「testing device」に関連した英語例文の一覧と使い方(41ページ目) - Weblio英語例文検索

AIR PERMEATION TESTING METHOD FOR STICK-LIKE ARTICLE AND ITS DEVICE例文帳に追加

棒状物品の通気検査方法及びその装置 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR TESTING NONVOLATILE MEMORY, AND PROGRAM例文帳に追加

不揮発性メモリの試験方法及び装置及びプログラム - 特許庁

TESTING DEVICE OF POWER TRANSMISSION SYSTEM, AND ITS CONTROL METHOD例文帳に追加

動力伝達系の試験装置とその制御方法 - 特許庁

TEMPERATURE CONTROL SYSTEM FOR THERMAL SHOCK TESTING DEVICE例文帳に追加

冷熱衝撃試験装置における温度制御方式 - 特許庁

TESTING DEVICE AND TEST METHOD OF CURRENT MEASURING CIRCUIT例文帳に追加

電流計測回路の試験装置および試験方法 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR TESTING CRACKING OF POWER GENERATION CELL例文帳に追加

発電セルの割れ試験装置および割れ試験方法 - 特許庁

METHOD OF TESTING DURABILITY OF EXHAUST PURIFICATION DEVICE FOR VEHICLES例文帳に追加

車両用排気浄化装置の耐久試験方法 - 特許庁

PERSONAL COMPUTER SYSTEM FOR TESTING POWER SYSTEM SERVICE AID DEVICE例文帳に追加

電力系統保守支援装置の試験用パソコンシステム - 特許庁

TESTING DEVICE AND ITS CONTROL METHOD FOR POWER TRANSMISSION SYSTEM例文帳に追加

動力伝達系の試験装置とその制御方法 - 特許庁

TEST PIECE FOR HIGH PRESSURE AIR-TIGHT TESTING DEVICE AND REFRIGERATING CYCLE例文帳に追加

高圧気密試験装置の供試体及び冷凍サイクル - 特許庁

PROBER FOR TESTING ELECTRONIC DEVICE ON LARGE-AREA SUBSTRATE例文帳に追加

大面積基板上での電子デバイス検査のためのプローバ - 特許庁

INTAKE SHIELDING DEVICE AND RAMJET ENGINE COMBUSTION TESTING EQUIPMENT例文帳に追加

インテーク遮蔽装置及びラムジェットエンジン燃焼試験装置 - 特許庁

ZIF CONNECTOR AND SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE USING ABOVE例文帳に追加

ＺＩＦコネクタ及びこれを用いた半導体試験装置 - 特許庁

NONDESTRUCTIVE TESTING METHOD AND DEVICE OF SHOT PEENING TREATED SURFACE例文帳に追加

ショットピーニング処理面の非破壊検査方法及び装置 - 特許庁

TESTING METHOD AND DEVICE FOR SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

半導体集積回路の試験方法及びその装置 - 特許庁

SYSTEM CONTROLLER, SEMICONDUCTOR DEVICE AND METHOD OF TESTING INTERFACE例文帳に追加

システムコントローラ、半導体装置、及びインターフェイス試験方法 - 特許庁

TESTING DEVICE AND TEST METHOD OF SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

半導体集積回路のテスト装置およびテスト方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE, DATA COLLECTION METHOD AND PROGRAM例文帳に追加

半導体試験装置、データ収集方法及びプログラム - 特許庁

DC MODULE AND SEMICONDUCTOR-TESTING DEVICE USING THE SAME例文帳に追加

ＤＣモジュールおよびそれを用いた半導体試験装置 - 特許庁

SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE, PROBE NEEDLE THEREOF, AND PLATE OF SEMICONDUCTOR LASER TESTING DEVICE例文帳に追加

半導体レーザ試験装置のプローブ針および半導体レーザ試験装置のプレートならびに半導体レーザ試験装置 - 特許庁

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT AND ITS TESTING METHOD AND DEVICE例文帳に追加

半導体集積回路とそのテスト方法および装置 - 特許庁

SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE, PERFORMANCE BOARD, AND INTERFACE PLATE例文帳に追加

半導体試験装置、パフォーマンスボードおよびインターフェースプレート - 特許庁

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE AND ITS PHASE TESTING METHOD例文帳に追加

半導体集積回路装置及びその位相テスト方法 - 特許庁

PROBE FOR IC TEST AND DC TESTING DEVICE FOR IC例文帳に追加

ＩＣ試験用プローブ及びＩＣの直流試験装置 - 特許庁

DRIVER WAVEFORM GENERATION CIRCUIT IN SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE例文帳に追加

