「testing device」に関連した英語例文の一覧と使い方(45ページ目) - Weblio英語例文検索

When the first testing device is connected to the system, this method includes the step of making the first testing device operatable with an interface(320) for the system, in which the first testing device can be connected to an object device to be tested.例文帳に追加

第１の試験装置がシステムに接続されていた場合、本方法は、第１の試験装置が試験対象デバイスに接続可能なシステムのインタフェース(320)と共に動作できるようにするステップを含む。 - 特許庁

To provide a testing device capable of testing a plurality of paths using the same program of same pattern.例文帳に追加

同一のパターンプログラムを用いて、複数パスの試験を行うことができる試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a testing device capable of effectively testing attrition of synchro ring and a gear cone.例文帳に追加

シンクロリングとギヤコーンの摩耗試験等を能率良く実施することができる試験装置を提供する。 - 特許庁

The present invention relates to the shear testing device (12) for testing the strength of attachment between a bond part (302) and a substrate (300).例文帳に追加

本発明は、結合部(302)と基板(300)との間の取付け強度を試験する剪断試験装置（12）に関する。 - 特許庁

In this IC testing system, an IC testing device 150 impresses a test pattern signal to a tested IC.例文帳に追加

ＩＣ試験システム１０において、ＩＣ試験装置１５０は、被試験ＩＣに試験パターン信号を印加する。 - 特許庁

SOFTWARE TESTING WORK SUPPORTING METHOD AND DEVICE FOR THE SAME AND RECORDING MEDIUM WITH SOFTWARE TESTING WORK SUPPORTING PROGRAM RECORDED例文帳に追加

ソフトウェア試験作業支援方法、装置、ソフトウェア試験作業支援プログラムを記録した記録媒体 - 特許庁

To provide a testing device and testing method for finding abnormalities of the needle of a probe.例文帳に追加

探針の針先の異常を発見することが可能な試験装置及び試験方法を提供すること。 - 特許庁

OUTPUT CIRCUIT FOR CONTROLLING GRAY-SCALE, ITS TESTING DEVICE, AND METHOD FOR TESTING THE CIRCUIT例文帳に追加

階調制御用出力回路及びその検査用装置，階調制御用出力回路の検査方法 - 特許庁

TESTING METHOD FOR SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE, TESTING SYSTEM, DATA STRUCTURE FOR SPECIFYING PHYSICAL MAP OF MEMORY BLOCK例文帳に追加

半導体集積回路装置の試験方法、試験システム、メモリブロックの物理マップ特定用データ構造 - 特許庁

To provide an ultrasonic testing device and an ultrasonic testing method capable of economical constitution and capable of testing with simple data collection.例文帳に追加

安価に構成でき且つデータ採集の簡易な試験を行うことの可能な超音波試験装置及び超音波試験方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a testing device for a touch panel and a testing method for a touch panel that are capable of decreasing the number of routing wires and enabling testing in a short period of time.例文帳に追加

引回し配線の数を減らし、短時間の検査を可能とするタッチパネルの検査装置およびタッチパネルの検査方法を提供する。 - 特許庁

SEMICONDUCTOR CIRCUIT, SEMICONDUCTOR CIRCUIT CHARACTERISTICS MONITORING METHOD, SEMICONDUCTOR CIRCUIT TESTING METHOD, SEMICONDUCTOR CIRCUIT TESTING DEVICE, AND SEMICONDUCTOR CIRCUIT TESTING PROGRAM例文帳に追加

半導体回路、半導体回路特性監視方法、半導体回路試験方法、半導体回路試験装置及び半導体回路試験プログラム - 特許庁

To provide a testing device for a D/A converter shortening a required time for a test even when the bits of the D/A converter are increased, and also to provide a testing method for the testing device.例文帳に追加

Ｄ／Ａコンバータが高ビット化しても、試験の所要時間を短縮することができるＤ／Ａコンバータの試験装置およびその試験方法を提供する。 - 特許庁

The device testing apparatus 1 is equipped with a testing apparatus body 10 of the widely-used testing apparatus for testing the device, and the serial signal generating apparatus 20 for generating the series signal, and performs a test of a DUT 40 which is the receiving device.例文帳に追加

