「testing device」に関連した英語例文の一覧と使い方(51ページ目) - Weblio英語例文検索

METHOD OF MANAGING MANUFACTURE HISTORY FOR SOLID-STATE IMAGING DEVICE AND DEVICE THEREFOR, AND METHOD FOR TESTING SOLID-STATE IMAGING DEVICE例文帳に追加

固体撮像素子の製造履歴管理方法及びその装置並びに固体撮像素子の試験方法 - 特許庁

COMMAND TRANSMISSION CONTROL DEVICE, INTEGRATED CIRCUIT DEVICE, SOUND REPRODUCTION EVALUATION SYSTEM, AND TESTING METHOD OF SOUND REPRODUCTION DEVICE例文帳に追加

コマンド送信制御装置、集積回路装置、音再生評価システム及び音再生装置のテスト方法 - 特許庁

PATTERN FOR ALIGNING, DISPLAY DEVICE, ASSEMBLY METHOD FOR DISPLAY DEVICE, AND TESTING METHOD OF ALIGNING OF DISPLAY DEVICE例文帳に追加

位置合わせ用パターン、表示デバイス、表示デバイスの組立て方法、表示デバイスの位置合わせ検査方法 - 特許庁

CONTACT GUIDING MEMBER, PROBE CARD AND SEMICONDUCTOR DEVICE TEST DEVICE, AND METHOD OF TESTING SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

接触子案内部材、プローブカード及び半導体装置試験装置、並びに半導体装置の試験方法 - 特許庁

To provide an immunity testing method and immunity testing device capable of realizing evaluation on the immunity characteristics in an arbitrary direction of a specimen with enough reliability, and a rotary magnetic field generating device used in the testing method and testing device.例文帳に追加

十分な信頼度で試供体の任意方向におけるイミュニティ特性の評価を実現することのできる、新規なイミュニティ試験方法及びイミュニティ試験装置、並びにこれらの試験方法及び試験装置に用いる回転電磁界発生装置を提供する。 - 特許庁

To provide a radiographic testing device for more efficiently testing the existence or absence of radiation pollution at an internal surface of a tube body.例文帳に追加

管体の内面の放射線汚染の有無をより効率的に検査でき得る放射線検査装置を提供する。 - 特許庁

This visual function inspection equipment is provided with the plurality of visual acuity testing devices 2 and a central management device 20 connected to the visual acuity testing devices.例文帳に追加

複数の視力検査装置２とそれら視力検査装置に接続された中央管理装置２０を有する。 - 特許庁

To realize a test system capable of testing a tested object for decoding encode data with an IC testing device.例文帳に追加

エンコードデータをデコードする被試験対象を、ＩＣ試験装置で試験が行えるテストシステムを実現することを目的にする。 - 特許庁

To provide a device for testing, capable of accurately counting the number of fail data without reducing testing throughput.例文帳に追加

試験のスループットを低下させることなく、正確にフェイルデータの数を計数することができる試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a control circuit for a contact opening and closing device, and a semiconductor chip testing system and a semiconductor chip testing method using the control circuit.例文帳に追加

接点開閉装置の制御回路及びこれを用いた半導体チップテストシステム並びにテスト方法を提供する。 - 特許庁

To provide an IC testing device capable of preventing a test cost from increasing in accompaniment to enhancement of performance in a testing object.例文帳に追加

試験対象の性能向上にともなう試験コストの増大を防ぐことが可能なＩＣ試験装置を提供する。 - 特許庁

To obtain an earth device for testing capable of individually earth each phase in testing by a simple constitution.例文帳に追加

簡単な構成で試験時に各相を個別に接地することができる試験用接地装置を得ることを目的とする。 - 特許庁

To adjust in a short time, fine pneumatic fluctuation in a tire generated during testing the tire, in a tire testing device.例文帳に追加

タイヤ試験装置において、タイヤ試験中に生じるタイヤ内の空気圧の微小な変動を短時間で調整する。 - 特許庁

To provide a testing device capable of efficiently testing the sealability of a joint of a pipe made of a bonded synthetic resin.例文帳に追加

接合合成樹脂製配管の接合部の密封性を効率よく試験することの可能な試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide an air filter testing device capable of testing precisely performance, and allowing an efficient test.例文帳に追加

高精度の性能試験を行うことができ、また能率のよい試験を行うことができるエアフィルタ試験装置を提供する。 - 特許庁

This vibration testing device 1 is equipped with the first excitation device 10, the second excitation device 20 and a vibration control device 30.例文帳に追加

振動試験装置１は、第１加振装置１０と、第２加振装置２０と、振動制御装置３０とを備える。 - 特許庁

To provide a method of testing a semiconductor device which is capable of testing the electrical properties of the semiconductor device with high accuracy before an assembly process is carried out.例文帳に追加

アセンブリ工程より前に行なう電気的特性のテストを精度良く行なうことができる半導体素子のテスト方法を提供する。 - 特許庁

To provide an engine testing device for efficiently absorbing vibration generated by an engine as compared with a conventional engine testing device.例文帳に追加

従来のエンジン試験装置によるよりもエンジンで発生した振動を効率的に吸収することができるエンジン試験装置を提供すること。 - 特許庁

Based on these status signals, the external testing device can decide whether the data are set to be loaded on each mixed memory, or to be disregarded, thereby enabling the outer testing device to reduce the testing time for the memory of the device.例文帳に追加

これらの状態信号に基づいて、外部試験装置は、どのデータセットを各メモリ混載アレーからロードすべきか、無視すべきかを判断することができ、それによりデバイスに対するメモリ試験時間を減少する。 - 特許庁

An analysis device 30 is provided, which analyzes the result of the testing of a plurality of devices under test, having the same configuration by a testing device.例文帳に追加

