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Weblio 辞書 > 英和辞典・和英辞典 > testing deviceに関連した英語例文

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testing deviceの部分一致の例文一覧と使い方

該当件数 : 5534



例文

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE, TEST PATTERN GENERATING METHOD FOR IT, METHOD FOR TESTING SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE, AND SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT TESTING DEVICE例文帳に追加

半導体集積回路装置のテストパターン作成方法、半導体集積回路装置、半導体集積回路装置のテスト方法、および、半導体集積回路試験装置 - 特許庁

To provide a testing method of a display device, which is capable of accurately predicting a lifetime of a pixel in a short time, a display device, a testing instrument of the display device, and an electronic apparatus.例文帳に追加

短期間で、画素の寿命を正確に予測することの可能な表示装置の検査方法、表示装置、表示装置の検査装置及び電子機器を提供する。 - 特許庁

To brake a testing device in emergency braking without supplying power to a load electric motor in the testing device of a prime mover conducting performance testing by absorbing the output of the prime mover with the load electric motor.例文帳に追加

原動機の出力を負荷電動機により吸収して、性能試験を行う原動機の試験装置において、緊急制動時に前記負荷電動機に電力を供給せずに、制動を行う。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit device, where a testing unit optimal to a memory macro can be tested on an optimal testing condition in the case of testing the memory macro mounted in the semiconductor integrated circuit device.例文帳に追加

半導体集積回路装置に搭載されたメモリマクロの試験の際、メモリマクロに最適な試験単位を最適な試験条件で試験することが可能な半導体集積回路装置を提供すること。 - 特許庁

例文

In the pad for probe sensing for testing electrically the semiconductor device without attacking the device, the substrate having the semiconductor device, the method of testing the semiconductor device and the tester for testing the semiconductor device, the probe pad includes a probing region with which a probe needle makes contact.例文帳に追加

半導体素子にアタックを加えなく素子を電気的にテストするためのプローブセンシング用パッド、半導体素子の搭載された基板、半導体素子検査方法及び半導体素子テスターにおいて、前記プローブパッドはプローブ針が接触するプローブ領域を含む。 - 特許庁


例文

This impact testing device is provided with a testing table 5 mounted with the testing object 3, and an impact applying means 1 for applying an impact on the whole face of a testing objective face 3a of the testing object 3, using a bag (object) 17 having any property out of elasticity, viscosity and viscoelasticity.例文帳に追加

試験対象物3が載置される試験台5と、試験対象物3の試験対象面3aの全面に、弾性、粘性、粘弾性のうちのいずれかの性質を有する袋(物体)17を用いて衝撃を与える衝撃付与手段1とを備える。 - 特許庁

To test and diagnose a storage device, more precisely to provide a testing/diagnosing method and a testing/diagnosing device for testing the storage device and performing diagnosis for specifying a repair location for the storage device which is determined as being a failure.例文帳に追加

本発明は、記憶装置の試験と診断とに関し、より詳細には記憶装置を試験し、不良と判定された記憶装置に対して修復箇所を特定する診断を行う試験・診断方法および試験・診断装置に関する。 - 特許庁

To provide a testing device for enhancing precision of a test, by making an operation direction of expansion movement in a vibration controller consistent with an operation direction of expansion drive in the testing device.例文帳に追加

防振器の伸縮動と試験装置の伸縮駆動との動作方向を一致させて、試験の精度を向上させる試験装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a tip testing device of sprinkler equipment comprising a tip testing valve, a pressure gauge, and orifices, which device makes it possible to unify types of the orifices and to reduce costs.例文帳に追加

末端試験弁、圧力計、及びオリフィスから構成されるスプリンクラー設備の末端試験装置において、オリフィスの種類の単一化、低コスト化を図る。 - 特許庁

例文

TESTING DEVICE FOR LIGHTENING CHARACTERISTIC OF MAGNETIC FLUX PINNING MECHANISM IN SUPERCONDUCTIVITY BEARING例文帳に追加

超電導軸受における磁束ピンニング機構緩和特性の試験装置。 - 特許庁

例文

To inhibit an increase in the number of test terminals of a semiconductor integrated circuit device at testing time.例文帳に追加

