which are to be assigned for chip selection terminals in testing all semiconductor chips on a laminated type semiconductor device.例文帳に追加

積層型半導体装置における全ての半導体チップのテストを行うにあたり、テスト装置側でチップ選択端子に対して割り当てるべき端子数を削減する。 - 特許庁

An evaluation test device 10 includes a cooling water supply device 14 for supplying cooling water to the testing object 12, and a heater 16 for heating the testing object 12.例文帳に追加

評価試験装置１０は、試験体１２に冷却水を供給する冷却水供給装置１４と、試験体１２を加熱する加熱装置１６とを備える。 - 特許庁

CURRENT DETECTING METHOD FOR INVERTER, ITS CURRENT DETECTING CIRCUIT, ITS ABNORMALITY DETECTING METHOD, ABNORMALITY DETECTING CIRCUIT, DISPLAY DEVICE, INFORMATION PROCESSOR, TESTING METHOD, AND TESTING DEVICE例文帳に追加

インバータの電流検出方法、その電流検出回路、その異常検出方法、その異常検出回路、表示装置、情報処理装置、試験方法及び試験装置 - 特許庁

To provide a semiconductor-testing device that can use a reference comparator having a simple structure and can reduce costs, and to provide a method for calibrating the semiconductor-testing device.例文帳に追加

簡易な構造を有する基準コンパレータを使用することができ、コスト低減が可能な半導体試験装置およびそのキャリブレーション方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device and a semiconductor testing method for quickly and efficiently selecting a semiconductor device and restraining the cost increase for the selection.例文帳に追加

半導体装置の選別を短時間に効率よく行うことができ、選別に要するコストを抑えることができる半導体試験装置および方法を提供すること。 - 特許庁

To obtain a lightweight and compact external pressure load-testing device by further simplifying clamping structure without reducing the outer surface-sealing function of the external pressure load-testing device of a steel pipe.例文帳に追加

鋼管の外圧負荷試験装置の外面シール機能を低下させることなく、その締結構造をより簡素にし軽量かつコンパクトな外圧負荷試験装置の提供。 - 特許庁

To provide a collision testing device which assures desk test technique only with a cab without using a real vehicle, relating to a collision testing device for a cab of a track.例文帳に追加

本発明はトラックのキャブの衝突試験装置に係り、実車を使わず、キャブのみの台上試験手法を確立した衝突試験装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

This device is obtained by improving an IC tester for testing a test object.例文帳に追加

本発明は、被試験対象を試験するＩＣテスタに改良を加えたものである。 - 特許庁

COMPONENT AND METHOD FOR FORMING AND TESTING ELECTRO-OPTICAL DISPLAY DEVICE例文帳に追加

電気光学表示装置を形成および検査するための構成部品および方法 - 特許庁

DEVICE FOR SUPPORTING CREATION OF TEST SPECIFICATION AND MANUAL, AND SUPPORTING AUTOMATIC TESTING例文帳に追加

試験仕様書作成からマニュアルの作成を支援し自動試験を支援する装置 - 特許庁

COMPONENT PART AND METHOD FOR FORMING AND TESTING ELECTRO-OPTICAL DISPLAY DEVICE例文帳に追加

電気光学表示装置を形成および検査するための構成部品および方法 - 特許庁

To provide a testing device which is capable of efficiently programming a configuration of a programmable circuit.例文帳に追加

プログラマブル回路の構成を効率よくプログラムできる試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a transformation automation client control service testing device, and a method of the same.例文帳に追加

変電自動化クライアント制御サービス試験装置及びその方法を提供する。 - 特許庁

LINE CALL GENERATOR FOR FUNCTION TEST OF RADIO DATA SERVICE DEVICE AND FUNCTION TESTING METHOD例文帳に追加

無線デ—タサ—ビス装置の機能試験用回線呼発生器及び機能試験方法 - 特許庁

PAGE MISSING MANAGING SYSTEM AND PORTABLE PAGE MISSING TESTING DEVICE OF SADDLE STITCHING BOOKBINDING MACHINE例文帳に追加

中綴製本機における落丁管理システム及び可搬式落丁検査装置 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR TESTING DYNAMIC RESPONSE AND IMPACT RESISTANCE OF ADHESIVE MATERIAL例文帳に追加

接着性材料の動的応答及び耐衝撃性を試験する方法及び装置 - 特許庁

Inside the testing device part 32, a single/plurality of test piece/test pieces is/are stored.例文帳に追加

試験装置部３２内には、１個または複数個の試験片が収納される。 - 特許庁

SAMPLING DIGITIZER AND SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT TESTING DEVICE PROVIDED WITH THE SAMPLING DIGITIZER例文帳に追加

