「testing device」に関連した英語例文の一覧と使い方(43ページ目) - Weblio英語例文検索

COMPONENT TRANSFER APPARATUS, SURFACE MOUNTING MACHINE, AND COMPONENT TESTING DEVICE例文帳に追加

部品搬送装置、表面実装機および部品試験装置 - 特許庁

METHOD, PROGRAM, AND APPARATUS OF TESTING HIGH-SPEED SERIAL TRANSFER DEVICE例文帳に追加

高速シリアル転送デバイス試験方法、プログラム及び装置 - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEVICE, AND METHOD OF TESTING THE SAME, AND ELECTRONIC INFORMATION APPARATUS例文帳に追加

半導体装置およびそのテスト方法、電子情報機器 - 特許庁

METHOD FOR TESTING PROCESS SYSTEM, DEVICE, AND PRODUCT例文帳に追加

プロセスシステムを試験するための方法、装置、および製造物品 - 特許庁

TEST METHOD AND TESTING DEVICE OF RUBBER ELASTICITY CHARACTERISTIC MATERIAL例文帳に追加

ゴム弾性特性材料の試験方法および試験装置 - 特許庁

TESTING DEVICE AND METHOD OF CONTROLLING THE SAME, AND TEST SYSTEM例文帳に追加

試験装置およびその制御方法、ならびに試験システム - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR TESTING MAGNETIC HEAD OR MAGNETIC DISK例文帳に追加

磁気ヘッドまたは磁気ディスクの試験装置および試験方法 - 特許庁

SPRING LIMIT VALUE TESTING DEVICE AND SPRING LIMIT VALUE MEASUREMENT METHOD例文帳に追加

ばね限界値試験機およびばね限界値計測方法 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR TESTING ACOUSTIC LENGTH OF COMPRESSOR例文帳に追加

圧縮機の音響長さ試験のための方法及びデバイス - 特許庁

ACCELERATION DETECTION SENSITIVITY-SETTING DEVICE IN VIBRATION-TESTING MACHINE例文帳に追加

振動試験機における加速度検出感度設定装置 - 特許庁

This testing device for testing a DUT (Device Under Test) comprises a first electric terminal and a first optical terminal.例文帳に追加

第１の電気端子及び第１の光端子を備えた、ＤＵＴを試験するための試験デバイスが提供される。 - 特許庁

To provide a technique for suitably testing a firewall device.例文帳に追加

ファイアウォール装置を適切に試験する技術を提供する。 - 特許庁

PROBE PIN, PROBE CARD, TESTING DEVICE, AND METHOD OF MANUFACTURING PROBE PIN例文帳に追加

プローブピン、プローブカード、試験装置、及びプローブピン製造方法 - 特許庁

MANUFACTURING METHOD FOR PROBE PIN, PROBE PIN, PROBE CARD, AND TESTING DEVICE例文帳に追加

プローブピン製造方法、プローブピン、プローブカード、及び試験装置 - 特許庁

ERROR TESTING DEVICE IN TIME DIVISION DIRECTION CONTROL INTERFACE例文帳に追加

時分割方向制御インタフェースにおけるエラー試験装置 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR PROGRAMMING AND OPERATING AUTOMATIC TESTING EQUIPMENT例文帳に追加

自動テスト機器をプログラミングし操作する方法および装置 - 特許庁

COMPONENT RECOGNIZING DEVICE, SURFACE MOUNTING MACHINE, AND COMPONENT TESTING APPARATUS例文帳に追加

部品認識装置、表面実装機、及び部品試験装置 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR TESTING BAR STEEL MEMBER FOR WITHDRAWING RESISTANCE例文帳に追加

棒鋼部材の引抜抵抗試験装置およびその試験方法 - 特許庁

INSULATION TESTING METHOD AND DEVICE OF OUTER RING FOR ROLLING BEARING例文帳に追加

転がり軸受用外輪の絶縁試験方法及び装置 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR TESTING ONE PROCESS OF MULTIPROCESS SYSTEM例文帳に追加

