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testing deviceの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 5533件
ANISOTROPIC ELECTRICAL CONDUCTIVE SHEET AND TESTING DEVICE USING THE SAME例文帳に追加
異方導電性シートおよびそれを用いた検査装置 - 特許庁
CONTACT PROBE AND ELECTRONIC CIRCUIT TESTING DEVICE USING THE SAME例文帳に追加
コンタクトプローブ及びこれを用いた電子回路試験装置 - 特許庁
COLLISION TESTING DEVICE, VEHICLE DESIGN METHOD AND VEHICLE例文帳に追加
衝突試験装置、車両の設計方法、及び車両 - 特許庁
TESTING DEVICE, METHOD AND PROGRAM OF INFORMATION PROCESSOR例文帳に追加
情報処理装置の試験装置及び方法及びプログラム - 特許庁
CREEP PHYSICAL PROPERTY TESTING METHOD, DEVICE, AND PROGRAM例文帳に追加
クリープ物性試験方法、試験装置、および試験プログラム - 特許庁
DEVICE AND METHOD FOR TESTING OF ELECTRONIC COMPONENT例文帳に追加
電子部品試験装置および電子部品の試験方法 - 特許庁
TESTING METHOD AND DEVICE OF LATERAL PRESSURE OF OPTICAL FIBER例文帳に追加
光ファイバの側圧試験方法及びその試験装置 - 特許庁
PULSATION WATER PRESSURE-GENERATING DEVICE FOR TESTING WATER PRESSURE IN PIPE例文帳に追加
管内の水圧試験用脈動水圧発生装置 - 特許庁
METHOD FOR TESTING WATER HAMMER STRENGTH OF GLASS BOTTLE AND DEVICE THEREOF例文帳に追加
ガラスびんのウォータハンマ強度試験方法及び装置 - 特許庁
TEST METHOD OF FERROELECTRIC MATERIAL AND TESTING DEVICE例文帳に追加
強誘電体材料の試験方法および試験装置 - 特許庁
TEST METHOD, ORGANIC GAS SUPPLY DEVICE, AND TESTING EQUIPMENT例文帳に追加
試験方法、有機ガス供給装置及び試験装置 - 特許庁
TEST SIGNAL GENERATING DEVICE AND TESTING METHOD OF VIDEO APPARATUS例文帳に追加
テスト信号発生装置及び映像機器の検査方法 - 特許庁
DEVICE AND METHOD FOR TESTING SEMICONDUCTOR MEMORY例文帳に追加
半導体メモリ試験装置及び半導体メモリ試験方法 - 特許庁
EQUIPMENT DIAGNOSTIC METHOD, REMOTE TESTING DEVICE AND NETWORK EQUIPMENT例文帳に追加
機器診断方法、遠隔試験装置及びネットワーク機器 - 特許庁
TESTING SYSTEM OF DEVICE FOR DRIVING LOADS AND CONTROL METHOD THEREFOR例文帳に追加
負荷駆動装置の試験システムおよびその制御方法 - 特許庁
To reduce the time required for testing a semiconductor device.例文帳に追加
半導体装置の検査に要する時間を短縮する。 - 特許庁
LANDING DEVICE TESTING APPARATUS OF FLYING BODY AND QUICK RELEASE MECHANISM例文帳に追加
飛行体の降着装置試験機器とクイックリリース機構 - 特許庁
DATA SAMPLING SYSTEM OF PIPING ULTRASONIC FLAW DETECTION TESTING DEVICE例文帳に追加
配管超音波探傷試験装置のデータ採取システム - 特許庁
DEVICE AND METHOD FOR TESTING SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加
半導体集積回路のテスト装置とそのテスト方法 - 特許庁
TESTING SYSTEM, OUTPUT LEVEL SETTING DEVICE AND TEST METHOD例文帳に追加
試験システム、出力レベル設定装置及び試験方法 - 特許庁
DEVICE AND METHOD FOR TESTING IC, AND STORAGE MEDIUM例文帳に追加
IC試験装置、IC試験方法、及び記憶媒体 - 特許庁