デバイス試験装置１は、デバイスの試験を行う汎用の試験装置である試験装置本体１０とシリアル信号を生成するシリアル信号生成装置２０とを備えており、受信デバイスであるＤＵＴ４０の試験を行う。 - 特許庁

The card strength test can be completed by one device by installing a bending testing unit in juxtaposition in the torsion testing device, and a power source part, a control device or the like for the bending testing unit and the torsion testing unit can be used in common.例文帳に追加

また、曲げ試験ユニットをねじり試験装置内に併設することにより、カード強度試験を一つの装置で完結でき、曲げ試験ユニットとねじり試験ユニットとの電源部、制御装置等を共有することが可能となる。 - 特許庁

The card strength test can be completed by one device by installing a torsion testing unit in juxtaposition in the bending testing device, and a power source part, a control device or the like for the bending testing unit and the torsion testing unit can be used in common.例文帳に追加

また、ねじり試験ユニットを曲げ試験装置内に併設することにより、カード強度試験を一つの装置で完結でき、曲げ試験ユニットとねじり試験ユニットとの電源部、制御装置等を共有することが可能となる。 - 特許庁

The system for testing the semiconductor device comprises the steps of referring to a table 710 of a test pattern signal, by using a test result of a sample testing unit 110, and outputting testing conditions to a wafer level burn-in testing unit 210.例文帳に追加

サンプルテスト試験装置１１０の試験結果を用いて、テストパターン信号のテーブル７１０を参照し、テスト条件をウェハレベルバーンインテスト試験装置２１０に出力する。 - 特許庁

To provide a tablet testing device of high reliability and high processing speed capable of monitoring testing data even after tablets are delivered to a patient, and reducing testing labor of a testing pharmacist.例文帳に追加

信頼性が高く、処理速度が速いうえ、患者に手渡された後でも検査データを監視することができ、検査調剤師の検査労力を緩和できる錠剤検査装置を提供する。 - 特許庁

To propose an environment testing device allowing the temperature of a testing object to quickly reach a prescribed temperature by uniformly cooling or heating the testing object without nonuniformity of a temperature and capable of stabilizing the testing object in that state.例文帳に追加

被試験品を温度むらなく一様に冷却或いは加熱して所定温度に迅速に到達させ、その状態に安定させることのできる環境試験装置を提案すること。 - 特許庁

To provide a reliability testing device, capable of shortening the testing time for testing the phenomena having temperature dependence wherein a plurality of semiconductors that are the testing object exist.例文帳に追加

被試験対象である半導体素子が複数あり、温度依存性を有する現象の試験を行う場合の試験時間を短くすることが可能な信頼性試験装置を実現する。 - 特許庁

A semiconductor testing device 1 comprises the semiconductor testing device body 2, a plurality of replaceable adjustment tools 3a, and a switching device 4.例文帳に追加

半導体試験装置１は、半導体試験装置本体２、複数の交換可能な調整用治具３ａ、及び切替装置４を備える。 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR TESTING PNEUMATICALLY OPERATED THREAD STRANDING AND ENDING DEVICE例文帳に追加

空圧式に作業する糸撚り継ぎ装置を検査するための方法及び装置 - 特許庁

COMPUTER EXTENDED FUNCTION TESTING DEVICE, AND ADD-IN BOARD SET BY USING THE DEVICE例文帳に追加

コンピュータの拡張機能検査装置およびそれを用いて設定したアドインボード - 特許庁

COMPONENT RECOGNITION DEVICE, COMPONENT RECOGNITION METHOD, SURFACE MOUNTING MACHINE AND COMPONENT TESTING DEVICE例文帳に追加

部品認識装置、部品認識方法、表面実装機および部品試験装置 - 特許庁

To provide a test equipment for a memory device testing a memory device of a packet type.例文帳に追加

パケット方式のメモリデバイスを試験するメモリデバイス試験装置を提供する。 - 特許庁

METHOD FOR TESTING FUNCTION OF TANK EXHAUST DEVICE AND TANK EXHAUST DEVICE FOR AUTOMOBILE例文帳に追加

タンク排気装置における機能の試験方法及び自動車のタンク排気装置 - 特許庁

DISK DRIVING DEVICE AND METHOD FOR TESTING FALL SENSOR IN DISK DRIVING DEVICE例文帳に追加

ディスク・ドライブ装置及びディスク・ドライブ装置において落下センサをテストする方法 - 特許庁

TESTING DEVICE FOR NONVOLATILE SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE BEING ELECTRICALLY ERASABLE AND WRITABLE例文帳に追加

