「testing device」に関連した英語例文の一覧と使い方(48ページ目) - Weblio英語例文検索

This testing handler includes a loading device for loading a device on a testing tray, a posture changing device 100 for posture-changing the testing tray, the soaking chamber 10 for storing sequentially the posture-changed testing trays, temperature control means 150, 180 for preheating/precooling the device mounted on the testing tray, and an unloading device for unloading the test-finished device to a user tray.例文帳に追加

ディバイスをテストトレーにロードさせるロード装置と、テストトレーを姿勢変換させる姿勢変換装置１００と、姿勢変換されたテストトレーを順次収納するソークチャンバー１０と、テストトレーに積載されたディバイスを予熱／予冷する温度制御手段１５０、１８０と、テストが終了したディバイスをユーザートレーにアンロードさせるアンロード装置とを包含して構成される。 - 特許庁

CONTROL DEVICE OF HYDRAULIC SHAKER AND VIBRATION TESTING DEVICE AND ACTIVE SEISMIC CONTROL DEVICE WITH THE SAME例文帳に追加

油圧加振機の制御装置及びそれを備えた振動試験装置およびアクティブ制震装置 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR VERIFYING INTEGRATED CIRCUIT DEVICE TEST FOR TESTING INTEGRATED CIRCUIT DEVICE例文帳に追加

集積回路デバイスを試験するための集積回路デバイス試験を検証する方法及び装置 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR RECOGNIZING PART, SURFACE MOUNTING MACHINE, PART TESTING DEVICE AND SUBSTRATE INSPECTION DEVICE例文帳に追加

部品認識方法、部品認識装置、表面実装機、部品試験装置および基板検査装置 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR TESTING RESISTANCE VALUE OF ON-DIE-TERMINATION DEVICE AND SEMICONDUCTOR DEVICE HAVING SAME例文帳に追加

オンダイターミネーション抵抗値テスト装置および方法、ならびに前記装置を有する半導体装置 - 特許庁

PART RECOGNITION METHOD, PART RECOGNIZING DEVICE, SURFACE MOUNTING MACHINE, PART TESTING DEVICE, AND SUBSTRATE INSPECTING DEVICE例文帳に追加

部品認識方法、部品認識装置、表面実装機、部品試験装置および基板検査装置 - 特許庁

SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE, INSPECTION METHOD OF SEMICONDUCTOR DEVICE OR MANUFACTURING METHOD OF SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

半導体試験装置または半導体装置の検査方法または半導体装置の製造方法 - 特許庁

To cooperatively control testing situation information and testing environment information and failure information management in a software testing environment constituted of a software testing work supporting device connected through a network to plural testing sites constituted of a testing server in which the objects to be tested of software are operating and plural testing terminals and a testing control terminal for controlling the objects.例文帳に追加

ソフトウェアの試験対象オブジェクトが動作する試験サーバと複数の試験端末とオブジェクトを管理する試験管理端末から構成される複数の試験サイトとネットワーク接続したソフトウェア試験作業支援装置から構成されるソフトウェア試験環境において、試験状況情報、試験環境情報、障害情報管理を連携して行う。 - 特許庁

To provide a miniaturizable inverter testing device capable of switching collectively connection between an inverter which is a test object and a withstand voltage testing circuit or a function testing circuit.例文帳に追加

被試験体であるインバータと耐圧試験回路、機能試験回路との接続を一括で切り換えでき、かつ小型化できるインバータ試験装置を得る。 - 特許庁

The invention is a kind of the electronic component testing system which includes many testing areas and is provided with a pick and place device in each testing area.例文帳に追加

本発明は一種の電子部品テストシステムであり、多数のテストエリアを包含し、各テストエリアはそれぞれ、取放（ｐｉｃｋ ＆ ｐｌａｃe）装置が設けられる。 - 特許庁

To provide a testing device of an electronic component which is capable of correctly controlling the temperature of the electronic component and testing the component at a desired testing temperature.例文帳に追加

電子部品の温度を正確に制御し、所望の試験温度にて電子部品を試験することができる電子部品試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide an acceleration testing method and an acceleration testing device, by which deterioration caused by a manufacturing step such as A1 wiring corrosion or the like, can be accelerated for testing with reproducibility.例文帳に追加