METHOD AND DEVICE FOR TESTING PARKING MECHANISM OF AUTOMATIC TRANSMISSION例文帳に追加
オートトランスミッションのパーキング機構試験方法及び装置 - 特許庁
TESTING METHOD AND DEVICE OF TUNNELING MAGNETORESISTIVE EFFECT ELEMENT例文帳に追加
トンネル磁気抵抗効果素子の試験方法及び装置 - 特許庁
APPARATUS FOR PREVENTING DEW CONDENSATION IN SAMPLING HOSE FOR MASK MAN TESTING DEVICE例文帳に追加
マスクマンテスト装置サンプリングホース内の結露防止装置 - 特許庁
SEMICONDUCTOR DEVICE AND TESTING METHOD AND MANUFACTURING METHOD THEREOF例文帳に追加
半導体装置とその試験方法及び製造方法 - 特許庁
TESTING SYSTEM FOR SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE, AND PROBE CARD例文帳に追加
半導体集積回路装置テストシステムおよびプローブカード - 特許庁
GAS-INSULATION SWITCHING DEVICE AND WITHSTAND VOLTAGE TESTING METHOD THEREFOR例文帳に追加
ガス絶縁開閉装置及びその耐電圧試験方法 - 特許庁
CIRCUIT DETERIORATION TESTING DEVICE AND CIRCUIT DETERIORATION TEST METHOD例文帳に追加
回路劣化試験装置および回路劣化試験方法 - 特許庁
FAILURE DETECTION METHOD, TESTING CIRCUIT, AND SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加
故障検出方法、試験回路及び半導体装置 - 特許庁
MAINTENANCE SYSTEM AND METHOD OF SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE例文帳に追加
半導体試験装置の保守システムおよび保守方法 - 特許庁
NONVOLATILE SEMICONDUCTOR STORAGE DEVICE AND ITS TESTING METHOD例文帳に追加
不揮発性半導体記憶装置、及びそのテスト方法 - 特許庁
IC TESTING DEVICE, ITS CONTROL METHOD, AND STORAGE MEDIUM例文帳に追加
IC試験装置、その制御方法、及び記憶媒体 - 特許庁
DIAGNOSTIC METHOD, AND SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE USING THE SAME例文帳に追加
診断方法及びこれを用いた半導体試験装置 - 特許庁
DEVICE AND METHOD FOR TESTING OPTICAL TRANSMISSION LINE AND NETWORK例文帳に追加
光伝送線路試験装置、試験方法及びネットワーク - 特許庁
SOCKET FOR TESTING ELECTRONIC CIRCUIT DEVICE AND MANUFACTURE THEREOF例文帳に追加
電子回路装置のテスト用ソケット及びその製造方法 - 特許庁
COMPONENT FOR TESTING DEVICE OF ELECTRONIC COMPONENT, AND TEST METHOD例文帳に追加
電子部品の試験装置用部品及び試験方法 - 特許庁
DEVICE AND METHOD FOR TESTING TRAIN OPERATION CONTROL SYSTEM例文帳に追加
列車運行管理システムの試験装置及び試験方法 - 特許庁
DEVICE AND METHOD FOR TESTING SOLIDER WETTABILITY例文帳に追加
はんだぬれ性試験装置及びはんだぬれ性試験方法 - 特許庁
PRESSURE TESTING DEVICE AND TEST METHOD OF COMPRESSED-GAS CYLINDER例文帳に追加
高圧ガス容器の耐圧試験装置及び試験方法 - 特許庁
PROBE CARD AND ELECTRONIC COMPONENT TESTING DEVICE INCLUDING THE SAME例文帳に追加
プローブカードおよびそれを備えた電子部品試験装置 - 特許庁
DEVICE AND METHOD FOR PERFORMING VIBRATION CHARACTERISTICS TESTING例文帳に追加
振動特性試験装置および振動特性試験方法 - 特許庁
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