半導体集積回路装置のテスト時のテスト端子を抑制する。 - 特許庁

PURIFICATION TEST METHOD OF CONTAMINATED SOIL, AND PURIFICATION TESTING DEVICE OF CONTAMINATED SOIL例文帳に追加

汚染土壌の浄化試験方法および汚染土壌の浄化試験装置 - 特許庁

METHOD FOR TESTING HARDWARE OF ON-VEHICLE DEVICE AND METHOD FOR WRITING SOFTWARE FOR PRODUCT例文帳に追加

車載装置のハードウエアテスト方法及び製品用ソフトウエア書き込み方法 - 特許庁

To provide a technique for suitably testing a virtual private network management device.例文帳に追加

仮想プライベートネットワーク管理装置を適切に試験する技術を提供する。 - 特許庁

To provide a testing system for facilitating the communication test of an information communications device.例文帳に追加

情報通信装置の通信テストを容易にするテストシステムを提供する。 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR TESTING DEFORMATION PERFORMANCE OF ASPHALT MATERIAL例文帳に追加

アスファルト材料の変形性能試験装置および変形性能試験方法 - 特許庁

To provide a method and a device of testing a semiconductor wafer or a sample.例文帳に追加

半導体ウエハまたはサンプルを検査する方法と装置を提供する。 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR TESTING SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

半導体集積回路のテスト方法及び半導体集積回路のテスト装置 - 特許庁

The device 160 stores a counting result obtained in the testing period.例文帳に追加

第2の記憶装置は、試験期間中に得られた計数結果を格納する。 - 特許庁

HIGH PRESSURE MATERIAL STRENGTH TESTING DEVICE AND HIGH PRESSURE MATERIAL STRENGTH TEST METHOD例文帳に追加

高圧材料強度試験装置および高圧材料強度試験方法 - 特許庁

POWER CLIP, AND POWER FEED AND DISCHARG TESTING DEVICE USING THE SAME例文帳に追加

通電用クリップ及びこの通電用クリップを用いた給放電試験装置 - 特許庁

TESTING METHOD AND DEVICE FOR STRUCTURE FOR PASSING SUPERSONIC WORKING FLUID例文帳に追加

超音速作動流体が通過する構造体の試験方法および装置 - 特許庁

TESTING MACHINE AND SAFETY EVALUATION METHOD OF POWER STORAGE AND SUPPLY DEVICE例文帳に追加

試験装置及び電力貯蔵供給デバイスの安全性評価方法 - 特許庁

TESTING METHOD FOR CHECKING FUNCTION FOR PROGRAMMABLE CONTROLLER AND PLANT MONITOR AND CONTROL DEVICE例文帳に追加

プログラマブルコントローラの機能確認試験方法およびプラント監視制御装置 - 特許庁

To provide a testing device which appropriately performs power supply and feedback.例文帳に追加

電源供給及びフィードバックを適切に行う試験装置を提供する。 - 特許庁

To execute testing upon acquiring a clock signal output from a device under test.例文帳に追加

被試験デバイスから出力されるクロック信号を取得して試験する。 - 特許庁

TESTING DEVICE OF EXISTENCE OF CABLE DISCONNECTION AND TEST METHOD OF EXISTENCE OF CABLE DISCONNECTION例文帳に追加

ケーブル断線の有無試験装置およびケーブル断線の有無試験方法 - 特許庁

To provide an array testing device, a method of measuring substrate one location position of the array testing device, and a method of measuring specific position coordinate imaged by a camera assembly.例文帳に追加

本発明は、アレイテスト装置と、アレイテスト装置の基板一地点位置測定方法と、カメラアセンブリーに撮像された特定位置座標測定方法を提供する。 - 特許庁

CONNECTION TESTING METHOD IN REPLACING RAILWAY ELECTRONIC INTERLOCKING DEVICE, AND LIGHT SWITCH例文帳に追加

鉄道用電子連動装置取替時の接続試験方法および光スイッチ - 特許庁

The electronic component testing device includes a workstation, a tester body, and a test head.例文帳に追加

電子部品試験装置は、ワークステーション、テスタ本体、及びテストヘッドを備える。 - 特許庁

To provide a testing device of DUT having a bidirectional differential interface.例文帳に追加

