「testing device」に関連した英語例文の一覧と使い方(36ページ目) - Weblio英語例文検索

TESTED SUBSTRATE FIXING MECHANISM FOR SUBSTRATE TESTING DEVICE例文帳に追加

基板検査装置のための被検査基板定置機構 - 特許庁

METHOD FOR TESTING CONSOLIDATION OF GROUND MATERIAL AND ITS DEVICE例文帳に追加

地盤材料の圧密試験方法及びその装置 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR TESTING SIMILARITY BETWEEN SEQUENCE DATA例文帳に追加

系列データ間の類似性検査方法及び装置 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR TESTING NUCLEAR FUEL PELLET例文帳に追加

原子力燃料ペレットの検査方法および装置 - 特許庁

INTERFACE DEVICE AND METHOD FOR TESTING FREQUENCY FLUCTUATION例文帳に追加

インタフェース装置及び周波数変動試験方法 - 特許庁

HYDRAULIC PRESSURE TESTING DEVICE FOR HEAT TRANSMISSION TUBE PANEL WITH HEADER例文帳に追加

管寄付き伝熱管パネルの水圧試験装置 - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEVICE AND TESTING METHOD FOR SAME例文帳に追加

半導体装置および半導体装置のテスト方法 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR TESTING INTERFACE例文帳に追加

境界面検査方法及び境界面検査装置 - 特許庁

IMAGE ALIGNER AND TESTING DEVICE USING THE SAME例文帳に追加

画像位置合装置及びそれを用いた検査装置 - 特許庁

RELIABILITY TESTING DEVICE AND RELIABILITY TEST METHOD例文帳に追加

信頼性試験装置および信頼性試験方法 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR TESTING DURABILITY OF INSULATION- COATING FILM例文帳に追加

絶縁皮膜の耐久試験方法および装置 - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEVICE, AND METHOD FOR TESTING THE SAME例文帳に追加

半導体装置、及び半導体装置のテスト方法 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR TESTING INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

集積回路をテストするための装置および方法 - 特許庁

FLAME SENSOR AND TESTING DEVICE FOR OPERATION OF FLAME SENSOR例文帳に追加

火災感知器及び火災感知器の作動試験器 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR TESTING SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

半導体集積回路のテスト方法とその装置 - 特許庁

DRIVER CONTROL SIGNAL GENERATING CIRCUIT AND IC TESTING DEVICE例文帳に追加

ドライバ制御信号生成回路・ＩＣ試験装置 - 特許庁

INTERFACE, AND SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE USING THE SAME例文帳に追加

インターフェース、及びそれを用いた半導体テスト装置 - 特許庁

INFORMATION NOTIFICATION SERVICE TESTING SYSTEM AND ITS DEVICE例文帳に追加

情報通知系サービス試験方式及びその装置 - 特許庁

DSP CARD TESTING DEVICE AND METHOD FOR MONITORING FAILURE INFORMATION IN DSP CARD TESTING DEVICE例文帳に追加

ＤＳＰカード試験装置およびＤＳＰカード試験装置における故障異常情報のモニタ方法 - 特許庁

VEHICLE COLLISION TESTING DEVICE, AND CAMERA ATTACHING FRAME例文帳に追加

車両衝突試験装置及びカメラ取付架台 - 特許庁

VOICE OUTPUT METHOD IN TESTING DEVICE, TESTING DEVICE, AND RECORD MEDIUM STORING TEST CONTROL PROGRAM例文帳に追加

試験装置における音声出力方法、試験装置および試験制御プログラムが記録された記録媒体 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR TESTING STRENGTH OF CERAMIC TUBE例文帳に追加

セラミックス管の強度試験方法及びその装置 - 特許庁

COOLING WATER TANK FOR WATER-COOLED SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE例文帳に追加

水冷式半導体試験装置の冷却水タンク - 特許庁

APPARATUS AND METHOD FOR TESTING SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