同一の構成を有する複数の被試験デバイスを試験装置により試験した試験結果を解析する解析装置３０を提供する。 - 特許庁

A test signal IS from the maintenance testing device X is inspected by the relay inspecting circuit Fi and a maintenance inspecting circuit B of the maintenance testing device X.例文帳に追加

保守試験装置Ｘからの試験信号ＩＳを、中継検査回路Ｆ_i と保守試験装置Ｘの保守検査回路Ｂとで検査する。 - 特許庁

To provide a testing device of internal engines that can perform the durability and performance test of different types of engines, using the same testing device.例文帳に追加

同一の試験装置で異なる種類のエンジンの耐久および性能試験を行うことができる内燃機関の試験装置を提供する。 - 特許庁

CIRCUIT FOR GENERATING PULSE, SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE USING THE SAME, METHOD OF TESTING SEMICONDUCTOR, AND METHOD OF MANUFACTURING SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

パルス発生回路およびパルス発生回路を用いた半導体試験装置、および半導体試験方法および半導体装置の製造方法 - 特許庁

To provide a testing method of an elevator load weighing device capable of easily testing an action of a load weighing switch without a special device.例文帳に追加

特別な装置を必要としなく、また、容易に秤スイッチの動作試験を行うことができるエレベータ秤装置の試験方法を提供する。 - 特許庁

BATTERY PACK, DEVICE AND METHOD FOR BATTERY PACK CAPACITY TESTING例文帳に追加

組電池、組電池容量試験装置、および組電池容量試験方法 - 特許庁

IC TESTING DEVICE AND EXTERNAL EQUIPMENT DISCRIMINATING METHOD IN THE SAME例文帳に追加

ＩＣ試験装置、及びＩＣ試験装置における外部機器識別方法 - 特許庁

BRAKING FORCE TESTING DEVICE AND METHOD OF HOIST BRAKE FOR ELEVATOR例文帳に追加

エレベータ用巻上機ブレーキの制動力試験装置および試験方法 - 特許庁

To determine a contact state between a pusher of a test handler and a testing device.例文帳に追加

テストハンドラのプッシャとテストデバイスの間の接触状態を判定する。 - 特許庁

COMMUNICATION SYSTEM, COMMUNICATION DEVICE, AND NORMALITY TESTING METHOD USED FOR THEM例文帳に追加

通信システム、通信装置及びそれらに用いる正常性試験方法 - 特許庁

SYSTEM AND METHOD OF TESTING HUMIDITY IN SEALED MEMS DEVICE例文帳に追加

封止されたＭＥＭＳデバイス内の湿度を検査するシステム及び方法 - 特許庁

DROP IMPACT TESTING MACHINE AND CLAMPING DEVICE OF JIG USED THEREIN例文帳に追加

落下衝撃試験装置及びそれに用いる治具の締め付け装置 - 特許庁

INTEGRATED CIRCUIT DEVICE HAVING BUILT-IN DLL CIRCUIT, AND ITS TESTING PROCESS例文帳に追加

ＤＬＬ回路を内蔵する集積回路装置及びその試験方法 - 特許庁

To shorten testing time at an output circuit of a semiconductor device.例文帳に追加

半導体装置の出力回路における試験時間を短縮する。 - 特許庁

TESTING TRANSFER NIP OF PRINTING DEVICE USING TRANSFER FIELD UNIFORMITY MAP例文帳に追加

転写領域均一性マップを用いた印刷装置の試験転写ニップ - 特許庁

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT TESTING DEVICE AND METHOD FOR OPERATING TEST RESULT THEREOF例文帳に追加

半導体集積回路試験装置及びその試験結果操作方法 - 特許庁

TESTING METHOD AND DEVICE FOR ABSORPTION CHARACTERISTIC OF BODY FLUID ABSORBENT ARTICLE例文帳に追加

体液吸収性物品の吸収特性の試験方法および装置 - 特許庁

This testing device employs anisotropic electrical conductive sheet.例文帳に追加

本発明の検査装置は、前記異方導電性シートを用いたものである。 - 特許庁

POSITIVE/NEGATIVE DC POWER SUPPLY UNIT AND SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE USING THE SAME例文帳に追加

正負直流電源装置及びこれを用いる半導体試験装置 - 特許庁

IN-SERVICE TESTING METHOD AND DETERMINATION DEVICE FOR DETERMINING EXISTENCE/ABSENCE OF TEST LIGHT CUTOFF FILTER例文帳に追加

インサービス試験方法および試験光遮断フィルタ有無判定装置 - 特許庁

The semiconductor testing device is further provided with a relief judgment circuit 60.例文帳に追加

半導体試験装置は、救済判定回路６０をさらに備える。 - 特許庁

LIFETIME PREDICTION TEST METHOD OF POLYMER MEMBRANE, TESTING DEVICE, AND TEST PROGRAM例文帳に追加

高分子膜の寿命予測試験方法、試験装置および試験プログラム - 特許庁

INTER-NODE TESTING METHOD FOR COMMUNICATION NETWORK AND NODE DEVICE USED THEREFOR例文帳に追加

通信ネットワークのノード間試験方法及びそれに用いるノード装置 - 特許庁

This horizontal penetration testing device 1 comprises an insertion case 10.例文帳に追加

本発明の横方向貫入試験器１は挿入ケース１０を備える。 - 特許庁

To provide a technology for appropriately testing a network address translating device.例文帳に追加

ネットワークアドレス変換装置を適切に試験する技術を提供する。 - 特許庁

FLUIDITY TESTING DEVICE FOR SEDIMENT, AND FLUIDITY TEST METHOD FOR SEDIMENT例文帳に追加

土砂の流動性試験装置および土砂の流動性試験方法 - 特許庁