双方向差動インタフェースを有するDUTの試験装置を提供する。 - 特許庁

RELAY NODE DEVICE, TELEPHONE SYSTEM AND CONNECTIVITY TESTING METHOD USED THEREFOR例文帳に追加

中継ノード装置、電話システム及びそれらに用いる接続性試験方法 - 特許庁

To provide a system and a method for testing an integrated circuit device by using electrostatic discharge testing of an electric transmission pathway and a device charged model.例文帳に追加

送電経路及びデバイス帯電モデルの静電気放電試験を用いて、集積回路デバイスを試験するためのシステム及び方法を提供する。 - 特許庁

BUSINESS PROCESS TEST DESIGN SUPPORT DEVICE, BUSINESS PROCESS TESTING METHOD AND COMPUTER PROGRAM例文帳に追加

ビジネスプロセステスト設計支援装置、ビジネスプロセス試験方法、及びコンピュータプログラム - 特許庁

PIN ELECTRONICS USED WITHIN AUTOMATIC TEST DEVICE FOR TESTING INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

集積回路をテストするための自動テスト装置内で使用するピンエレクトロニクス - 特許庁

EVALUATING METHOD OF FLUIDIZED BED COMBUSTION TESTING DEVICE AND COAL-ADDED COMBUSTIBLE MATTER例文帳に追加

流動層燃焼試験装置及び石炭添加可燃物の評価方法 - 特許庁

ALIGNMENT METHOD OF TESTING PIN FOR ELECTROSTATIC BREAKDOWN TESTER OF ELECTRONIC DEVICE例文帳に追加

電子デバイスの静電破壊試験装置の試験用ピンの位置合わせ方法 - 特許庁

The testing device 1 has an engine bench BEG and a transmission bench BTM.例文帳に追加

試験装置1は、エンジンベンチBEGとトランスミッションベンチBTMとを具備する。 - 特許庁

TEST METHOD FOR MATERIAL EVALUATION OF COMPONENT OF INJECTION MOLDING APPARATUS AND TESTING DEVICE例文帳に追加

射出成形機部品用材料評価試験方法及び試験装置 - 特許庁

BIST CIRCUIT BUILT-IN SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE AND TESTING METHOD FOR IT例文帳に追加

BIST回路内蔵半導体集積回路装置およびテスト方法 - 特許庁

DEVICE, METHOD AND PROGRAM FOR TESTING INTERFERENCE OF TELEPHONE例文帳に追加

電話の干渉試験装置および方法、ならびに電話の干渉試験プログラム - 特許庁

TESTING DEVICE AND METHOD FOR INSPECTING SHEET-LIKE PART FOR DRILLING例文帳に追加

シート状部品を穿孔について検査するための試験装置及び方法 - 特許庁

To provide a testing system of a device for driving loads that ensures prevention of the device for driving loads against damages in evaluation/testing stages, and to provide its control method.例文帳に追加

評価・試験段階において負荷駆動装置の破損を確実に防止する負荷駆動装置の試験システムおよびその制御方法を提供する。 - 特許庁

To provide a device which enables testing by visual observation and grasp the property of a stake correctly.例文帳に追加

杭を目視により試験でき、杭の特性を正確に把握すること。 - 特許庁

In this way, the testing device can be prevented from stopping by pulse noise.例文帳に追加

これにより、パルス性ノイズにより試験機が停止することを防止できる。 - 特許庁

CALIBRATION METHOD OF MULTIPLE COMPONENT FORCE DETECTOR INSTALLED ON ROLLING RESISTANCE TESTING DEVICE例文帳に追加

転がり抵抗試験機に備えられた多分力検出器の校正方法 - 特許庁

The array testing device includes a test part supporting a substrate to be tested.例文帳に追加

本発明のアレイテスト装置は、テストされる基板を支持するテスト部を備える。 - 特許庁

To provide a system and a method of testing humidity in a sealed MEMS device.例文帳に追加

封止されたMEMSデバイス内の湿度を検査するシステム及び方法 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR TESTING SURFACE STATE OF MEASURING OBJECT例文帳に追加

測定物の表面状態試験方法及びその表面状態試験装置 - 特許庁

例文

To provide a testing device for a vibration controller for preventing the vibration controller and the testing device from being damaged, by liberating an excessive load during a test of the vibration controller.例文帳に追加

防振器の試験中の過大な荷重を逃がし、防振器や試験装置の破損を未然に防止する防振器用の試験装置を提供する。 - 特許庁




  
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