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testing deviceの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 5533件
FUNCTIONAL TESTING AND EXHIBITING DEVICE OF FUEL CELL POWER SUPPLY DEVICE例文帳に追加
燃料電池電力供給装置の機能試験及び展示装置 - 特許庁
METHOD FOR TESTING PHYSICAL LAYER DEVICE, AND THE PHYSICAL LAYER DEVICE WITH TEST CIRCUIT例文帳に追加
物理層デバイスのテスト方法及びテスト回路付き物理層デバイス - 特許庁
METHOD AND DEVICE FOR TESTING INSULATION MONITORING DEVICE例文帳に追加
絶縁監視装置の試験装置及び絶縁監視装置の試験方法 - 特許庁
COMPONENT RECOGNITION DEVICE, SURFACE MOUNTING MACHINE AND COMPONENT TESTING DEVICE例文帳に追加
部品認識装置及び表面実装機並びに部品試験装置 - 特許庁
METHOD AND DEVICE FOR TESTING RELIABILITY OF SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加
半導体装置の信頼性試験方法及び信頼性試験装置 - 特許庁
SEMICONDUCTOR DEVICE AND ITS BURN-IN OPERATION TESTING DEVICE AND TEST METHOD例文帳に追加
半導体装置およびそのバーンイン動作試験装置・試験方法 - 特許庁
ATTACHING/REMOVING DEVICE, TEST HEAD, SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE AND ATTACHING/REMOVING METHOD例文帳に追加
着脱装置、テストヘッド、半導体試験装置及び着脱方法 - 特許庁
To provide a method and a device for testing an examined device.例文帳に追加
被試験デバイスを試験するための方法及び装置を提供する。 - 特許庁
SUCTION STATE INSPECTION DEVICE, SURFACE MOUNTING MACHINE AND COMPONENT TESTING DEVICE例文帳に追加
吸着状態検査装置、表面実装機及び部品試験装置 - 特許庁
TESTING METHOD OF SEMICONDUCTOR STORAGE DEVICE, AND SEMICONDUCTOR STORAGE DEVICE例文帳に追加
半導体記憶装置の試験方法及びその半導体記憶装置 - 特許庁
SEMICONDUCTOR DEVICE, METHOD FOR TESTING SEMICONDUCTOR DEVICE, AND DATA PROCESSING SYSTEM例文帳に追加
半導体装置、半導体装置の試験方法、及びデータ処理システム。 - 特許庁
SEMICONDUCTOR DEVICE, SEMICONDUCTOR PACKAGE, AND METHOD OF TESTING SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加
半導体装置、半導体パッケージ及び半導体装置の試験方法 - 特許庁
SEMICONDUCTOR DEVICE, SEMICONDUCTOR DEVICE MODULE AND TESTING METHOD OF THEM例文帳に追加
半導体装置、半導体装置モジュールおよびこれらの試験方法 - 特許庁
METHOD AND DEVICE FOR MEASURING HUMIDITY DISTRIBUTION, AND ENVIRONMENT TESTING DEVICE例文帳に追加
湿度分布の測定方法、測定装置及び環境試験装置 - 特許庁
TESTING DEVICE, DRIVER COMPARATOR CHIP, RESPONSE MEASURING DEVICE, AND CALIBRATION METHOD AND DEVICE例文帳に追加
試験装置、ドライバコンパレータチップ、応答測定装置、校正方法および校正装置 - 特許庁
METHOD FOR TESTING OF BASE ISOLATION DEVICE, BASE ISOLATION DEVICE, AND METHOD FOR MANUFACTURING OF BASE ISOLATION DEVICE例文帳に追加
免震装置の試験方法、免震装置、及び免震装置の製造方法 - 特許庁
SEMICONDUCTOR STORAGE DEVICE TESTING METHOD, TEST CONTROL DEVICE, AND SEMICONDUCTOR STORAGE DEVICE例文帳に追加
半導体記憶装置のテスト方法、テスト制御装置および半導体記憶装置 - 特許庁
To shorten time mainly required for testing with a testing device for testing an object from a plurality of visual test fields.例文帳に追加
検査対象物を複数の検査視野にて検査する検査装置において、主として、検査に要する時間の短縮を図る。 - 特許庁
To provide a dynamo-electric type vibration testing device capable of reducing an interaction between a testing object and an testing object mounting part.例文帳に追加