マルチプロセスシステムにおける１プロセスのテスト方法及びシステム - 特許庁

METHOD OF DISPLAYING COMMUNICATION TEST RESULT AND COMMUNICATION TESTING DEVICE例文帳に追加

通信試験結果表示方法および通信試験装置 - 特許庁

TESTING METHOD AND DEVICE OF SOLAR BEAM TRACKING POWER GENERATING SYSTEM例文帳に追加

集光追尾式発電システムの試験方法及び装置 - 特許庁

ELECTRONIC EQUIPMENT, METHOD FOR TESTING THE SAME, AND SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

電子機器の試験方法、電子機器、及び、半導体装置 - 特許庁

REPORT SERVER DEVICE, REPORT SYSTEM, AND REPORT EQUIPMENT TESTING PROCESS例文帳に追加

通報サーバ装置、通報システム及び通報機器試験方法 - 特許庁

OUTPUT BUFFER, SYNCHRONOUS MEMORY DEVICE AND ACCESS TIME TESTING METHOD例文帳に追加

出力バッファ、同期型メモリ装置及びアクセスタイムテスト方法 - 特許庁

The test can thereafter be performed by a testing device 15.例文帳に追加

その後試験装置１５により試験を行うものである。 - 特許庁

LEAK CURRENT TESTER AND TESTING METHOD OF SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

半導体装置のリーク電流検査装置および検査方法 - 特許庁

JITTER MEASURING INSTRUMENT AND SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT TESTING DEVICE例文帳に追加

ジッタ測定装置及び半導体集積回路試験装置 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR EVALUATING AND TESTING METAL GASKET例文帳に追加

金属ガスケットの評価試験方法および評価試験装置 - 特許庁

To provide a testing device capable of testing the device to be tested such as a semiconductor memory with low cost and at high speed.例文帳に追加

低コスト、且つ高速度で半導体メモリ等の被試験デバイスを試験することができる試験装置を提供する。 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR TESTING SEMICONDUCTOR DEVICE DURING PROCESSING例文帳に追加

半導体製造工程におけるテスト装置およびテスト方法 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR TESTING ELECTROSTATIC CHARGE例文帳に追加

静電気帯電試験装置および静電気帯電試験方法 - 特許庁

GAS REMOVAL RATE TEST METHOD AND TESTING DEVICE OF CHEMICAL FILTER例文帳に追加

ケミカルフィルタのガス除去率試験方法および試験装置 - 特許庁

SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE AND REDUNDANCY RELIEF JUDGING METHOD例文帳に追加

半導体試験装置および冗長救済判定方法 - 特許庁

EQUIPMENT AND METHOD FOR TESTING SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

半導体デバイス試験装置、及び半導体デバイス試験方法 - 特許庁

TESTING METHOD FOR CONTROL AMPLIFIER IN VVVF INVERTER AND DEVICE THEREFOR例文帳に追加

ＶＶＶＦインバータの制御アンプ試験方法及びその装置 - 特許庁

DATA PROCESSOR AND SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE USING THE SAME例文帳に追加

データ処理装置およびそれを用いた半導体試験装置 - 特許庁

METHOD OF INTEGRATED TEST OF SEMICONDUCTOR AND SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE例文帳に追加

半導体統合試験方法、および半導体試験装置 - 特許庁

TESTING SYSTEM, METHOD, AND APPARATUS OF SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

半導体装置の検査システム、検査方法、及び検査装置 - 特許庁

TRAY HOLDER FOR ELECTRONIC COMPONENT, AND TESTING DEVICE FOR ELECTRONIC COMPONENT例文帳に追加

電子部品用トレイ保持装置および電子部品試験装置 - 特許庁

SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE AND TESTING METHOD THEREFOR例文帳に追加

半導体記憶装置および半導体記憶装置のテスト方法 - 特許庁

DEVICE FOR TESTING STIMULATION THRESHOLD ENERGY IN HEART例文帳に追加

心臓における刺激しきい値エネルギーを試験するための装置 - 特許庁

DEVICE FOR EVALUATING AND TESTING TRANSPORT PACKAGE ASSEMBLED IN UNIT LOAD例文帳に追加

ユニットロードにまとめられた包装貨物の評価試験装置 - 特許庁

AUTOMATIC TESTING DEVICE OF STANDBY POWER SOURCE FOR FIRE ALARM SYSTEM例文帳に追加

火災報知設備における予備電源の自動試験装置 - 特許庁

ELECTRO-OPTICAL DEVICE, METHOD FOR TESTING THE SAME, AND ELECTRONIC APPARATUS例文帳に追加

電気光学装置及びその検査方法、並びに電子機器 - 特許庁