半導体試験装置におけるドライバ波形生成回路 - 特許庁

COMPARATOR WITH LATCHING FUNCTION AND TESTING DEVICE EMPLOYING THE SAME例文帳に追加

ラッチ機能付きコンパレータおよびそれを用いた試験装置 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR TESTING HEAT-RESISTANT TUBULAR MEMBER例文帳に追加

耐熱管状部材の試験方法および試験装置 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR PARTS SHAPE TESTING例文帳に追加

部品形状検査方法、及び部品形状検査装置 - 特許庁

ROOF TILE LIFTING LOAD TESTING DEVICE AND ITS METHOD例文帳に追加

瓦の引き上げ荷重試験装置及びその試験方法 - 特許庁

COMPRESSION/TENSILE TESTING APPARATUS AND OUTPUT ADJUSTING DEVICE例文帳に追加

圧縮・引張試験装置および出力調整装置 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR ABRASION TESTING FOR COVERED ELECTRIC WIRE例文帳に追加

被覆電線の摩耗試験方法及び摩耗試験装置 - 特許庁

ACCEPTANCE-TESTING TERMINAL DEVICE, ACCEPTANCE TEST SUPPORT SYSTEM, AND PROGRAM例文帳に追加

検収用端末装置、検収支援システム及びプログラム - 特許庁

TESTING DEVICE FOR POWER TRANSMISSION SYSTEM, AND CONTROL METHOD THEREFOR例文帳に追加

動力伝達系の試験装置とその制御方法 - 特許庁

TESTING DEVICE AND METHOD FOR ARBITRATION CIRCUIT例文帳に追加

調停回路のテスト装置及び調停回路のテスト方法 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR TESTING FREE RUNNING MODEL OF VESSEL例文帳に追加

船舶の自由航走模型試験方法および装置 - 特許庁

VIBRATION TESTING DEVICE AND VIBRATION RESPONSE EVALUATION METHOD例文帳に追加

振動試験装置ならびに振動応答評価方法 - 特許庁

CONTACT ARM AND ELECTRONIC COMPONENT TESTING DEVICE USING IT例文帳に追加

コンタクトアームおよびこれを用いた電子部品試験装置 - 特許庁

CIRCUIT AND METHOD FOR TESTING FERROELECTRIC MEMORY DEVICE例文帳に追加

強誘電体メモリ装置をテストする回路及び方法 - 特許庁

BURN-IN SYSTEM CIRCUIT DEVICE FOR TESTING MODULE USING BOARD例文帳に追加

ボ—ドを用いたモジュ—ルのテスト用バ—ンインシステム回路装置 - 特許庁

ORGANIC LIGHT EMITTING DISPLAY DEVICE AND TESTING METHOD THEREOF例文帳に追加

有機電界発光表示装置及びその検査方法 - 特許庁

Consequently, a device control part 4a receives an instruction for setting the testing call from a maintenance device 6 to set the testing call between the device control part 4a and testing monitor device 7.例文帳に追加

このため、装置制御部４ａは保守端末装置６から上記試験用呼の設定の指示を受けて装置制御部４ａと試験用監視装置７との間に試験用呼を設定する。 - 特許庁

OPTICAL PICKUP DEVICE, ELECTRONIC DEVICE HAVING THE OPTICAL PICKUP DEVICE MOUNTED THEREON, AND DEVICE AND METHOD FOR TESTING THE OPTICAL PICKUP DEVICE例文帳に追加

光ピックアップ装置、それを搭載する電子機器、光ピックアップ装置の検査装置および検査方法 - 特許庁

ELECTRIC CONTACT DEVICE, SEMICONDUCTOR DEVICE TESTING SOCKET USING IT, SEMICONDUCTOR MODULE, AND SEMICONDUCTOR DEVICE TESTING METHOD例文帳に追加

電気的接触装置とそれを用いた半導体デバイスのテストソケットおよび半導体モジュールならびに半導体デバイスのテスト方法 - 特許庁

To provide an on-board equipment testing device capable of preventing an overcurrent from flowing from a vehicle side into the testing device, when testing voltage fluctuation in on-board equipment.例文帳に追加

車載機器の電圧変動試験時に車両側から試験装置へ過電流が流入するのを防止可能な車載機器試験装置を提供する。 - 特許庁

HEADLESS TESTING AND MEASURING DEVICE, NETWORK TESTING AND MEASURING SYSTEM, DISTRIBUTED NETWORK ANALYSIS SYSTEM, AND METHOD FOR CONTROLLING HEADLESS TESTING AND MEASURING DEVICE例文帳に追加

ヘッドレス試験及び計測装置、ネットワーク試験及び計測システム、分散ネットワーク解析システム、および、ヘッドレス試験及び計測装置を制御する方法 - 特許庁