「testing device」に関連した英語例文の一覧と使い方(46ページ目) - Weblio英語例文検索

METHOD AND DEVICE FOR TESTING THERMAL RESPONSE OF UNDERGROUND HEAT EXCHANGER例文帳に追加

地中熱交換器の熱応答試験方法および同装置 - 特許庁

IMAGE FORMING DEVICE, DENSITOMER DIAGNOSTIC SYSTEM AND DIAGNOSTIC TESTING METHOD例文帳に追加

画像形成装置、濃度計診断システム及び診断試験方法 - 特許庁

The method for testing the surface by using the device is also provided.例文帳に追加

当該機器で表面を試験する方法も提供される。 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR TESTING STRESS CORROSION CRACK FOR CONDENSER例文帳に追加

復水器の応力腐食割れ試験装置および試験方法 - 特許庁

To curb testing of counterfeit bills using an automatic transaction device.例文帳に追加

自動取引装置を利用した偽券のテスト行為を抑制する。 - 特許庁

To disclose a thread testing device that simulates a vehicle collision.例文帳に追加

車両衝突をシミュレートするスレッド試験装置を開示する。 - 特許庁

To provide a device and a method for testing a compressor.例文帳に追加

圧縮機を検査するための装置及び方法を提供する。 - 特許庁

To provide a testing device which can test a high-speed multivalued signal.例文帳に追加

高速多値信号を試験可能な試験装置を提供する。 - 特許庁

To prevent excessive defect determination from being caused by a defect of a testing device itself built in a semiconductor device having a built-in testing function.例文帳に追加

内蔵試験機能を有する半導体装置の内蔵試験機能自体の不良による過剰な不良判定を防止する。 - 特許庁

To provide a technique for testing a grammar checking device appropriately.例文帳に追加

文法チェック装置を適切に試験する技術を提供する。 - 特許庁

PROBE CARD, AND TEST METHOD USING THE SAME FOR SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE例文帳に追加

プローブカード及びそれを用いたテスト方法半導体試験装置 - 特許庁

TESTING DEVICE FOR OPERATION CHARACTERISTIC OF COMPONENT USING SERIAL TRANSMISSION例文帳に追加

直列伝送を用いたコンポ—ネントの動作特性の試験装置 - 特許庁

MEMORY REPAIR ANALYSIS DEVICE, MEMORY REPAIR ANALYSIS METHOD, AND TESTING APPARATUS例文帳に追加

メモリリペア解析装置、メモリリペア解析方法、および試験装置 - 特許庁

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE WITH MIXED MEMORY AND METHOD FOR TESTING THE SAME例文帳に追加

メモリ混載半導体集積回路装置及びそのテスト方法 - 特許庁

FLOW RATE CONTROL MEMBER AND TIP TESTING DEVICE OF SPRINKLER EQUIPMENT例文帳に追加

流量規制部材及びスプリンクラー設備の末端試験装置 - 特許庁

TESTING EQUIPMENT FOR ONBOARD ATC DEVICE AND TESTING METHOD FOR CONTINUITY BETWEEN ONBOARD ANTENNA AND RECEIVING PART IN ON-BOARD ATC DEVICE例文帳に追加

ＡＴＣ車上装置の試験装置、及びＡＴＣ車上装置における車上アンテナと受信部間の導通試験方法 - 特許庁

To provide a technology for appropriately testing a virus detection device.例文帳に追加

ウィルス検出装置を適切に試験する技術を提供する。 - 特許庁

TEST PIECE MOUNTING METHOD, TEST PIECE INSERTION DEVICE AND TESTING MACHINE例文帳に追加

試験片の装着方法、試験片挿入装置および試験機 - 特許庁

CALIBRATION CIRCUIT, IC-TESTING DEVICE, AND METHOD OF CALIBRATING TIMING例文帳に追加

キャリブレーション回路、ＩＣ試験装置及びタイミングキャリブレーション方法 - 特許庁

METHOD OF EVALUATING SOUNDNESS, AND TESTING OF ELECTROMAGNETIC DEVICE例文帳に追加

電磁誘導機器の健全性評価方法および試験方法 - 特許庁

TESTING DEVICE FOR PRESCRIBED TEST ITEM WITH REFERENCE TO APPARATUS TO BE MEASURED例文帳に追加

被測定装置に対する所定試験項目の試験装置 - 特許庁

MATERIAL TESTING DEVICE AND ITS CONTROLLING METHOD例文帳に追加

材料試験装置およびこの材料試験装置の制御方法 - 特許庁

To provide a technique for testing a communication monitoring device appropriately.例文帳に追加

通信監視装置を適切に試験する技術を提供する。 - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEVICE HAVING BUILT-IN TERMINAL FOR TEST AND ITS TESTING METHOD例文帳に追加