電気的消去・書き込み可能な不揮発性半導体記憶装置の試験装置 - 特許庁

GAS SUPPLY DEVICE, FUEL CELL EVALUATION TESTING DEVICE, AND FUEL CELL SYSTEM例文帳に追加

ガス供給装置、燃料電池評価試験装置、並びに、燃料電池システム - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR BURN-IN TESTING OF SEMICONDUCTOR DEVICE, AND SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

半導体装置のバーイン試験方法、バーイン試験装置および半導体装置 - 特許庁

To provide an analog-digital converting method and a device suitable for an automatic testing device.例文帳に追加

自動試験装置に適したアナログ・ディジタル変換方法および装置の提供 - 特許庁

METHOD FOR REFLECTROMETRIC TESTING OF OPTICAL TRANSMISSION LINE, OPTICAL DEVICE, AND OPTICAL TRANSMISSION AND RECEPTION DEVICE例文帳に追加

光伝送路の反射試験の方法、光装置、および光送受信装置 - 特許庁

MANUFACTURING METHOD OF OPTICAL DEVICE AND TESTING DEVICE FOR DEFECTIVE DETERMINATION FOR THIS例文帳に追加

光学デバイスの製造方法およびこれに用いる欠陥判定用の検査具 - 特許庁

SYSTEM FOR ANALYZING DEVICE TO BE TESTED AND METHOD FOR TESTING DEVICE TO BE TESTED例文帳に追加

被試験デバイスの分析のためのシステムおよび被試験デバイスをテストする方法 - 特許庁

INSERTING/EJECTING METHOD OF CONNECTOR, INSERTING/EJECTING DEVICE OF CONNECTOR, AND TESTING DEVICE OF CIRCUIT SUBSTRATE例文帳に追加

コネクタ着脱方法及びコネクタ着脱装置及び回路基板検査装置 - 特許庁

OPTICAL PULSE TESTER EVENT DETECTION METHOD AND DEVICE AND OPTICAL PULSE TESTING DEVICE例文帳に追加

光パルス試験器イベント検出方法及び装置並びに光パルス試験装置 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR TESTING ELECTRONIC DEVICE HAVING SOURCE SYNCHRONIZING SIGNAL OUTPUT例文帳に追加

源同期信号出力を有する電子デバイスを試験する方法および装置 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR TESTING D/A CONVERTING PART AND SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE例文帳に追加

ＤＡ変換部の試験装置、試験方法、及び半導体集積回路装置 - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEVICE, MANUFACTURING METHOD THEREFOR, PROBE CARD, PROBE DEVICE AND PROBE TESTING METHOD例文帳に追加

半導体装置及びその製造方法、プローブカード、プローブ装置、プローブ試験方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE AND TESTING METHOD OF SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE例文帳に追加

半導体集積回路装置及び半導体集積回路装置の試験方法 - 特許庁

EXPOSURE SYSTEM, METHOD OF TESTING EXPOSURE APPARATUS, AND METHOD OF MANUFACTURING DEVICE例文帳に追加

露光システム、露光装置のテスト方法及びデバイス製造方法 - 特許庁

To provide a technique for suitably testing a layer-2 switch device.例文帳に追加

レイヤ２スイッチ装置を適切に試験する技術を提供する。 - 特許庁

AIRTIGHTNESS TESTING METHOD OF HIGH PRESSURE TANK, AND DEVICE FOR AIRTIGHTNESS TEST例文帳に追加

高圧タンクの気密試験方法および気密試験用装置 - 特許庁

IN-SITU PERMEABILITY TESTING DEVICE AND IN-SITU PERMEABILITY MEASURING SYSTEM例文帳に追加

原位置透水試験装置および原位置透水性計測システム - 特許庁

DRAWING ADHESIVE RESISTANCE TESTING DEVICE FOR LOW SHEAR RIGID PIPE MATERIAL例文帳に追加

低せん断剛性管材の引抜き付着抵抗試験装置 - 特許庁