試験体と試験体載置部との間の相互作用を減少させることができる動電式振動試験装置の提供 - 特許庁
DEVICE AND METHOD FOR TESTING TRANSIENT CHARACTERISTIC OF INTERNAL COMBUSTION ENGINE例文帳に追加
内燃機関の過渡特性試験装置および方法 - 特許庁
DEVICE AND METHOD FOR TESTING SOLDERABILITY例文帳に追加
はんだ付け性試験装置及びはんだ付け性試験方法 - 特許庁
METHOD AND DEVICE FOR TESTING ERROR CHARACTERISTICS例文帳に追加
誤り特性試験方法および誤り特性試験装置 - 特許庁
To provide a rope testing device that easily performs adjustment.例文帳に追加
調整作業が容易なロープテスター装置を提供する。 - 特許庁
TESTER AND TESTING DEVICE FOR JUDGING UNIFORMITY OF INSULATION FILM例文帳に追加
絶縁皮膜均一性判定試験器および試験装置 - 特許庁
METHOD AND DEVICE FOR TESTING MARKER DETECTION FUNCTION OF IMAGE SENSOR例文帳に追加
画像センサのマーカ検出機能試験方法及び装置 - 特許庁
TEST METHOD OF MEMORY, TEST DEVICE AND MEMORY MODULE FOR TESTING例文帳に追加
メモリのテスト方法、テスト装置及びテスト用メモリモジュール - 特許庁
ARTICLE TESTING METHOD BASED ON IMAGE PROCESSING AND ITS DEVICE例文帳に追加
画像処理による物品の検査方法および装置 - 特許庁
NONVOLATILE SEMICONDUCTOR STORAGE DEVICE AND METHOD FOR TESTING THE SAME例文帳に追加
不揮発性半導体記憶装置及びそのテスト方法 - 特許庁
SUBSCRIBER LINE TERMINAL DEVICE AND RETURN TESTING METHOD例文帳に追加
加入者線端局装置および折り返し試験方法 - 特許庁
TESTING DEVICE, METHOD AND PROGRAM FOR EXCHANGE CONTROLLER例文帳に追加
交換機制御装置の試験装置、方法及びプログラム - 特許庁
DEVICE AND METHOD FOR TESTING MAGNETORESISTIVE EFFECT ELEMENT例文帳に追加
磁気抵抗効果素子の検査装置および検査方法 - 特許庁
METHOD AND DEVICE FOR TESTING ACCELERATED WEATHERABILITY例文帳に追加
促進耐候性試験方法及び促進耐候性試験装置 - 特許庁
METHOD AND DEVICE FOR TESTING CONFIRMATION OF CABLE CONNECTION例文帳に追加
ケーブル接続確認試験方法及びその試験装置 - 特許庁
DEVICE AND METHOD FOR TESTING GUI PROGRAM TEST例文帳に追加
GUIプログラムテスト装置およびGUIプログラムテスト方法 - 特許庁
METHOD AND DEVICE FOR TESTING ELECTRONIC PARTS例文帳に追加
電子部品の試験方法および電子部品試験装置 - 特許庁
POWER SYSTEM MONITOR CONTROL SYSTEM RECORDING AUTOMATIC TESTING DEVICE例文帳に追加
電力系統監視制御システム記録自動試験装置 - 特許庁
INTERFACE BOARD TESTING DEVICE AND METHOD例文帳に追加
インタフェースボード試験装置及びインタフェースボードの試験方法 - 特許庁
MAGNETIC FIELD GENERATOR FOR SENSOR TESTING AND SENSOR INSPECTION DEVICE例文帳に追加
センサ検査用磁場発生装置およびセンサ検査装置 - 特許庁
SYSTEM AND METHOD OF TESTING MOBILE COMMUNICATION DEVICE例文帳に追加
移動体通信用デバイス試験システム及び試験方法 - 特許庁
INNER PRESSURE FLUCTUATION ABSORPTION APPARATUS AND ENVIRONMENTAL TESTING DEVICE例文帳に追加
内圧変動吸収装置及び環境試験装置 - 特許庁
To provide a tire noise testing device acquiring higher-accuracy tire noise test results.例文帳に追加
より精度の高いタイヤ騒音試験結果を得る。 - 特許庁
TRANSMISSION OIL BEHAVIOR TEST METHOD AND ITS TESTING DEVICE例文帳に追加
トランスミッションオイル挙動試験方法およびその試験装置 - 特許庁
To obtain a semiconductor testing device capable of reducing cost.例文帳に追加
コストを低減できる半導体試験装置を実現する。 - 特許庁
ELECTRIC CONTACT MEMBER, CIRCUIT TESTING DEVICE AND PRODUCTION OF CONTACT例文帳に追加
電気接点部材、回路検査装置、接点製造方法 - 特許庁
METHOD AND DEVICE FOR TESTING PERFORMANCE OF CONTAMINANT TREATING MATERIAL例文帳に追加
汚染物質処理材の性能試験方法及び装置 - 特許庁
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