加速試験方法及び加速試験装置に関し、Ａｌ配線コロージョン等の製造工程に起因する劣化を再現性良く加速試験する。 - 特許庁

TERMINAL BOARD FOR CONTROL PANEL TEST, CONTROL PANEL AUTOMATIC TESTING DEVICE, AND TEMPORARY CONTROL DEVICE例文帳に追加

制御盤試験用端子台、制御盤自動試験装置、及び仮設制御装置 - 特許庁

ANISOTROPIC CONDUCTIVE SHEET AND ITS MANUFACTURING METHOD AS WELL AS TESTING DEVICE OF CIRCUIT DEVICE例文帳に追加

異方導電性シートおよびその製造方法並びに回路装置の検査装置 - 特許庁

DISPLAY DEVICE, LIQUID CRYSTAL DISPLAY PANEL ASSEMBLY, AND TESTING METHOD FOR DISPLAY DEVICE例文帳に追加

表示装置及び液晶表示板組立体、並びに表示装置の検査方法 - 特許庁

SYSTEM FOR TESTING OPTICAL DEVICE AND METHOD FOR MANUFACTURING OPTICAL DEVICE USING SAME例文帳に追加

光学デバイスの試験装置とその試験装置を用いた光学デバイスの製造方法 - 特許庁

OPTICAL PART PRODUCING APPARATUS, OPTICAL PART TESTING DEVICE AND OPTICAL PART STORING DEVICE例文帳に追加

光学部品生産装置、光学部品検査装置、及び光学部品収納装置 - 特許庁

MEASURING DEVICE, BIOLOGICAL TESTING DEVICE, FLOW VELOCITY MEASURING METHOD, AND PRESSURE MEASURING METHOD例文帳に追加

測定装置、生体検査装置、流速測定方法、および圧力測定方法 - 特許庁

INSPECTION PROBE OF SEMICONDUCTOR DEVICE, AND MANUFACTURING METHOD FOR THE TESTING PROBE OF SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

半導体装置の検査プローブ及び半導体装置の検査プローブの製造方法 - 特許庁

WIRING PATTERN, PATTERN FOR TESTING SEMICONDUCTOR DEVICE AND METHOD FOR MANUFACTURING SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

配線パターン、半導体装置のテスト用パターンおよび半導体装置の製造方法 - 特許庁

To provide an automatic load testing device and method for efficiently testing a load.例文帳に追加

負荷試験作業を効率的に行える自動負荷試験装置および自動負荷試験方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a method of testing a semiconductor laser in which accurate data transmission characteristics can be evaluated, and a laser testing device.例文帳に追加

正確なデータ伝送特性の評価を可能とするレーザの試験方法およびレーザ試験装置を提供する。 - 特許庁

INTEGRATED CIRCUIT TESTING DEVICE AND METHOD AND RECORDING MEDIUM RECORDING CONTROL PROGRAM DESCRIBING TESTING METHOD例文帳に追加

集積回路の試験装置、及び試験方法、及び試験方法を記述した制御プログラムを記録した記録媒体 - 特許庁

RELIABILITY TESTING METHOD FOR PART-PACKAGED PRINTED WIRING BOARD AND RELIABILITY TESTING DEVICE FOR PART- PACKAGED PRINTED WIRING BOARD例文帳に追加

部品実装プリント配線板の信頼性試験方法、及び、部品実装プリント配線板の信頼性試験装置 - 特許庁

To realize a memory-testing device which reduces time required for testing by mounting a plurality of fail memories on it.例文帳に追加

複数のフェイルメモリを設け、試験時間の短縮を図るメモリ試験装置を実現することを目的にする。 - 特許庁

To provide an adhesive wear testing device capable of testing and evaluating, in the specialized state in adhesive wearability of various materials.例文帳に追加

各種材料の凝着摩耗性に特化して試験、評価できる凝着摩耗試験装置を提供する。 - 特許庁

ATM TESTING DEVICE, ATM TESTING METHOD USED FOR THE SAME AND RECORDING MEDIUM RECORDING CONTROL PROGRAM THEREFOR例文帳に追加

ＡＴＭ試験装置及びそれに用いるＡＴＭ試験方法並びにその制御プログラムを記録した記録媒体 - 特許庁

TESTING DEVICE OF ATTRACTION-INHIBITING ACTIVITY OF FLYING PEST INSECT, AND METHOD FOR TESTING ATTRACTION-INHIBITING ACTIVITY OF FLYING PEST INSECT例文帳に追加

飛翔害虫の誘引阻害活性試験装置、並びに、飛翔害虫の誘引阻害活性試験方法 - 特許庁

This component testing device includes two conveyance hands 50A, 50B for conveying the electronic component T to a component testing part.例文帳に追加

部品試験装置は部品試験部に電子部品Ｔを搬送する２つの搬送ハンド５０Ａ，５０Ｂを有する。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit testing device and a method therefor which can achieve a reduction in testing time.例文帳に追加