半導体デバイスのテスト装置およびそのテスト方法 - 特許庁

TESTING DEVICE OF PLL CIRCUIT AND ITS TEST METHOD例文帳に追加

ＰＬＬ回路のテスト装置およびそのテスト方法 - 特許庁

SWITCH CIRCUIT, SIGNAL OUTPUT UNIT, AND TESTING DEVICE例文帳に追加

スイッチ回路、信号出力装置および試験装置 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR TESTING DIGITAL FILTER例文帳に追加

デジタルフィルタのテスト装置及びデジタルフィルタのテスト方法 - 特許庁

TESTING DEVICE AND METHOD FOR ELECTRONIC CONTROL SYSTEM例文帳に追加

電子制御システムの試験装置及び試験方法 - 特許庁

WEIGHING CAPACITY CONVERSION DEVICE OF HYDRAULIC MATERIAL-TESTING MACHINE例文帳に追加

油圧式材料試験機の秤量変換装置 - 特許庁

INSTANTANEOUS VOLTAGE DROP DETECTOR AND SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE例文帳に追加

瞬低検出装置および半導体試験装置 - 特許庁

To shorten a testing time for a semiconductor device by means of a tester and to lower a testing cost for the semiconductor device.例文帳に追加

テスタによる半導体デバイスのテスト時間を短縮し、半導体デバイスのテスト費用を削減する。 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR TESTING MAGNETIC HEAD SERVICE LIFE例文帳に追加

磁気ヘッドの寿命を試験する方法及び装置 - 特許庁

CURRENT MEASURING APPARATUS, TESTING DEVICE AND TEST METHOD例文帳に追加

電流測定装置、試験装置、及び試験方法 - 特許庁

TEST DEVICE, REACTION APPARATUS, AND METHOD OF TESTING REACTION例文帳に追加

試験デバイス、反応装置及び反応試験方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEVICE AND TESTING METHOD THEREOF例文帳に追加

半導体装置および半導体装置のテスト方法 - 特許庁

ELECTRIC CAR POWER SYSTEM PERFORMANCE TESTING DEVICE AND FUEL CELL PERFORMANCE TESTING DEVICE FOR ELECTRIC CAR例文帳に追加

電気自動車の動力系の性能試験装置および電気自動車用燃料電池の性能試験装置 - 特許庁

VERTICAL DIRECTIONAL WATER PERMEABILITY TESTING DEVICE OF ORIGINAL POSITION GROUND例文帳に追加

原位置地盤の鉛直方向透水試験装置 - 特許庁

TESTING DEVICE AND METHOD FOR SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

半導体集積回路のテスト装置および方法 - 特許庁

CT TEST PLUG-TESTING DEVICE FOR PROTECTION RELAY BOARD AND PT TEST PLUG-TESTING DEVICE FOR PROTECTION RELAY BOARD例文帳に追加

保護継電器盤用ＣＴテストプラグ試験装置及び保護継電器盤用ＰＴテストプラグ試験装置 - 特許庁

TESTING DEVICE, PERFORMANCE BOARD, AND BOARD FOR CALIBRATION例文帳に追加

試験装置、パフォーマンスボード、および、キャリブレーション用ボード - 特許庁

FLUSHING OCCURRENCE TESTING DEVICE OF POWDER AND GRAIN AND PREDICTION METHOD OF FLUSHING OCCURRENCE USING THE TESTING DEVICE例文帳に追加

粉粒体のフラッシング発生試験装置、およびその試験装置を用いたフラッシング発生の予測方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR TEST METHOD AND SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE例文帳に追加

半導体試験方法および半導体試験装置 - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEVICE AND ITS TESTING METHOD例文帳に追加

半導体デバイス及び半導体デバイスの試験方法 - 特許庁

METHOD FOR TESTING CONTACT FAILURE OF SEMICONDUCTOR DEVICE AND SEMICONDUCTOR DEVICE TO WHICH THE SAME TESTING METHOD IS APPLIED例文帳に追加

半導体装置のコンタクト不良検査方法及びその検査方法が適用される半導体装置 - 特許庁

ADDRESS CONVERSION CIRCUIT AND SEMICONDUCTOR MEMORY TESTING DEVICE例文帳に追加

アドレス変換回路および半導体メモリ試験装置 - 特許庁