試験用端子内蔵半導体装置およびその試験方法 - 特許庁

This testing device employs the anisotropic electric conductive sheet.例文帳に追加

検査装置は、前記異方導電性シートを用いたものである。 - 特許庁

STORAGE DEVICE, METHOD FOR TESTING BUS, AND METHOD FOR SWITCHING DATA TRANSFER MODE例文帳に追加

記憶装置、バステスト方法、及びデータ転送モード切替方法 - 特許庁

To provide a semiconductor memory device which can reduce the testing cost, and a method of testing the semiconductor memory device.例文帳に追加

試験コストを低減することが可能な半導体記憶装置および半導体記憶装置の試験方法を提供することである。 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR TESTING SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

半導体装置の試験方法及び半導体装置の試験装置 - 特許庁

TDL MACHINE LANGUAGE PROGRAM GENERATION SYSTEM OF SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE例文帳に追加

半導体試験装置のＴＤＬ機械語プログラム生成装置 - 特許庁

SHEET-TYPE SEMICONDUCTOR IC WAFER DIRECT CONDUCTION TEMPERATURE-TESTING DEVICE例文帳に追加

枚葉式半導体ＩＣウエハ直接通電温度試験装置 - 特許庁

RADIO BASE STATION TEST DEVICE AND METHOD OF TESTING RADIO BASE STATION例文帳に追加

無線基地局試験装置及び無線基地局の試験方法 - 特許庁

MICROREACTOR FOR TESTING BIOLOGICAL SUBSTANCE AND BIOLOGICAL SUBSTANCE TEST DEVICE例文帳に追加

生体物質検査用マイクロリアクタおよび生体物質検査デバイス - 特許庁

DEVICE AND SYSTEM FOR PROCESSING REQUEST, AND ACCESS TESTING METHOD例文帳に追加

要求処理装置、要求処理システムおよびアクセス試験方法 - 特許庁

TESTER AND TESTING METHOD FOR SEMICONDUCTOR DEVICE AND STORAGE MEDIUM例文帳に追加

半導体試験装置、半導体試験方法および記録媒体 - 特許庁

TANK PIPE PRESSURE TEST METHOD AND TANK PIPE PRESSURE TESTING DEVICE例文帳に追加

タンク配管耐圧試験方法とタンク配管耐圧試験装置 - 特許庁

To provide a semiconductor testing circuit that can realize a high- speed test for semiconductor device even by using a low-speed testing device.例文帳に追加

低速の試験装置を使用しつつも半導体装置の高速試験を可能にした半導体試験回路を提供する。 - 特許庁

RANDOM NUMBER GENERATION CIRCUIT, ELECTRONIC DEVICE, AND METHOD OF TESTING I/O CELL例文帳に追加

乱数発生回路、電子機器、およびＩ／Ｏセルのテスト方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR INTEGRATED DEVICE AND NOISE TESTING METHOD USING THE SAME例文帳に追加

半導体集積装置およびそれを用いたノイズ試験方法 - 特許庁

To provide a technique for testing a mail filtering device appropriately.例文帳に追加

メールフィルタリング装置を適切に試験する技術を提供する。 - 特許庁

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE AND METHOD OF TESTING INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

半導体集積回路装置および集積回路のテスト方法 - 特許庁

ELECTRONIC TESTING DEVICE AND METHOD OF DISPLAYING RESULT OF ELECTRONIC TEST例文帳に追加

電子試験装置、及び、電子試験の結果を表示する方法 - 特許庁

LUBRICITY TEST METHOD OF LUBRICANT, AND FRICTION TESTING DEVICE例文帳に追加

潤滑剤の潤滑性能試験方法および摩擦試験装置 - 特許庁

DEVICE FOR TESTING AC VOLTAGE CIRCUIT OF DISTRIBUTION BOARD, AND METHOD THEREOF例文帳に追加

配電盤の交流電圧回路試験装置およびその方法 - 特許庁

COUPLING DEVICE FOR TEST HEAD OF WAFER TESTING SYSTEM AND PROBE CARD例文帳に追加

ウェハ試験システムのテストヘッドとプロ—ブカ—ドとを結合する装置 - 特許庁

IMAGE PROCESSING DEVICE, INFORMATION PROCESSING DEVICE, SOFTWARE OPERATION TESTING METHOD, SOFTWARE OPERATION TESTING PROGRAM, AND RECORDING MEDIUM TO WHICH THE PROGRAM IS RECORDED例文帳に追加

画像処理装置、情報処理装置、ソフトウェア動作テスト方法、ソフトウェア動作テストプログラム、及びそのプログラムを記録した記録媒体 - 特許庁