サンプリングデジタイザ及びこのサンプリングデジタイザを備えた半導体集積回路試験装置 - 特許庁

CONSTITUENT PARTS AND METHOD FOR FORMING AND TESTING ELECTRO-OPTICAL DISPLAY DEVICE例文帳に追加

電気光学表示装置を形成および検査するための構成部品および方法 - 特許庁

To provide an electronic component testing device optimizing throughput and a cost.例文帳に追加

スループットとコストの最適化を図ることができる電子部品試験装置を提供する。 - 特許庁

To quicken the testing speed of an electronic tag label in an electronic tag label attachment device.例文帳に追加

電子タグラベル貼着装置における電子タグラベルの検査速度の高速化を図る。 - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEVICE HAVING SELF-TEST FUNCTION AND ITS TESTING METHOD例文帳に追加

自己テスト機能を備える半導体装置および当該半導体装置のテスト方法 - 特許庁

To prevent damage of a semiconductor device and a testing apparatus therefor during burn-in test.例文帳に追加

バーンイン試験時の半導体装置及びその試験装置の損傷を回避する。 - 特許庁

An environmental testing device 100 includes a dew condensation detector 8 and a regulator 4.例文帳に追加

環境試験装置１００は、結露検出器８と調節器４を有している。 - 特許庁

MICROFLUID DEVICE, BIOLOGICAL MATTER TESTING APPARATUS, AND MICROCHEMICAL REACTOR例文帳に追加

マイクロ流体デバイスおよびこれを用いた生体物質検査装置とマイクロ化学リアクター - 特許庁

METHOD FOR FITTING SPRING ELEMENT ONTO SEMICONDUCTOR DEVICE AND FOR TESTING WAFER LEVEL例文帳に追加

半導体デバイス上へのばね要素の取り付け、及びウエハレベルのテストを行う方法 - 特許庁

MOVABLE STAGE FOR PLACING TEST PIECE, CIRCUIT PATTERN MANUFACTURING APPARATUS, AND CIRCUIT PATTERN TESTING DEVICE例文帳に追加

試料載置用可動ステージ、回路パターンの製造装置、及び回路パターンの検査装置 - 特許庁

To improve the efficiency of usage of a memory area of a main memory in a testing device.例文帳に追加

試験装置におけるメインメモリの記憶領域の利用効率を向上させる。 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR AUTOMATICALLY TESTING EXCHANGE AND RECORDING MEDIUM例文帳に追加

交換機の自動試験装置および交換機の自動試験方法、並びに記録媒体 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device capable of preventing the erroneous connection of a function block.例文帳に追加

機能ブロックの誤接続を防止できる半導体試験装置を提供すること。 - 特許庁

SHOCK WAVE GENERATING DEVICE, SURFACE TREATMENT METHOD, NONDESTRUCTIVE TESTING METHOD, AND TREATMENT METHOD例文帳に追加

衝撃波発生装置、表面処理方法、非破壊検査方法および治療方法 - 特許庁

To provide a transformer testing device of high operational speed and simple circuit configuration.例文帳に追加

動作速度が速く回路構成が簡単な変成器試験装置を提供すること。 - 特許庁

DATA PROCESSOR AND METHOD FOR TESTING STABILITY OF MEMORY CELL IN MEMORY DEVICE例文帳に追加

メモリ・デバイス内のメモリ・セルの安定性をテストするためのデータ処理装置および方法 - 特許庁

INTERFACE CIRCUIT, AND TESTING METHOD AND DEBUGGING METHOD USING THE SAME FOR SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

インターフェース回路及びそれを用いた半導体装置のテスト方法とデバッグ方法 - 特許庁

METHOD OF TESTING WAVELENGTH-TUNABLE LASER, METHOD OF CONTROLLING WAVELENGTH-TUNABLE LASER, AND LASER DEVICE例文帳に追加

波長可変レーザの試験方法、波長可変レーザの制御方法およびレーザ装置 - 特許庁

HUMIDIFICATION SYSTEM AND PERFORMANCE TESTING DEVICE OF ELECTROLYTE MEMBRANE FOR FUEL CELL USING IT例文帳に追加

加湿システム及びそれを用いた燃料電池用電解質膜の性能試験装置 - 特許庁

INTEGRATED CIRCUIT DEVICE, ITS TESTING METHOD, DATABASE FOR ITS DESIGN, AND ITS DESIGNING METHOD例文帳に追加

集積回路装置，そのテスト方法，その設計用データベース及びその設計方法 - 特許庁

There is provided a testing device 1 for evaluating projection ride-over performance of a tyre 10.例文帳に追加

タイヤ１０の突起乗り越し性能を評価するための試験装置１である。 - 特許庁