試験時間の短縮を図ることのできる半導体集積回路試験装置及びその方法を提供する。 - 特許庁

MOUNTING METHOD OF TESTING TIRE, RIM FOR MOUNTING OF TESTING TIRE, AND METHOD AND DEVICE FOR DETERMINATION OF RIM FITTING ABILITY OF TIRE例文帳に追加

試験タイヤの装着方法、試験タイヤ装着用リム、及び、タイヤのリムフィット性の判定方法とその装置 - 特許庁

To provide a testing device and a testing method for easily and safely evaluating the load bearing insulation characteristics of a film.例文帳に追加

フィルムの耐荷重絶縁特性を簡易かつ安全に評価し得る試験装置、並びに試験方法を提供する。 - 特許庁

A semiconductor testing system and a semiconductor manufacturing apparatus are constituted using the semiconductor testing device.例文帳に追加

また、この半導体テスト装置を用いて半導体テストシステムおよび半導体製造装置を構成するようにした。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device capable of testing test elements with high frequency modulation drive.例文帳に追加

高周波変調駆動により被試験素子の試験を行うことができる半導体試験装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a circuit pack self-testing system adapted to testing on an electronic device of a circuit pack.例文帳に追加

回路パックの電子デバイス上で試験を行うように適合された回路パック自己試験システムを提供する。 - 特許庁

SVC CONNECTION CONTROL TESTING METHOD, STORAGE MEDIUM STORING SVC CONNECTION CONTROL TESTING PROGRAM AND NODE DEVICE例文帳に追加

ＳＶＣコネクション制御試験方法、ＳＶＣコネクション制御試験プログラムを記録した記憶媒体およびノード装置 - 特許庁

SEMICONDUCTOR TESTING METHOD, SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE, TEST PATTERN GENERATION METHOD, TEST PATTERN GENERATION TOOL, AND TEST PATTERN DISPLAY TOOL例文帳に追加

半導体テスト方法、半導体テスト装置、テストパターン生成方法、テストパターン生成ツール、及びテストパターン表示ツール - 特許庁

WIRE TESTING STRUCTURE (WIRE TESTING STRUCTURE DETERMINING OPEN CIRCUIT AND SHORT-CIRCUIT IN SEMICONDUCTOR DEVICE) AND METHOD THEREFOR例文帳に追加

配線試験構造および方法（半導体デバイス中の開路および短絡を決定する配線試験構造） - 特許庁

To provide a prober device which can locate a probe in a testing point by obtaining the height of a fine testing point.例文帳に追加

微小な試験点の高さを求め、プローブを試験点に位置決めすることができるプローバ装置を提供する。 - 特許庁

GAS IMPERMEABILITY/INSULATION PROPERTY TESTING METHOD OF POROUS GAS DIFFUSION ELECTRODE SEALING PORTION OF FUEL CELL, AND TESTING DEVICE THEREFOR例文帳に追加

燃料電池の多孔質ガス拡散電極シール部のガス不透過性・絶縁性試験方法及び試験装置 - 特許庁

To provide a testing method and device of an solar beam tracking power generating system capable of increasing the testing efficiency.例文帳に追加

試験の効率を高めることのできる集光追尾式発電システムの試験方法及び装置を提供する。 - 特許庁

To provide a testing device and its calibration method for efficiently carrying out calibration of a diver, a comparator, and the like in the testing device for an electronic device and the like.例文帳に追加

電子デバイス等の試験装置において、ドライバ、コンパレータ等のキャリブレーションを効率よく行うことのできる試験装置、及びキャリブレーション方法を提供する。 - 特許庁

ELECTRIC CHARACTERISTIC TESTING DEVICE OF SEMICONDUCTOR DEVICE, AND COMMON DEVICE FOR ELECTRIC CHARACTERISTIC TEST AND VISUAL INSPECTION OF SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

半導体装置の電気特性試験装置、および半導体装置の電気特性試験、外観検査共用装置 - 特許庁

METHOD FOR MANUFACTURING SEMICONDUCTOR DEVICE, METHOD FOR TESTING SEMICONDUCTOR DEVICE, TESTER OF SEMICONDUCTOR DEVICE, AND SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

半導体装置の製造方法、半導体装置の試験方法、半導体装置の試験装置、及び半導体装置 - 特許庁

DISPLAY DEVICE DRIVING, DISPLAY AND DRIVER CIRCUIT TESTING METHOD例文帳に追加

ディスプレイ装置駆動デバイス、ディスプレイ装置及びドライバ回路テスト方法 - 特許庁